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PPGE3M
Prof. Fabiano Perin Gasparin
Estruturas das bandas de energia nos sólidos
Diagrama esquemático dos elétrons em função da separação interatômica para
um agregado de 12 átomos. Conforme os átomos se aproximam, cada um dos
estados atômicos 1s e 2s se divide para formar uma banda de energia eletrônica
com 12 estados.
Representação da estrutura de bandas
filled states
preenchida
filled states
nos metais: preenchida
1.banda parcialmente
preenchida ex. Cu
banda banda
2. bandas sobrepostas
preenchida preenchida
ex. Mg
Chapter 18 - 10
Estrutura de Bandas de Energia Isolantes &
Semicondutores
Isolantes: Semicondutores
--largura da banda proibida (> 2 eV) -- largura da banda proibida (< 2 eV)
-- poucos elétrons excitados para -- mais elétrons excitados termicamente
banda de condução para a banda de condução
Energia banda de Energia banda de
cond. cond.
vazia vazia
GAP ?
GAP
banda de banda de
filled states
filled states
valência valência
preenchida preenchida
(a)Condutores (ex. cobre), com estados eletrônicos disponíveis adjacentes acima dos estados
preenchidos
(b)Condutores (ex. magnésio) onde existe sobreposição das bandas mais externas
(c)Isolantes, com espaçamento entre bandas (gap) relativamente grande (> 2 eV)
(d)Semicondutores, com espaçamento entre bandas (gap) relativamente estreito (< 2eV)
Semicondutores Intrínsecos
• Materiais semicondutores puros,
ex. silício & germânio
– Materiais do grupo IVA
• Semicondutores compostos
– Compostos III-V
• Ex: GaAs, InSb, CIGS [Cu(In,Ga)Se2]
– Compostos II-VI
• Ex: CdS, ZnTe, CdTe
– Outros compostos
• CIGS [Cu(In,Ga)Se2]
– Quanto maior a diferença de
eletronegatividade entre os elementos,
maior será o gap de energia. Chapter 18 - 7
Semicondução Intrínseca – movimento de
elétrons e lacunas
• Conceito de lacuna
valence electron hole electron hole
electron Si atom
pair creation pair migration
- * +
-
no applied applied applied
electric field electric field electric field
Adapted from Fig. 18.11,
• Condutividade elétrica do holes/m3
Callister & Rethwisch 9e.
semicondutor:
hole mobility
electrons/m3 electron mobility
https://www.pveducation.org/pvcdrom/conduction-in-semiconductors Chapter 18 - 8
Portadores de Cargas em Isolantes e
Semicondutores
Fig. 18.6 (b), Callister &
Rethwisch 9e.
Dois tipos de portadores
de cargas
elétrons livres
– carga negativa
– banda de condução
lacunas
– carga positiva
– estado vago na banda de
valência
https://www.pveducation.org/pvcdrom/pn-junctions/band-gap Chapter 18 - 14
Portadores de carga
Condutividade intrínseca
• Ex: GaAs
https://www.pveducation.org/pvcdrom/pn-junctions/intrinsic-
Adapted from Fig. 18.16, carrier-concentration
Callister & Rethwisch 9e. Chapter 18 - 11
Condução Intrínseca e Extrínseca
• Semicondutor Intrínseco:
-- caso do Si puro
-- # elétrons = # lacunas (n = p)
• Semicondutor Extrínseco:
-- o comportamento elétrico é determinado pela presença de impurezas que introduzem
elétrons em excesso ou lacunas
-- n ≠ p
Chapter 18 - 19
Semicondutores Extrínsecos tipo N e tipo P
https://www.pveducation.org/pvcdrom/pn-junctions/doping
Concentração de portadores
1.Os semicondutores contêm portadores majoritários e minoritários. Os portadores de
carga mais abundantes são os portadores majoritários; os menos abundantes são os
portadores minoritários.
2.A concentração de equilíbrio do portador pode ser aumentada por meio de dopagem.
3.O número total de portadores na banda de condução e valência é chamado de
concentração de equilíbrio de portadores.
4.O produto da densidade de portadores majoritários e minoritários é uma constante.
• Silício dopado:
-- dopagem aumenta σ doped
undoped
-- razão:
Sítios de imperfeições (impurezas) tem baixa 3
concentration (1021/m3)
energia de ativação para produzir elétrons
Conduction electron
livres na banda de condução.
freeze-out
2
extrinsic
intrinsic
• Comparação: intrínseco vs extrínseco 1
-- extrinsic doping level: 1021/m3 of a n-
type donor impurity (such as P).
0
-- for T < 100 K: "freeze-out“, thermal energy
insufficient to excite electrons. 0 200 400 600 T (K)
-- for 150 K < T < 450 K: "extrinsic"
Adapted from Fig. 18.17, Callister & Rethwisch
-- for T >> 450 K: "intrinsic" 9e. (From S. M. Sze, Semiconductor Devices, Physics
and Technology. Copyright © 1985 by Bell Telephone
Laboratories, Inc. Reprinted by permission of John Wiley
& Sons, Inc.)
Chapter 18 - 15
Junção PN – diodo retificador
• Permite o fluxo de elétrons em apenas uma direção.
• Processamento: difusão de P em um dos lados de um cristal já dopado com
boro.
http://hyperphysics.phy-astr.gsu.edu/hbase/Solids/pnjun.html
Junção PN – diodo retificador
-- Processos que ocorrem na formação da junção PN
1. Ao juntar um material semicondutor do tipo N com o material tipo P, os elétrons em excesso na
banda de condução difundem-se para o lado P e as lacunas difundem-se do lado P para o lado N.
2. O movimento dos elétrons para o lado P deixa íon positivos no lado N e o movimento de lacunas
para o lado N deixa íons negativos no lado P, resultando em um campo elétrico na junção e formação
de uma região de depleção (região sem portadores de carga).
3. Um potencial resulta do campo elétrico formado na junção, que impede a continuação indefinida da
difusão.
https://www.pveducation.org/pvcdrom/pn
http://hyperphysics.phy-astr.gsu.edu/hbase/Solids/pnjun.html -junctions/formation-of-a-pn-junction
Polarização de uma junção PN
https://www.pveducation.org/pvcdrom/pn-junctions/bias-of-pn-junctions
Chapter 18 - 18
Propriedades de uma junção retificadora
Fig. 18.22, Callister & Rethwisch 9e. Fig. 18.23, Callister & Rethwisch 9e.
Chapter 18 - 19
Equação do diodo retificador
𝑒𝑉 Diodo ideal
𝐼𝐷 = 𝐼0 exp −1
𝑘𝐵 𝑇𝑐
•Eph < EG: fótons com energia Eph menor do que o band gap EG interagem
somente fracamente com o semiconductor, passando pelo material como
se fosse transparente.
•Eph > EG : Fótons com energia muito maior do que o band gap são
fortemente absorvidos. Entretanto, para aplicações fotovoltaicas, a energia
maior do que o band gap é desperdiçada por termalização dos elétrons.
2. Os fótons com energia mais alta tem um comprimento de onda mais curto
e uma profundidade de absorção menor do que a luz de energia mais baixa,
que não é tão prontamente absorvida e tem uma profundidade de absorção
maior.
Tipo de recombinação
predominante em
semicondutores de banda
proibida direta (direct band
gap).
Recombinação por meio de defeitos Shockley-Read-Hall
Um elétron (ou lacuna) é capturado por um estado de energia na região
proibida que é introduzido por defeitos na rede cristalina. Esses defeitos
podem ser introduzidos não intencionalmente ou deliberadamente
adicionados ao material, por exemplo, na dopagem do material;
Comprimentos de difusão
mais altos são indicativos de
materiais com tempo de vida
mais longo e são, portanto,
uma qualidade importante a
se considerar com materiais
semicondutores.
https://semilab.com/category/products/minority-carrier-
diffusion-length-measurement
Recombinação na superfície
Em áreas com defeitos na rede cristalina, como na superfície das células
solares onde a rede é interrompida, a recombinação é muito alta.
https://electricalacademia.com/renewable-energy/photovoltaic-pv-cell-
working-characteristics/attachment/process-of-photon-generation-in-solar-
cell/
Pode ser dada como uma função do comprimento de onda ou como energia.
𝑞𝜆
𝑆𝑅 = 𝑄𝐸
ℎ𝑐
𝑄𝐸 . 𝜆
𝑆𝑅 =
1239.8 (𝑛𝑚)
1𝑒 1 𝐴
𝑆𝑅 = [ ] = =[ ]
𝑒𝑉 𝑉 𝑊
Resposta Espectral de Dispositivos FV
https://www.researchgate.net/post/How_does_a_thin
_film_solar_module_perform_well_under_low_radiatio https://pvpmc.sandia.gov/modeling-steps/2-dc-module-
n_diffused_radiation iv/effective-irradiance/spectral-response/
O efeito fotovoltaico
𝑞𝑉
𝐼 = 𝐼𝐿 − 𝐼0 𝑒𝑥𝑝 −1
𝑛𝑘𝑇
Curva I-V de um dispositivo fotovoltaico
5
80
Corrente (A)
Potência (W)
potência) 40
2
- Vmp (tensão do ponto de máxima 30
potência). 1
20
Vmp Voc 10
- Produto ImpVmp é o ponto Pm
0 0
(ponto de máxima potência) da 0 4 8 12 16 20 24
𝐼𝑚𝑝 𝑉𝑚𝑝
𝐹𝐹 =
𝐼𝑠𝑐 𝑉𝑜𝑐
W. Shockley and Queisser, H. J., “Detailed Balance Limit of Efficiency of p-n Junction Solar Cells”, Journal of Applied
Physics, vol. 32, pp. 510-519, 1961.
Balanço detalhado - Limite de Shockley Queisser
https://www.pveducation.org/pvcdrom/tandem-cells
Células Tandem e Multijunção
Eficiência máxima para um
tandem de duas junções sob
o espectro AM1.5G.
Limite sem concentração é de
47%.
https://www.pveducation.org/pvcdrom/tandem-cells