DIFRAÇÃO DE RAIOS-X

FT-IR
Difração de Raios-X
 Difração de Raios-X

• Não se pode resolver espaçamentos  

• Espaçamento é a distância entre planos de átomos

paralelos.
 Difração de Raios-X
Geração de Raios-X
• Os Raios-X são gerados quando uma partícula de alta energia
cinética é rapidamente desacelerada (Bremsstrahlung) ou por
captura eletrônica .

• O método mais utilizado para produzir raios-X é fazendo com que

um elétron de alta energia (gerado no cátodo do tubo catódico)
colida com um alvo metálico (ânodo).

• Quando esse elétron atinge o alvo (I), um elétron da camada K de

um átomo do material é liberado na forma de fotoelétron (II),
fazendo com que haja uma vacância nessa camada. Para ocupar o
espaço deixado por esse elétron, um outro elétron de uma
camada mais externa passa à camada K (III), liberando energia na
forma de um fóton de Raio-X (IV).

• A energia desse fóton corresponde à diferença de energia entre

as duas camadas.
Difração de Raios-X

Geração de Raios-X
Difração de Raios-X
Geração de Raios-X
Difração de Raios-X
Geração de Raios-X
Difração de Raios-X
 Difração de Raios-X
• Os átomos e moléculas podem se arranjar em
estruturas cristalinas ou amorfas.

• Podemos predizer a densidade (da parte cristalina) de

um material desde que saibamos a massa molecular, raio
de giração e geometria cristalina.

• Pontos, direções e planos cristalográficos são

especificados em termos de índices cristalográficos.
 Difração de Raios-X

• Materiais podem ser constituidos de cristais únicos (single

crystals) ou serem policristalinos.

• As propriedades geralmente variam com a orientação do

cristal único (i.e., são anisotrópicas), mas são geralmente
não-direcionais (i.e., isotrópicas) em materiais policristalinos
com domínios (ou grãos) orientados aleatoriamente.

• Alguns materiais podem ter mais que uma estrutura

cristalina. Isto é conhecido como polimorfismo (ou
alotropia).

• A difração de raios-X é usada para determinar a

estrutura cristalina, o espaçamento interplanar e o grau
de cristalinidade.
 Raios-X para Determinação da
Estrutura Cristalina
• Os raios-X incidentes difratam a partir dos planos cristalinos.
de
te
c to

”
r

“1
in ray
co s
s
X-

y As reflexões devem
ra
m
estar em fase para gerar
X-
in

”
“2
g
um sinal detectável
“1
g
”
distância
oi
n 
“2

g Adapted from Fig. 3.19,

extra
 ut 
”

o Callister 7e.
percorrida
p/ onda “2” espaçamento
d entre
planos

X-ray
A medida do ângulo n
intensity d
crítico, c, permite (from 2 sin c
computar a distância detector)
interplanar, d. 
c
Sistemas Cristalinos
 Perfil de um Difratograma de Raios-X
z z z
c c c

y (110) y y
a b a b a b
Intensity (relative)

x x x (211)

(200)

Diffraction angle 2

Difratograma do ferro  policristalino (BCC)

Adapted from Fig. 3.20, Callister 5e.
Cristalinidade em Polímeros
Cristalinidade em Polímeros
Cristalinidade em Polímeros
Difração de Raios-X
Difração de Raios-X
Difração de Raios-X
Difração de Raios-X
 Difração X Espalhamento

• O fenômeno de difração de raios-x envolve

uma mudança de 90o da polarização do feixe
difratado em relação ao incidente
• Espalhamento não existe correlação de
polarização entre o feixe de saída e o incidente
• No espalhamento nenhuma nova onda é
excitada, apenas o feixe de raios-x incidente é
refletido pela densidade eletrônica das fases
presentes na amostra.
 Análise do Alargamento do
perfil de difração

• A análise do alargamento do perfil de

difração constitui uma técnica valiosa
para o conhecimento da estrutura e
parâmetros físicos de materiais
cristalinos, como:
• tamanho médio de cristalitos,
• microdeformação e
• heterogeneidade.
 Determinação do tamanho de
cristalito e microtensão

• Cristalitos ou domínios de difração correspondem

a regiões coerentes de difração, nas quais não
existe diferença de orientação cristalográfica entre
as células unitárias.

• A limitação destes domínios coerentes de difração

é provocada por defeitos superficiais tais como:
• falha de empilhamento e
• microtrincas.
Espectroscopia de Infravermelho – IV

Espectroscopia no infravermelho
por transformada de Fourier (FTIR)
 Infravermelho
• "O infravermelho é um tipo de radiação eletromagnética que
apresenta frequência menor que a da luz vermelha e, por isso, não
está dentro do espectro eletromagnético visível.

• O infravermelho possui comprimento de onda entre 1 μm (1 x 10 –

6m) e 1 mm ( 1 x 10-3m) e não é uma radiação ionizante, ou seja,
não oferece riscos à saúde humana”.
• "A radiação infravermelha tem origem na vibração
molecular, que gera oscilações nas cargas elétricas
constituintes dos átomos e provoca a emissão de
radiação, por isso, esse tipo de radiação está
associada ao calor. Um exemplo disso é que, ao
colocar a mão nas proximidades de uma chapa de
ferro quente, é possível sentir o calor. Isso ocorre por
causa da recepção do corpo às ondas de
infravermelho produzidas pelo corpo aquecido
 Espectroscopia Infravermelho
• A espectroscopia estuda a interação da radiação
eletromagnética com a matéria, sendo um dos seus
principais objetivos o estudo dos níveis de energia de
átomos ou moléculas. Normalmente, as transições
eletrônicas são situadas na região do ultravioleta ou
visível, as vibracionais na região do infravermelho e
as rotacionais na região de micro-ondas e, em casos
particulares, também na região do infravermelho
longínquo.
Espectroscopia no Infravermelho por
Transformada de Fourier (FTIR)
• Nota-se que quando δ=0, as ondas estão em fase e
à medida que o espelho se move, a partir de δ, em
ambas as direções, I(δ) varia de acordo com as
contribuições das várias freqüências que podem
estar em fase ou fora de fase.
 FT-IR
• Apesar de o interferograma conter toda a informação fornecida
pelo espectrômetro sob um dado conjunto de condições, a forma
com que essa informação se apresenta não é muito útil para os
espectroscopistas, muito menos para os químicos analíticos. Essa
informação é convertida em espectro, relacionando-se as
intensidades com as respectivas frequências, através da
transformada de Fourier (2). A relação entre o interferograma e o
espectro é dada pela equação:

onde B(ν) é a intensidade do espectro em função da freqüência.

O interferograma é, portanto, formado pela soma de todas as

ondas de diferentes amplitudes e freqüências que chegam ao
interferômetro e possui todas as informações espectrais da
amostra.
 Os movimentos envolvidos em modos
vibracionais comuns podem ser ilustrados
abaixo:
• Modos de vibração de deformação têm,
geralmente, menores números de onda
do que modos de estiramento: C-H
estiramento -> 2900 a 3100 cm-1 C-H
deformação -> 1100 a 1500 cm-1 Para
moléculas poliatômicas, todos os
átomos sofrem vibração de modo
sincronizado.
• Por exemplo, ligação C=O aparece entre
1600 e 1800 cm-1 dependendo do
restante dos grupos ligados a acila.
A forma da banda no espectro de IR é
bastante instrutiva:

Banda larga: indicativo de interação

intermolecular

Banda muito larga: indicativo de ligação

de hidrogênio -> correspondem em geral a
grupos OH e NH

Ordem de largura das bandas em

espectros de IR: gás < líquido < sólido
Principais vantagens da espectroscopia
FT-IR

• O instrumento apresenta poucos elementos ópticos e não

necessita de fenda (vantagem de Jacquinot). A potência da
radiação que chega ao detector é maior do que nos
instrumentos dispersivos e maiores relações sinal/ruído são
observadas.
• Melhores precisão e exatidão em termos de comprimento de
onda.
• Todos os sinais da fonte alcançam o detector simultaneamente
(vantagem de Fellgett ou multiplex). Essa característica torna
possível a obtenção de todo o espectro de uma só vez e, com
essa economia de tempo, é possível aumentar o número de
varreduras (“scans”) para aumentar a razão sinal/ruído.