Escolar Documentos
Profissional Documentos
Cultura Documentos
Slidos no so perfeitos em sua microestrutura: muitas propriedades esto relacionadas a estes defeitos; freqentemente defeitos so induzidos propositalmente nos materiais. Defeito cristalino: Uma irregularidade na rede cristalina da ordem de um dimetro atmico em uma ou mais de suas dimenses. Classificao dos defeitos cristalinos em funo da dimenso em que ocorrem: Defeito pontual ( 0 D) Discordncias ( 1 D) Defeitos interfaciais ou de fronteira (2 D) Defeitos em volume (3 D)
Defeitos Pontuais
Vazios e Intersticiais
Vazios
Intersticiais
Vazios: stios atmicos vagos na estrutura cristalina Intersticiais: tomos extras ocupando posies entre os stios atmicos Substitucionais: tomos de elementos estranhos inseridos na rede cristalina
Substitucionais
Defeitos Pontuais
Defeito de Frenkel: Auto-intersticial
(tomo ou on) criando uma vacncia na rede. O nmero de equilbrio de vazios no sistema funo da temperatura:
Qv N v = N exp kT
Nv = Nmero de vazios N = Nmero de posies atmicas Qv = Energia de ativao T = Temperatura absoluta em kelvins k = Constante de Boltzman
1,38x10-23 J/tomo.K 8,62x10-5 ev/tomo.K
Vacncia
Substitucional:
tomos do solvente substitudos por tomos do soluto no reticulado; a estrutura do solvente no muda, mas se deforma;
Intersticial:
os tomos do soluto espremem-se nos vazios (interstcios) da rede cristalina do solvente; ocorre quando a diferena de tamanho entre soluto e solvente grande; a mxima solubilidade menor que 10 %
Ns = Nmero de vazios N = Nmero de posies atmicas Qs = Energia de ativao T = Temperatura absoluta em kelvins k = Constante de Boltzman
1,38x10-23 J/tomo.K 8,62x10-5 ev/tomo.K
Concentraes - Composio
% Peso: til quando se trabalha com solues
C1 =
m1 100 m1 + m2
C1' =
m1 nm1 = A1
Converso: % peso
% atmica
% atmica
% massa
Definio Defeito em uma dimenso ao redor do qual alguns tomos encontramse desalinhados; Translao incompleta de uma das partes da rede em relao s outras.
Discordncia de Aresta
(a)
(b)
(c)
Discordncia de aresta
a) b) c)
Um cristal perfeito; Um plano extra inserido no cristal (a); O vetor de burgers b equivale distncia necessria para fechar o contorno formado pelo mesmo nmero de tomos ao redor da discordncia de aresta.
Discordncia em Espiral
Linha de discordncia
(a)
(b)
(c)
Vetor de Burgers b
a)
Um cristal perfeito;
Discordncia em Espiral
Discordncia Combinada
Movimento de Discordncias
Tenso de cisalhamento
Plano de deslizamento
Linha de discordncia
Vetor de Burgers
O movimento de discordncias provoca deslizamentos, que resultam em deformaes permanentes (plsticas) no material.
Repulso
Atrao e aniquilamento
Defeitos Interfaciais
Superfcies Externas: tomos na superfcie no tm todas suas ligaes satisfeitas e possuem maior energia livre que os tomos sob a superfcies; rea da superfcie tende a minimizar; A superfcie dos slidos podem se reconstruir para satisfazer as ligaes atmicas dos seus tomos. Superfcie com energia livre
tomos insaturados
Material cristalino
Microestrutura do Pd (100x)
Contornos de Gro
ngulo de desalinhamento
ngulos de desalinhamento:
Em funo do desalinhamento dos planos atmicos entre os gros adjacentes, pode-se distinguir os contornos de gro de baixo e alto ngulo.
Alto ngulo
Baixo ngulo
ngulo de desalinhamento
Uma macla separa duas regies cristalinas que so, estruturalmente, imagens espelhadas uma da outra.
(a)
(b)
Corresponde a interrupo de uma seqncia regular de empacotamento de planos em uma rede cristalina
Defeitos em Volume
Podem ser classificados como poros, fraturas ou incluses: Poros: podem modificar substancialmente as propriedades pticas, mecnicas e trmicas de um material; Fraturas: podem afetar as propriedades mecnicas do material; Incluses: podem modificar substancialmente as propriedades eltricas, mecnicas e pticas de um material; poros Fases secundrias Incluses Heterogeneidade (materiais multifsicos)
Exames Microscpicos
Microscopia Microscopia ptica Microscopia eletrnica de varredura Microscopia eletrnica de transmisso
Microscopia ptica
Microscopia ptica
Determinao de tamanho de gro Tome uma micrografia de uma amostras polida, ampliada 100 X; N=2
n-1
n = 1 + ln (N)/ln (2) Onde: N = nmero de gros por polegada quadrada n = tamanho de gro Determinao da superfcie de contorno
de gro por unidade de volume traa-se um crculo aleatoriamente Contam-se as interseces Sv = 2 PL, PL = nmero de pontos de interseco por unidade de comprimento
Exames Microscpicos
Microscopia Eletrnica (SEM)
Exames Microscpicos
Microscopia Eletrnica (TEM)
Discordncias