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Outubro/2008
Profa. Maria Luíza Guerra de Toledo
malutoledo@bol.com.br
Instituto de Consultoria e Aperfeiçoamento profissional
Confiabilidade
Profa. Maria Luiza Guerra de Toledo
malutoledo@bol.com.br
Confiabilidade
O que é?
• B10: tempo no qual se espera que 10% dos produtos venham falhar
• B0,1: tempo no qual se espera que 0,1% dos produtos venham falhar
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Instituto de Consultoria e Aperfeiçoamento profissional
Confiabilidade
Por exemplo:
Confiabilidade
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Instituto de Consultoria e Aperfeiçoamento profissional
50 56 67 48 34
60 45 62 67 79
53 61 100 66 91
40 92 58 27 41
51 73 46 59 64
99 51 51 48 81
35 49 27 77 105
55 24 52 58 84
74 37 48 51 54
101 31 79 97 23
Uso da
distribuição
Weibull para
representar os
dados
4
Instituto de Consultoria e Aperfeiçoamento profissional
Os circuitos
levam, em
média, 59,4
dias para
falhar
Estimar percentis
1% dos
circuitos
falham após
16,1 dias
Estimar percentis
20% dos
circuitos
falham após
41,8
5
Instituto de Consultoria e Aperfeiçoamento profissional
Após 41,8
dias, 20% dos
circuitos
falham
A probabilidade
de sobrevivência
diminui ao longo
do tempo
6
Instituto de Consultoria e Aperfeiçoamento profissional
92,7% dos
circuitos ainda
funcionam
após 30 dias
6,64% dos
circuitos ainda
funcionam
após 90 dias
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Instituto de Consultoria e Aperfeiçoamento profissional
Funç
Função de Confiabilidade
Em termos probabilísticos:
R(t)=P(T t)
Funç
Função de Confiabilidade
Funções de Confiabilidade para Dois Produtos:
O produto 1 é
superior ao
produto 2 com
relação a
durabilidade.
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Funç
Função de taxa de falha
Funç
Função de taxa de falha
Possíveis formas:
Crescente
Itens que se desgastam ou degradam com o tempo
Componentes mecânicos, em sua quase totalidade
Comportamento esperado para produtos ou componentes, que mostram
um efeito gradual de envelhecimento
Funç
Função de taxa de falha
Possíveis formas:
Decrescente
Função menos comum
Sabe-se que certos tipos de capacitores e alguns dispositivos
semicondutores têm taxas de falha decrescentes
Constante
A taxa de falha não se altera com o decorrer do tempo
Caracteriza o tempo de vida de vários produtos manufaturados
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Funç
Função de taxa de falha
Alguns produtos tem uma função de taxa de falha que na verdade, é uma
combinação das três:
Funç
Função de taxa de falha
Mortalidade infantil: Alta taxa de falhas que decresce rapidamente com o tempo.
Falhas devido a defeitos grosseiros de fabricação, ou itens que sofreram
estresses extraordinários antes do uso.
As falhas prematuras podem ser removidas por um pré-envelhecimento (burn-in)
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Funç
Função de taxa de falha
Perí
Período de vida útil: Se caracteriza por taxa de falha constante.
Falhas ocasionais, decorrentes de solicitações normais de uso, acidentes
ocasionados pelo uso incorreto, etc.
Funç
Função de taxa de falha
Perí
Período de desgaste (envelhecimento): Taxa de falha crescente devido ao
processo natural de envelhecimento ou desgaste do produto.
Podem ser evitadas por um programa adequado de manutenção preventiva.
Estimaç
Estimação na Ausência de Censura
13 circuitos
falharam entre
50 e 60 dias
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Estimaç
Estimação na Ausência de Censura
= 13 = 0,38
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Estimaç
Estimação na Ausência de Censura
Estimaç
Estimação na Ausência de Censura
Usando o mesmo tipo de cálculo para os outros intervalos, temos:
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Estimaç
Estimação na Presenç
Presença de Censura
Estimaç
Estimação na Presenç
Presença de Censura
1 x 30 1
2 40 0
3 x
22 1
4
29 0
5
6 x 40 0
7 x 21 1
8 x
36 1
9 x
28 1
Tempo 20 1
Estimaç
Estimação na Presenç
Presença de Censura
1 x 24-28 1
2 40-* 0
3 x
16-20 1
4
24-* 0
5
6 x 40-* 0
7 x 16-20 1
8 x
32-36 1
9 x
24-28 1
4 8 12 16 20 24 28 32 36 40
12-16 1
Tempo
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Exemplo
Teste de vida realizado com mecanismos manuais de
acionamento de vidro
Exemplo
Teste de vida realizado com mecanismos manuais de
acionamento de vidro
Exemplo
Teste de vida realizado com mecanismos manuais de
acionamento de vidro
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Estimaç
Estimação na Presenç
Presença de Censura
Técnicas estatísticas para estimar a função de confiabilidade na
presença de censuras:
Tabela de Vida (uma das mais antigas técnicas estatísticas para estimar
características associadas à duração dos tempos de falha)
Tabela de Vida
Conceitos:
Dividir o eixo do tempo em k+1 intervalos, definidos pelos pontos de corte
t1, t2, ..., tk e t0=0.
Para cada um dos intervalos, estimamos a seguinte probabilidade:
qi = P(T [ti-1 , ti) / T ti-1)
onde qi é a probabilidade de um item falhar no intervalo [ti-1 , ti) sabendo-
se que ele não falhou até ti-1.
Produtos para os quais a censura ocorreu no intervalo [ti-1 , ti)são tratados como
se estivessem sob risco durante a metade do intervalo.
Tabela de Vida
Conceitos:
qi é a probabilidade do item falhar no intervalo [ti-1 , ti)
A funç
função de confiabilidade (probabilidade do item não falhar até o tempo
ti, i=1,...,k) pode ser dada em termos dos q’s como:
R(ti) = (1-q1) ... (1-qi)
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Intervalo No de falhas
(x 10000 ciclos)
0-10 1
10-20 5
20-30 5
30-40 4
40-50 3
10-20 5 29
20-30 5 24
30-40 4 19
40-50 3 15
40-50 3 15 20
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40-50 3 15 20 50,0
Kaplan-
Kaplan-Meier
Conceitos:
Considera tantos intervalos de tempo quanto for o número de falhas
distintas.
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Kaplan-
Kaplan-Meier - Exemplo
t d n R(t)
0 0 30 1,000
5625 1 30 0,967
11223 1 29 0,933
12128 1 28
13566 1 27 R(5625) = [(30-1)/30] = 0,967
14921 1 26
16513 1 25 R(11223) = [(30-1)/30] [(29-1)/29] = 0,933
22138 1 24
26791 1 23
27144 1 22
27847 1 21
28613 1 20
31224 1 19
36229 1 18
38590 1 17
39580 1 16
40278 1 15
41324 1 14
44540 1 13
Kaplan-
Kaplan-Meier - Exemplo
t d n R(t)
0 0 30 1,000
5625 1 30 0,967
11223 1 29 0,933
12128 1 28 0,900
13566 1 27 0,867
14921 1 26 0,833
16513 1 25 0,800
22138 1 24 0,767
26791 1 23 0,733
27144 1 22 0,700
27847 1 21 0,667
28613 1 20 0,633
31224 1 19 0,600
36229 1 18 0,567
38590 1 17 0,533
39580 1 16 0,500
40278 1 15 0,467
41324 1 14 0,433
44540 1 13 0,400
Kaplan-
Kaplan-Meier - Exemplo
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Aná
Análise de Tempos de Falha:
Falha:
Modelos Probabilí
Probabilísticos
Aná
Análise de Tempos de Falha:
Falha:
Modelos Probabilí
Probabilísticos
Distribuiç
Distribuição Exponencial
É uma das mais simples em termos matemáticos, e é usada em situações em
que as falhas ocorrem de forma aleatória com uma taxa fixa e sem um
expressivo mecanismo de desgaste.
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Distribuiç
Distribuição Exponencial
A função de densidade para o tempo de falha T com distribuição exponencial
é dada por
f(t) = (1/α) exp(-t/α), t 0
Distribuiç
Distribuição Exponencial
Propriedades:
α = MTTF = t0,63
percentil 100p%: tp = -α ln(1-p)
parâmetro de escala: α 0
Distribuiç
Distribuição Exponencial
A figura abaixo mostra a forma típica desta função de confiabilidade:
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Distribuiç
Distribuição Exponencial - Exemplo
O tempo até a falha do ventilador de motores a diesel tem uma distribuição
exponencial com MTTF igual a 28700 horas.
Se 8000 horas é o tempo de garantia dado pelo fabricante, significa que 24%
é a fração esperada de ventiladores que falhariam na garantia.
Distribuiç
Distribuição Exponencial - Exemplo
O tempo até a falha do ventilador de motores a diesel tem uma distribuição
exponencial com MTTF igual a 28700 horas.
Isto significa que é esperado que cerca de 1% dos ventiladores falhe nas
primeiras 288 horas de uso.
Distribuiç
Distribuição Weibull
Proposta originalmente por W. Weibull (1954) em estudos relacionados ao
tempo de falha devido a fadiga de metais.
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Distribuiç
Distribuição Weibull
Distribuiç
Distribuição Weibull
A função de densidade para o tempo de falha T com distribuição Weibull é
f(t) = ( /α ) t -1 exp[-(t/α) ], t 0
Distribuiç
Distribuição Weibull
Propriedades:
α = t0,63
percentil 100p%: tp = α [−ln(1-p)]1/
parâmetro de forma: 0
parâmetro de escala: α 0
MTTF = α (1 + 1/ ), onde (r) = (r – 1)!
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Distribuiç
Distribuição Weibull - Exemplo
O tempo de vida de um capacitor pode ser descrito por uma distribuição
Weibull com α = 100000 horas e = 0,5.
O percentil 10% é de
t0,10 = α [−ln(1-p)]1/ = 100000 [−ln(1-0,10)]1/0,5 = 1110 horas
Tabela da Funç
Função Gama
Distribuiç
Distribuição Lognormal
Assim como a distribuição Weibull, é bastante utilizada para caracterizar
tempo de vida de produtos e materiais.
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Distribuiç
Distribuição Lognormal
Distribuiç
Distribuição Lognormal
Distribuiç
Distribuição Lognormal
A função de densidade para o tempo de falha T com distribuição Lognormal é
f (t ) =
1
exp −
[ln(t ) − µ ]2 ,t ≥ 0
2π tσ 2σ 2
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Distribuiç
Distribuição Lognormal
Propriedades:
Tabela da Distribuiç
Distribuição Normal
Distribuiç
Distribuição Lognormal - Exemplo
Na temperatura de uso, o tempo de vida de isolações da classe H tem uma
distribuição Lognormal com µ = 9,65 horas e σ = 0,1053 horas.
Isto significa que é esperado que a grande maioria (99,2%) das isolações
falhem nas 20000 primeiras horas de uso.
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Exponencial: α = média
Weibull: = forma; α = escala
Lognormal: α = locação; σ = escala
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113 123 76
90 123 130
107 117 102
128 149 171
133 110 108
136 140 101
125 144 98
115 116 155
126 131 144
134 142 131
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O percentil 5% é de
t0,05 = α [−ln(1-p)]1/ = 132,325 [−ln(1-0,05)]1/6,84159 = 85,72 dias
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O percentil 5% é de
t0,05 = exp(zpσ+µ) = exp(1,64*0,167612+4,80617) = 92,79 dias
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Cabo Padrão:
Assumindo que o tempo de falha do cabo padrão pode ser descrito por uma
distribuição Weibull com parâmetro de forma = 3,07250 e parâmetro de
escala α = 133,944 minutos:
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Cabo Padrão:
Assumindo que o tempo de falha do cabo padrão pode ser descrito por uma
distribuição Weibull com parâmetro de forma = 3,07250 e parâmetro de
escala α = 133,944 minutos:
O percentil 1% é de
t0,01 = α [−ln(1-p)]1/ = 133,944 [−ln(1-0,01)]1/3,07250 = 29,97 minutos
Ou seja, espera-se que 1% dos cabos padrão falhe após 29,97 minutos.
Portanto, 99% dos cabos padrão ainda funcionam após 29,97 minutos.
Cabo Novo:
Assumindo que o tempo de falha do cabo novo pode ser descrito por uma
distribuição Weibull com parâmetro de forma = 4,42644 e parâmetro de
escala α = 81,315 minutos:
Cabo Novo:
Assumindo que o tempo de falha do cabo novo pode ser descrito por uma
distribuição Weibull com parâmetro de forma = 4,42644 e parâmetro de
escala α = 81,315 minutos:
O percentil 1% é de
t0,01 = α [−ln(1-p)]1/ = 81,315 [−ln(1-0,01)]1/4,42644 = 28,76 minutos
Ou seja, espera-se que 1% dos cabos novos falhe após 28,76 minutos.
Portanto, 99% dos cabos novos ainda funcionam após 28,76 minutos.
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Referências Bibliográ
Bibliográficas
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Marta A. Freitas e Enrico A. Colosimo. Confiabilidade: Analise de Tempo de Falha e Testes de Vida
Acelerados – Belo Horizonte: Fundação Christiano Ottoni, Escola de Engenharia da UFMG, 1997
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