22/05/2015

Olhar Nano - Entenda a microscopia de fora atmica (AFM)

O universo nano ao seu alcance

JUN

25

ENTENDA A MICROSCOPIA DE FORA ATMICA (AFM)

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O Olhar Nano j publicou uma rtigo que trata das diferenas entre os dois principais tipos de
microscpio eletrnico: o microscpio eletrnico de transmisso (MET) e o microscpio
eletrnico de varredura (MEV). Para conhecer suas diferenas, clique aqui. Nesse artigo,
trataremos de um outro tipo de microscpia, a microscopia de varredura por sonda
(SPM, do ingls scanning probe microscopy).
As tcnicas de SPM surgiram em 1982, com a publicao de um artigo na Physical Review
Letters; os autores, Gerd Binnnig e Henrich Roher (Na poca funcionrios da IBM),
ganharam o prmio Nobel de Fsica em 1986, graas inveno. A SPM possui diversas
vantagens, como possibilidade de analisar amostras biolgicas, trabalhar com amostras em
meio lquido ou em ar, possibilidade de mapeamento de propriedades eltricas, magnticas,
pticas, adesivas e com resoluo que podem chegar at a escala atmica. Alm disso essa
tcnica tambm pode ser utilizada para manipular tomos individuais (Nanomanipulao).

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Princpio bsico
Nos microscpios de varredura por sonda, no existem lentes que focalizam a luz ou feixe de
eltrons como nos microscpios pticos e eletrnicos, respectivamente. Ao invs disso, uma
sonda colocada em contato com a amostra e se movimenta varrendo toda a superfcie
estudada, enviando os dados a um computador que constri ento a imagem da topogrfica da
amostra. Numa analogia didtica, isso pode ser compreendido como um cego lendo um texto
em Braille; embora ele no capte a luz diretamente, capaz de colocar seu dedo em contato
com as letras (Que possuem um pequeno relevo) e dessa forma perceber as nuances de cada
smbolo, de maneira que seu crebro capaz de converter essa informao nos smbolos
lingusticos. Veja a Figura 1 para entender melhor essa comparao:

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Figura 1. Um cego capaz de ler as palavras mesmo sem enxerg-las opticamente; ao invs disso, ele varre
as linhas com a ponta do dedo e detecta variaes no relevo que codificam (Atravs do mtodo de Braille) as
letras, nmeros e outros smb olos

Biologia: Conhea a maior aranha do

mundo!
Confira em Cincias

No caso do microscpio, a sonda constituda por um conjunto haste-agulha.

Na microscopia de fora atmica (AFM, do ingls, atmic force microscopy), o conjunto
haste-agulha (Chamado cantilever) utilizado na varredura e est associado a uma pequena
mola. Quando a agulha passa pela amostra, o conjunto sofre uma pequena deformao em

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funo da fora entre os tomos da ponta da agulha e os tomos da amostra. Essa deformao
ento pode ser medida com um sensor ptico que equipa o microscpio (Veja Figura 2) e os
dados da magnitude da deformao so utilizados pelo computador para construir uma imagem
tridimensional da superfcie da amostra.

Figura 2. O cantiveler sob re deformao ao varrer a amostra e essa deformao meida por um sensor ptico
que faz uso de um feixe de laser

Com utilizao de sondas especficas, pode-se estudar outras propriedades da amostra,

como a microscopia de fora magntica (MFM), microscopia de varredura trmica
(SThM), etc. A Tabela 1 fornece alguns exemplos:

SPM

Interaes

Resoluo

Aplicaes

AFM

Van der Waals, eletrostticas

1A

qualquer superfcie

MFM

Magnticas

250 A

superfcies magnticas
superfcies condutoras

STM

Eltron-eltron

0,1 A

NSOM

Eletrodinmicas

500 A

espectroscopia

SThM

Fonons

500 A

adsoro fototrmica

SICM

Correntes inicas

1000 A

canais inicos

SCM

Eletrostticas

10 A

medidas de capacitncia

Tab ela 1. Resoluo e aplicaes das famlias de SPM

Voltando ao AFM, conforme a agulha presa ao cantilever passa pela superfcie da amostra,
variaes topogrficas (De relevo) induzem a deformaes, conforme f dito anteriormente, que
podem ser detectadas pelo sensor e utilizadas para construo da imagem. Uma das exigncias
que o sistema possua uma constante elstica baixa (Aproximadamente 10 N/m); assim, ele
pode deformar-se sem danificar a superfcie da amostra, levando a resultados falsos na
construo da imagem. Alm disso deve-se ter em mete que a natureza das foras (Atrativa ou
repulsiva, de Van der Waals ou Coulombianas) depende da distncia entre os tomos da ponta
da agulha e os tomos da amostra, que varia de acordo com os picos e vales nanomtricos
da superfcie. A Figura 3 mostra uma imagem obtida atravs de AFM, onde possvel ver
claramente a superfcie rugosa da amostra:

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Figura 3. Exemplo de imagem ob tida atravs de microscopia de fora atmica

Modos de operao do AFM

Basicamente, um AFM pode ser operado em dois modos: contato e no-contato. No modo
contato, a fora exercida pelo ponta do AFM calculada atravs do produto da deformao da
base pela constante elstica:
F = K.Z
Onde F a fora, K a constante elstica e Z a deformao da base do cantilever.
J no modo no-contato, a agulha varre a amostra a uma distncia minscula (Entre 10 e
100 nm), suficiente para que esteja sujeita a foras de Van der Waals e de dipolo magntico,
mas sem tocar a amostra. Nesse caso a medida feita atravs de outro artifcio; o sistema
colocado para vibrar atravs da atuao de um cristal piezoeltrico e conforme fica sujeito s
foras citadas acima, a frequncia de oscilao se modifica. Atravs da variao da frequncia
de oscilao, possvel calcular a nova constante elstica do sistema e ento calcular as
foras a que o sistema est sujeito. esse modo possui maior sensibilidade e melhor relao
sinal/rudo.
Outros modos de operao incluem o modo contato intermitente (Um intermedirio entre os
dois modos descritos acima), o modo de fora lateral, o modo de fora qumica, o modo
de fora modulada, modo de fora eltrica, etc.

Aplicaes
A microscopia de fora atmica vem sendo muito aplicada no estudo de polmeros, sendo um
dos principais mtodos para caracterizao topogrfica desses materiais, permitindo tambm
estudos de desgaste microscpico de embalagens e filmes, peas de veculos, etc. Estudos
tribolgicos e de condutividade em polmeros tambm podem ser conduzidos.
A porosidade de membranas polimricas tambm uma importante aplicao da AFM, pois
essa tcnica permite revelear variaes morfolgicas dos poros. Essa informao muito til
para interpretar diferenas nas propriedades de transporte de membranas distintas.
O estudo de estruturas biolgicas atravs da AFM tambm comum. Essa tcnica vem sendo
utilizada para estudar DNA e RNA e constitui-se em uma importante ferramente para o
sequenciamento das bases nitrogenadas. Alm disso, a AFM pode ser utilizada para clivar
molculas de DNA, trabalho feito normalmente por enzimas especficas.
Na cincia forense, a AFM foi utilizada na Sua para examinar a tinta de caneta em
documentos submetidos percia. A tcnica de AFM, conforme dito anteriormente, capaz de
estudar a superfcie tridimensional e morfologia de uma amostra, fornencendo informaes
essenciais para determinar a seqncia de linhas feitas pela tinta liberada atravs da esfera
de canetas esferogrficas. Alm disso, uma vez que a AFM pode ser operada sob condies
ambientes, condies de vcuo e sem revestimento condutor de amostras, danos potenciais
para a amostra durante a investigao podem ser evitados, conservando assim as evidncias.
A profundidade da marca de tinta, a amplitude e imagens de fase de tinta no papel so
apresentadas na figura abaixo. Veja a Figura 4:

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Figura 4. Utilizao forense da AFM

Talvez uma das aplicaes mais interessantes da AFM seja na manipulao de tomos
individuais; de fato, a ponta de prova pode ser utilizada, com os cuidados corretos, para
empurrar tomos e assim construir nanoestruturas e escrever em escala nanomtrica,
armazenar dados, etc. Veja alguns exemplos (Cada "bolinha" corresponde a um tomo
individual!):

CONCLUSO
Existe uma grande variedade de tcnicas que compe a microscopia de varredura por
sonda. Entre elas, a AFM possui um destaque em funo da larga aplicabilidade e das poucos
exigncias de operao em relao natureza da amostra e condies ambientes. Essas
aplicaes variam entre anlises topogrficas de amostras diversas, incluindo polmeros,
materiais biolgicos, evidncias criminais at a manipulao de nanopartculas e at mesmo
tomos individuais.
Com certeza a AFM uma tcnica de importncia fundamental para a nanotecnologia e a
Cincia em geral e que est em constante desenvolvimento; com certeza ser empregada
ainda por muitos anos e ser uma das responsveis por grandes inovaes cientficas e
tecnolgicas que o futuro nos guarda.

REFERNCIAS
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Binning, G., Quate, C.F.,Gerber, C. Atomic Force microscopy. Physical Review Letters, 1986,
Vol. 56, 9, 930-933
Duran, N., Mattos,

L.H.C.,

Morais,

P.C..

Nanotecnologia,

introduo,

preparao

caracterizao de nanomateriais e exemplos de aplicao. Artliber, 2006, So Paulo

Copyright www.olharnano.com.

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