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Um procedimento não incomum em testes de vida é acelerar a falha de componentes por
testes em uma condição ambiental extrema (como temperatura alta) e então tentar extrapolar os
dados do teste acelerado para condições operacionais regulares.
Testes acelerados consistem em uma variedade de métodos para abreviar a vida de produtos
ou acelerar a degradação de sua performance (desempenho). O objetivo de tais testes é obter dados
mais rapidamente e analisar o rendimento desses produtos obtendo informações sobre a vida ou
performance dos mesmos sob condições normais de uso.
Podem-se realizar testes acelerados em vários materiais, como metais, plásticos, dielétricos
e isolantes, cerâmica, adesivos, borrachas e elásticos, alimentos, remédios, materiais de construção,
materiais nucleares e também em produtos como semicondutores e microeletrônicos, capacitores,
resistores, baterias, lâmpadas, componentes mecânicos, etc.
Existem vários mecanismos de degradação da performance dos produtos, como, por
exemplo, fadiga, rachaduras, corrosão / oxidação, desgaste por agentes atmosféricos, dentre outros.
Uma maneira simples de acelerar a vida de alguns produtos é fazê-los “correr”, ou seja,
aumentar a taxa de uso, ou ainda, reduzir o tempo de descanso, deixando o produto em operação por
um período de tempo bem maior do que o usual. Estes testes são chamados testes de vida
acelerados.
A intenção destes testes é estimar a distribuição de vida de certos produtos em taxa de uso
normal, isto é, assumir que o número de ciclos, revoluções, horas, etc, para falha no teste, é o
mesmo que seria observado em condições normais de uso.
Outro tipo de teste desta natureza é o teste de degradação acelerada. Neste caso, procura-se
obter modelos de análise de dados da degradação da performance do produto com o passar do
tempo, sob estresse excessivo (overstress).
Em testes acelerados pode ser aplicado estresse por cargas, e dentre eles, podem ser citados:
estresse constante, escada (step-stress), estresse progressivo, cíclico e aleatório.
Estresse constante é o mais comum. Um teste como este imita o uso normal, e, além disso,
possui algumas vantagens: Primeiro, é um bom teste, e é fácil manter um nível de estresse
constante. Segundo: modelos de testes acelerados em estresse constante são mais desenvolvidos e
empiricamente comprovados para alguns materiais e produtos. Terceiro, a análise de dados para
estimação das funções de confiabilidade está bem definida e disponível em pacotes estatísticos.
No caso de step-stress (escada), uma unidade é submetida a sucessivos aumentos no nível
de estresse. Primeiro uma unidade é sujeita a um específico estresse por um tempo, se ela não
falhar, é submetida a um maior nível de estresse por um tempo determinado. O estresse na unidade
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vai aumentando passo a passo, como uma escada, até que ela falhe. A maior desvantagem está na
estimação das medidas de confiabilidade, pois a maioria dos produtos em condições normais de uso
é submetida a uma carga constante, e não do tipo step-stress. Além disso, métodos para análise de
dados censurados estão bem desenvolvidos e disponíveis, portanto, não há necessidade de que todas
as unidades falhem. Uma outra desvantagem é que os modos de falha que ocorrem nos patamares
mais elevados podem diferir daqueles que ocorrem em condições normais de uso.
Em casos de estresse progressivo, uma unidade sofre aumentos contínuos no nível de
estresse. Este aumento não é feito em patamares, mas sim, progressivamente. Uma desvantagem é
que é difícil controlar o estresse progressivo.
Alguns produtos são submetidos a estresse de níveis alto e baixo, de maneira cíclica. Neste
caso, uma determinada amostra é submetida a um choque térmico cíclico, no qual é imersa em um
banho a alta temperatura e, em seguida, em um banho a uma temperatura baixa. Depois de um
tempo, a falha se manifesta por meio de rachaduras, por exemplo.
Alguns produtos estão sujeitos a níveis de estresse de forma aleatória. Exemplos incluem
componentes de pontes, elevadores e componentes estruturais de aviões.
Num teste acelerado, os níveis de estresse são aplicados seguindo a distribuição mais
próxima possível da que ocorre na realidade, porém, em níveis mais elevados.
Está claro que o tempo até a falha (resposta) de um produto está intimamente ligado ao
estresse (variável de estresse). Segundo Colosimo e Freitas-1997, as duas relações estresse-resposta
mais utilizadas na prática são a Relação de Arrhenius e a Relação de Potência Inversa.
A relação de Arrhenius é utilizada para relacionar o tempo de falha do produto com a
variável de estresse temperatura. Esta relação é baseada na Lei de Arrhenius, em que a taxa de uma
reação química simples depende da temperatura.
Para muitos produtos submetidos a testes de vida acelerados em temperaturas elevadas, o
seguinte modelo foi considerado satisfatório para estimar a vida destes produtos, nestas
temperaturas.
A Relação de Potência Inversa é utilizada para modelar o tempo de falha em função de
qualquer variável de estresse.
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se também definir o número de variáveis estresses, reconhecendo qual estresse, de fato, altera a vida
do produto; escolher a forma de aplicação da carga de estresse (constante, escada, etc.), e definir os
mecanismos de censura.
Depois de determinada a forma do teste, deve-se escolher o plano experimental,
determinando o número de níveis de estresse, definindo a proporção de locação, ou seja, quantas
unidades deverão ser submetidas à teste em cada nível, determinando os níveis de estresse, de modo
que não sejam utilizados níveis tão altos a ponto de produzir modos de falha que raramente
acontecem em condições normais de uso, e determinando o tamanho da amostra, ou seja, o número
de quantidades que serão submetidas ao teste.
Deve-se ter muito cuidado no que se refere à extrapolação dos dados, pois, supõe-se que o
modelo utilizado na extrapolação também é válido para as condições de projeto. Desta forma é
conveniente escolher um nível baixo de estresse, próximo das condições normais de uso para
minimizar a extrapolação em estresse. Por outro lado, este nível não poderá ser tão baixo a ponto de
ao final do teste sejam observadas poucas, ou nenhuma falha nesta condição.
REFERÊNCIAS BIBLIOGRÁFICAS
Colosimo, Enrico A., Freitas, Marta A. Confiabilidade: Análise de Tempo de Falha e Testes de
Vida Acelerados. Belo Horizonte, 1997. 309p.
Nelson, Wayne Accelerated Testing, Statistical Models, Test Plans, and Data Analyses. New
York: Wiley. 1990. 601p.