UNIVERSIDADE FEDERAL DO RIO GRANDE DO SUL

ESCOLA DE ENGENHARIA
DEPARTAMENTO DE MATERIAIS
CIÊNCIA DOS MATERIAIS

TÉCNICAS DE
CARACTERIZAÇÃO
DRX E MICROSCOPIA
1
PROFA. DRA. LISETE CRISTINE SCIENZA

1
CAPÍTULO 3: ESTRUTURA CRISTALINA

3-1 INTRODUÇÃO
3-2 ORDENAÇÃO DOS ÁTOMOS
3-3 CÉLULAS UNITÁRIAS
3-4 DIREÇÕES E PLANOS NO CRISTAL
3-5 METAIS
3-6 CERÂMICAS: CRISTAIS IÔNICOS E CRISTAIS COVALENTES
3-7 POLÍMEROS
3-8 IMPERFEIÇÕES NO ARRANJO CRISTALINO
3-9 DIFUSÃO
3-10 DIFRAÇÃO DE RAIOS X E MICROSCOPIA

2
2
DIFRAÇÃO DE RAIOS X
DESCOBERTA
Os raios X foram descobertos em 8 de
novembro de 1895, pelo físico alemão
Wilhelm Conrad Roentgen quando o
realizava experimentos com os raios
catódicos. Ele deu esse nome por não
saber do que se tratava a natureza
desses raios, até que mais tarde se
descobriu que se tratava de ondas
eletromagnéticas.

3
 DIFRAÇÃO DE RAIOS-X

• Não se pode resolver espaçamentos  

• Espaçamento é a distância entre planos de átomos paralelos.
Sonda da radiação eletromagnética:
*comprimento de onda menor que a luz visível, 4
*maior energia
*maior penetração
Quando elétrons de alta energia são gerados num cátodo e
atingem um ânodo selado sob vácuo, raios X são gerados

Evacuated glass bulb

Cathode
Anode

Raios-X são radiações eletromagnéticas.

5
Possuem energia suficiente pra causar ionização.
5
O elétron livre colide com o átomo de tungstênio, jogando um
elétron para fora do orbital. Um elétron em um orbital de
maior energia desce para uma posição vazia liberando
energia na forma de fótons de raios X.

6
RAIOS-X PARA DETERMINAÇÃO DA
ESTRUTURA CRISTALINA
• Os raios-X incidentes difratam a partir dos planos cristalinos.

de
te
”

c
“1

to
in ra

r
s
co ys
X-

y As reflexões devem
r- a
m
estar em fase para gerar
in

”
“2
X
g
“1
um sinal detectável
g
”
distância
oi
n 
“2

g Adapted from Fig. 3.19,

ut
extra
 
”

percorrida o Callister 7e.

p/ onda “2” espaçamento
d entre
planos

X-ray
A medida do ângulo n
intensity d
crítico, c, permite (from 2 sin c
computar a distância detector)
interplanar, d.  7

c 7
Raios X Feixe difratado

Lei de Bragg (1913)

n = 2 d sen()

Parâmetro experimental:
 - Comprimento de onda da
radiação ( 1.54 A)

Parâmetros da amostra:
d - distância entre planos atômicos
 - orientação desses planos em
relação ao feixe, ângulo de Bragg
n - ordem de difração (numero
inteiro 1,2,3)

8
 9

https://www.youtube.com/watch?v=QHMzFUo0NL8 9
 Difratograma do
ferro  policristalino
(BCC)

z z z
c c c

y(110) y y
a b a b a b
Intensity (relative)

x x x (211)

(200)

10

10
Diffraction angle 2
11
12
Basicamente, as técnicas de microscopia têm como objetivo a
construção de imagens ampliadas dos objetos e sistemas
observados.

13
MICROSCOPIA ÓTICA

Objetivo

Observação e análise microestrutural de objetos sólidos

Características

• baixa resolução ~ 0,5 m (aumento máximo de 2.000X)

• imagem plana - sem profundidade de foco
• preparação especial da amostra (lixamento, polimento, ataque)
• ferramenta mais usada para a caracterização morfológica
• primeira técnica a ser usada para examinar a microestrutura

Microscópios óticos usados para observação

Luz refletida  Metais, polímeros e minerais

14
Luz transmitida  Polímeros e minerais
A Microscopia óptica, também denominada “microscopia de luz”,
consiste em uma técnica de observação de objetos e sistemas com
ampliações de algumas dezenas até milhares de vezes das
dimensões físicas, tipicamente 10X a 1500X.
O microscópio óptico mais simples consiste de
duas lentes, uma objetiva e outra ocular,
montadas em uma estrutura, com um suporte
para anteparo do material a ser observado,
denominada porta-amostra.

A distância entre as lentes e a amostras, pode

ser alterada através de um sistema de
engrenagem, permitindo o ajuste do foco pelo
observador.

O equipamento conta ainda com um sistema

de iluminação, filtros, colimadores, e outras
partes, no sentido de otimizar a qualidade15da
imagem obtida.
16
 MEV – MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURA
O princípio da microscopia eletrônica de
varredura consiste na emissão de um feixe
de elétrons por um filamento de tungstênio,
que concentrado, controlado e reduzido por
um sistema de lentes eletromagnéticas,
diafragmas e bobinas, incide sobre a
amostra, provocando uma série de emissões
de sinais relacionados com a interação do
feixe de elétrons incidente e a amostra.

Os sinais emitidos encontram-se sob a

forma de elétrons (secundários,
retroespalhados, absorvidos, transmitidos,
difratados, etc.) e de fótons
(fotoluminescentes e raios-X), os quais são
captados por detectores apropriados, sendo
amplificados e processados num sistema
analisador específico para cada tipo de sinal.
17
 18

18
https://www.youtube.com/watch?v=Vs360UarP1U
Polímero condutor

19
Para a análise quantitativa dos elementos, deve-se utilizar padrões
com concentrações conhecidas dos elementos a serem analisados.

20
 MICROSCÓPIO ELETRÔNICO DE
TRANSMISSÃO

• Tem sido usado em todas as áreas

das ciências Biológicas e Biomédicas
devido a sua capacidade de
visualização das mais finas estruturas
celulares.
• Usa uma bobina em vez de uma
lente
• Usa um feixe de elétrons em vez de
luz
• Possui um poder de aumento útil de
até um milhão de vezes e uma
resolução, com espécimes biológicas,
de cerca de 2 nm. 21
Um filamento de tungstênio aquecido
promove a emissão termoiônica de elétrons
que são acelerados em um tubo sob alto
vácuo em direção à amostra.
A tensão aplicada varia entre 60 keV e 400
keV, sendo valores típicos na faixa de 75-
100 keV.

Um requisito básico para as amostras, além

da estabilidade em alto vácuo, é a
espessura reduzida, geralmente inferior a
100 nm. Este valor pode variar dependendo
do material, uma vez que o feixe eletrônico
deverá ser transmitido através da amostra.

O feixe eletrônico transmitido incide sobre

uma tela fluorescente, um filme fotográfico
ou uma câmera de vídeo, gerando a
imagem da amostra. A resolução do MET
está da ordem de 0,2 nm para
equipamentos com tensões da ordem 22 de
300 keV, com ampliações de 1.000.000X.
 COMPONENTES DO MICROSCÓPIO
ELETRÔNICO

• Propriedades ondulatórias dos elétrons

Aumento no poder de resolução
• Canhão eletrônico
É a fonte de iluminação do microscópio
eletrônico e consiste em um pequeno
fragmento de fio em forma de V.

Uma ALTA VOLTAGEM é aplicada nesse

filamento, fazendo com que uma corrente flua
através dele, o deixe incandescente e emita
elétrons.
• Lentes eletrônicas
As lentes eletrônicas consistem basicamente
de uma bobina, formada por milhares de
voltas de fio através da qual passa uma
corrente e focalizam os feixes eletrônicos. 23
23
Esta resolução obtida, com elevada
ampliação, é resultante do feixe
coerente, em foco e com alta energia.
Teoricamente, um feixe eletrônico
com tensão de aceleração de 100
keV, possui um comprimento de onda
de 0,0037 nm, muito inferior ao
comprimento de onda da radiação
eletromagnética ultravioleta ou mesmo
raios-X.
A análise requer o posicionamento da
amostra preparada sobre um
reticulado de cobre, ouro ou carbono,
onde o feixe eletrônico deverá incidir e
gerar a imagem na tela.
O sistema de colimação e
alinhamento do feixe eletrônico é
construído por lentes
eletromagnéticas.
Uma particularidade que torna a
caracterização por MET
extremamente interessante é a
possibilidade de obter imagens,
padrões de difração e outras técnicas
de análise espectroscópicas no
mesmo equipamento. 24
25
26
MET MEV

27
 Cross-sectional TEM image
Microscopia
showing the oxide film formed in absence of PY.eletrônica
de biópsia renal mostra
Fotomicrografia eletrônica de
podócito hipertrófico com fusão de pedicelos
transmissão de intestino de rato Polypyrrolesobre a membrana
Resin basal glomerular
mostrando as microvilosidades

Aluminium
28
29
Interações ocorrendo entre a agulha e a superfície da amostra (como
forças de van der Waals, eletrostáticas, etc.) causam um deflexão do
"cantilever", a qual é monitorada por meios ópticos e usada para ajustar a
posição do material piezoelétrico que suporta a amostra.
A variação da altura do material piezoelétrico é comumente usada para
formar a imagem da superfície.

30

30
 31

31
REFERÊNCIAS

CALLISTER, W. D. Ciência e Engenharia de Materiais,

5ª edição, LTC Editora, 2002. (Cap. 3 – A estrutura de sólidos
cristalinos)

ASKELAND, D. R.; PHULÉ, P. P. Ciência e Engenharia dos

Materiais, Cengage Learning, 2008. (Cap.3 – Arranjos atômicos
e iônicos)

SHACKELFORD, J. F. Ciência dos Materiais, 6ª edição,

Pearson, 2008. (Cap. 3 – Estrutura cristalina – perfeição)

32