MICROSCOPIA POR FORÇA ATÔMICA - AFM

Juliana Pereira de Oliveira - 2020.2.200.004

Raphael Luiz Francisco - 2020.2.200.007
A TÉCNICA

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Desenvolvida no início dos anos 80 por Gerd Binnig, Calvin Quate e Chistoph Gerber;

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Obtenção de imagens com resolução quase atômica;

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Mede a morfologia da superfície estudada;

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Precisão de um décimo de Ångström;

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Varre a superfície nos eixos x, y e z;

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Mapeia a superfície através da leitura de forças; FIGURA 1 - 3D topography image of palladium nanoparticles on chitosan film
( Institute for Applied Life Sciences of UMass Amherst )

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PRINCÍPIOS BÁSICOS DE FUNCIONAMENTO DO EQUIPAMENTO

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Feixe de laser de referência;

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Cantiléver espelhado;

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Pequena ponta delgada;

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Sistema piezoelétrico (mesa da amostra);

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Matriz de fotodiodos;

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Fotodetector;
FIGURA 2 – Ilustração do principio de funcionamento do AFM
( Polímeros vol.7 no.4 São Carlos Oct./Dec. 1997 )

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MODOS DE OPERAÇÃO

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MODO CONTATO
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A ponta entra em contato com a amostra durante todo o
ensaio e através dos desníveis presentes na superfície da
amostra a imagem é criada;
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MODO NÃO-CONTATO
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A ponta oscila em uma frequência constante e controlada
acima da superfície da amostra;
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MODO CONTATO INTERMITENTE
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A ponta oscila sobre a amostra e, em vez de manter contato
todo o tempo, são realizadas inúmeras “batidas” na amostra
para se construir a imagem (não há atrito);
FIGURA 3 – Different modes of AFM, including contact mode, noncontact mode, and tapping mode
( Synthesis and Applications of Electrospun Nanofibers )

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DIFERENCIAL

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Maior resolução com menor custo;
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Não necessita de fonte de luz específica;
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Investiga materiais tanto condutores quanto isolantes;
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Pode ser usado em qualquer tipo de material;
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Obtenção de imagens em 3D;
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Preparo simplificado da amostra;
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Ambiente de ensaio mais acessível;
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Fácil funcionamento e manuseio.
FIGURA 4 – Nano-Profiling AFM
( AFM Workshop )

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CURIOSIDADES

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A UFG (Universidade Federal do do Goiás) e a UFRJ (Universidade Federal do Rio de
Janeiro) possuem este microscópio em seus respectivos laboratórios;
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A saída de dados é um conjunto de coordenadas e informações relevantes para a
construção da imagem;
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A técnica foi derivada a partir do chamado microscópio de tunelamento;
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Graças a sua altíssima resolução foi possível visualizar o DNA nas células;
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Pode ser utilizado para nanolitografia;

FIGURA 5 – Nanocontact Printing by AFM Nanolithography

( Beilstein Journal of Nanotechnology 2011, 21 )

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EXEMPLO I Crédito das imagens para “Utilização do microscópio de força atômica (AFM) para o estudo de superfícies de nanoestruturas”
EXEMPLO II Crédito das imagens para “Microscopia de Varredura por Força: uma Ferramenta Poderosa no Estudo de Polímeros”
REFERÊNCIAS BIBLIOGRÁFICAS

●
Paulo S. P. HerrmannI, II, IV; Marcelo A. P. da SilvaIII, Rubens Bernardes FoI, II; Aldo E. JobIII; Luiz A. ColnagoI, II; Jane E.
FrommerIV; Luiz H.C. MattosoI. Scanning force microscopy: a powerful tool on the study of polymers. Polímeros vol.7
no.4 São Carlos Oct./Dec. 1997;
●
Ramazan Asmatulu, Waseem S. Khan, in Synthesis and Applications of Electrospun Nanofibers, 2019;
●
G. Binning; C. F. Quate: Ch. Gerber; Atomic Force Microscope; Physical Review letters; 1986; volume 56; number 9;
●
Leal, Nazareno Nelito da Silva. Mapeamento da condutividade de camadas de grafeno de diferentes espessuras
usando a microscopia de força atômica condutora e espectroscopia Raman / Nazareno Nelito da Silva Leal. – 2016.
85 f;
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Rodríguez, Andrea Hernández. Utilização do microscópio de força atômica (AFM) para o estudo de superfícies de
nanoestruturas. UNICAMP, 2015;
PERGUNTAS?