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Laboratório de ELE-16
Eletrônica Aplicada
Integrantes: Professor:
Arthur Queiroz Ramos André Ponchet
Daniel Molina Rodrigues
Eduardo Soares e Silva Britto
João Aguiar Moreira Gomes
José Eduardo Teixeira Araújo
Leonardo Antonio Lugarini
Jhonny Kenji Arashiro
Nauane Linhares do Nascimento
Rodrigo Araújo Holanda
Tiago Assmann Fontana
Victor Hugo de Oliveira Bastos
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2 Revisão Bibliográfica
Transistores Bipolares de Junção (BJT) são estruturas eletrônicas ativas constituídas
de duas junções PN interdependentes, como ilustra, esquematicamente, as Figuras 4a e
1b.
Podem ser construídos com semicondutores como o silício, o germânio ou com es-
truturas mistas dos tipos SiGe ou SiC. Esses semicondutores devem ser adequadamente
dopados com elementos químicos dos grupos III ou V, de modo a formarem regiões do
tipo P, com excesso de lacunas livres, ou do tipo N, com excesso de elétrons livres, as
quais, quando em contato íntimo, formam junções depletadas nas fronteiras e, portanto,
retificadoras de corrente elétrica. As regiões mais externas têm, como função, emitir car-
gas livres ou coletar as cargas livres emitidas e, por isso, recebem os nomes de emissor
e de coletor, respectivamente. A região central, chamada base, controla a quantidade
de emissão e de coleta dessas cargas, variando a condutividade do dispositivo e fazendo
com que a corrente entre os terminais de emissor e de coletor seja modulada por uma
grandeza elétrica de controle, aplicada nessa região. Por causa dessa propriedade elé-
trica, a estrutura recebeu o nome de transistor (acrônimo de transfer-resistor). Como,
em junções PN, correntes de elétrons e de lacunas coexistem naturalmente, o dispositivo
possui característica bipolar. Ao contrário das válvulas, que só conduzem elétrons em
elementos metálicos, o transistor bipolar pode ser fabricado com duas polaridades, NPN
e PNP, como mostram as Figuras 4a e 1b. Uma seção de um transitor NPN é mostrada
na Figura 2.
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Figura 2: Seção transversal de um transistor BJT do tipo NPN. Disponível em [3].
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Figura 3: Fluxo de corrente em um transistor NPN polarizado no modo ativo. Os valores
de VBE e VCB são típicos para um transistor de Si operar no modo ativo. Disponível em
[3].
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3 Metodologia
3.1 Procedimento experimental
A obtenção das curvas de entrada a saída do transistor foram obtidas com o uso de 2
potenciômetros de resistência variável conforme a figura 4.
• Curvas de entrada: mantendo Vce constante, aplica-se uma tensão Vbe conhecida
para medir V1
• Curvas de saída: mantendo Vbe constante, aplica-se uma tensão Vce conhecida
para medir V2
V1 − Vbe = R1 Ib (1)
V2 − Vce = R2 Ic (2)
Executando o procedimento para diversos valores de Vbe e Vce , foram obtidas as curvas
de entrada e saída do transistor. Nesse processo, o ajuste da tensões é feito ao variar a
resistência dos potenciômetros P1 e P2
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Figura 5: Circuito LTSpice para curva característica.
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4 Resultados
Após a aferição dos valores de tensão por meio do multímetro, foram calculadas as
correntes e, em seguida, foi gerado um gráfico da corrente de base em função da tensão
base-emissor. Ademais, para efeitos comparativos, o gráfico gerado está apresentado ao
lado de um gráfico exemplo do roteiro do laboratório, vide Figura 6.
Após análise, pode-se perceber que os gráficos são condizentes. Em ambos, o valor da
corrente se torna diferente de 0 a partir do 0.5V e, após esse valor, assume um compor-
tamento exponencial em função da tensão. Ademais, é possível notar também que uma
tensão VCE maior diminui a inclinação da curva, causando um aparente deslocamento do
gráfico para a direita nos valores de tensão maiores que 0.6V, aproximadamente.
Em relação a outros grupos, o comportamento das curvas foram similares. Não houve,
porém, para um deles, curvas para diferentes valores de VCE para comparar a influência
da tensão coletor-emissor no comportamento da corrente no coletor.
Além do gráfico supracitado, a partir dos dados obtidos no multímetro, foi também
gerado um gráfico da corrente no coletor em função da tensão coletor-emissor. Esse gráfico
também está apresentado juntamente a um gráfico exemplo para efeitos comparativos,
vide Figura 7.
Em ambos os gráficos é possível perceber que a inclinação é expressiva para pequenos
valores de tensão. Já para valores maiores que a tensão de saturação, a inclinação é
pequena e tende a permanecer constante. Ademais, valores maiores da corrente na base
geram valores maiores da corrente no coletor, deslocando a curva para cima, como está
retratado em ambos os gráficos.
Em relação a outros grupos houve também similaridade entre as curvas. Porém, em
um dos grupos, não foi possível comparar o alto valor da inclinação para valores de tensão
menores que a tensão de saturação, já que este não está representado. Porém, para valores
maiores é possível perceber que, nesse mesmo grupo, o comportamento da inclinação se
mostrou constante ao longo da variação de tensão, o que se assemelha com os resultados
obtidos.
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(a) Curvas de saída exemplo (b) Curvas de saída experimentais
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Figura 9: Curva característica simulada IC x VCE .
Uma maneira alternativa de obtenção das curvas características é por meio da consulta
à folha de dados do modelo do transistor. Dessa forma, a Figura 10 se refere à curva
característica obtida diretamente da folha de dados do transistor BC846, representando
as mesmas grandezas da do gráfico da Figura 9.
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5 Conclusão
De posse dos resultados aferidos, pode-se concluir que os objetivos do presente expe-
rimento foram atingidos ao passo que familiarizou os alunos com a utilização e montagem
experimental de circuitos que utilizam transistores, auxiliando a compreender também a
parte teórica do assunto.
Ademais, os resultados encontrados experimentalmente se aproximam muito do es-
perado pela teoria e do encontrado por meio da simulação, conforme esperado pela boa
aproximação de experimentos eletrônicos da teoria estudada. Os pequenos desvios foram
explicados e as conclusões acerca dos fenômenos existentes foram elencadas na seção cor-
respondente. Adicionalmente, foi possível o estudo das curvas características do transistor
BJT e comparar com a curva teórica para uma melhor compreensão dos componentes reais
empregados em circuitos práticos.
Por fim, tendo em vista aquilo que foi citado anteriormente e o senso crítico desen-
volvido para comparação dos resultados encontrados com o que era esperado, constata-se
que os objetivos foram concluídos com êxito.
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Referências Bibliográficas
[1] R. L. Boylestad, L. Nashelsky. Electronic devices and circuit theory. 11th Edition,
Pearson.
[2] G. E. Moore. Cramming more components onto integrated circuits. Electronics,
Volume 38, Number 8, April 19, 1965.
[3] A. F. Ponchet. Eletrônica Analógica: Física do transistor bipolar e amplificadores
bipolares, 2022.
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