388 Apostilacep 2012 PDF

Srie monogrfica Qualidade
Controle Estatstico do Processo

Cartas de Controle para Variveis, Cartas de Controle para
Atributos, Funo de Perda Quadrtica, Anlise de
Sistemas de Medio
Jos Luis Duarte Ribeiro & Carla Schwengber ten Caten
Publicado por
FEENG/UFRGS Fundao Empresa Escola de Engenharia da UFRGS

Universidade Federal do Rio Grande do Sul
Escola de Engenharia
Programa de Ps Graduao em Engenharia de Produo
Porto Alegre, RS
2012
Catalogao-na-publicao(CIP). UFRGS. Escola de Engenharia. Biblioteca

Jos Lus Duarte Ribeiro e Carla Shwengber ten Caten.
Porto Alegre: FEENG/UFRGS, 2012. 172p. (Srie Monogrfica Qualidade)
ISBN 85-88085-10-0
Universidade Federal do Rio Grande do Sul. Escola de Engenharia. Programa
de Ps-Graduao em Engenharia de Produo. III. Ttulo. IV. Srie CDU519.2
2012 by Jos Luis Duarte Ribeiro & Carla Schwengber ten Caten
Direitos em lngua portuguesa para o Brasil adquiridos por
FEENG Fundao Empresa Escola de Engenharia da UFRGS
Universidade Federal do Rio Grande do Sul
Escola de Engenharia
Programa de Ps Graduao em Engenharia de Produo
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Projeto Grfico
Lia Buarque de Macedo Guimares
Editorao Eletrnica
Andria Fabiane Nahra Leal
Fabolla Granata
Gustavo Schroeder
Ilustrao da Capa
Antnio Bandeira, Composio, 1952
aquarela e nanquim s/ papel 22,5 X 30 cm
Coleo Particular
Nenhuma parte deste material deve ser reproduzida de nenhuma forma sem a
autorizao por escrito dos autores

Introduo ao Controle Estatstico do Processo ................................................................ 5
CONSIDERAES INICIAIS .......................................................................................................5
DEFINIO DO CONTROLE ESTATSTICO DO PROCESSO ...................................................5
Objetivos do controle estatstico do processo ..............................................................................6
Origens histricas das cartas de controle .....................................................................................6
Sistema de controle do processo .................................................................................................7
Variabilidade: causas comuns e causas especiais .......................................................................9
DISTRIBUIO DE PROBABILIDADE ...................................................................................... 11
Tipos de distribuio de Probabilidade ....................................................................................... 11
Anlise das cartas de controle ................................................................................................... 12
Inspeo versus controle estatstico do processo ...................................................................... 17
Planejamento da implantao .................................................................................................... 18
Cartas de Controle para Variveis ................................................................................. 30

Introduo s cartas de variveis ............................................................................................... 30
Cartas de controle para a mdia ................................................................................................ 38
Carta de controle para o desvio-padro ..................................................................................... 67
Carta de controle para a mediana ( ~
x ) e amplitude (R) .............................................................. 70
Carta de controle para valores individuais .................................................................................. 73
Cartas de controle para mdias mveis ..................................................................................... 77
Escolha do tipo de carta de controle .......................................................................................... 79
Exerccios .................................................................................................................................. 80
Carta de Controle para Atributos ................................................................................... 85

Importncia das cartas de controle de atributos ......................................................................... 85
Carta p para frao de no-conformes ..................................................................................... 86
Carta np para nmero de no-
-conformes ................................................................ 90
Carta c para nmero de no-
-conformidades ........................................................ 92
Carta u para nmero de no-conformidades por unidade ........................................................ 94

Escolha do tipo de carta de controle .......................................................................................... 98
Exerccios .................................................................................................................................. 98
A Funo de Perda Quadrtica .................................................................................... 102

Abordagem Tradicional x Abordagem de Taguchi .................................................................. 102
A Funo de Perda e o Controle do Processo ......................................................................... 102
Determinao do coeficiente de perda ..................................................................................... 104
Vantagens da funo de perda ................................................................................................ 104
Clculo da perda para um lote de produtos .............................................................................. 104
Anlise dos problemas de qualidade ........................................................................................ 105
Tipos de caractersticas de qualidade ...................................................................................... 106
A funo de perda para Maior--melhor .................................................................................. 106

A funo de perda para menor--
-melhor .............................................................. 107
Aplicaes da funo de perda ................................................................................................ 109

Uso da funo de perda na definio de tolerncias ................................................................ 110
Exerccios ................................................................................................................................ 111
Exerccio Final ......................................................................................................................... 113
Anlise de Sistemas de Medio ................................................................................. 115

Introduo ................................................................................................................................ 115
Categorias de dados e discriminao....................................................................................... 115
Estabilidade ............................................................................................................................. 116
Preciso x exatido .................................................................................................................. 119
Tendncia ................................................................................................................................ 119
Exerccio 68 ............................................................................................................................. 120
Linearidade .............................................................................................................................. 121
Exerccio 69 ............................................................................................................................. 123
Exerccio 70 ............................................................................................................................. 123
Reprodutibilidade ..................................................................................................................... 125
R&R - sistema de medio ....................................................................................................... 126
Variao pea-a-pea .............................................................................................................. 126
Estudos de R&R....................................................................................................................... 128
O mtodo da amplitude (estudo rpido de R&R) ...................................................................... 128
Mtodo da mdia e amplitude (estudo formal de R&R) ............................................................ 129
O mtodo da anlise de varincia ............................................................................................ 133
Estudos incluindo a variao prpria da pea .......................................................................... 137
Uso da ANOVA no estudo da variao prpria da pea ........................................................... 141
Sistemas de medio de atributos ........................................................................................... 145
Exerccios ................................................................................................................................ 147
Seis Sigma ..................................................................................................................... 149

Introduo ................................................................................................................................ 149
A Motorola e o Seis Sigma ....................................................................................................... 150
EMPRESAS QUE ADOTARAM O SEIS SIGMA ...................................................................... 151
A MEDIDA SEIS SIGMA .......................................................................................................... 151
os agentes do seis sigma ......................................................................................................... 154
Etapa Analisar .......................................................................................................................... 159
Etapa Melhorar ........................................................................................................................ 159
Etapa Controlar ........................................................................................................................ 160
O MTODO DMAIC E O PDCA ............................................................................................... 161
Caractersticas do Seis Sigma ................................................................................................. 161
Programa de treinamento......................................................................................................... 162
Bibliografia ..................................................................................................................... 164
Introduo ao Controle Estatstico

do Processo
Jos Luis Duarte Ribeiro
Carla ten Caten
CONSIDERAES
INICIAIS
De acordo com a definio de Taguchi, um produto ou servio de

qualidade aquele que atende perfeitamente s especificaes, atingindo o
valor alvo com a menor variabilidade possvel em torno dele.
Cada produto possui um nmero de elementos que, em conjunto,
descrevem sua adequao ao uso. Esses elementos so freqentemente
chamados caractersticas da qualidade ou indicadores de desempenho.
Segundo Montgomery (1985), essas caractersticas podem ser de diversos
tipos: fsicas, tais como comprimento, peso, voltagem e viscosidade;
sensoriais, como gosto, aparncia e cor; ou de orientao temporal, como
confiabilidade, manuteno, utilidade e durabilidade.
O controle estatstico do processo (CEP) uma tcnica estatstica aplicada
produo que permite a reduo sistemtica da variabilidade nas
caractersticas da qualidade de interesse, contribuindo para a melhoria da
qualidade intrnseca, da produtividade, da confiabilidade e do custo do que
est sendo produzido.
DEFINIO DO
CONTROLE
ESTATSTICO DO
PROCESSO
O controle estatstico do processo um sistema de inspeo por

amostragem, operando ao longo do processo, com o objetivo de verificar a
presena de causas especiais, ou seja, causas que no so naturais ao
processo e que podem prejudicar a qualidade do produto manufaturado.
Uma vez identificadas as causas especiais, podemos atuar sobre elas,
melhorando continuamente os processos de produo e, por conseguinte, a
qualidade do produto final.
O CEP fornece uma radiografia do processo, identificando sua
variabilidade e possibilitando o controle dessa variabilidade ao longo do
tempo atravs da coleta de dados continuada, anlise e bloqueio de
possveis causas especiais que estejam tornando o sistema instvel.
Num ambiente competitivo, o controle estatstico abre caminho para
melhorias contnuas, uma vez que garante um processo estvel, previsvel,
com uma identidade e capacidade definidas, cuja evoluo pode ser
facilmente acompanhada.
1. Introduo ao Controle Estatstico do Processo

Jos Luis Duarte Ribeiro & Carla ten Caten/PPGEP-UFRGS
OBJETIVOS DO
CONTROLE
ESTATSTICO DO
PROCESSO
O principal objetivo do CEP possibilitar um controle eficaz da

qualidade, feito pelo prprio operador em tempo real. Isso aumenta o
comprometimento do operador com a qualidade do que est sendo
produzido e libera a gerncia para as tarefas de melhoria.
O CEP possibilita o monitoramento das caractersticas de interesse,
assegurando que elas iro se manter dentro de limites preestabelecidos e
indicando quando devem ser tomadas aes de correo e melhoria.
importante ressaltar a importncia de se detectar os defeitos o mais cedo
possvel, para evitar a adio de matria-prima e mo-de-obra a um
produto defeituoso.
O CEP objetiva aumentar a capacidade dos processos, reduzindo refugo e
retrabalho, e, por conseqncia, o custo da m qualidade. Assim, ele
proporciona s empresas a base para melhorar a qualidade de produtos e
servios e, simultaneamente, reduzir substancialmente o custo da m
qualidade.
ORIGENS HISTRICAS
DAS CARTAS DE
CONTROLE
O controle da qualidade iniciou na dcada de 20, nos Estados Unidos,

como resultado de avanos na tecnologia de medio e da aplicao
industrial das cartas de controle, desenvolvidas pelo Dr. Walter A.
Shewhart, da empresa de telefonia Bell Telephone Laboratories.
O Dr. Walter Shewhart desenvolveu uma tcnica simples mas poderosa
para fazer a distino entre causas comuns e causas especiais: as cartas de
controle do processo.
Ele props o uso das cartas de controle para a anlise dos dados
provenientes de amostragem, substituindo a mera deteco e correo de
produtos defeituosos pelo estudo e preveno dos problemas relacionados
qualidade, visando impedir que produtos defeituosos fossem produzidos.
Em seguida, o controle da qualidade foi tambm adotado na Inglaterra.
Em 1935, os trabalhos do estatstico E. S. Pearson foram utilizados como
base para os padres normativos britnicos.
A Segunda guerra mundial foi decisiva para a aplicao do controle de
qualidade e da estatstica moderna em um maior nmero de indstrias
americanas. Aps a guerra, foi a vez do Japo adotar o controle estatstico
da qualidade, seguindo os padres americanos.
A partir de 1954, com os seminrios do engenheiro americano J. M.
Duran, os japoneses comearam a perceber que o controle da qualidade
dependia muito de fatores humanos e culturais. A partir dessa percepo,
foi desenvolvido um mtodo japons para o controle da qualidade, que
deu origem ao controle da qualidade total no estilo japons, envolvendo a
participao de todos os setores e funcionrios da empresa e que muito
contribuiu para que o Japo passasse a fabricar produtos da mais alta
qualidade.
Recentemente, vrios pases perceberam as vantagens do controle da
qualidade e um grande nmero de empresas em todo o mundo vm
utilizando os mtodos do controle da qualidade, com as adaptaes
necessrias s suas situaes especficas.

SISTEMA DE CONTROLE O controle da qualidade depende de quatro elementos fundamentais, que

constituem um sistema de controle do processo e que sero apresentados a
DO PROCESSO
seguir.
O processo em si
O processo em si uma combinao de equipamentos, insumos, mtodos,

procedimentos e pessoas, tendo como objetivo a fabricao de um bem ou
o fornecimento de um servio (efeito).
Figura 1
Detalhamento das
fontes de
variabilidade no
Diagrama de
Causa e Efeito
O desempenho do processo depende da maneira como ele foi projetado e

construdo e da maneira como ele operado. O restante do sistema, que
ser descrito na continuao, til na medida em que contribui para
melhorar o desempenho do processo.

Figura 2 Diagrama de
Causa e Efeito
Informaes sobre o
processo
As informaes sobre o desempenho de um processo so obtidas a partir

do estudo cruzado dos itens a seguir: a) qualidade das caractersticas do
produto final, b) qualidade das caractersticas intermedirias e c) ajuste
dos parmetros do processo.
As informaes sobre o processo so teis na medida em que alavancam
aes de melhoria. Se no se pretende agir sobre o processo, coletar
informaes intil e dispendioso.
Aes sobre o processo
A coleta de dados e as aes ao longo do processo so orientadas para o

futuro, pois permitem detectar o defeito assim que ele gerado,
possibilitando a atuao sobre o processo no momento e local adequado.
Essas aes podem envolver: controle sobre as matrias primas; ajuste nos
parmetros do processo; manuteno peridica; treinamento de
operadores, etc. Corrigindo-se o processo, evita-se que novas peas
defeituosas sejam produzidas.
Aes sobre o produto

final
As inspees sobre o produto final so orientadas para o passado, pois elas

permitem apenas separar o produto conforme do produto no-conforme
(refugo) que pode eventualmente ser retrabalhado. As inspees tm
algumas vantagens pois impedem que produtos defeituosos cheguem ao
cliente, mas no so uma forma eficiente de ao. Agir sobre o processo
mais eficaz, pois impede que novas peas defeituosas sejam produzidas.

VARIABILIDADE:
CAUSAS COMUNS E
CAUSAS ESPECIAIS
A variabilidade est sempre presente em qualquer processo produtivo,

independente de quo bem ele seja projetado e operado. Se compararmos
duas unidades quaisquer, produzidas pelo mesmo processo, elas jamais
sero exatamente idnticas.
Contudo, a diferena entre peas pode ser grande, provocando o aparecimento de produtos defeituosos, ou pode ser praticamente imperceptvel.
Alm disso, as fontes de variabilidade podem agir de forma diferente
sobre o processo. Conforme a fonte de variabilidade, o resultado pode ser:
a) pequenas diferenas pea-a-pea (habilidade do operador, diferenas na
matria-prima etc.), b) alterao gradual no processo (desgaste de
ferramentas, temperatura do dia etc.) e c) alterao brusca no processo
(mudana de procedimento, queda de corrente, troca de set up etc.).
Para o gerenciamento do processo e reduo da variabilidade,
importante investigar as causas da variabilidade no processo. O primeiro
passo distinguir entre causas comuns e causas especiais.
Deming (1986) explica que a confuso entre causas comuns e especiais
leva maior variabilidade e a custos mais elevados. A atuao em causas
comuns como se fossem causas especiais pode levar a um aumento
indesejado da variao, alm de representar um custo desnecessrio.
Por outro lado, se causas especiais passarem despercebidas, elas podem
ser incorporadas ao resultado do processo, tornando aceitvel o que
deveria ser rejeitado, alm de se perder uma oportunidade de melhoria do
produto.
Causas comuns
As causas comuns so as diversas fontes (causas) de variao que atuam

de forma aleatria no processo, gerando uma variabilidade inerente do
processo. Essa variabilidade representa o padro natural do processo, pois
resultante do efeito cumulativo de pequenas fontes de variabilidade
(causas) que acontecem diariamente, mesmo quando o processo est
trabalhando sob condies normais de operao.
Um processo que apresenta apenas as causas comuns atuando dito um
processo estvel ou sob controle, pois apresenta sempre a mesma
variabilidade ao longo do tempo.
Devido variabilidade inerente do processo, as medidas individuais de
uma caracterstica de qualidade so todas diferentes entre si, mas quando
agrupadas elas tendem a formar um certo padro. Quando o processo
estvel, esse padro pode ser descrito por uma distribuio de
probabilidade, como podemos ver na Figura 3.
Figura 3 - Distribuio de
probabilidade de um processo.
10

Uma distribuio de probabilidade se caracteriza por trs parmetros,

como podemos visualizar na Figura 4.
- Parmetro de localizao: que representa a
tendncia central dos dados. Ao lado
podem ser vistas duas distribuies com
parmetros de localizao diferentes
- Parmetro de disperso: que representa a

variabilidade dos dados em torno da
tendncia central. Ao lado podem ser vistas
duas distribuies com parmetros de
disperso diferentes
- Parmetro de forma: que representa a
forma da distribuio: simtrica, assimtrica,
uniforme, exponencial, etc.. Ao lado
podem ser vistas duas distribuies com
Figura 4 - Parmetros de uma
distribuio de probabilidade. parmetros de forma diferentes
As causas comuns, em geral, s podem ser resolvidas por uma ao global

sobre o sistema, e muitas vezes a atuao sobre elas no se justifica
economicamente. Os operadores esto em boa posio para identific-las,
mas a sua correo exige deciso gerencial. A correo pode no se
justificar economicamente.
Causas especiais
As causas especiais so causas que no so pequenas e no seguem um

padro aleatrio (erros de set up, problemas nos equipamentos ou nas
ferramentas, um lote de matria prima com caractersticas muito diferentes
etc.) e por isso tambm so chamadas de causas assinalveis. So
consideradas falhas de operao. Elas fazem com que o processo saia fora
de seu padro natural de operao, ou seja, provocam alteraes na forma,
tendncia central ou variabilidade das caractersticas de qualidade. Elas
reduzem significativamente o desempenho do processo e devem ser
identificadas e neutralizadas, pois sua correo se justifica
economicamente.
As causas especiais geralmente so corrigidas por ao local e, por isso,
so de responsabilidade dos operadores, apesar de algumas vezes a
gerncia estar em melhor posio para resolver o problema.
Na Tabela 1, apresenta-se um resumo das causas comuns e especiais.

Tabela 1 - Resumo das causas Aspecto

comuns e especiais
11
Comum
Especial
Investimento
Pequeno
Grande
Visibilidade do
problema
Grande A natureza
sbita chama a ateno
de todos
Pequena A natureza
contnua faz com que
todos se acostumem ao
problema
Ao requerida
Restabelecer o nvel
anterior
Mudar para nvel melhor
Dados
Simples, coleta
rotineira e muito
frequente
Complexos, coleta
especial e pouco
frequente
Anlise
Simples e feita pelo

pessoal prximo ao
processo
Complexa e feita por

pessoal tcnico
Responsabilidade Operadores, pessoal

prximo ao processo
pela ao
Pessoal da gerncia
A meta de um sistema de controle do processo permitir que sejam

realizadas decises corretas referentes a quando agir sobre o processo,
pois tanto o excesso de ao quanto a falta de ao so prejudiciais.
Assim, a funo do sistema de controle do processo fornecer um sinal
estatstico sempre que causas especiais estejam presentes, de forma que
aes corretivas possam ser disparadas.
DISTRIBUIO DE
PROBABILIDADE
Uma distribuio de probabilidade se caracteriza por trs parmetros:

Parmetro de localizao: que representa a tendncia central dos
dados. Ao lado podem ser vistas duas distribuies com

parmetros de localizao diferentes;


TIPOS DE DISTRIBUIO
DE PROBABILIDADE
Tipo nominal--melhor
Caractersticas de qualidade do tipo nominal--melhor (por exemplo,

caractersticas dimensionais) tendem a apresentar uma distribuio de
probabilidade aproximadamente simtrica, pois as causas de variabilidade
geram valores que podem se afastar tanto para cima como para baixo do alvo.
Elas apresentam limite superior de especificao e limite inferior de
especificao.
12

LSE
Tipo maior--melhor
Caractersticas de qualidade do tipo maior--melhor (por exemplo, resistncia

mecnica) tendem a apresentar uma distribuio de probabilidade assimtrica
esquerda, pois muitas vezes existem limitaes tecnolgicas que dificultam a
obteno de valores altos, enquanto que muitos causas de variabilidade podem
gerar valores baixos. Elas apresentam apenas limite inferior de especificao.
LIE
Tipo menor--melhor
Caractersticas de qualidade do tipo menor--melhor (por exemplo, nvel de

rudo) tendem a apresentar uma distribuio de probabilidade assimtrica
direita, pois muitas vezes existem limitaes tecnolgicas dificultando a obteno
de valores baixos, enquanto que muitos causas de variabilidade podem gerar
valores altos. Elas apresentam apenas limite superior de especificao.
LSE
Comparaao entre mdia

e mediana
A comparao entre mdia e mediana ajuda a identificar o tipo de distribuio de

probabilidade
A
Distribuio simtrica
10 12 14 16 18
x 14 ~
x 14
Distribuio assimtrica direita
10 12 14 16 23
x 15 ~
x 14
Distribuio assimtrica esquerda
05 12 14 16 18
x 13 ~
x 14
x
~
x
Simtrica
Forma de Sino
ANLISE DAS CARTAS

DE CONTROLE
~
x
Assimtrica Direita
Assimetria Positiva
~
x
Assimtrica Esquerda
Assimetria Negativa
No incio de estudos que utilizam cartas de controle, o processo

colocado em funcionamento e so coletados dados referentes
caracterstica em estudo. Esses dados podem ser, entre outros: a)
dimenses de uma pea usinada, b) nmero de defeitos em um circuito
impresso, c) viscosidade de um produto qumico, d) resistncia de um
componente e e) peso de um refrigerante.
A coleta de dados realizada com uma certa freqncia e tamanho de
amostra definidos de acordo com a caracterstica em estudo. Por exemplo,
pode ser adequado coletar, de hora em hora, amostras com 3 peas e medir

13
seus dimetros. A freqncia de amostragem deve ser compatvel com as

principais causas de variabilidade presentes no sistema.
Logo aps, calcula-se a mdia, o desvio-padro e ento os limites de
controle associados s causas comuns de variabilidade podero ser
definidos. Na Figura 5, pode-se visualizar os limites de controle em um
exemplo de carta de controle.
Uma vez definidos os limites de controle, os dados continuam sendo
coletados e so plotados na carta de controle. Esta a tarefa do dia-a-dia
(monitoramento).
Dimetro
L im it e d e
C o n t r o le
S u p e r io r
M d ia
Figura 5 - Exemplo de uma

carta de controle
L im it e d e
C o n t r o le
I n f e r io r
C au sas
E s p e c ia is
35.2
C au sas
C om uns
X
31.8
23
28
33
38
43
C au sas
E s p e c ia is
Amostra
Processo sob controle

(estvel eliminao das causas
especiais e presena somente
causas comuns)
Processo fora de controle

(instvel surgimento de
causas especiais)
Figura 6 Processo instvel vs

processo estvel
Como pode ser visualizado na Figura 7 e na Figura 8, se apenas as causas

comuns esto presentes, o processo estvel e o esperado que os pontos
plotados permaneam dentro dos limites de controle. Se causas especiais
esto presentes, o processo instvel e so esperados pontos fora dos
limites de controle ou padres no aleatrios na seqncia de pontos,
indicando a provvel presena de causas especiais.
14

Se apenas as causas
comuns esto presentes,
o comportamento do
processo estvel e
previsvel
Se causas especiais esto

presentes, o
comportamento do
processo no estvel, e
no previsvel
Figura 7 Distribuio de
probabilidade de um processo
estvel versus instvel
Se o processo estvel,
apenas as causas
comuns esto presentes,
logo as medidas devem
se manter dentro dos
limites de controle
Dimetro
35.2
X
31.8
35
40
45
50
55
16
21
Amostra
Se o processo
instvel, aparecem
pontos fora dos limites
de controle ou uma
seqncia de pontos
Figura 8 Cartas de controle de no-aleatria indicando
um processo estvel versus a presena de causas
instvel especiais
Dimetro
35.2
X
31.8
11
Amostra
Em geral, no incio do monitoramento, os processos apresentam vrias

causas especiais, como pode ser visto na Figura 9. Ento, acontecem
aes dirigidas pelas cartas de controle, e aos poucos as causas especiais
vo sendo identificadas e eliminadas uma a uma. Com o passar do
tempo, obtm-se um processo estvel e previsvel.

Dimetro
Dimetro
35.2
35.2
X
31.8
15
20
25
30
Amostra
P ro cesso fo ra d o
co n tro le esta tstico
Figura 9 - Aes dirigidas pelas

cartas de controle
Anlise da capacidade do
processo
15
31.8
35
35
40
45
50
55
Amostra
P ro cesso em
co n tro le esta tstico
A es d irig id a s p ela s C a rta s d e C o n tro le
Aps a eliminao de todas as causas especiais, o processo estar

funcionando em controle estatstico. Um processo em controle
estatstico ou estvel aquele que possui variabilidade associada apenas
s causas comuns, ou seja, ele segue um certo padro previsvel ao longo
do tempo. No entanto, esse padro estvel do processo pode ou no ser
capaz de produzir peas que atendam s especificaes de clientes ou de
projeto. Uma vez eliminadas as causas especiais, pode-se ento avaliar a
real capacidade do processo comparando sua variabilidade (associada
apenas s causas comuns) com as especificaes.
Como pode-se visualizar na Figura 11, se a variabilidade devida s
causas comuns for excessiva, ou seja, maior do que a amplitude das
especificaes, o processo dito no capaz e a gerncia deve atuar sobre
o sistema. Se a variabilidade inerente do processo for menor do que a
amplitude de especificaes, o processo dito capaz. Nesse caso, as
aes devem ser tomadas apenas quando o processo apresentar eventuais
causas especiais.
Quando o processo instvel, ou seja, apresenta causas especiais, a
avaliao de sua capacidade no faz muito sentido, pois reflete apenas
um determinado momento j que o processo no apresenta um
comportamento previsvel.
Figura 10 Comparao de
capacidades
16

0.06
0.05
f (x )
0.04
Estvel
0.03
0.02
0.01
0.00
30
40
50
60
70
80
90
x: Ttulo
Mdia
80
Limites de E specificao
A lvo
Distribuio de 'titulo'
No
Capaz
70
0.06
10
11
12
13
14
15
f (x )
0.05
60
1
0.04
0.03
Capaz
0.02
Limite de Controle Superior = 84,5716

Linha Central = 73,80
Limite de Controle Inferior = 63,0284
0.01
0.00
30
40
50
60
70
80
90
x: Ttulo
Limites de E speci ficao
A lvo
Distribuio de ' titul o'
0.06
Instvel
0.05
f (x )
0.04
0.03
0.02
0.01
0.00
30
Mdia
80
Figura 11- Avaliao da

capacidade de um processo
estvel versus instvel
Procedimento iterativo de
melhoria
50
60
70
80
90
100
x: Ttulo
Limites de E specifi cao
A lvo
Distribui o de 'ti tulo'
70
60
1
40
No
Capaz
10
11
12
13
14
15

As cartas de controle fazem parte de um procedimento iterativo de

melhoria, como pode-se visualizar na Figura 12.
Primeiro, coleta-se dados para calcular os limites de controle, ou seja,
define-se qual o padro de variabilidade natural do processo. Uma vez
calculados os limites de controle, faz-se a anlise da estabilidade do
processo, ou seja, monitoram-se as cartas de controle para identificar a
presena de causas especiais. Se o processo no for estvel, os
operadores devem agir localizadamente no sentido de corrigir as
eventuais causas especiais.
Coleta de dados
Clculo dos
limites de controle
Figura 12- Procedimento

iterativo de melhoria
ROTINA
MELHORIA
Avaliao da
estabilidade do
processo
Ao local
Ao sobre as
causas especiais
Operador
Tratamento
anomalia
Avaliao da
capacidade do
processo
Ao no sistema
Ao sobre as
causas comuns
Gerncia
DOE
PDCA
Uma vez identificadas e eliminadas as causas especiais, o processo se

torna estvel e previsvel, logo podemos avaliar sua real capacidade de
produzir peas que atendam s especificaes. Se a variabilidade
associada s causas comuns for maior do que a amplitude das
especificaes, a gerncia deve atuar sobre o sistema como um todo para
reduzir essa variabilidade.
Como pode ser visto, o procedimento de melhoria da qualidade atravs
do controle estatstico acontece em duas etapas principais. Primeiro,
eliminando-se as causas especiais para tornar o processo estvel e

17
previsvel ao longo do tempo. Essa melhoria conseguida atravs de

aes localizadas, efetuadas pelos operadores. Essas aes se justificam
economicamente e, em geral j so suficientes, pois freqentemente
verifica-se que o processo, uma vez estvel, atende s especificaes.
Segundo, quando necessrio, atuando-se no sistema para reduzir as
causas comuns de variabilidade. Essa melhoria de responsabilidade da
gerncia, pois em geral envolvem maiores investimentos que nem
sempre se justificam economicamente.
Ou seja, comea-se atuando nas causas especiais que provocam um dano
bastante grande ao processo e so relativamente fceis de bloquear e,
apenas quando necessrio, atua-se nas causas comuns de variabilidade,
que mobilizam maiores recursos.
A inspeo e o controle estatstico do processo possuem caractersticas e
INSPEO VERSUS
CONTROLE ESTATSTICO objetivos distintos, como ser esclarecido nos tpicos abaixo.
DO PROCESSO
No curto prazo, uma inspeo 100% fornece mais resultados na deteco
de unidades defeituosas, pois elas so filtradas e dirigidas para retrabalho
ou sucata.
Inspeo
No entanto, as atividades de inspeo no promovem a melhoria dos

processos, pois tomam tempo e mobilizam os recursos em atividades que
no agregam valor. Alm disso, levam a um certo relaxamento na
manufatura, uma vez que tudo vai ser inspecionado depois.
O processo de filtrar unidades defeituosas gera uma distribuio que se
assemelha ao modelo uniforme, com muitas unidades afastadas do alvo,
conforme aparece na Figura 13.
Resultado de inspeo massiva:
- muitas unidades afastadas do
alvo,
- operadores e desempenho do
processo dependentes da inspeo
Resultados do CEP:
- unidades centradas em torno do
Figura 13- Distribuio de alvo,
probabilidade de um processo - operadores e desempenho do
com inspeo 100% versus processo livres da inspeo
CEP.
Controle estatstico do
processo
O CEP, ao contrrio da inspeo 100%, prioriza aes sobre as causas

especiais, ou seja, sobre a origem do problema. Ele no utiliza inspeo
massiva, pois isso iria mobilizar os recursos que so importantes para a
soluo das causas especiais.
Alm disso, de nada adiantaria identificar, logo no primeiro dia, um
18

grande nmero de causas especiais, pois faltariam recursos para a

investigao dessas causas.
O CEP opera numa escala de tempo mais longa, pois as causas especiais
vo sendo identificadas e eliminadas aos poucos, ao longo do tempo,
com pacincia e persistncia.
No final das contas, o CEP atinge aquilo que aparentemente no o seu
objetivo, ou seja: um processo livre de unidades defeituosas, que atende
amplamente s especificaes e cujo desempenho independe das
atividades de inspeo.
Vantagens do controle
estatstico do processo
O emprego correto das cartas de controle: a) permite que o

monitoramento do processo seja executado pelos prprios operadores, b)
fornece uma distino clara entre causas comuns e causas especiais,
servindo de guia para aes locais ou gerenciais, c) fornece uma
linguagem comum para discutir o desempenho do processo,
possibilitando a alocao tima dos investimentos em melhoria da
qualidade e d) auxilia o processo a atingir alta qualidade, baixo custo
unitrio, consistncia e previsibilidade.
Em um ambiente competitivo, s h espao para as empresas que
adotam uma tica de melhoria contnua.
Assim, periodicamente preciso rever as especificaes, reavaliar a
capacidade do processo e agir sobre o sistema quando necessrio.
A melhora da qualidade, representada pela reduo da variabilidade do
processo, promove, natural e inevitavelmente, um aumento de
produtividade. Melhorando a qualidade, os custos diminuem devido
reduo do retrabalho, erros e atrasos, e da melhor utilizao da
tecnologia e matria-prima. Conseqentemente, a produtividade
aumenta, possibilitando a captao de mercados. Trabalhando-se
continuamente pela qualidade, os novos negcios so mantidos e ampliase a fatia de mercado.
PLANEJAMENTO DA
IMPLANTAO
A coleta de dados para o preenchimento das cartas de controle exige

investimentos em tempo, recursos e mudana na filosofia da empresa.
Assim, a implantao do controle estatstico de processo somente pode
ser justificada quando os seguintes aspectos so observados:
a) no utilizar um nmero excessivo de cartas de controle, sob risco do
CEP transformar-se em atividade-gargalo na produo;
b) aplicar o CEP em etapas prioritrias do processo, determinadas sob o
ponto de vista da demanda de qualidade dos clientes;
c) associar o CEP uma estratgia de ao; coletar dados e no agir
implica em desperdcio de tempo e recursos.
Na fase de planejamento, importante a participao das pessoas
envolvidas com a linha de produo: elas devem sentir-se coresponsveis e comprometidas com a implantao do sistema. Deve-se,
assim, investir um maior tempo na fase de planejamento, para minimizar
a necessidade de alteraes posteriores implantao.

19
Inicialmente, necessria a identificao dos processos crticos para a

qualidade e produtividade da empresa: estes sero os processos nos quais
ser aplicado o CEP. Deve-se utilizar um mtodo consistente para
determinao dos processos crticos sob o ponto de vista do cliente.
Nesta etapa, tambm necessrio definir:
(i) Caractersticas de qualidade importantes para o cliente;
(ii) Processos nos quais as caractersticas determinadas em (i) so
construdas;
(iii) Variveis a serem controladas em cada processo;
(iv) Capacidade do sistema de medio;
(v) Indivduos responsveis pela ao sobre o sistema quando este
sinalizar um estado de descontrole estatstico;
(vi) Aes a serem tomadas quando o sistema estiver fora de controle.
Para auxiliar na definio dos itens acima, uma seqncia de etapas
recomendada; tais etapas vm apresentadas nas sees que se seguem.
A. Desdobramento da
qualidade
Na etapa do desdobramento da qualidade e na etapa posterior de

desdobramento do processo recomenda-se a utilizao da metodologia
do QFD Quality Function Deployment, ou Desdobramento da Funo
Qualidade. O QFD permite estabelecer relaes entre a qualidade
demandada pelo cliente e os processos responsveis pelo atendimento
desta demanda.
O QFD um caminho sistemtico para garantir que o desenvolvimento
das caractersticas e especificaes do produto, bem como
desenvolvimento de metodologias, processo e controles, sejam
orientados pela necessidade do consumidor.
A primeira fase de um estudo de QFD consiste em entender o mercado,
atravs de pesquisas e, assim, compreender as necessidades dos clientes.
Atravs de uma pesquisa de mercado, tem-se um conhecimento sobre o
que importante para o consumidor e tem-se uma idia geral do que o
usurio final necessita e deseja encontrar em um determinado produto ou
servio. Tal conhecimento facilita a definio do produto ou servio
desejado, criando-se posteriormente especificaes que vo ao encontro
a essas demandas.
O estudo do Desdobramento da Funo Qualidade permite priorizar
resultados desejados e planejar aes. O QFD implementado atravs de
um conjunto de matrizes nas quais so estabelecidas as relaes entre
caractersticas de qualidade demandadas pelo usurio e caractersticas de
qualidade do produto/processo, procedimentos de manufatura,
especificaes, recursos humanos, infra-estrutura disponvel e custos
globais. Essas relaes permitem determinar os elementos do produto e
de seu processo de manufatura responsveis pela construo da
qualidade demandada pelo usurio. O Desdobramento da Funo
Qualidade feito por uma equipe multifuncional, envolvendo diversos
departamentos da empresa, tais como marketing, engenharia de produto,
engenharia de processo, custos, suprimentos, manufatura e gerncia de
20

qualidade.
Conforme mencionado anteriormente, o QFD tem incio com o
levantamento da demanda de qualidade do usurio (voz do cliente)
atravs de pesquisa de mercado. Os resultados da pesquisa devem
permitir uma priorizao dos itens da demanda da qualidade atravs do
estabelecimento de um peso de importncia para cada item; o peso de
importncia do isimo item de demanda designado por IDi. Na
seqncia, listam-se as caractersticas de qualidade potencialmente
relacionadas com os itens de demanda identificados pelos usurios; no
contexto do QFD, assim como no do CEP, caractersticas de qualidade
so aspectos mensurveis da demanda da qualidade.
Na matriz da qualidade na Figura 14, os itens da qualidade demandada
so cruzados com as caractersticas de qualidade. Os elementos
principais da matriz da qualidade esto apresentados no cabealho das
linhas (itens de qualidade demandada) e no cabealho das colunas
(caractersticas de qualidade).
O preenchimento da matriz da qualidade realizado com a opinio da
equipe tcnica. So estabelecidos relacionamentos entre a qualidade
demandada pelos clientes e as caractersticas de qualidade, originando o
ndice de intensidade dos relacionamentos (DQij), onde j denota a
caracterstica de qualidade e i denota o item de qualidade demandada. A
escala utilizada na medio do ndice de intensidade tem valores
apresentados na Tabela 2. A matriz da qualidade vem exemplificada na
Figura 15. O uso da matriz da qualidade permite identificar
caractersticas de qualidade que contribuem para o atendimento dos itens
de qualidade demandada.
Tabela 2 - escala da intensidade das Relao

relaes
Muito importante
Figura 14 - Esquema de matriz

da qualidade
Pontuao
9
Moderada
Pouco importante
Nenhuma
Figura 15 - Exemplo da matriz

da qualidade
Quantidade de cola
Largura
Espessura
Resilincia
9
9
1
Resistncia abraso
3
9
Tenso de Ruptura
9
9
6
Rachadura nos gomos
9
1
3
Falhas no desenho
Falta de vulcanizao
Desempenho
50
Acabamento
20
5
Facilidade de aplicao
Aderncia na aplicao
10
Dimensional
10
ndice da Caract. Qual ( ICQj )
21
Caractersticas de Qualidade
Tenso de Rasgamento
Pesos (IDi
Qualidade Demandada

6
3
9
9
9
485 660 330 635 300 450 305 245 140 450
A priorizao das caractersticas de qualidade apresentada na ltima

linha da matriz da qualidade. Uma caracterstica de qualidade
considerada prioritria se (i) atende a vrios itens de qualidade
demandada, (ii) atende a itens de qualidade demandada com pesos IDj
(importncia da qualidade demandada) altos, e/ou (iii) mantm relaes
fortes com os itens de qualidade demandada.
Para o clculo da priorizao das caractersticas de qualidade, sugere-se
um ndice de importncia (ICQj) dado pelo somatrio dos ndices de
importncia dos itens da qualidade demandada (IDi) pela intensidade das
relaes atribudas no interior da matriz (DQij), onde:
n
Eq 1
ICQ j IDi DQij

j 1
onde:
ICQj: ndice da jsima caracterstica de qualidade do produto, j = 1,..., n.
IDi: ndice de importncia do isimo item de qualidade demandada.
DQij: intensidade do relacionamento entre o isimo item de qualidade
demandada e a jsima caracterstica de qualidade do produto.
B. Desdobramento dos
processos
O desdobramento dos processos permite associar caractersticas de

qualidade do produto final, priorizadas na matriz da qualidade descrita
na seo anterior, a parmetros do processo ou caractersticas avaliadas
durante o processo de manufatura. Este desdobramento auxilia na
identificao dos parmetros crticos do processo, sob o ponto de vista
da qualidade percebida pelos usurios.
O desdobramento da tecnologia, o qual envolve o desdobramento dos
processos, um procedimento para identificar e remover, de forma
organizada, gargalos de engenharia na fase de detalhamento do projeto
do produto. Esses gargalos devem ser identificados nas etapas
preliminares do projeto, para que suas solues possam ser planejadas de
forma organizada.
Inicialmente, necessrio entender o macro-fluxo dos processos da
empresa e listar todos os processos de manufatura na ordem em que
aparecem na linha de produo. A seguir, listam-se parmetros do

processo e as caractersticas de qualidade avaliadas em cada processo;

estes sero cruzados com as caractersticas de qualidade do produto
final, na matriz dos processos.
A matriz dos processos, exemplificada pelo esquema na Figura 16,
constituda pelos seguintes elementos:
(a) o cabealho (topo) da matriz preenchido com as caractersticas de
qualidade do produto final.
(b) o cabealho das linhas (lado esquerdo da matriz) preenchido com a
lista de todos os parmetros e caractersticas, tambm chamados de
parmetros do processo, avaliados durante a manufatura.
Figura 16 - Esquema da matriz

de desdobramento de processos
3
6
3
6
6
3
6
6
6
6
9
6
9
9
6
6
3
3
9
ndice de Priorizao
6
3
Conhecimento
9
6
3 17820
4435
18060
1 13950
16805
11765
16485
17235
3 13875
10055
9495
8790
8790
3 8325
10965
11850
Capacidade
ndice de Qualidade
IQPk
450 Quantidade de cola
305 Resilincia
IPPk
9
1
6
3
6
6
Ck
3
3
3
3
6
9
3
6
6
6
6
6
6
6
3
6
3
6
6
3
3
3
6
6
Cpkk
450 Resistncia abraso
300 Tenso de Ruptura
635 Rachadura nos gomos
140 Largura
6
1
9
6
9
6
9
9
9
3
3
330 Falhas no desenho
ndice da C.Q. (ICQj )

Temperatura das Zonas
9
Presso do cabeote
3
Temperatura da massa
6
Peso / Metro
6
Temperatura de embobinamento
6
Presenca de caroos
1
Temperatura
3
Presso
3
Tempo
3
Ciclo de fech/degasagem
6
Tempo de resfr da banda
6
Espessura total
9
Espessura da base
9
Largura
3
6
Profundidade do ncavo
Dureza
6
245 Espessura
Figura 17 Exemplo da matriz

de Processo
Extruso
Extruso
Extruso
Extruso
Extruso
Extruso
Vulcanizao
Vulcanizao
Vulcanizao
Vulcanizao
Vulcanizao
Vulcanizao
Vulcanizao
Vulcanizao
Vulcanizao
Vulcanizao
660 Falta de vulcanizao
485 Tenso de rasgamento
Caractersticas de Qualidade
Processos desdobrados
22
1,67
1
0,63
0,5
0,77
0,67
1,13
1
1
1
1
1,23
1,23
1
1,67
1,4
0,7
0,2
0,8
0,6
0,9
0,9
0,95
0,8
0,8
0,65
0,65
0,9
0,9
0,9
1
0,95
15244
22175
35833
46500
24250
19511
15356
21544
17344
15469
14608
7940
7940
9250
6566
8910
Para identificar os processos crticos, necessrio quantificar as relaes

Rkj entre as caractersticas de qualidade (j = 1,,n) dos processos
crticos e os parmetros (k =1,,K) dos processos de manufatura. Para
cada caracterstica de qualidade do produto, identifica-se a intensidade
de monitoramento de um ou mais parmetros recomendada para
obteno de medies satisfatrias da caracterstica em questo; isto
feito atravs da determinao das relaes Rkj. A intensidade das relaes
entre os processos e as caractersticas de qualidade, mensurada
utilizando a escala proposta na Tabela 2, so atribudas pela equipe
tcnica e escritas no interior da matriz.

23
A avaliao do impacto (importncia) de cada parmetro e caracterstica

de qualidade do processo sobre a qualidade demandada pelo usurio
realizada levando-se em conta as relaes estabelecidas no interior da
matriz e o ndice de Importncia Corrigido (ICQj*) das caractersticas de
qualidade, determinadas na matriz da qualidade.
Para a definio da importncia para a qualidade de cada parmetro e
caracterstica de qualidade do processo, foi estabelecido um ndice de
qualidade (IQPk), dado pelo somatrio do produto do ndice de
importncia corrigido das caractersticas de qualidade do produto, ICQj*,
pela intensidade das relaes atribudas no interior da matriz, Rkj. Esse
ndice considera que desvios em um parmetro do processo compromete
uma ou mais caractersticas de qualidade do produto final. O formulrio
correspondente o seguinte:
n
Eq 2
IQPk ( ICQ j Rkj )

j 1
Aps a identificao dos parmetros e caractersticas de qualidade dos

processos crticos, necessrio verificar qual a capacidade destes
parmetros e caractersticas (conforme dado pelo ndice Cpk) e o
domnio (conhecimento) tcnico acerca destes elementos disponvel na
empresa. O objetivo priorizar aes de melhoria nos processos e
caractersticas que sejam importantes para a qualidade, conforme
demandada pelo usurio.
Com o auxlio da equipe tcnica, questiona-se a capacidade de cada
parmetro e caracterstica do processo, estimada a partir do percentual de
observaes fora de especificao, conforme a Tabela 3. Tal percentual
derivado do ndice Cpk associado a cada caracterstica. A seguir,
questiona-se o conhecimento da equipe tcnica a respeito do processo.
Deseja-se determinar se a equipe tcnica conhece o ajuste timo dos
parmetros e caractersticas de qualidade do processo e o efeito desses
parmetros sobre diversos aspectos que determinam a qualidade do
produto final. Para mensurar o conhecimento tcnico, utiliza-se a escala
na Tabela 4, onde o grau de conhecimento vem designado pela letra C.
O ndice de priorizao IPPk para o ksimo parmetro do processo
combina valores de IQP, Cpk e C, estabelecendo os parmetros crticos
na composio da qualidade percebida pelos clientes. Sero
considerados crticos parmetros fortemente relacionados s
caractersticas de qualidade demandadas pelos usurios do produto em
estudo, oriundos de processos com baixa capacidade, acerca dos quais
detm-se pequeno conhecimento tcnico. A medida de criticidade
baseada Eq 3.
Tabela 3 - Escala para a avaliao Capacidade
da capacidade das etapas dos
processos produtivos Muito incapaz
Cpk
% fora de especificao
0,33
32%
Incapaz
0,67
4,4%
Capaz
1,00
0,27%
Muito capaz
1,33
0,0064
Extremamente capaz
1,67
0,0000
24

Tabela 4 - Escala para a avaliao Conhecimento

do conhecimento associado s etapas
dos processos produtivos Muito pouco
Eq 3
C
0,2
Pouco
0,4
Moderado
0,6
Grande
0,8
Total
1,0
IPPk
IQPk
C pk C
onde :
IPPk o ndice de priorizao,

IQPk o ndice de qualidade,
C pk o valor de capacidade,
C o valor de conhecimento tcnico, todos associados ao ksimo

parmetro do processo.
C. Direcionamento das
aes
Esta a ltima etapa que faz uso da estrutura matricial do QFD. Aqui se
concretiza o planejamento das melhorias da qualidade que iro reforar o
sistema de qualidade existente. Tambm nesta etapa, os parmetros e
caractersticas de qualidade dos processos crticos para a qualidade so
analisados individualmente quanto s possveis aes de melhoria a
serem adotadas. A anlise leva em conta a voz do cliente, custo e
conhecimento tcnico acerca dos parmetros em estudo.
Questiona-se, junto equipe tcnica, a pertinncia de um conjunto de
aes de melhoria situao em estudo; dentre elas, listam-se:
-
treinamento;
controle estatstico de processos (CEP);
desenvolvimento de fornecedores;
projeto de experimentos;
estudos ergonmicos;
aquisio de equipamentos;
definio de procedimentos; e
automatizao.
Uma vez listadas as possveis aes de melhoria, a equipe avalia sua

aplicao aos parmetros do processo priorizados na etapa anterior da
metodologia. A pertinncia das aes de melhoria a cada parmetro

25
enfocado deve ser analisada utilizando-se a escala na Tabela 5.

Tabela 5 - Escala para a avaliao Relao
da efetividade das possveis aes de
melhoria Muito efetiva
Moderada
D. Identificao dos
postos de controle e
parmetros e
caractersticas de
qualidade do processo a
serem monitorados
Pontuao
9
3
Pouco efetiva
Nenhuma efetividade
Os postos de controle so locais fsicos onde so monitoradas as

caractersticas de qualidade (atributos e variveis) associadas a etapas
crticas do processo. De forma mais especfica, conhecendo-se as
caractersticas crticas para a qualidade e onde elas so construdas no
processo produtivo, possvel definir a localizao dos postos de
controle (Figura 18), bem como listar parmetros e caractersticas de
qualidade do processo a serem monitorados em cada posto.
Figura 18 - Identificao dos

postos de controle e alocao
das caractersticas de qualidade
em cada posto.
As etapas da implantao do controle estatstico de processo at agora

apresentadas vm esquematizadas na Figura 19, podendo ser assim
resumidas: (i) desdobramento da qualidade, composta pela identificao
da qualidade demandada pelo cliente, desdobramento das caractersticas
de qualidade do produto, construo da matriz da qualidade e priorizao
das caractersticas de qualidade do produto; (ii) desdobramento dos
processos, composto pela identificao dos parmetros e caractersticas
dos processos, construo da matriz do processo e priorizao dos
parmetros e caractersticas dos processos crticos para a qualidade; (iii)
direcionamento das possveis aes de melhoria; e (iv) localizao dos
postos de controle e alocao dos parmetros e caractersticas do
processo em cada posto.
26

Figura 19 - Desenho
esquemtico das primeiras
quatro etapas do planejamento
da implantao do controle
estatstico de processos
E. Definio de critrios
de classificao dos
produtos (filtros)
Nesta etapa so definidos critrios de classificao (tambm

denominados "filtros") a serem utilizados posteriormente na anlise
gerencial das cartas de controle do CEP. Os critrios de classificao so
informaes como, por exemplo, tipo de produto, turno, mquina,
operador, encarregado de turno, fornecedor, matrias- primas, etc., a
serem registradas conjuntamente com os dados de qualidade.
Posteriormente, j que dados de qualidade encontram-se classificados
quando de seu armazenamento, informaes acerca das caractersticas de
qualidade podem ser recuperadas conforme critrios de classificao
definidos pelo usurio. Por exemplo, podem-se recuperar (e agrupar)
todos os dados sobre a caracterstica de qualidade coletados no turno da
manh; ou seja, dados da qualidade podem ser filtrados relativamente
a esse critrio de classificao.
F. Definio dos
parmetros e
caractersticas de
qualidade do processo
Nessa etapa necessrio separar as avaliaes referentes a parmetros de

processo (variveis e atributos que qualificam o processo e no esto
diretamente ligadas a qualidade do produto final) e aquelas referentes a
caractersticas de qualidade (variveis e atributos que configuram
diretamente a qualidade do produto final).
Parmetros de processo fora de especificao indicam uma maior
probabilidade de produo de defeituosos, devendo gerar aes
corretivas. Caractersticas de qualidade fora da especificao implicam,
diretamente, na ocorrncia de defeituosos, tambm devendo gerar aes
corretivas.
Para cada varivel (ou atributo) a ser monitorada no CEP, necessrio
definir: (i) o tipo (nominal, maior ou menor--melhor), (ii) unidade de
medio, (iii) valor-alvo e especificaes (para os estudos de
capacidade).
Variveis do tipo nominal--melhor possuem um valor-alvo dado por um
nmero real diferente de zero; desvios do alvo implicam em perda de
qualidade. Para seu monitoramento, necessrio definir um limite
inferior e superior de especificao. Variveis com observaes alm
dos limites de controle so consideradas no-conformes.
Variveis do tipo maior--melhor so aquelas cujo valor alvo

27
teoricamente infinito. Essas variveis no possuem limite superior de

especificao; necessrio definir apenas um limite inferior de
especificao, abaixo do Qual a varivel considerada no-conforme.
Variveis do tipo menor--melhor so aquelas cujo valor alvo
teoricamente igual a zero. Essas variveis no possuem limite inferior de
especificao; necessrio definir apenas um limite superior de
especificao, acima do qual a varivel considerada no-conforme.
Nesta etapa, define-se quem ir coletar os dados, com que freqncia os
G. Definio do
procedimento de coleta de dados sero coletados, onde os dados coletados sero armazenados e
qual o destino dos dados aps a coleta dos mesmos. Os fatores mais
dados
importantes a serem considerados so a atribuio de responsabilidades e

exatido das informaes coletadas.
Nessa etapa tambm necessrio definir: (i) o tipo de carta de controle,
(ii) o tamanho da amostra, (iii) a freqncia de amostragem, (iv) a forma
de registro dos dados (registro eletrnico em computador ou em planilha
de papel) e (v) o sistema de medio a ser utilizado.
H. Avaliao do sistema
de medio
Aps definido o sistema de medio, necessrio avaliar a sua

capacidade. Um sistema de medio capaz apresenta uma varincia de
medio inferior a 20% da amplitude das especificaes.
I. Definio das
responsabilidades
Nessa etapa, definem-se os responsveis pela coleta dos dados e registro

na planilha, digitao dos dados (no caso de armazenamento digital de
dados), monitoramento das cartas de controle, clculo dos limites de
controle e estudos de estabilidade e capacidade.
Tambm necessrio definir responsveis pela identificao e execuo
de aes corretivas, no caso do processo sair fora do controle, e aes
preventivas para evitar a reincidncia do problema; esses indivduos so
chamados facilitadores do CEP. O facilitador indispensvel ao CEP, j
que d apoio ao lder da equipe na busca dos melhores resultados. O
facilitador tambm deve auxiliar a equipe de projeto no planejamento e
organizao da implantao. Alm dos facilitadores, sugere-se a criao
de um grupo de apoio qualidade (GAQ), a ser chamado quando causas
especiais no possam ser corrigidas pelo operador e supervisor.
Nesta etapa so elaboradas as planilhas de coleta de dados a serem

J. Definio da
documentao necessria utilizadas em cada posto de controle, bem como as planilhas de registro
de ocorrncia de causas especiais.
Nesta dissertao, a implantao do CEP auxiliada pelo programa
computacional PROCEP (1999). Alm de proporcionar uma rpida
obteno de cartas de controle e estudos de capacidade, bem como
organizar dados coletados em um banco de dados, o PROCEP permite
ao usurio elaborar um dirio de ocorrncia de causas especiais.
O dirio consiste de um caderno de anotaes onde todas as ocorrncias
anormais identificadas no processo so anotadas, estejam elas
relacionadas ou no ocorrncia de problemas. Tal dirio bastante til
na anlise de problemas, pois permite reduzir o tempo para se localizar
causas especiais.
28

No dirio, causas especiais so registradas quanto a sua data e hora de

ocorrncia, provvel origem (matria-prima, mo-de-obra, mquinas,
etc.), ao tomada para a soluo do problema e seu responsvel, e
tempo observado de parada na produo.
Treinamento em controle
estatstico de processos
O treinamento uma etapa muito importante, pois todos na empresa

devem ser capazes de interpretar os dados coletados no CEP. O
treinamento deve ser aplicado imediatamente antes da implantao
efetiva do CEP, podendo ser ministrado para diferentes nveis e funes
na empresa.
Funcionrios de diferentes nveis hierrquicos na empresa devem
receber treinamentos diferenciados. Por exemplo, para gerentes e
diretores, suficiente ministrar os contedos referentes anlise dos
dados, dando-lhes, assim, subsdios para tomada de decises baseadas
nos dados coletados. Supervisores e engenheiros, por outro lado, devem
receber um treinamento integral em CEP, pois a estes profissionais
caber a tarefa de definir tamanhos de amostra, freqncia de
amostragem, limites de controle, etc. Operadores, por fim, devem ser
treinados no preenchimento de planilhas e na anlise das cartas de
controle resultantes, com o objetivo de detectar a presena de causas
especiais.
Seguindo as grandes linhas propostas acima, o treinamento para gerentes
e diretores compreende estudos de estabilidade e capacidade de
processo. O treinamento para engenheiros e supervisores compreende
uma introduo ao CEP, cartas de controle para variveis e estudos de
estabilidade e capacidade de processo. O treinamento para operadores
compreende a digitao de dados coletados do processo e anlise das
cartas de controle resultantes.
Implantao efetiva
Duas so as etapas da implantao efetiva do CEP: (a) incio do

monitoramento e (b) clculo dos limites de controle. Essas etapas vm
descritas a seguir.
Na etapa de incio do monitoramento, define-se a data de incio da coleta
de dados a serem utilizados no CEP, bem como os indivduos
responsveis pela digitao dos dados de entrada no sistema. Com isso,
tem-se o incio da utilizao prtica do CEP (atravs do pacote
computacional de apoio), sendo definidas a freqncia de amostragem e
entrada dos dados nas planilhas do computador. Nesta etapa, dados so
coletados e plotados no grfico, mas os limites de controle do processo
ainda no so conhecidos.
Aps a coleta de uma certa quantidade de dados, possvel o clculo dos
limites de controle. O incio desta etapa pode levar alguns dias,
dependendo da freqncia de amostragem adotada para as variveis
monitoradas. Uma vez feito o clculo dos limites de controle do
processo, estes devem ser acrescidos s cartas de controle, permitindo
sua utilizao plena. No caso de aparecimento de causas especiais, os
limites de controle devem ser recalculados, aps a identificao e
eliminao das causas de anomalia no processo. Limites de controle
obtidos a partir de um processo sob controle estatstico, sobre o qual
apenas causas comuns de variabilidade incidem, so utilizados no
monitoramento futuro dos processos.

Acompanhamento e
consolidao
29
O acompanhamento e consolidao do controle estatstico de processos

compreende as seguintes etapas:
(i) Avaliao da sistemtica de ao analisa-se e aprimora-se o sistema
de controle do processo implantado atravs da verificao dos
procedimentos de coleta de dados, registro e ao de melhorias. Esta
anlise deve ser realizada em conjunto com toda a equipe envolvida na
implantao do CEP.
(ii) Anlise da estabilidade dos processos avalia-se a estabilidade dos
processos e, se necessrio, adotam-se procedimentos de identificao e
eliminao de causas especiais.
(iii) Anlise da capacidade do processo avalia-se a capacidade dos
processos e, se necessrio, adotam-se estudos de otimizao dos
processos atravs de grupo de ao de melhorias da qualidade.
Nesta etapa de acompanhamento e consolidao, avaliam-se os
resultados da implantao do CEP e, posteriormente, identificam-se
melhorias futuras advindas de sua implantao.
Cartas de Controle para Variveis

Carla ten Caten
Variveis so caractersticas de qualidade que so mensurveis, como,

por exemplo: o dimetro de um rolamento, uma resistncia eltrica, o
tempo de atendimento de um pedido, etc. Muitos processos tm
caractersticas mensurveis, assim h um amplo espao para o uso das
cartas para variveis.
As cartas para variveis, mais especificamente, as cartas para x
(mdia) e R (amplitude) representam a aplicao clssica de controle
de processo.
Uma medio (por exemplo: = 16,54) contm muito mais
informao do que a simples classificao da pea como dentro ou
fora de especificao. Obter um valor medido mais caro do que
simplesmente classificar uma pea como boa/ruim. Contudo, as
medies fornecem mais informaes e, portanto, exigem uma
amostra menor. Assim, o custo total de amostragem pode ser menor.
Outra vantagem que, como as cartas de controle para variveis
exigem uma amostragem pequena, o lapso de tempo entre a produo
das peas e a ao corretiva pode ser encurtado.
Quando se usa variveis, a anlise do desempenho do processo pode
ser feita mesmo se todas as unidades esto dentro dos limites de
especificao. Isso importante na busca da melhoria contnua e torna
as cartas de variveis uma ferramenta de controle mais poderosa do
que as cartas de atributos.As variveis podem ser usadas para
monitorar a localizao (X) e a disperso (R). Assim, as cartas de
controle so quase sempre preparadas aos pares.
INTRODUO S
CARTAS DE VARIVEIS
O controle estatstico de variveis realizado monitorando-se duas

cartas de controle simultaneamente. A justificativa para o
monitoramento simultneo da tendncia central e da variabilidade do
processo apresentada na sequncia.
Distribuio de
probabilidade
As variveis podem seguir vrias tipos de distribuies de

probabilidade, como, por exemplo, as distribuies apresentadas na
Figura 20:

2. Cartas de Controle para Variveis
Simtrica
Forma de Sino
probabilidade dos valores
individuais.
31
Assimtrica direita Assimtrica esquerda

Assimetria positiva
Assimetria negativa
Uniforme
Exponencial
Bimodal
Existem vrios tipos de distribuio, sendo que a mais tpica a

distribuio Normal. Quando a variao de uma caracterstica da
qualidade gerada pela soma de um grande nmero de erros
infinitesimais independentes devido a diferentes fatores, a distribuio
da caracterstica de qualidade se torna, em muitos casos,
aproximadamente uma distribuio Normal (Kume, 1993).
As distribuies de probabilidade so definidas por um parmetro de
localizao e outro de variabilidade, como se pode visualizar no
exemplo: sejam os dados de quatro amostras distintas apresentados na
Tabela 6.
Pode-ser alterar a mdia sem alterar variabilidade (A e B) e alterar
variabilidade sem alterar mdia (A e C).
Quando adiciona-se (ou subtrai-se) uma constante aos dados, altera-se
a mdia mas no altera-se a variabilidade (A eB) e quando multiplicase (ou divide-se) por uma constante aos dados, altera-se a mdia e
tambm a variabilidade (A e D)
Tabela 6 - Dados de quatro

amostras distintas.
Amostras
Dados
Localizao ( x )
Variabilidade (R)
10 12 14 16 18
x 14
R 8
22 24 26 28 30
x 26
R 8
6 10 14 18 22
x 14
R 16
20 22 28 32 36
x 28
R 16
Uma varivel pode sofrer alterao tanto na sua mdia quanto na sua
variabilidade. Na Figura 21, pode-se visualizar que:
a) da amostra A para B muda a tendncia central, mas a variabilidade
constante;
b) da amostra A para C muda a variabilidade, mas a tendncia central
constante;
c) da amostra B para C muda a tendncia central e a variabilidade.
32

f(x)
B
C
probabilidade de trs
amostras distintas.
Como visto na Figura 21, uma causa especial pode atuar em um processo
alterando a tendncia central ou a variabilidade do processo. Logo,
necessrio monitorar duas cartas simultaneamente: a carta de mdia para
detectar quando a tendncia central do processo se altera e a carta de
amplitude para detectar a mudana na variabilidade do processo.
Como visto, as variveis podem Seguir vrios tipos de distribuio de
probabilidade, o que dificultaria os clculos dos limites de controle. No
entanto, a maioria das aplicaes do controle estatstico do processo utiliza
o teorema do limite central que ser apresentado na seqncia.
Teorema do Limite
Central
O Teorema do Limite Central indica que a soma (e, por conseguinte, a

mdia) de n variveis independentes seguir o modelo Normal,
independentemente da distribuio das variveis individuais.
A aproximao melhora na medida em que n aumenta. Se as distribuies
individuais no so muito diferentes da Normal, basta n = 4 ou 5 para se
obter uma boa aproximao.
Se as distribuies individuais forem radicalmente diferentes da Normal,
ento ser necessrio n = 20 ou mais.
Na Figura 22, pode ser visto um desenho esquemtico do Teorema do
Limite Central.
Figura 22 - Teorema do
limite central.
Exemplo
n
A distribuio de probabilidade da varivel resultante do lanamento de um
dado segue a distribuio uniforme, ou seja, qualquer valor (1, 2, 3, 4, 5, 6)
tem a mesma probabilidade (1/6) de ocorrer. No entanto, se ao invs de
lanar um dado, sejam lanados dois dados e calculada a mdia, essa mdia
seguir uma distribuio aproximadamente Normal como pode-se visualizar
no histograma abaixo. Na Tabela 7, apresenta-se as mdias dos
lanamentos de dois dados

Tabela 7 - Tabela com as mdias

dos dois dados.
33
10 dado
20 dado
Soma
Mdia
10
dado
20
dado
Soma
Mdia
1,0
3,5
1,5
3,5
1,5
3,5
2,0
4,0
2,0
4,0
2,0
4,0
2,5
4,0
2,5
4,0
2,5
4,5
2,5
4,5
3,0
4,5
3,0
4,5
3,0
10
5,0
3,0
10
5,0
3,0
10
5,0
3,5
11
5,5
3,5
11
5,5
3,5
12
6,0
A tabela de freqncia da mdia dos dois dados resulta conforme Tabela 8.
Tabela 8 - Tabela de freqncia

da mdia dos dois dados.
Mdia de dois dados
Freqncia
1,0
1,5
2,0
2,5
3,0
3,5
4,0
4,5
5,0
5,5
6,0
Conforme pode ser visto na Figura 23, o histograma da mdia dos dois
dados resulta aproximadamente Normal. Alm disso, observa-se que a
aproximao da distribuio Normal melhora na medida que se fizesse a
mdia do lanamento de mais dados.
34

f(x)
6/36
5/36
4/36
3/36
2/36
1/36
Figura 23 - Histograma da
mdia dos dois dados.
1,0 1,5 2,0 2,5 3,0 3,5 4,0 4,5 5,0 5,5 6,0
Desvio padro dos valores individuais:
(x
x)2
para n > 30
(x
x)2
n 1
para n < 30
O Teorema do Limite Central bsico para a maioria das aplicaes do

controle estatstico da qualidade. O controle estatstico do processo, em
geral, trabalha com a mdia das amostras, pois independente da
distribuio dos valores individuais, a mdia desses valores ir seguir
aproximadamente a distribuio Normal.
A distribuio Normal uma teoria bsica para o desenvolvimento das
cartas de controle e a principal ferramenta do controle estatstico de
processos.
A partir do Teorema do Limite Central, sabe-se que a distribuio amostral
das mdias apresenta os seguintes parmetros:
Eq 1
- Mdia:
x
onde:
x representa a mdia das mdias amostrais;
representa a mdia dos valores individuais da populao.
Eq 2
- Desvio-padro:
onde:
x representa o desvio-padro das mdias amostrais;
representa o desvio-padro dos valores individuais da populao;
n
representa o tamanho da amostra.
Como pode ser visto, a mdia das mdias amostrais igual a mdia dos
valores individuais e o desvio-padro das mdias menor do que o desvio-

35
padro dos valores individuais na razo de 1 / n .
Exemplo 1
Um pesquisador deseja saber a mdia de idade dos alunos de psgraduao. Supondo que a populao dos alunos seja:
25, 35, 24, 43, 35, 22, 49, 56, 34, 26, 35, 52, 40, 35, 35,25,
61,42, 58, 56, 45, 40, 38, 45, 33, 53, 22, 35, 23, 25, 36, 39
x i 25 ... 39 38,19
32
Exemplo 2
( xi ) 2
32
11,11
Supondo que no fosse possvel analisar a populao inteira, e os dados

fossem coletados por amostras de tamanho n=4.
1
25
35
24
43
35
22
49
56
34
26
35
52
40
35
35
25
61
42
58
56
45
40
38
45
33
53
22
35
23
25
36
39
Mdia( x )
38,25
39
34,75
46,5
35,75
30,5
39,5
41,25
Desvio(S)
15,69
11,4
16,52
9,40
9,43
8,43
6,45
12,9
x 4,75
Exemplo 3
25 38,192 ... 39 38,192
11,11
4
5,55
Com base no exemplo 2, supomos que os dados fossem coletados por

amostras de tamanho n=8.
36

Mdia ( x )
Desvio (S)
x x
25
34
61
33
35
26
42
53
38,62
12,71
24
35
58
22
43
52
56
35
40,62
13,94
35
40
45
23
22
35
40
25
33,12
8,74
49
35
38
36
56
25
45
39
40,37
9,50
k 1
3,49 x
38,62 38,192 ... 40,37 38,192

4 1
11,11
8
3,49
3,93
probabilidade
dos valores
individuais
versus
distribuio de
probabilidade
das mdias
Intervalos de Confiana
Os limites da distribuio dos valores individuais so chamados de limites

naturais e os limites da distribuio de probabilidade das mdias so
chamados de limites de controle. Na verdade, esses limites so intervalos
de confiana em torno da mdia.
Como a anlise do processo realizada atravs de amostragem, a
estimativa da mdia e da variabilidade do processo realizada atravs de
uma estrutura intervalar que proporciona um intervalo no qual se admite
que esteja a verdadeira mdia e variabilidade populacional.
Como no se sabe ao certo onde estar o verdadeiro parmetro
populacional, deve ser usada uma atribuio probabilstica do intervalo em
que o verdadeiro valor possa estar. Esse intervalo chama-se intervalo de
confiana, e a confiana associada 1 - onde a probabilidade do erro
Um intervalo de confiana de 100(1-)% estabelecido a partir de dois
limites, tais que a probabilidade do verdadeiro valor do parmetro estar

37
includo dentro do intervalo 100(1-) %.

No CEP, usualmente utiliza-se intervalos de confiana de 99,73%. Por
exemplo, para construir um intervalo de confiana de 99,73% para a mdia,
necessrio achar os limites L e U, tais que:
PL U 99 ,73%
Os limites de confiana de 100(1-)% so calculados usando-se a
distribuio Normal.
Eq 3
x Z / 2
x Z / 2
onde: Z / 2 representa a varivel reduzida padronizada correspondente

probabilidade do erro /2 .
Para intervalos de confiana de 99,73% tem-se:

Eq 4
ox 3
x 3
u x 3 x x 3 x
A Figura 26 apresenta a distribuio de probabilidade das mdias e o

intervalo de confiana de 99,73% utilizados como limites de controles nas
cartas de controle.
Figura 25 Intervalos de
confiana
38

f(x)
x
probabilidade
das mdias.
LC I
x 3 x
LCS
x 3 x
6 x 9 9 ,7 3 %
A aplicao mais tradicional do controle estatstico do processo, as cartas

de controle de mdia ( x ) e amplitude (R), so detalhadas na seqncia.
CARTAS DE
CONTROLE PARA A
MDIA
Os passos para a implantao das cartas de controle so os seguintes:

Passo 1: Coleta de dados;
Passo 2: Clculo dos limites de controle;
Passo 3: Interpretao da estabilidade do processo;
Passo 4: Interpretao da capacidade do processo.
Coleta de dados
Os dados devem ser coletados em pequenos subgrupos (amostras) de

tamanho constante. Vale lembrar que quanto maior o tamanho da amostra
maior a sensibilidade das cartas, ou seja, elas detectam melhor pequenas
mudanas no processo. No entanto, aumentar o tamanho da amostra
representa aumentar o custo de amostragem. Em geral, 3 a 6 peas
consecutivas formam uma amostra adequada.
As peas dentro de um subgrupo so produzidas em condies muito
similares e, portanto, a variabilidade dentro de cada subgrupo ser
primariamente devido s causas comuns de variabilidade.
A idia de coletar subgrupos na seqncia de tempo interessante, pois
provavelmente os produtos produzidos na seqncia so similares entre si e
a variabilidade presente devido a causas comuns.
Os subgrupos devem ser coletados a uma freqncia peridica, por
exemplo, 1 subgrupo a cada 15 minutos, ou 2 subgrupos por lote, etc...
A freqncia de amostragem deve ser definida de forma que exista uma
chance potencial de mudana dos resultados (causa especial) de um
subgrupo para o outro. A frequncia das amostras deve ser selecionada de
forma a maximizar a chance de ocorrer diferenas entre amostras.
A definio de tamanho de amostra e freqncia de amostragem mais
econmicos poderiam ser definidas apenas se forem conhecidos a
estabilidade do processo, os custos de amostragem, os custos de
investigao e correo de causas especiais e o custo de fabricar peas fora
de especificao.
Desenho das cartas de

controle
O formulrio da carta de controle, seja em papel ou em planilha/janelas de

computador, deve conter:
a) espao para a completa identificao da caracterstica que est sendo

39
medida;
b) tabela para as anotaes dos valores individuais medidos, com espao
para clculo da mdia e da amplitude de cada subgrupo;
c) espao para a carta de mdias;
d) espao para a carta de amplitudes.
Na Tabela 9, apresentam-se os dados do exemplo da fresa.
Exemplo da carta de
controle para mdia ( x )
e amplitude (R)
Nome da parte
Retentor
Especificaes
30 a 90 microns
Nmero da parte
9983-5
Instrumento
Micrmetro
Operao
Dobra superior
Amostra/Freq.
5 / 2 horas
Mquina
030
Unidade
Microns
Caracterstica
Fresa
Carta N .
01
Data
6/3
Hora
10
12
14
16
10
12
14
16
10
12
14
16
Operador
65
75
80
65
80
75
80
70
85
65
75
85
70
70
75
70
70
70
65
60
70
75
65
85
65
60
65
75
65
80
Medidas 3
75
80
70
65
80
60
65
75
75
65
75
75
75
85
85
60
90
80
80
80
85
75
65
65
80
85
75
70
60
80
80
70
80
65
75
75
70
85
80
60
90
80
70
75
90
350
385
380
340
375
365
365
360
390
335
385
380
360
355
410
70
77
76
68
75
73
73
72
78
67
77
76
72
71
82
20
20
10
15
20
25
15
20
20
20
30
20
25
15
Tabela 9 - Dados do Soma

exemplo da fresa:
identificao mais Mdia
tabela de dados. Amplitude
Clculo dos limites de

controle
7/3
8/3
O clculo preliminar dos limites de controle pode ser feito aps a coleta
de umas 20 ou 30 amostras (subgrupos) sem indcios de uma situao
fora do controle. Ou seja, coleta-se de 20 a 30 amostras, calcula-se os
limites de controle para a mdia e amplitude e compara-se essas mesmas
amostras com os limites de controle calculados.
Caso haja pontos fora dos limites de controle, deve-se retirar as amostras
correspondentes e recalcular os limites de controle. Esse processo
iterativo acontece no incio, pois os limites de controle devem estar
associados apenas s causas comuns de variabilidade. Vale ressaltar que
os pontos so eliminados do clculo dos limites de controle, mas no dos
grficos de controle.
A fim de calcular os limites de controle, inicialmente calcula-se a
amplitude e a mdia para cada amostra. Logo aps, calcula-se a mdia
das amplitudes e a mdia das mdias das amostras como segue:
40

Eq 5
R R2 .... RK
R 1
K
Eq 6
x x2 .... x K
x 1
K
Onde xi e Ri representam a mdia e a amplitude da amostra i.
Como pode-se observar, a variabilidade estimada usando-se a mdia
das amplitudes dentro de cada amostra para garantir que ela esteja
associada apenas s causas comuns.
Logo, no est correto estimar a variabilidade usando a frmula
tradicional de desvio-padro (S) aplicada sobre o conjunto de todos os
dados, pois desta forma a estimativa da variabilidade poderia estar
associada com causas comuns (dentro das amostras) e causas especiais
(entre amostras).
2
xij x
m n
Eq 7
i 1 j 1
mn 1
Onde:
x ij representa um valor individual;
m representa o nmero de amostras;
n representa o tamanho das amostras.
Uma vez calculados x e R , calcula-se os limites de controle das
mdias considerando-se a extenso de seis desvios-padres das mdias
(trs para cada lado), que segundo a distribuio Normal compreende
99,73% dos valores de mdias amostrais. A frmula resulta:
Eq 8
LC x 3 x
Onde a variabilidade das mdias estimada a partir da variabilidade dos
valores individuais usando x
. Substituindo esta expresso na
equao anterior, resulta:

Eq 9
LC x
3
n
Onde a variabilidade dos valores individuais estimada a partir da mdia

das amplitudes dos subgrupos usando
R
e d2 uma constante que
d2
depende do tamanho da amostra, cujos valores encontram-se na Tabela

10.
Substituindo-se essa expresso na equao anterior, resulta:

Eq 10
LC x
41
3 R
n d2
Substituindo-se A2
3
n d2
na equao anterior, tem-se os limites de
controle para as mdias:

Eq 11
LCS x A2 R
Eq 12
LCI x A2 R
Onde A2 uma constante que depende do tamanho da amostra, cujos
valores so apresentados na Tabela 10.
Os limites de controle para as amplitudes so calculados como segue:
Eq 13
LC R 3 R
Onde
Eq 14
R d3 d3
R
.
d2
Substituindo-se essa expresso na equao anterior, tem-se:

Eq 15
LCS R 3d 3
R
d2
Eq 16
LCI R 3d 3
R
d2
d
d
Substituindo D4 1 3 3 e D3 1 3 3 e nas equaes
d2
d2
anteriores, tem-se os limites de controle para as amplitudes:

Eq 17
LCS D4 R
Eq 18
LCI D3 R
Onde D4 e D3 so constantes que dependem do tamanho da amostra,
cujos valores so apresentados na Tabela 10.
n
D4
D3
Tabela 10 - Valores das constantes

D4 , D3, d2 e A2.
10
15
20
3,27 2,57 2,28 2,11 2,00 1,92 1,86 1,82 1,78 1,65 1,59
0
0,08 0,14 0,18 0,22 0,35 0,42
d2
1,13 1,69 2,06 2,33 2,53 2,70 2,85 2,97 3,08 3.47 3.74
A2
1,88 1,02 0,73 0,58 0,48 0,42 0,37 0,34 0,31 0,22 0,18
42

Para o exemplo da Tabela 9, obteve-se x 73,8 ; R 18,7 . Assim os

limites de controle resultam:
Mdias:
LCS x A2 R 73,8 0,58 18,7 84,57

LCI x A2 R 73,8 0,58 18,7 63,03
Amplitudes:
LCS D4 R 2,11 18,7 39,47

LCI D3 R 0,00 18,7 0,00
Uma vez calculados os limites de controle, eles serviro para o
monitoramento da produo futura. Ou seja, plota-se os limites de
controle, respectivamente em um grfico de mdia e desvio-padro e a
cada amostra coletada ao longo do tempo, plota-se a mdia e o desviopadro no respectivo grfico. Como pode ser visto nas Figura 27 e
Figura 28, o processo desse exemplo estvel ao longo do tempo.
Mdia
80
70
60
1
Figura 27 - Exemplo de carta

de controle para a mdia.
10
11
12
13
14
L im it e C o n t . S u p e r io r = 8 4 , 5 6 7
L in h a C e n t r a l = 7 3 , 8
L im it e C o n t . In f e r io r
C a u s a s E s p e c ia is
= 6 3 ,0 3 3
15
Amplitude
40
30
20
10
0
1
Figura 28 - Exemplo de carta

de controle para a amplitude.
Interpretao da
estabilidade do processo
10
11
12
13
14
15
L im ite C o n t. S u p e r io r = 3 9 ,4 6 8
L in h a C e n tr a l = 1 8 ,6 6 6 7
L im ite C o n t. In f e r io r
C a u s a s Es p e c ia is
O grfico de mdias monitora a variabilidade entre as mdias amostrais

ao longo do tempo e o grfico de amplitude monitora a variabilidade
dentro da amostra, ou seja, a variabilidade em um determinado perodo
tempo.
O monitoramento das cartas de controle representa um teste de hiptese
a cada nova amostra coletada. A hiptese que est sendo testada a cada
amostra coletada de que a mdia ou a variabilidade do processo
continuam as mesmas (processo estvel), tendo como hiptese

43
alternativa de que elas mudaram devido presena de uma causa

especial (processo instvel).
Os limites de controle so limites de confiana calculados de forma que,
se o processo no mudou (no h causas especiais atuando), a
probabilidade de uma amostra cair dentro dos limites de 99,73% e fora
dos limites de 0,27%. Logo, caso a amostra coletada esteja dentro dos
limites de controle (limites de confiana) conclui-se que os parmetros
do processo (mdia e amplitude) permanecem os mesmos. Caso aparea
uma amostra fora dos limites de controle, a probabilidade dessa amostra
pertencer a esse processo muito pequena (0,27%), logo h uma forte
evidncia de que o processo mudou (mdia ou desvio) devido presena
de causas especiais.
Antes de investigar uma causa especial, interessante verificar se no
houve erro na plotagem do ponto ou problemas no sistema de medio.
Existem dois tipos de erros no monitoramento de uma carta de controle:
erro tipo I e erro tipo II.
a) Erro tipo I: a probabilidade () de considerar o processo fora de
controle quando na verdade ele est sob controle. Os limites clssicos
adotam 3, que correspondem a =0.27%.
0,135%
0,135%
Figura 29- Erro tipo 1
b) Erro tipo II: a probabilidade () de considerar o processo sob

controle quando na verdade ele est fora de controle e depende do
deslocamento da mdia (d) e dos limites de controle adotados (LCclassic
adotam =0,27%).
44

Figura 30- Erro tipo 2
Padres
Se os pontos plotados nas cartas apresentam um comportamento no

aleatrio ou sistemtico tambm so um forte indcio de causa especial.
Alm de verificar pontos fora dos limites, tambm importante
investigar eventuais padres no aleatrios na seqncia de pontos,
como, por exemplo, os padres que aparecem na Figura 31. A
observao de padres pode disparar uma ao sobre o sistema antes
mesmo que um ponto aparea fora dos limites de controle. Alguns
padres podem ser favorveis e podem fornecer a pista para eventuais
melhorias permanentes no processo.
Corridas
As seguintes constataes indicam a presena de uma causa especial: a)

sete pontos em seqncia acima (ou abaixo) da linha central e b) sete
pontos em seqncia ascendente (ou descendente). A correta
interpretao das cartas de controle exige conhecimentos estatsticos e
conhecimentos tcnicos a respeito do processo estudado.

45
Figura 31 - Exemplo de padres

e corridas no-aleatrios no
processo.
Fora dos Limites de Controle
Sob Controle
LC = 16,23
16,4
16,2
16,0
Dimenso (cm)
Dimenso (cm)
16,0
15,8
15,6
LC = 15,46
15,4
15,2
15,0
15,8
15,6
15,4
LC = 15,46
15,2
15,0
14,8
14,6
14,8
Figura 32 - Processo sob

controle / Processo fora dos
limites de controle
LC = 16,23
16,4
16,2
14,6
14,4
LCI = 14,71
0
10
15
20
LCI = 14,71
0
Amostra
16,2
16,0
16,0
15,6
LC = 15,46
15,4
15,2
Dimenso (cm)
Dimenso (cm)
16,2
15,8
LC = 16,23
16,4
15,0
15,8
15,6
LC = 15,46
15,4
15,2
15,0
14,8
14,8
14,6
14,6
LCI = 14,71
0
10
15
20
LCI = 14,71
0
Amostra
10
15
20
Amostra
7 Pontos Ascendentes
7 Pontos Descendentes
LC = 16,23
16,4
16,2
16,2
16,0
16,0
15,8
15,6
LC = 15,46
15,4
15,2
15,0
LC = 16,23
16,4
Dimenso (cm)
Dimenso (cm)
20
7 Pontos Abaixo LC
LC = 16,23
16,4
Figura 34 - 7
pontos ascendentes
/ 7pontos
descendentes
15
Amostra
7 Pontos Acim a LC
Figura 33 - 7
pontos acima LC / 7
pontos abaixo LC.
10
15,8
15,6
LC = 15,46
15,4
15,2
15,0
14,8
14,8
14,6
LCI = 14,71
0
10
Amostra
15
20
14,6
LCI = 14,71
0
10
Amostra
15
20
46

Deteco e correo de
causas especiais
Cada ponto fora do controle deve gerar uma anlise das condies
operacionais em busca da causa respectiva. Os resultados estatsticos do
partida para a tarefa de anlise, mas a explicao do que est
acontecendo reside no prprio processo e nas pessoas envolvidas.
Figura 35 Comportamento de
processos com
causas especiais
A soluo do problema o passo mais difcil e que consome maior

tempo. preciso pacincia, intuio e experincia para gradualmente
eliminar, uma-a-uma, as causas especiais.
Tcnicas de soluo de problemas como a anlise de Pareto ou os
diagramas de causa e efeito podem ajudar na anlise. Os problemas mais
complexos podem exigir o uso de projeto de experimentos e outras
ferramentas estatsticas.
Reavaliao dos limites de

controle
Se aes de melhoria esto sendo tomadas, o processo deve apresentar

um desempenho mais consistente, com reduo da variabilidade
associada s causas comuns. Como pode ser visto na Figura 36, caso os
limites de controle no sejam estreitados, as cartas de controle
consideram causas especiais como sendo causas comuns, ou seja, perdese a chance de melhorar o processo agindo sobre essas causas especiais.

M
di
a
47
80
70
60
1
10
11
12
13
14
15

Figura 36 - Reavaliao dos

limites de controle.
Na amostra 5, a mquina foi reformada, mas os limites de controle no

foram recalculados. A causa especial da amostra 13 no foi detectada,
pois os limites de controle esto desatualizados.
Assim, de tempos em tempos, os limites de controle devem ser
recalculados e, sempre que houver evidncias para tanto, estreitados.
Dessa forma, as cartas de controle continuaro servindo como uma
ferramenta eficaz no gerenciamento da variabilidade, separando as causa
comuns das causas especiais e auxiliando na busca da melhoria contnua.
O controle estatstico do processo deve ser entendido como uma
atividade dinmica.
Exerccio 1
Dez amostras, cada uma contendo 5 peas, foram coletadas da produo,

fornecendo medies da caracterstica da qualidade. Construa uma carta
de controle para mdia e amplitude e conclua sobre a estabilidade do
processo.
Amostra
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
Resoluo:
1
18
17
16
19
32
17
16
23
8
20
2
16
18
17
19
21
22
16
24
9
20
3
18
21
16
17
30
21
17
16
9
22
4
21
19
19
18
22
16
18
17
10
21
5
18
19
20
20
34
17
19
21
8
16
Soma
x 1 ... x k
18 ,2 ... 19 ,8 185 ,6
18,56
10
10
k
R1 ... R k 5 ... 6 54
5,4
k
10
10
LCS D 4 R 2 ,11 5, 4 11 ,39

LCI D 3R 0 , 00 5, 4 0 ,00
LCS
x A 2 R 18 ,56 0,58 5, 4 21, 69
LCI
x A 2 R 18 ,56 0,58 5, 4 15 , 43
Mdia
18,2
18,8
17,6
18,6
27,8
18,6
17,2
20,2
8,8
19,8
185,6
R
5
4
4
3
13
6
3
8
2
6
54
48

Recalcula-se os limites eliminando-se as causas especiais (5 e 9)

x
18 ,2 ... 19 ,8 149
18 ,63
8
8
5 ... 6 39
4 ,88
8
8
LCS 2,11 4 ,88 10 , 29

LCI 0,00 4,88 0,00
LCS 18 ,63 0,58 4 ,88 21, 46
LCI 18,63 0,58 4,88 15,80
Figura 37- Carta de controle

para mdia
Figura 38- Carta de controle

para amplitude
Interpretao da
capacidade do processo
Uma vez que o processo esteja em controle estatstico, ainda permanece

a questo se o processo ou no capaz, isto , o resultado satisfaz s
exigncias dos clientes?
A avaliao da capacidade do processo s inicia aps a eliminao das
causas especiais. Assim, a capacidade do processo est associada com
as causas comuns de variabilidade .
Na Figura 39, tem-se um processo estvel ao longo do tempo. O mesmo
processo pode ser considerado capaz ou no dependendo das
especificaes do cliente.

49
0.0 6
f(x )
Mdia
80
0.0 4
0.0 2
70
0.0 0
60
1
50
60
70
80
90
100
x: Ttulo
10 11 12 13 14 15
Limites de Especifica o
Alv o
Distribu io de 'titu lo'
Estvel
No capaz
0.06
f( x )
Mdia
80
0.04
0.02
70
0.00
60
1
20
30
40
50
60
Limite de Cont role Superior = 84,5716

Limite de Cont role Inferior = 63,0284
Figura 39 - Processo capaz e

no capaz dependendo das
especificaes.
70
80
90
100
x: Ttulo
10 11 12 13 14 15
Limites de Es pecificao
Alvo
Distr ibuio de 'titulo'
Estvel
Capaz
A avaliao da capacidade do processo realizada com a distribuio

dos valores individuais, pois o cliente espera que todas as peas
produzidas estejam dentro das especificaes. Dessa forma, necessrio
conhecer a distribuio de probabilidade dos valores individuais da
varivel que est sendo monitorada e estimar a mdia, a variabilidade e
os limites naturais do processo.
Para conhecer a distribuio de probabilidade da varivel deve-se fazer
um histograma dos dados (valores individuais) coletados.
Histograma
O histograma uma forma grfica que permite verificar o tipo de

distribuio de probabilidade que as variveis seguem. Para montar um
histograma, inicialmente divide-se o conjuntos de dados em classes (ou
categorias) e verifica-se o nmero de indivduos pertencentes a cada
classe, ou seja, a freqncia de cada classe. Organiza-se as classes e a
freqncia de cada classe em uma tabela de freqncia. Nesse caso, os
detalhes originais dos dados so perdidos, mas a vantagem est em
observar aspectos globais do problema.
A seguir apresentado um conjunto de 50 observaes de uma
caracterstica dimensional qualquer de uma pea (em ordem crescente).
12,58
12,97
13,45
13,53
13,59
13,61
13,62
13,78
13,97
14,21
14,47
14,51
14,53
14,58
14,65
14,78
14,83
14,97
15,06
15,13
15,17
15,23
15,29
15,37
15,40
15,45
15,51
15,62
15,67
15,73
15,83
15,98
16,01
16,11
16,17
16,23
16,35
16,43
16,49
16,52
16,67
16,83
16,97
17,05
17,13
17,22
17,3
17,48
17,8
18,47
A Tabela 11 apresenta uma tabela de freqncia de 50 observaes de

uma caracterstica dimensional.
50

Tabela 11 - Tabela de freqncia

absoluta
Intervalos de classe da
caracterstica dimensional
Freqncia
absoluta
12,50 a 13,50
13,51 a 14,50
14,51 a 15,50
15,51 a 16,50
16,51 a 17,50
17,51 a 18,50
3
8
15
13
9
2
Os limites tais como 12,50 a 13,50 so chamados de intervalos de classe.

O nmero menor (12,50) o limite inferior da classe; e o maior (13,50)
o limite superior da classe. Em alguns casos, pode-se usar intervalos
abertos, do tipo 12,50 ou menor; 18,50 ou maior.
A amplitude dos intervalos de classe, quando for constante em todos os
intervalos, calculada fazendo-se a diferena entre dois limites
inferiores ou dois limites superiores sucessivos. Caso contrrio, tem-se
uma amplitude varivel.
Para o exemplo anterior, a amplitude :
Amplitude = 16,50-15,50 = 15,50-14,50 = 1
O ponto mdio de uma classe obtido somando-se o limite inferior ao
superior e dividindo por dois. Assim, o ponto mdio do intervalo :
Ponto mdio = 13,50 a 14,50 (13,50+14,50)/2 = 14,00.
Passos para elaborar um

histograma
a) Determina-se o maior e menor valor do conjunto de dados;

Para o exemplo, Mn=12,58 e Mx=18,47
b) Define-se o limite inferior da primeira classe (LI), que deve ser igual
ou ligeiramente inferior ao menor valor das observaes;
Para o exemplo, LI =12,50
c) Define-se o limite superior da ltima classe (LS), que deve ser igual
ou ligeiramente superior ao maior valor das observaes;
Para o exemplo, LS=18,50
d) Define-se o nmero de classes (K), que pode ser calculado usando
K n
e deve estar compreendido entre 5 a 20;

Para o exemplo, K 50 7 mas por praticidade, escolher K=6
e) Conhecido o nmero de classes define-se a amplitude de cada classe:

a = (LS - LI) / K;
( LS LI ) (18,50 12,50)
Para o exemplo, a
1
K
6
f) Conhecida a amplitude das classes, define-se os limites inferior e
superior para cada classe.
Por exemplo, para a 1a classe: lim. inf.= LI =12,50 e lim. sup.= LI +
a=12,50 + 1=13,50
g) Calcula-se a freqncia de cada classe, ou seja, o nmero de
observaes que caem em cada classe, e completa-se a tabela de

51
freqncia;
Para o exemplo, o nmero de observaes que caem no intervalo
12,50 a 13,50 3.
h) Recomenda-se que os limites de cada classe sejam definidos com uma
preciso maior do que as prprias observaes, para evitar indecises na
classificao. Por exemplo: obs = 8,5 9,3 9,9 10,1 10,5 limites das
classes = 8,55 a 8,95; 8,95 a 9,35; etc.
Como pode-se ver Figura 4031, o grfico do histograma consiste de um
conjunto de retngulos que tem: a) a base sobre um eixo horizontal com
centro no ponto mdio e largura igual a amplitude do intervalo de classes
e b) a rea proporcional s freqncias das classes.
Se todos os intervalos tiverem a mesma amplitude, as alturas dos
retngulos sero proporcionais s freqncias das classes, e ento
costuma-se desenhar as alturas numericamente iguais a essas
freqncias.
Alternativamente ao histograma, tambm pode ser desenhado um
polgono de freqncia. Um polgono de freqncia, como pode ser
visto na Figura 40, um grfico obtido ligando-se os pontos mdios dos
topos dos retngulos de um histograma.
Histograma
Figura 40 - Exemplo de
histograma e polgono de
freqncia.
Distribuio de freqncias
relativas
Eq 19
Polgono de Freqncia
16
16
12
12
12 13 14 15 16 17 18 19
12
13
14
15
16
17
18
19
A freqncia relativa de uma classe a freqncia dessa classe dividida

pelo total de todas as classes e , geralmente, expressa em percentagem.
Freq. relativa
freq. da classe
x100
freq. todas classes
Por exemplo, a freqncia relativa da 1a classe da Tabela 11 :
Freq. relativa
freq. da classe
3
x 100
x 100 6%
freq. toda s classes
50
Se as freqncias da Tabela 11 forem substitudas pelas freqncias

relativas, teremos uma tabela de freqncias relativas (Tabela 12) e,
ento, pode-se plotar um histograma de freqncias relativas ou um
polgono de freqncias relativas.
52

Intervalos de classe da
caracterstica dimensional
Freqncia
absoluta
12,50 a 13,50
13,51 a 14,50
14,51 a 15,50
15,51 a 16,50
16,51 a 17,50
17,51 a 18,50
3
8
15
13
9
2
Tabela 12 - Distribuio de
freqncia relativa Distribuio de
freqncia relativa
Histograma
Figura 41 - Histograma e
polgono de freqncia relativa
para o exemplo anterior
Distribuio de freqncias
acumuladas
Freqncia
relativa
6%
16%
30%
26%
18%
4%
Polgono de Freqncia
32%
32%
24%
24%
16%
16%
8%
8%
0%
0%
12
13
14
15
16
17
18
12
19
13
14
15
16
17
18
19
A freqncia total de todos os valores inferiores ao limite superior de

uma dada classe denominada freqncia acumulada para aquele
intervalo.
Por exemplo, a freqncia acumulada at e inclusive o intervalo 13,51
a 14,50
3 + 8 = 11, o que significa que 11 das 50 peas cermicas apresentam
caracterstica dimensional inferior a 14,50.
Uma tabela que apresente essas freqncias chamada de tabela de
freqncia acumulada. Um grfico que apresente a freqncia
acumulada denominado de polgono de freqncia acumulada.
Intervalos de
classe da
caract.
Dimensional
Tabela 13 - Distribuio de
freqncia acumulada
Freqncia
Freqncia
Absoluta
relativa
Freqncia
acumulada
absoluta
Freqncia
acumulada
relativa
Abaixo de 12,50
0%
0%
12,50 a 13,50
6%
6%
13,51 a 14,50
16%
11
22%
14,51 a 15,50
15
30%
26
52%
15,51 a 16,50
13
26%
39
78%
16,51 a 17,50
18%
48
96%
17,51 a 18,50
4%
50
100%
Dividindo-se a freqncia acumulada pelo total das observaes, tem-se

a tabela de freqncia acumuladas relativas e o correspondente polgono
de freqncia acumulada relativa.

Polgono de freqncia
Polgono de freqncia
acumulada absoluta
acumulada relativa
50
100%
40
80%
30
60%
20
40%
10
20%
0%
12,5
Figura 42 - Polgono de
freqncia acumulada absoluta
e relativa
53
13,5
14,5
15,5
16,5
17,5
18,5
12,5 13,5 14,5 15,5 16,5 17,5 18,5
O polgono de freqncia e o polgono de freqncia acumulado pode

ser suavizado. Isso ajuda a filtrar o rudo presente em qualquer conjunto
de dados.
O polgono de freqncia suavizado a distribuio de freqncia ou
distribuio de probabilidade de uma caracterstica.
A anlise das distribuies de freqncia relativas indica o
comportamento de uma caracterstica que seria observado no caso de
uma amostra muito grande ou infinita.
Existem disponveis em meio impresso ou em softwares, inmeras
distribuies de probabilidade que podem ser utilizadas para prever o
comportamento de uma caracterstica de qualidade que apresenta um
processo estvel ao logo do tempo.
Exerccio 2
Os dados a seguir representam a espessura (em microns) de um

recobrimento de cromo acrescentado sobre uma pea mecnica. Plote o
histograma e identifique se a populao da espessura do cromo
apresentam distribuio de probabilidade simtrica ou assimtrica?
20,4
24,9
26,0
27,1
Teste grfico de
normalidade
22,3
25,0
26,1
27,1
23,1
25,1
26,2
27,3
23,5
25,3
26,2
27,5
23,8
25,3
26,3
27,7
24,1
25,4
26,5
27,9
24,3
25,6
26,6
28,0
24,3
25,7
26,7
28,3
24,6
25,8
26,8
28,7
24,8
26,0
26,9
29,6
Outra forma de verificar a distribuio das variveis atravs do papel

de probabilidade que permite testar graficamente o ajuste de diferentes
distribuies de probabilidade.
O papel de probabilidade Normal possui uma escala vertical
transformada, de forma que se um conjunto de dados segue a
distribuio Normal, suas freqncias acumuladas aparecero dispostas
ao longo de uma linha reta.
Caso contrrio, quando o modelo Normal no se ajusta bem aos dados,
suas freqncias acumuladas iro apresentar curvatura quando plotadas
no papel de probabilidade Normal.
Caso o papel de probabilidade Normal no esteja disponvel, h outra
alternativa grfica para verificar o ajuste de um modelo Normal atravs
54

do teste grfico de valores tericos de Z.
Passos para elaborar o

teste grfico de valores
tericos de Z
Essa alternativa utiliza os valores tericos de Z esperados para cada valor

ordenado de X(i).
Para elaborar o teste grfico de valores tericos de Z, recomenda-se
seguir os seguintes passos:
a) colocam-se os dados (X(i).) em ordem crescente;
b) calcula-se a probabilidade acumulada F(X(i));
c) obtm-se o valor terico de Z a partir de F(X(i)), usando a tabela da
distribuio Normal acumulada;
d) plota-se o Z terico x X(i);
e) se o ajuste Normal adequado, os valores plotados devem aparecer
seguindo, aproximadamente, uma linha reta.
Por exemplo, sejam os valores de espessura de peas cermicas
apresentados na Tabela 14. Como pode ser visto na Figura 43, os pontos
esto aproximadamente dispostos segundo uma linha reta, indicando que
os dados provm de uma populao com distribuio Normal.
Tabela 14 - Valores de X(i), F(X(i)) e

Z terico para a espessura.
i 0,5
n
X(i)
F ( X (i ) )
1,00
0,05
-1,64
1,22
0,15
1,31
4
5
i 0,5
n
X(i)
F ( X (i ) )
1,80
0,55
0,13
-1,04
1,87
0,65
0,39
0,25
-0,67
2,00
0,75
0,67
1,55
0,35
-0,39
2,32
0,85
1,04
1,62
0,45
-0,13
10
2,50
0,95
1,64
terico
x: Espessura
Figura 43 - Exemplo do teste de

normalidade de valores tericos
de Z.
3
2
1
0
-4
-3
-2
-1
Z - Varivel normal padronizada
Vale observar que esses dados com tamanho de amostra n = 10 no

seriam suficientes para uma anlise usando histograma. Mas com a
ajuda do teste grfico de normalidade possvel avaliar se os dados
provm de uma populao Normal.
Z
terico

55
Exerccio 3
Os dados a seguir representam a voltagem medida na sada de um

modelo de transformador. Plote esses dados em papel de probabilidade
normal, e teste a aderncia deste modelo. Caso o ajuste seja adequado,
faa estimativas da mdia e do desvio padro
Dados
204,0 205,0 206,0 206,0 207,5 207,5 208,0 208,5

209,5 209,5 210,5 211,0 211,5 212,0 213,5 214,0
Uma vez identificada a distribuio dos valores individuais calcula-se os
limites naturais.
Clculo dos limites naturais
Caso a distribuio dos valores individuais seja Normal, os limites

naturais so calculados considerando-se a extenso de seis desvios-padres (6). Dessa forma, os limites naturais compreendem 99,73%
dos valores, ou seja, teoricamente 99,73% das peas produzidas estaro
dentro dos limites naturais e 0,27% estaro fora dos limites naturais.
Os limites naturais da distribuio Normal so calculados usando a
frmula:
Eq 20
: LNI - 3
Eq 21
LNS 3
A estimativa do desvio-padro dos valores individuais () obtida a
partir da mdia das amplitude das amostras usando::
Eq 22
R d 2
Onde d2 uma constante que depende do tamanho da amostra, cujos
valores encomtram-se na Tabela 15. Ou a partir do desvio-padro das
amostras usando:
Eq 23
S c4
Onde c4 uma constante que depende do tamanho da amostra, cujos

valores encontram-se na Tabela 15.
Tabela 15 - Valores da
constante d2 e c4.
10
15
20
d2
1,13
1,69
2,06
2,33
2,53
2,70
2,85
2,97
3,08
3.47
3.74
c4
0,80
0,89
0,92
0,94
0,95
0,96
0,965 0.969 0,973 0,982 0,987
Na Figura 44, pode-se visualizar os limites naturais de um processo que

segue a distribuio Normal.
56

0,135%
0,135%
Figura 44 - Limites naturais da LNI x 3

distribuio dos valores
individuais.
LNS x 3
6 99,73%
Na Figura 45, apresenta-se o percentual dentro da faixa de dois desvios-padres (1), quatro desvios-padres ( 2 ) e seis desvios-padres
( 3) para um processo que segue a distribuio Normal com mdia
28,6 e desvio de 0,2.
9 9 ,7 3 %
9 5 ,4 4 %
6 8 ,2 6 %
Figura 45 - Percentuais
associados a faixa de 1 , 2
e 3 da distribuio
Normal, para uma populao
com mdia 28,4 e desvio- padro 0,20.
ndices de capacidade
27.6
27.8
28
28.2
-1
-2
-3
28.4
+1
28.6
28.8
29
29.2
+2
+3
Muitas vezes conveniente ter uma maneira simples e quantitativa de

expressar a capacidade do processo. Uma maneira utilizar os ndices
de capacidade que comparam os limites naturais do processo com a
amplitude das especificaes exigidas para o processo.
O clculo dos ndices de capacidade realizado supondo que as
variveis provm de uma distribuio Normal.
A Figura 49 ilustra a situao de processos capaz e no-capaz.

Figura 46 - Processo capaz e

no-capaz
Figura 47 - Estratgias de
capacitao e centralizao de
processos
Figura 48- Exemplos de

processo capaz e no-capaz
57

Cp=1
Cp>1
Cpk=1
Cpk=1
Cpk=Cp=1
Cp<1
Cp=1
Cpk<1
Cpk<1
Cpk=Cp=<1
Figura 49 - Exemplo de
processo capaz e no-capaz.
H vrios tipos de ndice de capacidade. Um ndice usado com

freqncia para avaliao de caractersticas do tipo nominal--melhor,
ou seja, caractersticas que possuem um valor alvo a ser atingido e
qualquer desvio desse valor alvo prejudicial, o Cp calculado segundo
a equao abaixo:
Eq 24
~
s
p
e
c
i
f
i
c
a
o
e
s
L
E
S
L
E
IE
: C
p
6
d
i
s
p
e
r
s
O ndice Cp avalia a capacidade potencial do processo, que poderia ser

atingida se o processo estivesse centrado.
= 18,7 / 2,33 = 8,03,

Conhecidos: R = 18,7, n = 5 , d2 = 2,33
o clculo de Cp para o exemplo da fresa da Tabela 9 seria:
Cp
90 30
1,24
6 8,03
Ou seja, o processo potencialmente capaz.

Como pode-se verificar na Figura 50, o ndice Cp igual em ambos
processos, ou seja, ele no avalia a capacidade real do processo, pois no
verifica se o processo est centrado pois no considera a mdia do
processo .
0.06
0.06
0.05
0.05
0.04
0.04
f( x)
f( x)
58
0.03
0.01
0.01
0.00
0.00
30
40
50
60
70
80
90
100
x: T tulo
Limit es de E s pec if ic a o
A lvo
Dis tribui o de 'titulo'
Figura 50 - Processo
descentrado versus processo
centrado.
0.03
0.02
0.02
30
40
50
60
70
80
90
x: Ttulo
Limites de Especificao
Alvo
Distribuio de 'titulo'
Processo descentrado Cpk < Cp
Processo centrado Cpk = Cp
Cpksup= 0,67 < Cp= 1,24
Cpksup = 1,24 =Cpkinf = 1,24 = Cp= 1,24
A capacidade real do processo para caractersticas do tipo nominal-melhor estimada pelo ndice Cpk que considera a mdia do processo

Eq 25
59
L
E
S
x
x
L
E
I
3
3
: C
m
i
n
{ , }
p
k
O clculo do ndice Cpk para o exemplo anterior seria:
C pk inf
x LEI 73,8 30
1,81
3 8,03
3
C pk sup
LES x (90 73,8)
0,67
3 8,03
3
C pk min 0,67;1,81 0,67

Caso o processo fosse centrado, ou seja, a mdia trazida para x 60 , o
Cpk resultaria igual ao Cp:
Pode-se fazer algumas observaes a respeito dos ndices Cp e Cpk :
O ndice Cpk , que mede a capacidade real do processo, sempre menor
ou igual ao ndice Cp que mede a mxima capacidade do processo
quando ele est centrado;
O ndice Cpk menor do que o ndice Cp quando o processo est
descentrado e igual ao Cp quando o processo est centrado;
O Cpk > 1 condio necessria para a especificao do cliente
contemple 6sigma 99,73% da peas produzidas e que a frao de
defeituosos seja de 0,27%.
Muitas empresas utilizam como padro de qualidade a meta Cpk > 1,33
que garante que a especificao contemple 8sigma do processo ou Cpk
>1,67 que garante 10 sigma dentro da tolerncia
Neste caso devemos igualar o Cpk ao valor desejado e isolar e calcular o
valor do sigma correspondente
Cp
LES LEI
1,33
6
LES LEI LES LEI
6 1,33
8
Como pode ser visto na Figura 50, no caso de um processo que possui
um Cpk < 1 e um Cp > 1, basta centrar-se o processo que ele se torna
capaz. Esse um processo que, com pouco investimento consegue-se
torn-lo capaz, pois centrar o processo geralmente uma tarefa fcil.
Dessa forma, processos com Cpk < 1 e Cp > 1 devem ser priorizados nas
aes de melhoria.
Caso a caractersticas de qualidade for do tipo maior--melhor, o valor
do limite de especificao superior teoricamente infinito, logo a
avaliao da capacidade do processo ser realizada apenas com o Cpk
inferior.
60

Caso a caracterstica for do tipo menor--melhor, o valor do limite de

especificao inferior teoricamente zero, logo a avaliao da
capacidade do processo ser realizada apenas com o Cpk superior.
O valor de Cpk pode auxiliar na deciso sobre onde concentrar os
esforos de engenharia sendo que processos com menor Cpk devem ser
priorizados nas aes de melhoria.
Exerccio 4
Sabendo que as especificaes do processo de fabricao de solenides

so 18 7,5, calcule o Cp e Cpk do processo.
Resoluo
R
Cp
d 2 4 ,88 / 2 , 33 2 , 09
25 ,5 10 ,5
LES LEI
1, 20
6 2 ,09
6
Cpk min {
LES x x LEI
25,5 18,63 18,63 10,5
;
,
} min
1,10
3 2,09
3 2,09
3
3
0.25
f (x )
0.20
0.15
0.10
0.05
0.00
10
12
14
16
18
20
22
24
26
x : Ttulo
Lim ites de Es pec if ica o
Alv o
Dis tribui o de 'titulo'
interessante estimar o percentual de peas produzidas dentro das

especificaes e o percentual de refugo e retrabalho, pois dessa forma
tem-se uma estimativa dos custos associados m qualidade.
Clculo do percentual fora

de especificao
O clculo do percentual de peas fora de especificao estimado

calculando-se a mdia e a variabilidade da distribuio e o valor da
varivel reduzida Z para os limites de especificao.
Como podemos ver na Figura 51, o clculo da varivel reduzida Z faz
uma transformao dos valores reais em valores codificados. Essa
transformao feita descontando-se a mdia para eliminar o efeito de
localizao e dividindo-se pelo desvio-padro para eliminar o efeito de
escala:
Eq 26
LE x

Distribuio Normal para X
61
Distribuio Normal para Z
10
probabilidade dos valores reais
e codificados.
30
60
-3,0
Uma vez calculada a varivel reduzida Z, consulta-se a tabela Normal

padronizada para identificar a probabilidade acumulada esquerda de Z,
ou seja, a probabilidade de ocorrerem valores menores ou iguais a um
certo valor de Z consultado.
LE x
30 60
3
10
P ( Z < -3,0) = 0,00135 ou 0,135%

P (Z > +3,0) = 1 - P (Z < 3,0) = 1-0,9987 = 0,00135 ou 0,135%
P (-3,0 < Z < 3,0) = 1- 0,00135- 0,00135 = 0,9973 ou 99,73%
A seguir sero apresentados dois exemplos do clculo do percentual
fora de especificao.
Exemplo 1
O percentual dentro das especificaes do exemplo da fresa com mdia

de 73,8, desvio-padro de 8,03 e especificaes de 60 30, calculado
conforme segue.
O percentual abaixo da especificao inferior calculado da seguinte
62

forma:
P( X 30) P( Z
30 73,8
) P( Z 5,45)
8,03
Uma vez calculado o valor de Z, consulta-se a tabela Normal

padronizada:
P(Z<-5,45) = 0,0000
Ou seja, a probabilidade de peas produzidas abaixo do limite inferior de
especificao virtualmente zero.
Uma vez que a tabela Normal padronizada fornece a probabilidade
acumulada esquerda de Z, o percentual acima da especificao superior
calculado pelo complementar, ou seja:
90 73,8
) 1 P( Z 2,017)
8,03
Uma vez calculado o valor de Z, consulta-se a tabela Normal
padronizada:
P( X 90) 1 P( X 90) 1 P( Z
P(Z<2,017) = 0,9782
P(X 90 ) 1 P(X 90 ) 1 P(Z 2,017 ) 1 0,9782 0,0218

Ou seja, a probabilidade de peas produzidas acima do limite superior de
especificao de 2,18%.
O percentual dentro das especificaes pode ser calculado descontando o
percentual acima e abaixo das especificaes como a seguir:
P(30 X 90) 1 0,0000 0,0218 0,9782 ou 97,82%

Ou seja, a probabilidade de peas produzidas dentro dos limites de
especificao de 97,82%.
Na Figura 52, representa-se graficamente a distribuio dos valores da
fresa e os limites de especificao do cliente. Como pode-se ver, o
processo est descentrado para a direita, fazendo com que virtualmente
nenhuma pea seja produzida abaixo do limite inferior mas, em
compensao, sejam produzidas 2,17% peas acima do limite superior.

63
0.06
0.05
f (x )
0.04
0.03
0.02
0.01
0.00
30
40
50
60
70
80
90
100
x: Ttulo
probabilidade do exemplo da
fresa.
Exemplo 2
Li mites de E speci fic ao

A lvo
Distribu i o de 'titul o'
Caso o processo seja centrado, ouse seja, a mdia deslocada para o valor
central do intervalo de especificaao (mdia=60) e mantido o desviopadro, os percentuais de peas fora de especificao sero reduzidos
Clculo do % de peas abaixo do LEI=30
30 60
)
8,03
P( X 30) P( Z 3,74) 0,00
P( X 30) P( Z
Clculo do % de peas acima do LES=90
90 60
)
8,03
P( X 90) 1 P( Z 3,74) 1 0,9999 0,00
P( X 90) 1 P( X 90) 1 P( Z
Clculo do % de peas dentro do LEI=30 e LES=90
P(30 X 90) 1 0,00 0,00 1,00 ou 100%
0
04
0
05
06
x
probabilidade do exemplo da
fresa com o processo centrado.
Exerccio 5
07
08
09
:
L
A
D
T
i
m
lv
is
o
t
it
ib
lo
d
Considerando que um solenide acima das especificaes pode ser

retrabalhado e um valor abaixo das especificaes refugado, calcule o
percentual de refugo e retrabalho para o exerccio anterior, supondo que
as especificaes sejam 18 7,5
64

Percentual fora das

especificaes:
P
(X
2
5
,5
)
1
P
(X
2
5
,5
)
2
5
,5
1
8
,6
3
1
P
(Z
)
1
P
(Z
3
,2
9
)
2
,0
9
1
0
,9
9
9
5
0
,0
0
0
5
o
u0
,0
5
%
Percentual abaixo das

especificaes
1
0
,
5
1
8
,
6
3
P
(
X
1
7
,
5
)
P
(
Z
)
P
(
Z
3
,
8
9
)
0
,
0
0
2
,
0
9
Percentual dentro das

especificaes
P
(
1
0
,
5
2
5
,
5
)
0
,
0
5
0
,
0
0
9
9
,
9
5
0.25
f (x )
0.20
0.15
0.10
0.05
0.00
10
12
14
16
18
20
22
24
26
x: T tulo
Figura 54Distribuio de
titulo
Distribuio de
probabilidades
Limites de Especif icao

Alv o
Distribuio de 't itulo'
Funo densidade de probabilidade normal acumulada para quatro

diferentes conjuntos de parmetros (,2):
Figura 55 - Funo densidade
Distribuies normais
O fato de uma distribuio Normal ser completamente caracterizada por

sua mdia e desvio-padro permite que a rea sob a curva entre um
ponto qualquer e a mdia seja funo somente do nmero de desviospadres que o ponto est distante da mdia. Como existe uma infinidade
de distribuies normais (uma para cada mdia e desvio-padro),

65
transformamos a unidade estudada seja ela qual for (peso, espessura,

tempo, etc.) na unidade Z, que indica o nmero de desvios-padro a
contar da mdia.
Dessa forma, o clculo de probabilidades (rea sob a curva) pode ser
realizado atravs de uma distribuio Normal padronizada, onde o
parmetro a varivel reduzida Z.A varivel Z chamada de varivel
padronizada, e a distribuio dos valores de Z chamada de distribuio
Normal padronizada.
Figura 56- Distribuio Normal
As reas correspondentes s probabilidades da distribuio normal

padro esto tabeladas.
Figura 57- Tabela de

probabilidades da distribuio
normal
Distribuies no-normais
O clculo dos ndices de capacidade e do percentual de peas fora de
66

especificao apresentado anteriormente foi realizado supondo que as

variveis provm de uma distribuio Normal. Por isso, antes de realizar
um estudo de capacidade necessrio verificar o tipo de distribuio que
os dados seguem, utilizando-se, por exemplo, o histograma e o papel de
probabilidade. Caso os dados no sigam a distribuio Normal, uma
alternativa utilizar uma transformao nos dados. O desejado que os
dados transformados sigam a distribuio Normal. Outra alternativa
calcular o percentual de peas fora de especificao usando os percentis
da distribuio original dos valores individuais. Uma vez calculado o
percentual de peas fora de especificao, deve-se identificar um valor
de Cp que possua um percentual equivalente de peas fora de
especificao. Dessa forma, pode-se ter o mesmo ndice para avaliar a
capacidade de todos os processos, o que permite compar-los e priorizar
os esforos de melhoria naqueles que possurem o menor ndice Cpk.
A Tabela 16 apresenta diversos valores de Cpk e a respectiva quantidade
de peas fora de especificao em partes por milho (ppm). A segunda
coluna refere-se quantidade de peas fora de especificao,
considerando um lado da distribuio, ou seja, quando as variveis so
do tipo menor--melhor ou maior--melhor. A terceira coluna refere-se
Quantidade observada em ambos lados da distribuio, ou seja, quando
a varivel do tipo nominal--melhor.
Tabela 16 - Valores de Cpk e a

respectiva quantidade de peas fora
de especificao (ppm).
Rotina e melhoria no
controle do processo
Cpk
0,25
0,50
0,60
0,70
0,80
0,90
1,00
1,10
1,20
1,30
1,40
1,50
1,60
1,70
1,80
2,00
Unilateral
226.628
66.807
35.391
17.865
8.198
3.467
1.350
484
159
48
14
4
1
0,17
0,03
0,0009
Bilateral
453.255
133.614
71.861
35.729
16.395
6.934
2.700
967
318
96
27
7
2
0,34
0,06
0,0018
Como pode-se visualizar na Figura 58, o controle estatstico de processo

promove melhorias a partir de um procedimento iterativo.
Para melhorar a capacidade do processo aps torn-lo estvel (sem
causas especiais), preciso ao sobre o sistema (causas comuns). Isso
em geral exige ao gerencial como:
a) treinamento de pessoal, b) reviso de procedimentos, c) reviso do
ajuste de parmetros, d) melhora da matria-prima e manuteno /
aquisio de equipamentos.

67
INVESTIGAR
E ELIMINAR
CAUSAS ESPECIAIS
(AO LOCAL)
COLETAR DADOS
PLOTAR CARTAS
DE CONTROLE
MELHORIA
PROCESSO
SOB
CONTROLE?
NO
ROTINA
SIM
AGIR SOBRE O
SISTEMA PARA
ELIMINAR PARTE DAS
CAUSAS COMUNS
INVESTIGAR
CAPABILIDADE
MELHORIA
PROCESSO
CAPAZ ?
Figura 58 - Processo iterativo

de melhoria do processo.
NO
SIM
Conforme o caso, o monitoramento do desvio-padro (s) pode ser mais

CARTA DE CONTROLE
PARA O DESVIO-PADRO apropriado que o monitoramento da amplitude. O desvio-padro um
indicador mais eficiente da variabilidade, principalmente para amostras
grandes. Tipicamente, recomenda-se o uso da carta s quando: a) os
dados forem coletados por computador e for fcil de implementar uma
rotina de clculo, b) os processos forem sofisticados, controlados por
especialistas e c) as amostras forem grandes (subgrupos de tamanho n >
10).
Se os dados so volumosos, os valores individuais sero registrados em
uma folha separada, e na folha da carta de controle ir aparecer apenas o
valor calculado de x e s para cada subgrupo.
A frmula para o clculo do desvio-padro :
Eq 27
( xi x )2
n 1
xi2 nx 2
n 1
x12 x22 ... xn2 n x 2

n 1
E os limites de controle da mdia so calculados usando:

Eq 28
LCS x A3 s
Eq 29
LCI x A3 s
Onde A3 uma constante que depende do tamanho da amostra, cujos
68

E os limites de controle do desvio-padro so calculados usando:

Eq 30
LCS B4 s
Eq 31
LCI B3 s
Onde B4 e B3 so constantes que dependem do tamanho da amostra,
Tabela 17 - Valores das

constantes B4, B3 e A3.
15
20
25
B4
3,27
2,57
2,27
2,09
1,97
1,82 1.716 1,72
1,57
1,49
1,43
B3
0,03
0,19 0.239 0,28
0,43
0,51
0,57
A3
2,66
1,95
1,63
1,43
1,29
1,10 1.032 0,98
0,79
0,68
0,61
Exemplo de carta de
controle para mdia ( x ) e
desvio-padro (s)
10
Na Tabela 18, apresentam-se os mesmos dados do exemplo da fresa, s

que desta vez calcula-se a mdia e o desvio-padro para cada amostra
coletada.
Para o exemplo da Tabela 18, obteve-se x 73,8 ; s 7 ,55 . Assim,
os limites de controle foram calculados como segue.
Mdias:
LCS x A3 S 73,8 1,43 x 7,55 86,55
LCS x A3 S 73,8 1,43 x 7,55 60,79

Desvio-padro:
L
C
S
B
S
2
,
0
9
7
,
5
5
1
5
,
7
7
4
L
C
I
B
S
0
,
0
0
7
,
5
5
0
,
0
0
3
Como pode ser visto nas Figura 59 e Figura 60, o processo estvel ao
longo do tempo.

69
Nome da parte
Retentor
Especificaes
30 a 90 microns
Nmero da parte
9983-5
Instrumento
Micrmetro
Operao
Dobra superior
Amostra/Freq.
5 / 2 horas
Mquina
030
Unidade
Microns
Caracterstica
Recobrimento
Carta No.
01
Data
6/3
Hora
10
12
14
16
10
12
14
16
10
12
14
16
Operador
65
75
80
65
80
75
80
70
85
65
75
85
70
70
75
70
70
70
65
60
70
75
65
85
65
60
65
75
65
80
Medidas 3
75
80
70
65
80
60
65
75
75
65
75
75
75
85
85
60
90
80
80
80
85
75
65
65
80
85
75
70
60
80
80
70
80
65
75
75
70
85
80
60
90
80
70
75
90
Tabela 18- Dados do Soma

exemplo da fresa.
7/3
8/3
350 385 380 340 375 365 365 360 390 335 385 380 360 355 410
Mdia
70
77
76
68
75
73
73
72
78
67
77
76
72
71
82
Des. padro
7,9
8,4
5,5
6,7
8,7
9,1
5,7
8,4
8,4
7,6
11,5
7,4
2,7
9,6
5,7
Mdia
80
70
60
1
Figura 59 - Exemplo de carta de

controle para a mdia.
10
L im ite C o n t. S u p e rio r = 8 4 ,5 7 1 6
L im ite C o n t. In fe rio r = 6 3 ,0 2 8 4
11
12
13
14
15
L in h a C e n tra l = 7 3 ,8
Desvio Padro
15
10
0
1

controle para o desvio-padro.
Exerccio 6
L imite C o n t. Su p e rio r = 1 5 ,7 6 5 3
L imite C o n t. In fe rio r =
0
10
11
12
13
14
15
L in h a C e n tra l = 7 ,5 4 6 8
C a u sa s Esp e cia is
Os dados a seguir representam medies dirias feitas em uma central de

produo de concreto. A caracterstica de qualidade que est sendo
medida a resistncia compresso de corpos de prova de concreto.
70

Dia
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
x1
18,0
17,5
16,9
17,0
18,1
19,3
18,2
19,5
18,1
16,1
x2
17,1
18,9
18,2
19,3
18,3
17,3
16,8
17,2
18,8
16,9
x3
19,3
19,1
18,9
18,5
19,2
18,1
18,9
17,9
18,3
18,5
Dia
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
x1
16,2
17,5
18,2
19,2
17,7
16,9
18,2
17,8
17,3
18,0
x2
18,5
17,9
17,5
18,8
18,2
17,9
18,6
18,2
19,5
17,2
x3
19,7
18,9
19,3
17,8
19,1
18,5
19,4
19,3
18,1
19,1
(a) Calcule a linha central e os limites de controle para a carta de medias

e desvio-padro
Exerccio 6 ( cont.)
(b) Plote a carta de medias e conclua a respeito do controle estatstico da

tendncia central e da disperso do processo
(c) Conclua a respeito da capabilidade do processo, sabendo que a
resistncia uma caracterstica do tipo maior--melhor e o limite de
especificao inferior 15,0.
CARTA DE CONTROLE
PARA A MEDIANA ( ~
x)E
AMPLITUDE (R)
Muitas vezes monitorar a mediana ( ~

x ) em vez da mdia pode trazer
algumas vantagens, pois: a) a mediana mais fcil de calcular que a
mdia e b) a mediana robusta presena de dados atpicos.
Como pode ser visto no exemplo abaixo, se houver um dado atpico, ele
no influencia a mediana, mas influencia a mdia:
A
10 12 14 16 18
x 14; ~
x 14
10 12 14 16 38
x 18; ~
x 14
Enquanto a mdia foi influenciada pelo dado atpico 38, a mediana no

foi, pois leva em conta apenas o ponto central.
A mediana o valor central de uma amostra, ou seja, aquele valor que
divide a amostra em 50% para esquerda e outros 50% para a direita. O
procedimento para identificao da mediana colocar os dados em
ordem crescente e identificar o valor central.
Em funo disso, muitas vezes o monitoramento da mediana feito
plotando em uma carta de controle todos os valores individuais, pois
dessa forma eles ficam automaticamente em ordem crescente, e
assinalando o valor mediano. Para esse procedimento ser prtico, o
subgrupo deve ser pequeno e com tamanho mpar (3, 5 ou 7).
Os limites de controle so calculados usando-se o valor mdio das
x ) e o formulrio conforme segue.
medianas ( ~
Eq 32
- Mediana:
~
LCS ~
x A2 R
Eq 33
- Mediana:
~
LCI ~
x A2 R

71
~
Onde A2 uma constante que depende do tamanho de amostra, cujos
Eq 34
- Amplitude:
LCS D4 R
Eq 35
- Amplitude:
LCI D3 R
Tabela 19 - Valores da constante
~
A2 .
~
A2
1,88
1,19
0,80
0,69
0,55
0,51
10
0,43 0,41 0,36
O monitoramento segue a mesma tica vista para as mdias: qualquer

valor de amplitude ou mediana fora dos limites de controle indica que o
operador deve agir para corrigir o processo ou notificar o supervisor e
pessoal de suporte.
Na Tabela 20, apresentam-se os mesmos dados do exemplo da fresa, s
Exemplo de carta de
~
controle para a mediana ( x ) que dessa vez calcula-se a mediana e a amplitude para cada amostra
coletada.
e amplitude (R)
Nome da parte
Retentor
Especificaes
30 a 90 microns
Nmero da parte
9983-5
Instrumento
Micrmetro
Operao
Dobra superior
Amostra/Freq.
5 / 2 horas
Mquina
030
Unidade
Microns
Caracterstica
Recobrimento
Carta N .
01
Data
6/3
Hora
10
12
14
16
10
12
14
16
10
12
14
16
Operador
65
75
80
65
80
75
80
70
85
65
75
85
70
70
75
70
70
70
65
60
70
75
65
85
65
60
65
75
65
80
Medidas 3
75
80
70
65
80
60
65
75
75
65
75
75
75
85
85
60
90
80
80
80
85
75
65
65
80
85
75
70
60
80
80
70
80
65
75
75
70
85
80
60
90
80
70
75
90
Tabela 20- Dados do Soma

exemplo da fresa
7/3
8/3
350 385 380 340 375 365 365 360 390 335 385 380 360 355 410
Mediana
70
75
80
65
80
75
75
70
80
65
75
75
70
70
80
Amplitude
20
20
10
15
20
25
15
20
20
20
30
20
25
15
x 73,6 , R 18 ,7 . Assim
Para o exemplo da Tabela 20, obteve-se ~
os limites de controle foram calculados como segue.

Medianas:
~
LCS ~
x A2 R 755
~
LCI ~
x A2 R 70,79
Amplitudes:
LCS D4 R = 2,11 x 18,7 = 39,47

LCI D3 R = 0,00 x 18,7 = 0,00
Como pode ser visto nas Figura 61 e Figura 62, o processo estvel ao
longo do tempo.
90
Mediana
80
70
60
1

controle para a mediana.
10
L im ite C o n t. Su p e rio r = 8 6 ,5 4 6 7
L im ite C o n t. In fe rio r = 6 0 ,7 8 6 7
11
12
13
14
15
L in h a C e n tra l = 7 3 ,6 6 6 7
40
Amplitude
72
30
20
10
0
1

controle para a amplitude.
10
11
12
13
14
15
L im ite C o n t. S u p e r io r = 3 9 ,4 6 8
L in h a C e n tr a l = 1 8 ,6 6 6 7

73
Considere os dados apresentados a seguir. Calcule a mediana e

amplitude de cada subgrupo e plote as respectivas cartas. Conclua a
respeito da estabilidade e da capacidade do processo considerando que
as especificaes so 20 10.
Exerccio 7
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
CARTA DE CONTROLE
PARA VALORES
INDIVIDUAIS
x1
12
21
14
17
18
24
32
14
18
30
17
13
33
15
23
31
19
31
17
29
x2
18
8
16
17
20
21
19
9
13
31
24
26
18
26
14
20
16
14
12
30
x3
20
12
21
12
15
20
16
20
16
21
28
18
26
20
21
22
24
20
18
24
x4
30
21
9
26
27
21
19
9
25
25
31
21
29
23
31
27
19
21
23
31
x5
20
12
21
12
15
20
16
20
16
21
28
18
26
20
21
22
24
20
18
24
Algumas vezes preciso realizar o controle do processo usando medidas

individuais. Esse ser o caso quando: a) taxa de produo muito baixa
(por ex: 1 produto por dia), b) testes muito caros (por ex: testes
destrutivos ou que exijam a parada da produo) e c) caractersticas
muito homogneas, que variam muito lentamente (por ex: um digestor
qumico).
As cartas dos valores individuais no se beneficiam do teorema do limite
central que garante que as mdias seguem distribuio Normal, logo
deve-se ter alguns cuidados com a sua aplicao: a) se a distribuio no
for simtrica, a interpretao das cartas deve levar isso em conta, b) as
cartas de valores individuais no so to sensveis a mudanas no
processo como as cartas de mdias, c) os pontos da carta da amplitude
mvel so correlacionados, e essa correlao pode induzir um padro ou
ciclos na carta de amplitude e d) as cartas de valores individuais no
permitem avaliar diretamente a disperso do processo. Para contornar
esse ltimo aspecto, em geral, se usa uma amplitude mvel calculada
como a diferena entre cada par de leituras sucessivas. Dessa forma, o
tamanho de amostra considerado n=2.
Os limites de controle para a carta de valores individuais so calculados
como segue.
Eq 36
- Amplitude:
LCS D4 R
74

Eq 37
- Amplitude:
LCI D3 R
Eq 38
- Valores individuais: LCS x E2 R
Eq 39
- Valores individuais:
LCI x E2 R
Onde E2 uma constante que depende do tamanho da amostra, cujos
Tabela 21 - Valores da constante E2..
E2
2,66
1,77
1,46
1,29
1,18
A constante E2 s poder ser usada se a distribuio for

aproximadamente simtrica. A variabilidade do processo continua sendo
estimada usando-se R / d 2 .
Exemplo de carta de
controle para valores
individuais
Os dados da Tabela 22 representam medidas dirias de viscosidade de

bateladas qumicas durante um perodo de 30 dias.

Tabela 22 - Valores de viscosidade Amostra

de bateladas qumicas.
75
Dia
Valor
A. mvel
M. mvel
Amplitude
10/Jun
11/Jun
6,5
0,5
12/Jun
0,5
13/Jun
5,875
1,5
14/Jun
6,2
1,2
5,925
1,5
15/Jun
4,5
1,7
5,425
1,7
16/Jun
1,5
5,425
1,7
17/Jun
5,4
0,6
5,525
1,7
18/Jun
0,4
5,225
1,5
10
19/Jun
6,5
1,5
5,725
1,5
11
20/Jun
6,1
0,4
5,75
1,5
12
21/Jun
5,6
0,5
5,8
1,5
13
22/Jun
5,5
0,1
5,925
14
23/Jun
4,5
5,425
1,6
15
24/Jun
4,2
0,3
4,95
1,4
16
25/Jun
4,7
0,5
4,725
1,3
17
26/Jun
7,8
3,1
5,3
3,6
18
27/Jun
4,5
3,3
5,3
3,6
19
28/Jun
1,5
5,75
3,3
20
29/Jun
6,325
3,3
21
30/Jun
5,875
2,5
22
01/Jul
6,25
23
02/Jul
5,5
0,5
6,125
1,5
24
03/Jul
6,5
25
04/Jul
0,5
26
05/Jul
6,5
0,5
6,125
27
06/Jul
1,5
1,5
28
07/Jul
6,5
1,5
1,5
29
08/Jul
0,5
1,5
30
09/Jul
6,5
0,5
1,5
Mdia
5,78
0,97
5,73
1,75
Conhecendo-se: x 5,78 ; R 0 ,97 , os limites de controle so

calculados como segue.
Valores individuais:
LCS x E2 R 5,78 2,66 0,97 8,36

LCI x E2 R 5,78 2,66 0,97 3,21
76

Amplitudes:
LCS D4 R 3,27 0 ,97 3,17

LCI D3 R 0 ,00 0 ,97 0 ,00
Na Figura 63, apresenta-se a carta de valores individuais com os limites
de controle calculado sem causas especiais e na Figura 64, apresenta-se
uma carta de amplitude mvel. Como pode ser observado, na carta de
amplitude os pontos so correlacionados, devido forma com que se
realiza o clculo da amplitude entre amostras.
V alor Individual
Amplitude Mvel
Figura 63 - Carta de controle

para valores individuais
10
12
14
16
18
20
22
24
26
28
L im ite C o n t. S u p e r io r = 8 ,3 6 0 4
L in h a C e n tr a l = 5 ,7 8 3 3
= 3 ,2 0 6 3
30
0
2

para amplitude mvel
Exerccio 8
10
12
14
16
18
20
22
24
26
28
L in h a C e n tr a l = 0 ,9 6 9
30
Os dados a seguir representam medies de abraso efetuadas uma vez

por dia em um processo de extruso de borracha industrial.

77
(a) Calcule os limites de controle para uma carta de valores individuais e

para uma carta de amplitude mvel;
(b) Plote essas duas cartas e conclua a respeito do controle do processo;
(c) Conclua a respeito da capabilidade do processo, sabendo que a
abraso uma caracterstica do tipo menor--melhor e o limite de
especificao superior 85,0.
As cartas de mdias mveis so: a) muito efetivas para detectar pequenas
mudanas na mdia e b) indicadas para o controle automatizado.
CARTAS DE CONTROLE
PARA MDIAS MVEIS
O uso simultneo de cartas de mdias mveis (Mt) e mdias simples ( x )

ou valores individuais (x) recomendado.
A mdia mvel de passo w definida como:
Eq 40
x xt 1 ... xt w1
Mt t
w
A mdia mvel recalculada a cada nova amostra (subgrupo),
incorporando a amostra mais recente e descartando a amostra mais
antiga.
A varincia da mdia mvel ( Mt ) resulta:
Eq 41
Mt
nw
Assim, os limites de controle para a mdia mvel para perodos onde t

w sero:
Eq 42
LCS x
Eq 43
LCI x
3
nw
3
nw
Ou
Eq 44
LCS x A2 R
Eq 45
LCI x A2 R
Para o exemplo anterior da Tabela 22 tem-se w = 4 , x 5,73 ,
R 1,75 e os limites de controle resultaram:

LCS x A2 R 5,73 0 ,73 1,75 7 ,02
78

LCI x A2 R 5,73 0 ,73 1,75 4 ,44
Mdia Mvel (janela: 4)
Na Figura 65, apresenta-se a carta de mdias mveis do exemplo

anterior.

para mdia mvel (retirando
causas especiais).
10
12
14
16
18
20
22
24
26
28
30
L im ite C o n t. S u p e r io r = 7 ,0 2
L in h a C e n tr a l = 5 ,7 3 1 5
= 4 ,4 4 3
Para perodos onde 0 < t < w, usa-se:

Eq 46
LCS x 3 / nt
Eq 47
LCI x 3 / nt
Exerccio 9
Calcule os limites de controle e plote a carta de mdias mveis (com

janela w=4) para os dados do exerccio anterior.
Exemplo de carta de
controle para mdias
mveis
Seja um processo com tamanho de amostra n=8, x 10 ,0 e 5,66 .

Supondo que se deseje construir um grfico de mdias mveis com
passo w=8 para esses dados.
Na Tabela 23, apresentam-se os primeiros dez valores de viscosidade.
Tabela 23 - Valores de mdias

mveis para a viscosidade.
Xt
Mt
LSC
LIC
10,5
10,5
16,00
4,00
6,0
8,25
14,24
5,76
10,0
8,83
13,46
6,54
11,0
9,38
13,00
7,00
12,5
10,00
12,68
7,32
9,5
9,92
12,45
7,55
6,0
9,36
12,27
7,73
10,0
9,44
12,12
7,88
10,5
9,44
12,12
7,88
10
14,5
10,50
12,12
7,88
11
12
13

79
A mdia mvel de amplitude w=8 ser:
x xt 1 ... xt w1
Mt t
8
Por exemplo, para t=4, os limites de controle resultaram:
LSC 10 3 5,66 / 8 4 13,0

LIC 10 3 5,66 / 8 4 7 ,0
E para t=8, os limites de controle resultaram:
LSC 10 3 5,66 / 8 8 12,12

LIC 10 3 5,66 / 8 8 7,88
Na Figura 66, apresenta-se a carta de controle de mdias mveis da
viscosidade.
Figura 66 - Exemplo da carta

de controle para mdias mveis.
ESCOLHA DO TIPO DE
CARTA DE CONTROLE
Na Figura 67, apresenta-se um fluxograma que auxilia na escolha do tipo

de carta de controle a ser utilizada no monitoramento de variveis.
Os dados so
variveis?
Sim
Carta para
Processo pode
No
valores individuais
ser monitorado usando
suimprprio
subgrupos
para>1 ?
ou mdias mveis
Sim
Mdias podem
ser calculadas?
No
Carta para
medianas
No
Carta
X-R
Sim
Subgrupo > 10?
Sim
Figura 67 - Fluxograma de
apoio para escolha das cartas
de controle.
Carta
X-S
Sim
Desvios podem
ser calculados?
No
Carta
X-R
80

EXERCCIOS
Exerccio 10
Sabe-se que um processo tem mdia = 100,0 e varincia = 25,7.

Encontre a linha central e os limites de controle para as cartas de Xbar,
R e s baseadas em amostras com n = 10.
Exerccio 11
Um processo avaliado por uma caracterstica de qualidade que se

distribui de acordo com a distribuio normal. Depois da anlise de 50
subgrupos (n = 4), obteve-se:
50
xi 4225 ;
i 1
50
Ri 432,6
i 1
Calcule os limites de controle para as cartas de Xbar e R

Assumindo que todos os pontos estivessem dentro dos limites de
controle, quais seriam os limites naturais de variao do processo ?
Se os limites de especificao fossem 84 10 qual seria sua concluso
a respeito da habilidade do processo em produzir unidades conformes ?
Assumindo que um item acima do limite de especificao superior possa
ser retrabalhado, mas um item abaixo do limite de especificao inferior
tenha que ser sucateado, qual a estimativa do percentual de retrabalho e
sucata atual ?
Exerccio 12
3. Um processo avaliado por uma caracterstica de qualidade que se

distribui de acordo com a distribuio normal. Depois da anlise de 30
subgrupos (n = 8), obteve-se:
30
xi 1539
i 1
30
si 105,6
i 1
Calcule os limites de controle para as cartas de Xbar e s

Assumindo que todos os pontos estivessem dentro dos limites de
controle, quais seriam os limites naturais do processo ?
Se os limites de especificao fossem 51,0 10 qual seria sua
concluso a respeito da habilidade do processo em produzir unidades
conformes ?
Assumindo que um item acima do limite de especificao superior possa
ser retrabalhado, mas um item abaixo do limite de especificao inferior
tenha que ser sucateado, qual a estimativa do percentual de retrabalho e
sucata atual ?
Exerccio 13
Um processo metalrgico produz peas que so avaliadas por uma

caracterstica de qualidade que apresenta distribuio normal com mdia
25,4 e desvio padro 1,5. Sabendo-se que a especificao para essa
caracterstica 25,0 4,25 pede-se:
Qual a estimativa atual da percentagem de no conformes

produzidos;

Exerccio 14
Exerccio 15
81
Onde deveria estar localizada a mdia do processo para minimizar a

percentagem de no conformes ? e qual seria essa percentagem ?
Calcule a capacidade do processo nos dois casos. Use os ndices Cp e

Cpk.
Calcule a capacidade do processo caso ele passasse por melhorias e

seus parmetros fossem alterados para: mdia = 25,0 e desvio-padro = 1,25.
Os dados a seguir foram coletados de um processo de manufatura de

componentes eletrnicos. A caracterstica de qualidade que est sendo
medida a capacitncia, e as amostras so de n = 5.
Amostra
Xbar
Amostra
Xbar
84
85
11
86
84
85
82
82
10
83
86
11
82
84
12
86
Calcule a linha central e os limites de controle para o monitoramento

da produo futura;
Supondo distribuio normal, estime o desvio padro dessa

caracterstica;
Atualmente, quais so os limites naturais de variao do processo ?
Qual seria a estimativa atual da percentagem de no conformes

produzidos se as especificaes forem 83 4,0 ?
Quais seriam as alternativas para reduzir a frao de no conformes?
Os dados a seguir so a mdia e a amplitude medida para amostras de 5

valores da concentrao de um reagente qumico aps passar por um
processo de filtragem:
Amostra
Mdia
Amplitude
Amostra
Mdia
Amplitude
45.4
13
44.2
44.0
14
44.5
47.1
15
41.6
44.9
16
41.5
43.5
17
45.0
41.7
18
44.1
44.0
19
42.6
45.1
20
43.8
43.7
21
44.8
10
42.8
22
43.6
11
43.5
23
41.9
12
44.2
24
48.6
a) Desenhe as cartas de Xbar e R para este processo. Indique se o

processo est sob controle estatstico e, caso necessrio, revise o clculo
82

preliminar dos limites de controle.

b) Se as especificaes de concentrao forem 45 4, encontre a
percentagem de no conformes produzidos por este processo.
Exerccio 16
Os dados a seguir representam medies de espessura. Faa um grfico

de controle para mdia e desvio-padro e conclua a respeito da
estabilidade e capacidade desse processo. As especificaes do processo
so 20 5.
Subgrupo
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
Exerccio 17
21
23
21
21
17
18
23
23
25
21
15
17
13
22
17
17
19
21
19
26
21
20
23
22
18
15
23
20
24
21
21
15
17
20
21
20
21
18
26
26
Medidas
19
26
17
25
20
20
23
14
24
25
19
16
17
18
8
21
22
20
20
25
20
21
21
24
20
21
18
21
19
15
20
20
19
21
21
19
17
23
24
26
24
23
19
20
20
20
22
20
19
19
21
19
17
16
21
21
20
22
28
24
Os dados a seguir foram coletados em um processo qumico. A coleta

de dados compreendeu um perodo de uma semana. Os valores anotados
representam o PH de uma mistura farmacutica.
Pede-se:
1. Calcule a mdia e o desvio padro do conjunto de 100 valores
medidos
2. Calcule a mdia e o desvio padro de cada subgrupo
3. Calcule a mdia das mdias dos subgrupos
4. Calcule o desvio padro das mdias dos subgrupos
5. Qual a relao que a mdia dos valores individuais guarda com a
mdia das mdias ?
6. Qual a relao que o desvio padro dos valores individuais guarda
com o desvio padro das mdias ?
7. Se as especificaes para esse processo fossem 6,80 0,35 , qual a
concluso que voc chegaria a respeito da qualidade atual do processo ?
argumente a respeito.

Dia
83
1,00 6,920 6,790 6,633 7,121 6,634

2,00 6,993 6,678 6,689 6,908 7,084
3,00 6,613 7,165 6,689 6,893 6,944
4,00 6,648 6,952 6,936 6,971 6,691
5,00 6,577 6,647 6,470 7,104 6,436
6,00 7,002 6,780 6,793 7,188 6,868
7,00 6,826 6,794 7,054 6,859 6,718
8,00 6,921 6,542 6,532 7,033 7,132
9,00 6,699 6,452 7,113 7,157 6,549
10,00 6,730 6,939 6,748 6,945 6,536
11,00 6,719 6,505 6,879 6,621 6,829
12,00 6,624 6,919 6,718 6,965 6,834
13,00 6,678 6,708 6,668 6,696 6,866
14,00 6,834 6,849 6,914 6,556 7,078
15,00 7,121 6,656 6,840 6,795 6,691
16,00 6,798 6,537 6,947 6,609 7,088
17,00 6,760 6,777 6,621 7,019 6,575
18,00 7,007 7,092 7,025 6,601 6,808
19,00 6,601 6,513 6,444 6,755 6,757
20,00 6,719 6,816 6,648 6,857 6,858
Exerccio 18
Uma montadora deseja selecionar um fornecedor preferencial para um

tipo de componente mecnico. Os dados a seguir representam valores
medidos nos processos de trs fornecedores potenciais. As
especificaes para esse processo so 120 5.
A montadora ir usar esse componente por um perodo de 12 meses.
Depois a produo desse componente deve ser descontinuada.
A montadora compra 4 mil componentes por ms, a um preo de R$
12,00 cada.
Estima-se que uma unidade justo sobre o limite de especificao
imponha sociedade uma perda de R$ 3,00.
Em mdia, o custo de investigar e eliminar uma causa especial de R$
500,00
84

Fornecedor 1
Fornecedor 2
Fornecedor 3
118,6 119,6 120,4

120,3 119,7 116,4
120,2 122,3 120,8
123,4 120,2 123,5

122,4 121,5 121,1
120,7 119,8 120,2
122,4 120,8 122,3

120,7 119,7 122,0
122,7 123,0 125,2
119,7 120,2 116,6

119,4 119,0 119,5
120,5 121,7 120,1
121,6 123,1 124,0

122,8 120,3 120,9
122,8 123,4 121,7
120,7 122,0 124,5

121,0 119,8 120,6
123,2 120,0 120,7
121,4 117,3 123,5

121,5 121,4 121,1
122,5 118,1 122,5
122,3 120,4 122,7

123,0 121,8 119,9
119,8 121,0 121,5
121,9 122,0 121,2

121,9 122,3 123,5
121,7 121,7 121,5
119,7 121,4 118,1

118,1 119,4 120,4
117,4 116,4 120,0
121,6 120,3 124,5

120,0 120,3 119,4
123,9 123,4 121,3
121,0 121,7 121,2

121,4 121,6 119,8
122,0 120,6 123,8
119,2 122,3 118,9

121,8 119,4 120,4
115,6 119,4 118,5
122,0 122,2 119,5

122,0 122,6 120,3
121,4 121,8 121,1
122,1 120,5 119,2

121,5 119,8 120,9
119,6 121,2 119,2
118,1 118,0 122,5

122,8 117,0 117,6
116,8 118,1 121,0
121,8 121,7 121,4

122,2 119,6 121,9
123,2 123,0 121,8
120,9 121,5 121,2

122,2 123,2 121,5
121,1 121,2 121,9
119,7 118,5 120,8

120,1 120,8 121,2
123,0 121,7 113,4
123,2 120,9 121,8

122,3 122,9 121,2
124,0 121,5 120,7
123,2 120,1 122,8

122,8 121,6 122,7
120,8 122,0 121,3
118,5 120,9 118,7

118,7 119,1 119,4
120,2 117,8 120,5
122,2 119,5 122,3

122,4 120,3 122,5
123,4 121,9 120,9
120,5 121,3 121,6

119,1 120,0 118,6
123,3 120,3 123,0
122,1 120,8 120,5

119,7 120,0 118,8
122,3 118,1 119,7
120,0 120,5 123,1

123,2 119,8 122,5
123,9 123,5 122,4
122,6 122,2 119,9

119,5 120,5 120,7
121,7 123,9 118,5
117,2 118,5 115,9

122,0 120,1 119,7
121,6 118,7 120,4
120,3 122,6 121,8

120,4 122,5 121,2
123,3 120,9 123,0
121,5 121,7 122,5

120,9 120,6 122,2
120,2 122,5 121,5
Carta de Controle para Atributos

Carla ten Caten
Os atributos so caractersticas que so comparadas com um certo
padro (especificaes) e por isso podem assumir apenas valores
discretos (classificao como conforme ou no-conforme, ou uma certa
contagem de defeitos), por exemplo: a) existncia de manchas ou risco,
b) presena de uma etiqueta, c) continuidade de uma costura, d) nmero
de acidentes/hora, e) nmero de clientes reclamantes, f) nmero de
reclamaes/cliente.
Os atributos existem na maioria dos processos tcnicos ou
administrativos. Portanto, h muitas aplicaes para esse tipo de carta
de controle. A gerncia costuma sumarizar resultados utilizando dados
do tipo atributo, por isso, muitas vezes, os dados histricos existentes
so do tipo atributo.
Alm disso, em geral os atributos no requerem muita especializao
para a coleta dos dados. O monitoramento usando atributos pode ser
uma etapa intermediria, anterior a monitorizao de variveis.
Os atributos podem ser divididos em: (i) percentual de no-conformes:
se referem a contagem do n de produtos/peas defeituosas (nmero de
no conformes) e segue a distribuio Binomial (0 < p < 1) e (ii) taxa de
no conformidades: se referem a contagem do n de defeitos por
produto/pea (nmero de no conformidades) e segue a distribuio de
Poisson (0 < < ).
Existem quatro tipos de carta de atributos:
a) carta p para frao de no-conformes (as amostras podem ser de
tamanhos diferentes);
b) carta np para nmero de unidades no-conformes (as amostras
devem ter o mesmo tamanho);
c) carta c para nmero de no-conformidades (as amostras devem ser
do mesmo tamanho);
d) carta u para nmero de no-conformidades por unidade (as amostras
podem ser de tamanhos diferentes).
IMPORTNCIA DAS
CARTAS DE CONTROLE
DE ATRIBUTOS
Atributos existem na maioria dos processos tcnicos ou administrativos.

Portanto, h muitas aplicaes para este tipo de carta. Muitas vezes j
existem dados histricos do tipo atributo e em geral no requerem muita
especializao para a coleta dos dados.
A gerncia costuma sumarizar resultados utilizando dados do tipo
atributo. Monitorar atributos pode ser uma etapa intermediria, anterior a
86
3. Carta de Controle para Atributos

monitorizao de variveis.
CARTA P PARA FRAO A carta p mede a frao de produtos defeituosos ou produtos noconformes em uma amostra. O grupo pode ser definido como 100
DE NO-CONFORMES
unidades coletadas duas vezes ao dia ou 80 unidades extradas de cada
lote de produo, etc.
Cartas de atributo exigem subgrupos de tamanho considervel (em geral,
50 a 200 unidades ou mais) para serem eficientes na deteco de
alteraes no processo.
Coleta de dados
Alguns estatsticos recomendam n p 5 para que seja possvel uma

anlise eficiente de padres. O tamanho dos grupos (n) pode ser
varivel, mas mais prtico trabalhar com subgrupos de tamanho
constante.
A freqncia de amostragem deve fazer sentido em termos de perodos
de produo. Por exemplo, 1 amostra a cada lote, ou 1 amostra por turno,
ou 1 amostra a cada troca de setup, etc.
Para cada subgrupo, anota-se os valores:

controle
n = nmero de itens inspecionados

d = nmero de itens defeituosos (no-conformes)
E ento calcula-se:
Eq 48
- frao de no-conformes: p = d / n
A frao mdia de no-conformes calculada da seguinte forma:

Eq 49
d d 2 ... d k
p 1
n1 n2 ... nk
Eq 50
pi
p(1 p)
ni
onde di o nmero de no-conformes no subgrupo i, ni o tamanho

da amostra do subgrupo i e k o nmero de subgrupos.
Esses clculos devem ser feitos com um nmero grande de subgrupos,
por exemplo, k > 25, e em uma situao de processo sob controle.
Os limites de controle so calculados da seguinte forma:
Eq 51
: LCS p 3 pi
Eq 52
: LCI p 3 pi
Se o limite inferior resultar negativo, ento ele deve ser fixado em zero.
Se o tamanho dos subgrupos for varivel, o desvio-padro varivel e
por conseqncia, os limites de controle tambm, gerando uma carta
com limites de controle de forma dentada.
Se a diferena nos tamanhos de amostras for pequena (< 25%), pode-se

87
usar a mdia dos tamanhos de amostras. Dessa forma, o desvio-padro

ser calculando usando-se:
Eq 53
Interpretao da
estabilidade do processo
: p
p( 1 p )
A presena de um ou mais pontos fora dos limites de controle uma

evidncia de instabilidade do processo.
Se o processo est em controle estatstico, a probabilidade de um ponto
fora dos limites de controle muito pequena, de forma que, caso isso
acontea, deve-se assumir a presena de causas especiais.
Um ponto acima do limite de controle superior (LCS) indica que o
processo piorou. Um ponto abaixo do limite de controle inferior (LCI)
indica uma melhora no processo. Ambos devem ser investigados, pois
so causas no naturais ao processo.
Vale ressaltar que antes de disparar a investigao, deve-se verificar se
o ponto no foi mal plotado ou se no h um problema no sistema de
medio.
Padres e Corridas
Mesmo com todos os pontos dentro dos limites de controle, podem haver
evidncias de que o processo sofreu alterao. As seguintes constataes
indicam alteraes no processo (vlidas para np 9 ):
a) sete pontos em seqncia acima (ou abaixo) da linha central;
b) sete pontos em seqncia ascendente (ou descendente).
As corridas ascendentes ou corridas acima da mdia indicam que o
desempenho do processo piorou. As corridas descendentes ou corridas
abaixo da mdia indicam que o processo melhorou.
Deteco e correo de
causas especiais
Quando um resultado fora do controle identificado, o processo deve ser

estudado para determinar a causa. No caso de pontos acima do limite de
controle superior, a causa deve ser corrigida e as aes devem ser tais
que impeam a sua recorrncia. No caso de pontos abaixo do limite
inferior, as causas devem ser padronizadas, pois representam uma
melhora no processo.
Para o estudo das causas especiais, a anlise de Pareto e diagramas de
causa e efeito so recomendados.
Reavaliao dos limites de

controle
Se aes de melhoria esto sendo tomadas, o processo deve apresentar

um desempenho mais consistente, com reduo da frao mdia de no-conformes. Assim, periodicamente os limites de controle devem ser
reavaliados e, sempre que houver evidncia para tanto, estreitados. Esse
enfoque dinmico mantm as cartas de controle atualizadas e eficazes na
tarefa de continuar revelando fontes de variabilidade.
Interpretao da
capacidade do processo
Aps a identificao e eliminao das causas especiais, o processo pode

ser avaliado em relao a sua capacidade.
No caso de atributos, a capacidade em geral expressa como o
percentual (%) de produtos conformes que o processo produz, ou seja,
88

Eq 54
: Capacidade = (1 -
p ) x 100
Assim, se um processo tem p = 0,031, sua capacidade ser:

Capacidade = (1 - 0,031) x 100 = 96,9%
Essa capacidade deve ser comparada com as expectativas e metas
gerenciais. Caso ela no seja satisfatria, a gerncia deve agir sobre o
sistema (causas comuns).
Alternativamente, o percentual de no-conformes pode ser comparado
com as expectativas e metas gerenciais, gerando um ndice de
capacidade Cp, dado por:
Eq 55
Cp
pmeta
p
Caso Cp < 1, a gerncia deve agir sobre o sistema. A ao sobre as

causas comuns mais difcil e, em geral, ir envolver o estudo de
variveis, e o uso de tcnicas estatsticas como projeto de experimentos
ou anlise multivariada.
Os dados da Tabela 24 representam o nmero de eixos defeituosos de
Exemplo da carta de
controle para frao de no- um certo modelo de motor. As medies foram feitas a partir de lotes de
80 unidades.
-conformes p
Tabela 24 - Dados do Lote
exemplo da carta p.
di
pi
Lote
di
pi
Lote
di
pi
80
0,112
11
80
18
0,225
21
80
25
0,313
80
11
0,138
12
80
13
0,163
22
80
16
0,200
80
0,063
13
80
23
0,287
23
80
10
0,125
80
0,100
14
80
0,113
24
80
13
0,163
80
17
0,213
15
80
11
0,137
25
80
0,100
80
10
0,125
16
80
0,075
26
80
14
0,175
80
15
0,188
17
80
14
0,175
27
80
10
0,125
80
11
0,137
18
80
12
0,150
28
80
0,088
80
0,075
19
80
21
0,263
29
80
13
0,163
10
80
0,087
20
80
19
0,238
30
80
16
0,200
Inicialmente, calcula-se p e :
p d i / ni 377 2400 0,157

p p(1 p) / ni 0,157(1 0,157)
80 0,0407
E logo aps os limites de controle:
LCS p 3 p 0,157 + 3 x 0,0407 = 0,279

89
LCI p 3 p 0,157 + 3 x 0,0407 = 0,035

Como o processo apresentou duas causas especiais, deve-se recalcular os
limites de controle eliminando as amostras 13 e 21. Conhecendo-se
p 0,147 e p 0,0396 , os limites de controle para a frao de no-conformes resultam:
LCS = 0,147 + 3 x 0,0396 = 0,266
LCI = 0,147 - 3 x 0,0396 = 0,028
Frao de no conf ormes p
Na Figura 68, apresenta-se um exemplo de carta para frao de no-conformes.
0 .3
0 .2
0 .1
0 .0
2
Figura 68 - Carta p para o

exemplo dos eixos defeituosos
(retirando causas especiais).
Exerccio 19
10
12
14
16
18
20
22
24
26
28
L in h a C e n tr a l = 0 ,1 4 6 9
= 0 ,0 2 8 2
30
Os dados a seguir representam o nmero de no conformes observados

aps um processo de montagem (amostras com n = 120). Construa uma
carta p (frao de no conformes) para estes dados. Caso algum ponto
caia fora dos limites, considere que isso se deve a presena de causas
especiais e revise os limites de controle. Considerando que a expectativa
gerencial de p = 3 % , conclua a respeito da capacidade do processo.
Amostra
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
d (np)
6
4
2
2
1
2
5
0
8
3
3
2
1
2
3
5
4
1
2
4
Tam amostra
120
120
120
120
120
120
120
120
120
120
120
120
120
120
120
120
120
120
120
120
90

Resoluo
p d i / ni
60
0,025
20 120
p p(1 p) / ni 0,025(1 0,025)
LCS p 3
LCI p 3
120 0,0143
0,025 3 0,0143 0,0678

0,025 3 0,0143 0,017 0,00
Carta p para o exerccio 19
Exerccio 20
Os dados a seguir se referem ao nmero de sapatos defeituosos,

observados em diversas amostras. A gerncia admite no mximo 5% de
sapato defeituosos.
a) Analise os dados e conclua a respeito da estabilidade e da capacidade
do processo
Amostra
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
CARTA NP PARA
NMERO DE NO-CONFORMES
N
100
100
80
80
110
110
110
100
100
100
100
120
80
80
80
D
5
3
2
4
1
5
3
7
5
6
3
2
4
2
5
Amostra
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30
N
80
80
100
100
100
100
100
120
120
120
100
100
120
120
80
D
3
9
3
3
5
2
6
2
3
2
2
4
3
6
2
A carta np segue a mesma lgica da carta p, mas agora, ao invs da

frao de no-conformes, monitora-se o nmero de no-conformes.

91
A carta np mais apropriada quando: a) o nmero de no-conformes tem

um maior significado e b) o tamanho dos subgrupos sempre o mesmo
(constante).
Coleta de dados
Como o monitoramento realizado utilizando-se nmero de defeituosos,

deve-se especificar o tamanho da amostra constante, ou seja, nmero de
unidades a serem inspecionadas a cada amostra. Ento, anota-se o
nmero de no-conformes verificado em cada amostra.

controle
Inicialmente calcula-se o nmero mdio de no-conformes e o desvio-padro:
Eq 56
d d 2 ... d k
np 1
k
Eq 57
np np( 1 p )
onde:
di o nmero de no-conformes no subgrupo i;
k o nmero de subgrupos.
Os limites de controle para o nmero de no-conformes so calculados
pelas seguintes equaes:
LCS np 3 np
Eq 58
Eq 59
: LCI np 3 np
Exemplo da carta de
controle para nmero de
no-conformes np
Tabela 25 - Dados do exemplo da

carta np.
Os dados da Tabela 25 representam o nmero peas defeituosas

observadas em lotes de 200 unidades de um certo modelo de pea
plstica injetada.
Lote
Lote
Lote
Lote
12
11
16
13
12
17
10
15
11
13
12
18
16
14
19
14
10
15
15
20
Inicialmente, calcula-se np e np :
np d / k 193 20 9,65
np np(1 p) 9,65(1 0,04825) 3,03

E logo aps, os limites de controle para o nmero de no-conformes:
92

LCS np 3np 9,65 + 3 x 3,03 = 18,74

LCI np 3np 9,65 - 3 x 3,03 = 0,56
Nmero de no conformes np
Na Figura 69 apresenta-se um exemplo de carta para nmero de no-conformes.
20
15
10
0
1
10
11
12
13
L im ite C o n t. S u p e r io r = 1 8 ,7 4 1 7
L im ite C o n t. In fe r io r = 0 ,5 5 8 3
Figura 69 - Carta np para o

exemplo das peas plsticas.
14
15
16
17
18
19
20
L in h a C e n tr a l = 9 ,6 5
Frao de no conformes p
Na Figura 70 apresenta-se a carta de controle p equivalente a np.

Como se pode verificar, o comportamento da carta o mesmo, mudando
apenas a escala vertical das cartas de controle.
0 .1 0
0 .0 8
0 .0 6
0 .0 4
0 .0 2
0 .0 0
1
Figura 70 - Carta p
(equivalente a np) para o
exemplo das peas plsticas.
Exerccio 21
10
11
L im ite C o n t. In fe r io r = 0 ,0 0 2 8
12
13
14
15
16
17
18
19
20
L in h a C e n tr a l = 0 ,0 4 8 3
Os dados a seguir representam o nmero de carrocerias defeituosas em

amostras de tamanho 20. Baseado nesses dados responda:
Se uma carta np fosse estabelecida, o que voc indicaria como linha
central e limites de controle ?
Se a gerncia admite no mximo 4 carrocerias defeituosas por amostra, o
que voc concluiria a respeito da capacidade do processo ?
Dia
1
2
3
4
CARTA C PARA
NMERO DE NO-
Defeituosos
3
4
9
6
Dia
5
6
7
8
Defeituosos
12
7
4
3
Dia
9
10
11
12
Defeituosos
6
3
7
4
Dia
13
14
15
16
Defeituosos
5
3
4
7
A carta c monitora o nmero de no-conformidades (defeitos)

verificados em um grupo. importante no confundir os termos no-

93
conforme e no-conformidade:
-CONFORMIDADES
a) no-conforme refere-se ao produto defeituoso (carta p ou carta np)

Distribuio Binomial;
b) no-conformidades refere-se a defeitos em um produto (carta c ou
carta u) Distribuio de Poisson.
A carta c mais apropriada quando: a) os defeitos esto dispersos em um
meio contnuo, como por exemplo: nmero de falhas por rea de tecido,
nmero de imperfeies por comprimento de pavimento e b) um produto
pode apresentar mais de um tipo de defeito.
Coleta de dados
Como o monitoramento realizado considerando o nmero de defeitos,

deve-se especificar o tamanho da amostra constante, ou seja, o nmero
de unidades, ou a rea em m2 ou o comprimento em m analisado a
cada amostra. Ento anota-se o nmero de no-conformidades
verificado em cada amostra.

controle
Inicialmente, calcula-se o nmero mdio de no-conformidades:
Eq 60
c c2 ... ck
c 1
k
Eq 61
c c
onde:
ci o nmero de no-conformidades na amostra i ;
k o nmero de subgrupos.
E aps calcula-se os limites de controle para o nmero de noconformidades:
Eq 62
: LCS c 3 c
Eq 63
: LCI c 3 c
Exemplo da carta de
no-conformidades c

carta c.
Os dados da Tabela 26 representam o nmero de defeitos de pintura

(no-conformidades) observados na pintura da lataria de nibus.
lataria
lataria
lataria
lataria
12
11
16
12
17
17
13
18
13
14
14
15
19
10
21
15
20
11
Inicialmente, calcula-se o nmero mdio de no-conformes:

94
c ci / k 173/20 = 8,65
c 8,65 2,94
E, logo aps, os limites de controle para o nmero de no-conformidades:
LCS c 3c 8,65 + 3 x 2,94 = 17,47
LCI c 3c 8,65 - 3 x 2,94 = 0,00

Como o processo apresentou uma causa especial, deve-se recalcular os
limites de controle eliminando a amostra 10 .
LCS c 3 c 16,48
LCI c 3 c 0,00
Nr. de no conformidades c
Na Figura 71, apresenta-se um exemplo de carta para nmero de noconformidades.

20
15
10
0
1
Figura 71 - Carta c para o

exemplo do nmero de defeitos
de pintura.
Exerccio 22
10 11
12
13
L imite C o n t. Su p e rio r = 1 6 ,4 8 5 3
L imite C o n t. In fe rio r =
0
14
15
16
17
18
19
20
L in h a C e n tra l = 8 ,
Uma montadora de automveis deseja controlar o nmero de no

conformidades observadas no setor de montagem do painel de controle.
Plote uma carta c para o nmero de no conformidades
(a) O processo est sob controle? em caso negativo, recalcule a linha
central e os limites de controle.
(b) O processo capaz? Considere que a gerncia admite no mximo 4
defeitos por amostra.
Dados
CARTA U PARA
NMERO DE NO-
Painel
1
2
3
4
5
Defeitos
2
3
5
4
1
Painel
6
7
8
9
10
Defeitos
3
1
2
8
1
Painel
11
12
13
14
15
Defeitos
2
0
3
4
2
Painel
16
17
18
19
20
A carta u monitora o nmero de no-conformidades por unidade

produzida. similar a carta c, exceto que o nmero de no-
Defeitos
2
5
3
4
1

95
conformidade expresso em relao a cada unidade (divide pelo

tamanho do lote n).
CONFORMIDADES POR
UNIDADE
A carta u til quando a amostra contm mais de uma unidade (o valor

de u tem um significado mais facilmente apreendido), e quando o
tamanho da amostra varia.
As amostras no precisam ter o mesmo tamanho (mas se esse for o caso,
os clculos ficam facilitados). Conta-se o nmero de no-conformidades
(c) da amostra e registra-se:
Coleta de dados
Eq 64
: u = c/n
Inicialmente, calcula-se o nmero mdio de no-conformidades por

unidade:

controle
Eq 65
: u
c c
n n
Eq 66
: ui
c 2 ... c k
n 2 ... n k
u
ni
onde:
ci o nmero de no-conformidades na amostra i;
ni o tamanho da amostra i e k o nmero de subgrupos.
Em seguida, os limites de controle para o nmero de no-conformidades
por unidade so calculados como:
Eq 67
: LCS u 3 u i
Eq 68
: LCI u 3 ui
Se houver diferenas nos tamanhos de subgrupo, tambm haver

diferenas nos limites de controle, que iro aparecer como uma linha
dentada.
Se a diferena nos tamanhos de amostras for pequena (<25%), pode-se
usar a mdia dos tamanhos de amostras. Dessa forma, o desvio-padro
ser calculado, usando-se:
Eq 69
: u
Exemplo da carta de
no-conformidades por
unidade u

carta u.
u
n
Os dados a seguir representam o nmero de defeitos superficiais

observados em sapatos.
Lote
no de unidades
no de noconformidades
no de noconformidades por
unidade (u)
10
13
1,30
96

10
11
1,10
10
0,80
12
20
1,67
12
15
1,25
10
10
1,00
10
13
1,30
12
19
1,58
15
1,88
10
1,13
Soma
102
133
Inicialmente, calcula-se u e u , de acordo com:

ni n / k 102 10 10,2
u
c 133 102 1,304

n
u
1,304 / 10,2 0,357 (ou varivel)
n
E logo aps, calcula-se os limites de controle para o nmero de noconformidades por unidade:
LCS u 3 u 1,304 + 3 x 0,357 = 2,376 (ou varivel)
LCI u 3 u 1,304 - 3 x 0,357 = 0,231 (ou varivel)
Na Figura 72, apresenta-se um exemplo de carta para nmero de noconformidades por unidade utilizando-se n mdio e n varivel.

97
Figura 72 - Carta u para o

exemplo do nmero de
defeitos superficiais por
unidade.
Exerccio 23
Uma fbrica de mveis deseja controlar o nmero de no conformidades

em escrivaninhas destinadas ao uso comercial. Plote uma carta u para o
nmero de no conformidades por escrivaninha:
(a) Conclua a respeito do controle estatstico do processo
(b)Se as metas gerenciais fossem 5 defeitos por escrivaninha, o processo
seria capaz?
Exerccio 24
Historicamente, um processo de produo de artefatos cermicos para a

construo civil apresenta um percentual de defeituosos de 3,5%. Em um
esforo conjunto, um engenheiro civil e um engenheiro qumico esto
tentando melhorar o processo.
Plote uma carta de controle e analise os dados a seguir (inspeo do nm.
de defeituosos em amostras c/ n=300) comentando qual o melhor ajuste
de presso e temperatura.
(A) 10 11 17 15 7 11 12 5 12 16 9 18
(B) 10 3 4 8 3 10 2 4 9 8 7 10
(C) 8 16 11 17 9 22 16 16 19 12 22 17
Historicamente o processo foi operado c/ pres=200 e temp=600
(A) Processo operado com presso = 250 e temp = 700
(B) Processo operado com presso = 250 e temp = 600
(C) Processo operado com presso = 200 e temp = 700
98

Na Figura 73, apresenta-se um fluxograma que auxilia na escolha do tipo

de carta de controle a ser utilizada no monitoramento de atributos.
ESCOLHA DO TIPO
DE CARTA DE
CONTROLE
Os dados so
atributos?
Sim
So do tipo peas
no-conformes?
Use a No
carta p
No
So do tipo
no-conformidades
por pea?
Sim
Sim
Tamanho da
amostra
constante?
Tamanho da
amostra
constante?
Figura 73 - Fluxograma
de apoio para escolha das
cartas de controle.
Sim
Sim
Use a carta
p ou np
Use a carta
c ou u
No
Use a
carta u
EXERCCIOS
Os dados a seguir representam o resultado da inspeo de 10 amostras de
lotes com tamanho varivel. Construa uma carta p para estes dados e
conclua a respeito do controle do processo.
Exerccio 25
Amostra tamanho no conf.
Exerccio 26
Amostra
tamanho no conf.
95
85
100
100
85
100
90
100
90
10
90
Para uma amostra de 100 unidades, com uma frao de defeituosos de

0,05 :
Qual o nmero de no conformes e qual o percentual de no
conformes ?
Qual o desvio padro da distribuio binomial para 10 amostras de 100
unidades e p = 0,05 ?
Exerccio 27
A inspeo de diversos lotes de 150 unidades indicou que o nmero

mdio de no conformes igual a 6.8. Determine os limites de controle
para a carta np.
Exerccio 28
Construa uma carta np para os dados do exerccio 25.
Exerccio 29
Em relao as cartas c:
Quando elas so usadas ? de alguns exemplos;
Qual a distribuio de probabilidade que a base para as cartas c ?

99
Qual a frmula para o desvio padro dessa distribuio ?
Exerccio 30
Uma montadora deseja controlar o nmero de no conformidades

observadas no setor de soldagem da carcaa. Os dados observados foram
os seguintes
Amostra
No. de
Defeitos
Amostra
No. de
Carcaas
Defeitos
Carcaas
30
21
25
10
15
12
11
28
18
12
13
22
13
12
15
14
22
26
15
25
32
16
21
Plote uma carta u para o nmero de no conformidades por carcaa

Conclua a respeito da estabilidade e capacidade de processo.
Exerccio 31
Em relao ao exerccio 9, suponha que a unidade de inspeo seja

redefinida como 5 unidades. Construa a carta de controle adequada para
o monitoramento da produo futura.
Exerccio 32
Os dados a seguir representam o nmero de no conformes observados

em 16 lotes de um certo produto. Plote uma carta p e conclua a respeito
do controle do processo. Se as metas gerenciais fossem p = 1%,
comente a respeito da capabilidade desse processo.
Exerccio 33
Lote
Defeituosos
Lote
Defeituosos
330
330
330
10
880
18
640
11
880
550
12
800
550
13
550
640
14
880
15
640
12
15
880
200
16
330
A partir de amostras de 90 unidades, no perodo de 01 a 30 de junho,

foram obtidos os seguintes resultados de nmero de defeituosos em um
processo industrial:
Dia
Dia
Dia
Dia
Dia
Dia
11
16
15
21
26
16
10
12
12
17
13
22
12
27
13
18
23
28
13
14
14
19
15
24
17
29
10
14
15
20
10
25
14
30
12
100

a) Construa uma carta de controle p ou np, plote os dados e indique se o

processo est em controle estatstico.
Supondo que a meta gerencial seja atingir um percentual de noconformes inferior a 10%, conclua a respeito da capacidade do processo.
Exerccio 34
Uma empresa moveleira deseja controlar o nmero de no conformidade

observadas no setor de estofados. Os dados observados revelaram o
seguinte:
Pedido
No. de
Estofados
7
7
6
6
6
5
7
7
1
2
3
4
5
6
7
8
Exerccio 35
Pedido
23
16
29
13
11
20
26
19
9
10
11
12
13
14
15
16
No. de
Estofados
7
5
7
7
5
5
6
7
Defeitos
31
24
12
18
20
15
27
31
Os dados a seguir se referem ao nmero de defeitos observados em

diversas amostras de sapatos. A gerncia admite no mximo 0,5 defeitos
por sapato. Analise os dados e conclua a respeito da estabilidade e da
capacidade do processo.
Amst
Exerccio 36
Defeitos
Costura
Marcas
2
10
Cor
Num
Riscos
Total
3
2
10
10
10
12
12
10
11
12
13
14
10
15
10
16
17
18
12
19
12
20
12
3
1
1
2
2
4
1
Em relao ao exerccio 35, suponha que a unidade de inspeo seja

redefinida como 5 unidades. Construa a carta de controle adequada para

101
o monitoramento da produo futura.

Plote uma carta u para o nmero de no-conformidades por estofado;
O processo parece estar sob controle estatstico ?
Se as metas gerenciais fossem 6 defeitos por estofado, o processo seria
capaz?
Exerccio 37
Uma empresa moveleira deseja controlar o nmro de no conformidades

observadas no setor de estofados. Os dados observados esto abaixo.
(a) Plote a carta u para o nmero de no conformidades;
(b) O processo parece estar sob controle esttistico?
(c) Se as metas gerenciais fosse 6 defeitos por estofados, o processo seria
capaz?
A Funo de Perda Quadrtica

Carla ten Caten
ABORDAGEM
TRADICIONAL X
ABORDAGEM DE
TAGUCHI
A abordagem tradicional de qualidade est fortemente vinculada com a

idia de atender s especificaes. Sob esse enfoque, se um produto
atende s especificaes ele possui boa qualidade, caso contrrio, ele
um produto defeituoso.
Atendimento s especificaes e adequao do produto ao uso.
Taguchi redefiniu qualidade de uma maneira completamente diversa.
Para Taguchi, a qualidade, ou melhor a falta de qualidade, pode ser
avaliada atravs da:
Perda imposta por um produto sociedade.
Atingir o alvo com a menor variabilidade possvel.
Onde sociedade um termo abrangente, que inclui Fabricante,
Consumidor e todo o restante da populao. Assim, o objetivo
minimizar as perdas impostas a este conjunto.
As perdas devido m qualidade podem ser de trs tipos:
1o: O fabricante perde: sucata, retrabalho, perda de fatia de mercado,
etc.
2o: O cliente perde: insatisfao em relao ao desempenho do produto,
indisponibilidade do produto, perda de tempo.
3o: Perdas mtuas: gastos adicionais com reposio ou reparo do
produto.
Na verdade, sempre que ocorre m qualidade, todos perdem; e, em todos
os casos, a perda pode ser expressa em unidades monetrias.
Ou seja, h um custo associado m qualidade, e importante
considerar esse custo em todas as decises gerenciais.
Exerccio 38
Imagine que voc compra um cartucho de tonner para a sua impressora,

mas ele no funciona (a tinta est ressequida e inutilizada). Mostre que
voc perde com isso, o fabricante perde e a sociedade como um todo
tambm perde. A seguir, estime a perda que voc experimenta em
termos monetrios.
A FUNO DE PERDA E
O CONTROLE DO
A abordagem tradicional do controle do processo considerar todas as

unidades fabricadas dentro dos limites de especificao como boas, e

4. A Funo de Perda Quadrtica
103
aquelas fabricadas fora dos limites como defeituosas.
PROCESSO
A abordagem proposta por Taguchi usar a funo de perda para avaliar

o processo. A seguir vamos ver a formulao matemtica deste
problema.
A funo de perda empregada para quantificar a perda que um produto
impem sociedade pela falta de qualidade.
Formulao matemtica
Em muitos caso, essa perda resulta aproximadamente proporcional ao

quadrado do desvio da meta estabelecida para uma certa caracterstica de
qualidade, ou seja:
Eq 70
: Li = k(yi - m)2
onde:
Li a perda financeira, associada com o desvio da meta, para a unidade
i;
yi o valor medido na unidade i para a caracterstica de qualidade em
estudo;
m a meta para a respectiva caracterstica de qualidade;
k o coeficiente de perda da qualidade, que converte o desvio do alvo
em R$.
A funo quadrtica muito simples. Assim, para se determinar o valor

de k, basta que se conhea a perda associada a um certo valor da
caracterstica de qualidade y.
comum usar o custo de reparo ou substituio para determinar o valor
de k
Figura 74 Comparao entre

a estimativa de
perdas usando a
abordagem
tradicional e
usando a funo de
perda
104

DETERMINAO DO
COEFICIENTE DE PERDA
k = Ao / 2
onde:
Ao o custo de reparo ou substituio do produto;
o desvio da meta que exigiria reparo ou substituio.
Uma empresa fabrica um tipo de bateria que deve gerar uma voltagem
de sada de 12 volts. Se a voltagem se afasta mais de 2 volts do valor
nominal, ser necessrio realizar um concerto ao custo de R$ 25,00.
Calcule o valor da constante k, para ser usada na frmula da funo de
perda e em seguida, avalie a perda associada a uma unidade que est
gerando 11 volts.
Exerccio 39
Em relao aos dados do exerccio 39, plote a funo de perda para

diversos valores de voltagem.
Exerccio 40
VANTAGENS DA FUNO Na concepo clssica, os procedimentos de melhoria terminam quando

se atinge a condio de produzir todas as unidades dentro das
DE PERDA
especificaes.
Na tica da funo de perda, os procedimentos de melhoria iro
continuar at que se atinja a perfeio, ou seja, processo exatamente
centrado e com variabilidade zero.
O uso da funo de perda implica uma filosofia de melhoria contnua da
qualidade.
A perda mdia por unidade para um lote de produtos vir dada por:
CLCULO DA PERDA
PARA UM LOTE DE
PRODUTOS
1 n
k ( y i m) 2
n i 1
Eq 71
Eq 72
yi2 2m yi m2
L k{
}
n
Somando e subtraindo ( yi / n)2 , obtemos:

Eq 73
L k{(y m)2 s2}

Ou seja, conhecidos k e m (coeficiente de perda e meta), basta
computar a mdia e o desvio-padro de um lote para estimar a perda
mdia por unidade.
A equao acima deixa claro que h duas parcelas que contribuem para a
perda de qualidade:
( y m) Desvio da meta

105
Disperso (falta de homogeneidade)
Em geral, muito mais fcil corrigir desvios da meta do que disperso.
Os dados a seguir referem-se o peso especfico do produto. O valor

nominal (meta) para o peso especfico 30 g/cm3. Sabendo que k =
0,25 R$/(g/cm3), calcule a perda unitria mdia para as unidades
Exerccio 41
29,2
29,6
29,7
29,9
30,0
30,1
30,3
30,3
30,4
30,6
30,8
31,2
Exerccio 42
Em relao aos dados do exerccio 41, calcule a contribuio percentual

de cada parcela (desvio do alvo e variabilidade) para a perda total. Caso
o processo estivesse centrado, qual seria a estimativa da perda mdia
unitria para esse processo ? E qual seria a reduo percentual nos custos
da m qualidade ?
ANLISE DOS
PROBLEMAS DE
QUALIDADE
Uma estatstica simples que revela a natureza dos problemas de

qualidade a seguinte:
Eq 74
( y m)
s
Se Q for maior que 1, a perda devido ao desvio da meta

preponderante e, provavelmente, ser possvel efetuar uma melhora
significativa no processo com facilidade.
Se Q for prximo de zero, o processo j est centrado e os problemas
de qualidade so basicamente devidos disperso. Esse caso mais
difcil de resolver e, em geral, ir exigir ao sobre as causas comuns
(ao sobre o sistema).
Como exemplo, sejam dois processos com m = 0 e S = 1:
Processo 1: y bar=0,0
s = 1,0
Processo 2 :y bar=0,8
s = 0,6
-3 -2 -1 0 1 2 3
-3 -2 -1 0 1 2 3
106

Ambos os processos tm a mesma perda unitria mdia;contudo, deve

ser mais fcil atuar sobre ( e melhorar) o processo 2.
Os dados a seguir foram obtidos em um processo de pintura em tnel,
onde a espessura da camada deve ser de 0,4mm (ocorrem problemas se
a espessura for muito fina ou muito grossa). Sabendo que k = 300,00
R$/mm, analise os dados, calcule a perda unitria mdia e responda se os
problemas de qualidade so predominantemente originados por desvio
do alvo ou por disperso.
Exerccio 43
TIPOS DE
CARACTERSTICAS DE
QUALIDADE
0,25
0,51
0,60
0,33
0,30
0,35
0,42
0,45
0,52
0,55
At aqui a discusso foi centrada em caractersticas de qualidade do tipo

nominal--melhor. Contudo, h trs tipos de caractersticas de qualidade
a serem consideradas:
Nominal--melhor (Ex: Dimenso, viscosidade, peso, etc.)
Maior--melhor
(Ex: Resistncia, tempo de vida, etc.)
Menor--melhor
(Ex: Desgaste, retrao, nvel de rudo)
Maior melhor se refere s caractersticas que tm um valor mnimo

A FUNO DE PERDA
PARA MAIOR--MELHOR estabelecido e, se esse valor for superado tanto melhor.
Perda
14
12
L(y)
Figura 75 - Funo
de perda do tipo
maior--melhor
Perda para uma unidade
10
8
6
4
2
0
0
12

Eq 75
L( y)
107
k
y2
A perda diminui a medida que y aumenta (maior--melhor), e mnima

quando y
Se a perda conhecida para um ponto qualquer yo , podemos determinar
o valor de k a partir de:
Clculo do valor de k
Eq 76
k y2o L( yo )
O ponto yo pode ser o , ou seja, o ponto onde a maioria dos clientes
ir exigir reparo ou substituio a um custo Ao. Assim,
Eq 77
Perda mdia unitria para

um lote
Eq 78
Exerccio 44
k 2o A o
No caso de termos muitas unidades do mesmo produto, a perda mdia
unitria para o lote vir dada por:
1
1
)
: L k(
n
yi2
ou
3s2
L k ( 2 )(1 2 )
y
y
Os dados a seguir representam o tempo at a falha de um certo

componente eletrnico. Sabendo que a falha deste componente em um
tempo inferior a 2000 horas implica na sua substituio (feita pelo
fabricante) com uma perda estimada em R$ 150,00 , calcule a perda
unitria mdia para este lote de produtos.
Dados: 975 1040 1110 1150 1250 1410 1650 1900 1915 2080
Exerccio 45
O componente citado no exerccio 44 pode ser melhorado, usando um

material diferente na sua fabricao. Esse material iria permitir um
aumento de 30% no tempo mdio at a falha, sem alterar o desvio
padro. Vale a pena o uso deste material, sabendo que isso implicaria
em um aumento no custo do componente de R$ 25,00?
A FUNO DE PERDA
PARA MENOR--MELHOR
Menor--melhor se refere s caractersticas que tm um valor mximo

estabelecido e, quanto mais baixo o valor, tanto melhor.
108

Perda
30,00
25,00
20,00
L(y)
15,00
10,00
5,00
0,00
Figura 76 - Funo
de perda do tipo
menor--melhor
12
Perda para uma unidade

Eq 79
L( y) k y2
A perda diminui a medida que y diminui (menor--melhor), e mnima
quando y 0
Se a perda conhecida para um ponto qualquer yo , podemos determinar
o valor de k a partir de:
Clculo do valor de k
Eq 80
k L( yo ) / y2o
O ponto yo pode ser o , ou seja, o ponto onde a maioria dos clientes
ir exigir reparo ou substituio a um custo Ao. Assim,
Eq 81
No caso de termos muitas unidades do mesmo produto, a perda mdia

unitria para o lote vir dada por:
Perda mdia unitria para

um lote
Eq 82
Exerccio 46
k A o / 2o
1
k yi2
n
ou
L k (y2 s 2 )
Os dados a seguir representam o tempo de espera para atendimento em

um servio telefnico. Estima-se que a demora de 1 minuto implique em
uma perda de R$ 2,00. Analise os dados e calcule a perda unitria mdia
para este servio.
Dados: 0,2 0,4 0,4 0,6 0,7 0,9 1,2 1,6 1,8 2,5 3,2 3,8
Exerccio 47
Em relao aos dados do exerccio anterior, sabendo que mensalmente

so atendidos cerca de 10.000 clientes, e que o custo mensal da operao
de R$ 30.000,00 , analise se vale a pena duplicar o servio de
atendimento, o que permitiria reduzir a metade os tempos de
atendimento.

APLICAES DA
FUNO DE PERDA
109
A funo de perda pode ser usada para monitorar melhorias no processo.

um ndice mais consistente do que os ndices usuais de capacidade, ou
seja, Cp e Cpk.
Isso assim porque a funo de perda considera tanto a perda devido
disperso como a perda devido a desvios da meta.
Os ndices usuais de capacidade no consideram diretamente o desvio da
meta. De forma que possvel ter processos bastante descentrados e
ainda assim com um ndice de capacidade alto.
Muitas vezes difcil computar o verdadeiro valor de k, mas para efeitos
comparativos (monitoramento, avaliao de melhorias) pode-se usar
kantes = kdepois = 1 pois tem-se o mesmo custo e as mesmas especificaes.
Uma reduo de 10% no valor de L implica uma reduo de 10% nos
custos da m qualidade, mesmo que no se conhea com exatido esse
valor.
Tambm possvel usar a funo de perda para comparar processos
distintos, mesmo sem conhecer o valor exato de k. Nesse caso, atribui-se
que o custo do processo para unidades que estejam sobre o limite de
especificao seja Ao processo 1 =Ao processo 2 = 1, e calcula-se o valor de k em
cada caso, pois as especificaes dos processos so diferentes.
A funo de perda tambm serve para auxiliar na definio das
tolerncias da produo, que podem ser diferentes das tolerncias do
cliente, conforme ser visto na seo a seguir.
Exerccio 48
Os dados a seguir se referem a dimenso principal de uma pea

mecnica que compe o cmbio de um automvel. As especificaes
para essa pea so 8,42 0,3. Essa pea estava apresentando excessiva
variabilidade e foi feito um estudo que conduziu a diversas aes de
melhoria. Analise os dados e estime a reduo nas perdas devido m
qualidade:
Antes das melhorias
8,11 8,18 8,21 8,28 8,31 8,33 8,35 8,36 8,38 8,39 8,40
8,41 8,42 8,45 8,46 8,50 8,52 8,56 8,62 8,60 8,64 8,72
Aps as melhorias
8,31 8,34 8,35 8,37 8,38 8,38 8,39 8,39 8,40 8,40 8,40
8,42 8,43 8,45 8,46 8,48 8,49 8,51 8,51 8,52 8,53 8,55
110

Exerccio 49
As especificaes para os dois processos a seguir foram calculadas de

modo que a perda observada quando uma unidade atinge os respectivos
limites de especificao aproximadamente a mesma. Compare os dois
processos usando a funo de perda e indique qual deles apresenta
maiores perdas.
Corte da aba: especificaes 120 5
117,2
120,2
118,2
120,8
119,0
121,3
119,5
122,0
120,1
123,3
Raio de curvatura: 20 2
19,1 19,7 20,2 20,5 20,8 21,3 21,7 22,0 22,2 22,9
Vamos ver um exemplo de aplicao da funo de perda no clculo de

USO DA FUNO DE
PERDA NA DEFINIO DE tolerncias apropriadas para uma caracterstica do tipo Nominal-melhor.
TOLERNCIAS
Exemplo para Nominal--melhor
O valor timo da velocidade de um disco rgido 85 rps. Se esse valor

difere em mais de duas rps, haver problemas na leitura dos dados e o
cliente ter que consertar o disco rgido ao custo de R$ 50,00. Assim:
L(y) = (50 / 2,02) (y - m)2 = 12,5 (y - m)2
Se o custo de reparo na sada da linha for de R$ 24,00 por aparelho, a
tolerncia para a produo deveria ser definida a partir de:
24,00 = 12,5 (y - 85)2
y = 85
24,00 / 12,5 = 85 1,39 rps
Assim, a tolerncia da produo fica definida em 85 1,39. Os

aparelhos que ultrapassarem esse limite deveriam ser reparados na
fbrica, pois isso mais econmico.
O exemplo que segue tambm aborda o problema da definio de

tolerncias para a produo, mas considerando uma caracterstica do tipo
maior--melhor.

Quanto maior a resistncia trao de certos suportes cermicos

utilizados como isoladores, melhor. Se a resistncia for inferior a 7,5
KN o suporte romper, acarretando um custo de R$ 80,00 para o cliente.
Ento:
Exemplo para Maior--melhor
Eq 83
111
L(y) = k / y2
k = (o)2 x Ao = 7,52 x 80 = 4500
Supondo que seja possvel detectar falhas nesses suportes e refor-los
(antes que eles deixem a fbrica) a um custo de R$ 35,00 , teremos:
L(y) = 4500 / y2 ; 35,00 = 4500 / y2
y=
4500/ 35 = 11,3 KN
De modo que a tolerncia recomendada para a produo ser de 11,3

KN. A figura a seguir ilustra essa situao:
EXERCCIOS
Exerccio 50
Os dados a seguir foram obtidos de um processo de usinagem onde o

valor nominal (meta) para a caracterstica medida seria de 5,30 mm.
Sabendo que k = 250 R$/mm2 , calcule a perda associada a cada unidade
e depois faa a soma para obter a perda total do lote.
5,22 5,26 5,27 5,29 5,31 5,32 5,33 5,33 5,34 5,35 5,37 5,40
Exerccio 51
Recalcule a perda total para o lote do exerccio 50 usando a frmula da

perda mdia unitria. Lembre-se de estimar o desvio-padro usando n
ao invs de n-1.
Exerccio 52
Ainda em relao aos dados do exerccio 50, calcule a contribuio

percentual de cada parcela (desvio do alvo e variabilidade) para a perda
total.
Exerccio 53
Caso o processo estivesse centrado, qual seria a estimativa da perda

mdia unitria para o processo do exerccio 50 ? E qual seria a reduo
percentual nos custos da m qualidade ?
112

Sejam os seguintes dados provenientes de dois processos distintos, cujas

especificaes so, Processo 1: 45 2,0 ; Processo 2: 1100 10
Exerccio 54
Processo 1: 43,1 43,6 43,8 44,2 44,4 44,5 44,9 45,1 45,5
45,9
Processo 2: 1102 1104 1105 1108 1109 1111 1111 1114 1115
1117
a) Qual o processo que aparentemente tem a maior perda ?
b) Qual o processo que tem a melhor capabilidade ?
c) Qual o processo que, em princpio, seria mais simples de melhorar ?
Exerccio 55
O eixo de um motor de combusto deve apresentar a menor

excentricidade possvel. Se essa excentricidade for maior do que 0,04
mm, a maioria dos clientes ir reclamar reparo. O custo do reparo de
R$ 80,00. Indique qual deve ser a tolerncia para a produo supondo
que seja possvel, ainda durante a manufatura, detectar o problema e
corrigir a excentricidade a um custo de R$ 30,00.
Exerccio 56
Os dados a seguir representam a densidade e a elasticidade de um certo

material plstico usado para a produo de embalagens. Sabendo que
essas duas caractersticas so igualmente importantes e que a
especificao para a densidade 12,0 0,4 e para a elasticidade 60
3,0 , conclua qual dessas caractersticas est produzindo uma perda
maior para o cliente.
Densidade:
11,8 12,1 12,0 11,9 11,9 12,1 12,2 12,1 12,3 11,9 12,3
11,9 11,8 11,7 11,9 12,2 11,6 11,8 12,3 11,7 11,9 12,0
Elasticidade:
59,4 59,1 58,6 59,3 61,1 58,2 59,1 60,2 58,6 59,5 59,9
59,1 60,4 60,1 59,4 59,4 60,6 61,0 60,5 61,6 59,6 61,7
Exerccio 57
Em uma fbrica de barcos de oceano, o alinhamento entre a quilha e o

leme dos barcos deve ser o mais perfeito possvel. Se o desvio
observado, em mdulo, for maior do que 2,0 cm, a maioria dos clientes
ir reclamar reparo. O custo do reparo de R$ 200,00. Supondo que
seja possvel, ainda durante a manufatura, detectar o problema e corriglo a um custo de R$ 50,00 , qual deveria ser a tolerncia da produo.
Exerccio 58
Em relao ao problema 8, medies efetuadas sobre 10 barcos

indicaram o seguinte:
-0,5-2,2+0,2-0,8-1,7-0,5+0,3+0,5-1,2-0,3
Usando a funo quadrtica, calcule a perda devido a m qualidade para
essa amostra.
Voc acha que nesse caso a qualidade pode ser melhorada com
facilidade ? argumente.
Exerccio 59
Os dados a seguir representam medies feitas sobre o dimetro de um

eixo. O valor nominal desse dimetro de 20 mm e um desvio de
0,2 mm exige retrabalho a um custo de R$ 5,00 por eixo. Usando a
funo de perda de Taguchi, calcule a perda monetria para essa

113
amostra.
20,20 20,05 19,90 20,08 19,87 20,15 19,95 19,99 20,02
20,07
a) Recalcule a perda devido a m qualidade caso o processo estivesse
centrado e o desvio padro reduzido pela metade.
11. Os dados a seguir referem-se a medies feitas em um lote de
aparelhos eletrnicos. A especificao para a caracterstica medida
82 10. Use a funo de perda quadrtica e calcule a perda de
qualidade para esse lote. Sabe-se que uma unidade que est sobre o
limite de especificao implica em um custo de R$ 5,70.
Exerccio 60
8,12
8,15
8,17
8,20
8,21
8,22
8,23
8,24
8,25
8,25
8,28
8,31
Os dados a seguir representam a resistncia de certos componentes

eltricos, adquiridos de trs fornecedores diferentes. Sabendo que as
especificaes para esse componente eltrico 120 5, e que a perda
associada a um componente justo sobre o limite de especificao igual
a R$ 2,50 , pede-se:
Exerccio 61
Usando a funo quadrtica, calcule a perda devido a m qualidade para

cada fornecedor.
Qual fornecedor voc escolheria e porqu ?
Fornecedor 1:
118,6 120,8 120,2 119,7 119,4 120,5 121,4 121,5 122,5 119,7 123,0
119,5 118,1 117,4 119,2 121,8 115,6 118,1 122,8 116,8 119,7 120,1
Fornecedor 2:
120,2 121,5 119,8 123,1 120,3 123,4 120,4 121,8 121,0 120,3 121,5
120,3 123,4 122,2 122,6 121,8 121,7 119,6 123,0 120,9 122,9 119,5
Fornecedor 3:
122,3 122,0 125,2 124,5 120,6 120,7 121,2 123,5 121,5 121,2 119,8
123,8 119,2 120,9 119,2 121,2 121,5 121,9 122,8 122,7 121,3 121,6
EXERCCIO FINAL
Uma montadora deseja selecionar um fornecedor preferencial para um

tipo de componente mecnico. Os dados a seguir representam valores
medidos nos processos de trs fornecedores potenciais. Cada linha
contm os dados obtidos aps a coleta de subgrupo de tamanho 3.
Usando as tcnicas vistas na disciplina de CEP, analise de forma
completa esses dados e conclua a respeito. Seguem algumas
informaes teis:
As especificaes para esse processo so 120 5.
A montadora ir usar esse componente por um perodo de 12 meses.
Depois a produo desse componente deve ser descontinuada.
A montadora compra 4 mil componentes por ms, a um preo de R$
12,00 cada.
Estima-se que uma unidade justo sobre o limite de especificao
114

imponha sociedade uma perda de R$ 3,00.

Em mdia, o custo de investigar e eliminar uma causa especial de R$
2.500,00
Fornecedor 1
Fornecedor 2
Fornecedor 3
118,6
120,3
119,6
119,7
120,4
116,4
123,4
122,4
120,2
121,5
123,5
121,1
122,4
120,7
120,8
119,7
122,3
122,0
120,2
122,3
120,8
120,7
119,8
120,2
122,7
123,0
125,2
119,7
120,2
116,6
121,6
123,1
124,0
120,7
122,0
124,5
119,4
119,0
119,5
122,8
120,3
120,9
121,0
119,8
120,6
120,5
121,7
120,1
122,8
123,4
121,7
123,2
120,0
120,7
121,4
117,3
123,5
122,3
120,4
122,7
121,9
122,0
121,2
121,5
121,4
121,1
123,0
121,8
119,9
121,9
122,3
123,5
122,5
118,1
122,5
119,8
121,0
121,5
121,7
121,7
121,5
119,7
121,4
118,1
121,6
120,3
124,5
121,0
121,7
121,2
118,1
119,4
120,4
120,0
120,3
119,4
121,4
121,6
119,8
117,4
116,4
120,0
123,9
123,4
121,3
122,0
120,6
123,8
119,2
122,3
118,9
122,0
122,2
119,5
122,1
120,5
119,2
121,8
119,4
120,4
122,0
122,6
120,3
121,5
119,8
120,9
115,6
119,4
118,5
121,4
121,8
121,1
119,6
121,2
119,2
118,1
118,0
122,5
121,8
121,7
121,4
120,9
121,5
121,2
122,8
117,0
117,6
122,2
119,6
121,9
122,2
123,2
121,5
116,8
118,1
121,0
123,2
123,0
121,8
121,1
121,2
121,9
119,7
118,5
120,8
123,2
120,9
121,8
123,2
120,1
122,8
120,1
120,8
121,2
122,3
122,9
121,2
122,8
121,6
122,7
123,0
121,7
113,4
124,0
121,5
120,7
120,8
122,0
121,3
118,5
120,9
118,7
122,2
119,5
122,3
120,5
121,3
121,6
118,7
119,1
119,4
122,4
120,3
122,5
119,1
120,0
118,6
120,2
117,8
120,5
123,4
121,9
120,9
123,3
120,3
123,0
122,1
120,8
120,5
120,0
120,5
123,1
122,6
122,2
119,9
119,7
120,0
118,8
123,2
119,8
122,5
119,5
120,5
120,7
122,3
118,1
119,7
123,9
123,5
122,4
121,7
123,9
118,5
117,2
118,5
115,9
120,3
122,6
121,8
121,5
121,7
122,5
122,0
120,1
119,7
120,4
122,5
121,2
120,9
120,6
122,2
121,6
118,7
120,4
123,3
120,9
123,0
120,2
122,5
121,5
Anlise de Sistemas de Medio

Carla ten Caten
INTRODUO
Uma vez que a validade das anlises relativas ao desempenho do

processo dependem da validade dos dados, essencial que o sistema de
medio seja adequado.
importante entender qual a preciso associada ao sistema de medio,
a qual est relacionada com o prprio instrumento de medio e tambm
com outras fontes de variao.
Os sistemas de medio podem ser analisados quanto:
- Estabilidade;
-Tendncia;
-Linearidade;
-Repetitividade;
-Reprodutibilidade.
Alm disso, o estudo tambm pode quantificar a variao pea-a-pea e
a variao dentro da pea.
Ao especificar ou analisar um sistema de medio, ns estamos
preocupados com a sua discriminao, ou seja, com a sua capacidade de
detectar mesmo pequenas mudanas na caracterstica em estudo.
As cartas de mdia e amplitude revelam a fora de discriminao
(nmero de categorias de dados que podem ser identificadas) do sistema
de medio
P ouc a
D is crim ina o
V alo r Individua l
4
1
D is crim ina o
s a tis fa tria
10
11 1 2
13 1 4
15 16
17 18
L imi te d e C o ntro le S up er ior = 7 ,17 2 6
L inha C e nt ra l = 5 , 8
L im i te d e C o ntro le Infer io r = 4 ,42 7 4
C aus a s E s p ec ia is
19 20
7 4 .0 1
Mdia
CATEGORIAS DE DADOS
E DISCRIMINAO
7 4 .0 0
7 3 .9 9
10
11 12 13
14 15
16
17
18
L im ite d e C o ntro le S u pe r io r = 7 4 ,0 1 4 3
Li nh a C e n tra l = 7 4 ,0 0 12
Li m ite d e C on tr ole In fe ri or
C au sa s E s p ec ia is
= 73 ,9 8 8 1
19 20
116
5. Anlise de Sistemas de Medio

A Figura a seguir fornece indicaes sobre a aplicabilidade de um

sistema de medio, em funo do nmero de categorias que ele pode
discriminar:
Discriminao
Observaes
S pode ser usado para controle em
condies especiais, por exemplo, no
caso de um processo muito capaz, com
funo de perda achatada no intervalo das
especificaes.
1 Categoria
No pode ser usado para estimar

parmetros e ndices do processo.
Pode ser usado no controle de
caractersticas que no so crticas e onde
o processo tem boa capacidade.
~ 3 categorias
Fornece apenas estimativas grosseiras dos

Pode ser usado no controle de
caractersticas crticas.
Figura 77 - aplicabilidade de
um sistema de medio
Exerccio 62
Fornece estimativas precisas dos

+ de 5 categorias
Os dados a seguir representam medies feitas sobre a principal

dimenso de uma pea cermica usando dois sistemas distintos de
medio. Analise esses dados usando uma carta de controle para valores
individuais. Verifique se os sistemas apresentam discriminao
adequada para o controle da caractersticas crtica.
Leituras usando o sistema 1 (dados dispostos ao longo das linhas, ou
seja, as primeiras leituras esto na primeira linha e assim
sucessivamente):
26,0 27,0 25,0 25,0 25,0 26,0 26,0 27,0 26,0 27,0 26,0 26,0
26,0 25,0 27,0 26,0 26,0 25,0 26,0 25,0 25,0 26,0 27,0 27,0
Leituras usando o sistema 2:
26,2 26,7 24,8 25,4 24,6 25,8 25,9 26,8 26,2 27,1 25,9 26,4
25,7 25,1 27,2 26,4 26,0 25,3 26,3 24,8 24,8 26,0 26,7 26,9
ESTABILIDADE
A estabilidade de um sistema de medio refere-se ao seu desempenho

ao longo do tempo. Em geral, a estabilidade no quantificada, mas ela
pode ser avaliada usando-se cartas de controle.
Nesse caso, uma pea padro (sempre a mesma pea) medida ao longo

117
de dias ou semanas, e os resultados so plotados em uma carta de

controle.
Como trata-se da mesma pea, as leituras deveriam ser sempre as
mesmas, mas isso no acontece, devido variabilidade no prprio
sistema de medio.
Se houver problemas no sistema de medio (por exemplo, um
instrumento que se afrouxa, ou que perde a calibragem, ou um operador
sem treinamento) isso ir aparecer como um ponto fora dos limites de
controle.
Pontos fora dos limites de controle, na carta de mdias ou na carta de
amplitudes, revelam falta de estabilidade no sistema de medio.
40
Valor Individual
Boa
estab ilid ad e
38
36
34
32
1
10
11
12
P ro b lem a s d e
estab ilid ad e
Valor Individual
L i m ite d e C o n tro l e Su p e ri o r = 3 9 ,3 8 3
40
L im ite d e C o n tro le In fe rio r = 3 2 ,1 0 4 2
13
14
15
16
17
18
19
20
L i n h a C e n tr a l = 3 5 ,7 4 3 6
C a u s a s E s p e c iai s
38
36
34
32
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30
31
32
33
34
35
36
37
38
L i m i te d e C o n tro le S up e r io r = 3 9 ,38 3
L in h a C e n tra l = 3 5 ,7 4 3 6
L i m ite d e C o n tro l e In fe rio r
= 3 2 ,1 0 4 2
39
40
A estabilidade pode ser verificada da seguinte maneira:

-Obter uma amostra padro para ser utilizada no estudo;
-Numa base peridica (diariamente, semanalmente) efetuar trs a seis
medies sobre cada pea da amostra padro;
-Marcar os resultados em cartas de controle Xbar & R ou Xind &
Rmvel;
-Estabelecer limites de controle e analisar evidncias de instabilidade,
conforme o uso comum das cartas de controle;
Se a estabilidade for ruim, as causas possveis so:
Existem fatores que atuam ao longo do dia (temperatura) ou ao longo da
semana (umidade), que influenciam significativamente o instrumento de
medio;
Instrumento de medio perde a calibragem com facilidade;
Os operadores no esto suficientemente treinados no uso do
instrumento;
Os operadores esto expostos a fadiga que prejudica a leitura;
118

Exerccio 65
Os dados a seguir tambm se referem dimenso crtica da pea

cermica. O conjunto de dados que segue foi obtido sobre uma mesma
pea de referncia, medida ao longo de todo o mes. Verifique se h
indcios de falta de estabilidade no sistema de medio.
Dados (dispostos ao longo das linhas):
Exerccio 66
26,2 26,1 26,1 26,2 26,0 26,1 26,1 26,0 26,2 26,1
26,1 26,2 26,0 26,6 26,5 26,5 26,6 26,4 26,5 26,5
26,4 26,1 26,1 26,0 25,9 25,8 25,8 25,9 25,7 25,8
Os dados a seguir representam medies feitas sobre um componente
eletrnico usado como referncia. Plote esses dados em uma cartas de
controle de mdia e amplitude e verifique se h indcios de instabilidade.
Sabendo que a variabilidade natural do processo caracterizada por um
desvio padro igual a 8,5 voc acredita que o sistema possui suficiente
repetitividade ?

PRECISO X EXATIDO
119
Exatido refere-se centralizao e preciso refere-se variabilidade em

torno de uma valor.
Figura 78- Comparao entre

exatido e preciso
TENDNCIA
A tendncia definida como a diferena entre a mdia observada e o

valor de referncia.
A mdia observada a mdia de um conjunto de leituras (por exemplo,
10 observaes) feitas pelo conjunto dispositivo / operador que
queremos avaliar
O valor de referncia o valor suposto correto, obtido no laboratrio de
metrologia.
Figura 79 - Estudo de tendncia
Um estudo de tendncia pode ser feito conforme o procedimento

descrito a seguir:
-Escolher uma amostra de uma ou mais peas e estabelecer o valor de
referncia dessas peas (utilizando um padro rastrevel ou realizando
vrias medies na sala de metrologia e calculando a mdia);
-Fazer o operador medir a pea 10 vezes, da maneira usual;
-Calcular a mdia das leituras feitas sobre as peas;
120

-Calcular a tendncia usando:

Tendncia = mdia observada - valor de referncia
A tendncia, e outras medidas que vo aparecer na sequncia, podem ser
expressas em termos percentuais, onde a base de comparao a
variao total do processo - em geral usa-se 6 sigma ou a tolerncia
(amplitude do intervalo de especificao) para definir a base de
comparao:
Tendncia % = 100 X Tendncia / (6 sigma) ou
Tendncia % = 100 X Tendncia / Tolerncia
O estudo de tendncia tambm pode ser feito usando os dados do estudo
de estabilidade. Nesse caso, calcula-se o valor de referncia para a
amostra usada no estudo de estabilidade e ento:
Tendncia = Xbarbar - valor de referncia
onde Xbarbar a linha central da carta de controle, ou seja, a mdia de
todas as medidas (mdias) efetuadas pelo operador no estudo de
estabilidade;
Se a tendncia relativamente grande, as causas podem ser as seguintes:
Dispositivo de medio mal calibrado;
Dispositivo de medio desgastado, exigindo manuteno;
Falta de treinamento ou conhecimento no uso do dispositivo de medio;
Valor de referncia mal definido;
Exerccio 67
A pea a seguir foi medida em um laboratrio certificador, apresentando

um raio de curvatura igual a 5,003 mm. A mesma pea tambm foi
medida na fbrica, vrias vezes. Analise as medidas, mostradas a seguir,
e verifique se a tendncia negativa, positiva ou nula. Sabendo que as
especificaes para essa pea so 5,0 0,003 , conclua a respeito da
tendncia que o sistema apresenta.
Dados: 5,004 5,003 5,003 5,002 5,004 5,003 5,003
Exerccio 68
Os dados a seguir constituem dois conjuntos de medies representando

o comprimento e a largura de uma mesma pea de referncia. Plote um
grfico de disperso (valor de referncia x desvios observados) e veja a
tendncia para cada cota.
Largura (valor de referncia = 4,01):
4,02 4,02 4,03 4,01 4,02 4,03
Comprimento (valor de referncia = 9,52):
9,54 9,54 9,56 9,55 9,54 9,55

LINEARIDADE
121
O estudo da linearidade do dispositivo de medio verifica o

desempenho do dispositivo ao longo de toda a sua faixa de uso.
Muitas vezes o dispositivo usado em uma faixa ampla, e o fato dele
estar calibrado e funcionando adequadamente em um extremo da faixa,
no assegura seu funcionamento adequado no centro ou no outro
extremo da faixa
Para fazer um estudo de linearidade, preciso utilizar vrias peas cujos
valores de referncia contemplem a faixa de uso do dispositivo.
Ento, se efetuam medies sobre cada pea e registra-se a tendncia
observada, verificando, atravs de um estudo de regresso, se a
tendncia funo do valor de referncia.
Figura 80- Estudo da

linearidade de dispositivos de
medio
O estudo da linearidade do dispositivo de medio revela se a tendncia

observada nos valores medidos ou no funo da magnitude do valor
medido
Para fazer um estudo de linearidade, preciso utilizar vrias peas (por
exemplo seis peas) cujos valores de referncia sejam marcadamente
diferentes. Por exemplo, o dimetro nominal das seis peas poderia ser
1 cm, 2 cm, ..., 6 cm.
Ento se efetuam diversas medies sobre cada pea e registra-se a
tendncia observada, conforme o exemplo a seguir:
Pea
1,01
2,00
3,03
3,98
5,01
6,00
1,01
2,01
3,05
4,01
5,07
6,05
1,03
2,05
3,03
4,02
5,05
6,06
1,01
2,05
3,04
4,01
5,08
6,05
1,02
2,01
3,06
4,00
5,06
6,03
1,02
2,03
3,02
4,02
5,09
6,07
Mdia
1,018
2,030
3,040
4,012
5,070
6,052
Tendncia (Y)
0,008
0,030
0,010
0,032
0,060
0,052
Valor de
referncia (X)
122

A seguir ajusta-se um modelo de regresso linear, do tipo Y = b + aX,

onde
Y = tendncia
X = Valor de referncia
a = inclinao
Eq 84
: a = SXY / SXX
Eq 85
: b=
Y b1 X
Onde:
Eq 86
SXX x i2 x i 2 n
Eq 87
SYY yi2 yi 2 n
Eq 88
SXY x i yi x i yi n
SQR yi b0 b1x i 2 SYY b1SXY
Uma vez encontrados os valores de a e b, tem-se:

Tendncia = b + a x Valor de referncia
Linearidade = |a| x faixa de operao do dispositivo
linearidade percentual = 100 x |a| / variao do processo
ou
Eq 92
= 100 x |a| / tolerncia
[ xy ( x )( y) / n ]
Eq 89
:Ajuste do modelo:
R2
Eq 90
: Desvio padro da
estimativa:
DPE
Eq 91
:Desvio padro da
inclinao:
DPI
:Teste de significncia do
modelo:
[ x ( x ) 2 / n ] [ y 2 ( y) 2 / n ]
2
SQR
n2
DPE
[ x ( x ) 2 / n ]
2
t = a / DPI
Se |t| < 1,5 no h evidncia de falta de linearidade do dispositivo
Se 1,5 < |t| < 2,5 h alguma evidncia de falta de linearidade
Se |t| >2,5 h forte evidncia de falta de linearidade do dispositivo
Para os dados do exemplo, supondo que a faixa de operao do processo

123
seja [1,00 - 6,00 = 5,00 cm] e que a variao do processo seja 0,10 cm,
resulta:
a = 0,00949; b = -0,00125
Tendncia = -0,00125 + 0,00949 x valor de referncia
linearidade = 0,00949 x 5,00 = 0,04745
linearidade % = 100 x 0,04745 / 0,10 = 47,45% (esse percentual muito
elevado, o dispositivo tem problemas)
R2 = 0,698, ou seja, 69,80 % da variabilidade total dos dados explicada
pelo modelo ajustado
SQR = 0,000679
DPE = 0,013
DPI = 0,000746
t = 12,73 ==> h forte evidncia de falta de linearidade do dispositivo
Exerccio 69
Exerccio 70
REPETITIVIDADE
Os dados a seguir representam medies de intensidade luminosa,

realizadas sobre trs modelos de lmpada com diferentes potncias.
Analise esses dados e, para cada modelo, avalie a tendncia observada.
Lmpada
Mod 1
Mod 1
Mod 2
Mod 2
Mod 3
Mod 3
Especificaes
100 a
110
100 a
110
200 a
210
200 a
210
400 a
450
400 a
450
Valor de
Referncia
107,2
102,9
207,8
206,0
411,6
416,5
Medies
106
103
209
208
415
421
107
104
208
208
416
419
105
102
210
210
416
423
106
103
209
209
418
423
107
102
211
210
417
422
Faa um estudo de linearidade usando os dados do exerccio 69.

Calcule o coeficiente de inclinao da reta e verifique a sua
significncia. Calcule tambm o valor de R2. Qual a sua concluso a
respeito do dispositivo de medio ?
A repetitividade ou variao do dispositivo de medio observada

quando um mesmo operador mede a mesma pea mais de uma vez.
Os operadores no devem saber que esto medindo a mesma pea.
Quando a diferena entre as leituras pequena, o sistema tem boa
repetitividade.
Sejam os dados a seguir:
124

Operador 1
Ciclos
Operador 2
Pea
Xbar
Xbar
Xbar
25,2
27,1
25,6
25,97
1,9
25,4
26,7
24,7
25,60
2,0
25,78
22,1
21,6
24,1
22,60
2,5
23,3
23,8
24,0
23,70
0,7
23,15
25,4
24,7
25,0
25,03
0,7
24,4
25,0
26,9
25,43
2,5
25,23
23,6
25,2
25,2
24,67
1,6
25,1
23,5
26,8
25,13
3,3
24,90
28,2
27,1
26,0
27,10
2,2
27,3
27,8
29,7
28,27
2,4
27,68
25,073
1,78
25,627
2,18
Peas
Mdia
Amplitude entre mdias Ro =
Tabela 28- dados Amplitude mdia
para a anlise do
sistema de medio
Amplitude peas
0,554
Rbar
=
1,98
Rp =
4,53
O desvio-padro do dispositivo de medio calculado como:

e = Rbar / d2 = 1,98 / 1,72 = 1,151
onde Rbar a amplitude mdia observada nas diversas medies
efetuadas pelos operadores e d2 obtido da Tabela a seguir, sendo m =
nmero de medies por pea por operador e g = nmero de peas x
nmero de operadores.
10
15
1,41
1,91
2,24
2,48
2,67
2,83
2,96
3,08
3,18
3,55
1,19
1,74
2,10
2,36
2,56
2,73
2,87
2,99
3,10
3,49
10
1,16
1,72
2,08
2,34
2,55
2,72
2,86
2,98
3,09
3,48
15
1,15
1,71
2,07
2,34
2,54
2,71
2,85
2,98
3,08
3,48
30
1,128 1,693 2,059 2,326 2,534 2,704 2,847 2,970 3,078 3,472
m
g
Tabela 29- valores de d2:
A Repetitividade (VE), ou variao do equipamento, obtida como:

VE = 5,15 e , intervalo que abrange 99% da variao esperada para
uma distribuio normal.
Para os dados do exemplo, VE = 5,15 x 1,151 = 5,93
Exerccio 71
Os dados a seguir representam medies da concentrao de xido,

realizadas logo aps um tratamento qumico. Calcule o desvio padro
do dispositivo de medio e a sua repetitividade.

Operador 1
Ciclo
125
Operador 2
7,2
7,4
7,5
7,2
8,5
7,9
8,1
8,4
6,9
7,3
7,0
7,5
6,9
7,1
7,3
7,0
7,5
7,7
7,3
7,9
7,3
6,8
7,1
7,3
Amostra
REPRODUTIBILIDADE
A reprodutibilidade refere-se a diferenas que podem existir entre as

medidas de diferentes operadores, em geral resultado de procedimentos
especficos adotados por cada operador.
Para estimar essa variabilidade, determina-se a mdia para cada operador
e em seguida calcula-se a amplitude, subtraindo-se a menor mdia da
maior:
Ro = Xbar max - Xbar min = 25,627 - 25,073 = 0,554
O desvio-padro estimado usando-se o = Ro / d2 e a reprodutibilidade
estimada como 5,15 x o , que representa um intervalo que abrange
99% da variao esperada para uma distribuio normal.
d2 obtido da Tabela 29, usando m = nmero de operadores e g = 1.
Uma vez que a estimativa da reprodutibilidade est contaminada pela
variao devido ao dispositivo de medio, ela deve ser ajustada
subtraindo-se uma frao que corresponde repetitividade.
A reprodutibilidade (VO=variao do operador) ajustada passa a ser:
VO =
R
5,15 e
5,15 o
d2
nr
onde n = nmero de peas e r = nmero de ciclos de medio

E o desvio-padro ajustado dos operadores :
o = VO / 5,15
Usando os dados do exemplo, tem-se:
5,15 1,1512 = 1,32

0,55
5,15

1,41
53
VO =
onde n = nmero de peas e r = nmero de ciclos de medio

E o desvio-padro ajustado dos operadores :
126

o = VO / 5,15 = 1,324 / 5,15 = 0,257
R&R - SISTEMA DE
MEDIO
Conhecida a variabilidade devido a repetitividade (equipamento) e a

reprodutibilidade (operadores), a variabilidade do sistema de medio
calculada como:
R&R =
VE 2 VO 2 =
5,932 1,322 = 6,08
Em termos de desvio-padro, tem-se:

2
m = 2
e o =
VARIAO PEA-A-PEA
1,1512 0,2172 = 1,18
O desvio-padro das peas (variabilidade entre peas) pode ser

determinado atravs de um estudo independente de capacidade do
processo ou pode ser obtido a partir dos dados do estudo do sistema de
medio.
Usando-se os dados do estudo, inicia-se calculando a mdia para cada
pea e, na sequncia, a amplitude das mdias, Rp = pea com maior
mdia - pea com menor mdia.
Ento o desvio-padro das peas calculado como:
p = Rp / d2
d2 obtido da Tabela 2 usando m = nmero de peas e g = 1.
A variao total da pea (VP) estimada usando 5,15 p (99% das peas
devem estar nesse intervalo, supondo distribuio normal).
Para os dados do exemplo, tem-se:
Rp = Xbar max - Xbar min = 27,68 - 23,15 = 4,53
p = Rp / d2 = 4,53 / 2,48 = 1,83
VARIAO TOTAL DO
PROCESSO
VP = 5,15 x p = 5,15 x 1,83 = 9,40
A variabilidade total do processo (VT) calculada somando-se a

variabilidade do sistema de medio com a variabilidade das peas:
VT =
R & R 2 VP 2 =
6,082 9,402 = 11,19
Ou, em termos de desvio padro, tem-se:

t = 2m 2p =
1,182 1,832 = 2,18

127
Exerccio 72
Ainda em relao aos dados do exerccio 71, calcule o desvio padro

pea a pea, a variao pea a pea, o desvio padro total do processo e a
variao total do processo.
AVALIAO DO SISTEMA
DE MEDIO
O sistema de medio avaliado em termos percentuais. Quantifica-se o

percentual da variabilidade total do processo que devida ao sistema de
medio, ou seja:
R&R % = 100 x R&R / VT
R&R % = 100 x 6,08 / 11,19 = 54,33%
Tambm muito comum usar como base de comparao o intervalo das
especificaes, nesse caso, tem-se (supondo que a tolerncia fosse 10):
R&R % = 100 x R&R / Tolerncia
R&R % = 100 x 6,08 / 20 = 30,40 %
Quando esse percentual baixo, digamos inferior a 20%, o sistema de
medio tem bom poder discriminatrio, ou seja, discrimina entre peas
boas e ruins.
O nmero de nveis distintos (Nc de categorias do produto) que pode ser
identificado com clareza determinado usando:
Nc = 1,41 x p /m
Se Nc menor que dois, o sistema de medio no tem utilidade para o
controle do processo, no se consegue distinguir uma pea da outra, tudo
pode ser erro de medio.
Se Nc igual a dois ou trs, os dados podem ser classificados em alto /
baixo ou centrado / fora do centro. Nesse caso, o que se tem apenas
uma avaliao qualitativa, tipo atributo (bom ou ruim, dentro ou fora).
Esse exatamente o caso do exemplo, onde se tem:
128

Nc = 1,41 x 1,83 / 1,18 = 2,19

Nc deve ser maior que cinco para que o sistema de medio seja
aceitvel (efetivo) no controle do processo.
ESTUDOS DE R&R
Na sequncia sero apresentados os trs mtodos que podem ser usados

para um estudo de Repetitividade e Reprodutibilidade. Esses mtodos
so os seguintes:
O Mtodo da amplitude
O Mtodo da mdia e amplitude (j visto anteriormente)
O Mtodo da ANOVA
O primeiro mtodo tem uma coleta de dados simplificada; os outros dois
mtodos seguem basicamente o mesmo procedimento de coleta de
dados, o que muda o formulrio de anlise.
O MTODO DA
AMPLITUDE (ESTUDO
RPIDO DE R&R)
O mtodo da amplitude fornece uma primeira avaliao do sistema de

medio, sem chegar a decompor a variabilidade em R & R.
Tipicamente, esse mtodo empregado usando-se dois operadores e 5 a
10 peas, sendo que cada operador realiza uma nica medida sobre cada
pea.
Peas
Operador A
Operador B
Amplitude
2,12
2,16
0,04
2,15
2,17
0,02
2,08
2,08
0,00
2,10
2,12
0,02
2,10
2,11
0,01
Amplitude mdia:Rbar = Ri / 5 = 0,018

129
m = Rbar / d2 = 0,018 / 1,19 = 0,0151

(d2 obtido da tabela 2, usando m = 2, g = 5)
R&R = 5,15 m = 5,15 x 0,0151 = 0,0778
Seja: Tolerncia = 0,10
R&R% = 100 x 0,0778 / 0,20 = 38,9%
usual considerar o seguinte:
R&R% < 10%==> sistema aceito
10 < R&R% < 30%==> sistema pode ser aceito
R&R% > 30%==> sistema rejeitado
Nota:
Vejam que nesse caso a amplitude R registrada contm tanto o erro do

instrumento + operador (repetitividade) como o erro entre operadores
(reprodutibilidade). Nesse estudo rpido no se pode distinguir entre
essas fontes de variabilidade.
Exerccio 73
Os dados a seguir representam medies de transparncia efetuadas em

vidros para uso na indstria automotiva. Analise os dados atravs de um
estudo rpido de ReR. Sabendo que a variabilidade natural do processo
6 sigma = 11,2 , qual a sua concluso a respeito da adequao do
sistema de medio ?
MTODO DA MDIA E
AMPLITUDE (ESTUDO
FORMAL DE R&R)
Pea
Operador 1
Operador 2
75
75
78
79
76
78
80
79
82
84
78
78
80
81
O mtodo da mdia e amplitude permite distinguir entre as duas fontes

de variao (Repetitividade e Reprodutibilidade), quantificando a
contribuio de cada uma delas para a variabilidade total. Para que isso
possa ser feito, cada operador deve executar mais de uma medio sobre
a mesma pea (em geral duas ou trs medies).
importante investigar a causa da variabilidade, pois isso ir orientar a
respeito das medidas a serem tomadas para a melhoria do sistema de
medio. Por exemplo, se a repetitividade for ruim, talvez seja
necessrio um treinamento geral dos operadores, ou a aquisio de
instrumentos mais precisos, de leitura mais fcil. Por outro lado, se a
reprodutibilidade for ruim, talvez seja necessrio padronizar os
procedimentos de medio ou fornecer treinamento especfico a alguns
dos operadores.
O quadro a seguir sumariza os clculos a serem feitos em um estudo
130

formal e na sequncia apresenta-se um exemplo.

Repetitividade (variao do equipamento)
Rbar = (RA + RB + ... ) / No de
operadores
e = Rbar / d2
VE = 5,15 e
Reprodutibilidade (variao do operador)
Ro = (Xbar max - Xbar min) (entre
operadores)
VO =
R
5,15 e
5,15 o
d2
nr
VE % = 100 x VE / VT
ou
VE % = 100 x VE / Tol.
VO % = 100 x VO / VT
ou
VO % = 100 x VO / Tol.
o = VO / 5,15
Repetitividade e Reprodutibilidade
m =
R&R = 5,15 m
ou
2
2
R&R = VE VO
Variao pea a pea
Rp = (Xbar max - Xbar min)
peas)
p = Rp / d2
VP = 5,15 p
Variao total
Tabela 30
VT =
R&R % = 100 x R&R / VT

ou
R&R % = 100 x R&R / Tol.
2e 2o
(entre
VP % = 100 x VP / VT
ou
VP % = 100 x VP / Tol.
R & R 2 VP 2
onde n = nmero de peas e r = nmero de ciclos de medio; para

achar d2 usar tabela, sendo que para repetitividade g > 15 e para
reprodutibilidade g = 1.
Para a aceitao do sistema de medio usual usar o seguinte:
R&R% < 10%==> sistema aceito
10 < R&R% < 30%==> sistema pode ser aceito
R&R% > 30%==> sistema rejeitado

131
Os dados a seguir representam medies da dimenso de uma pea

mecnica cuja especificao 0,2550 0,0020. Foram anotados os
dois ltimos algarismos de leitura, ou seja, 47 = 0,2547.
Exemplo:
Operador A
Ciclos
Operador B
Operador C
1a
2a
1a
2a
1a
2a
Mdia
Peas
50
50
51
49
47
47
49,00
52
51
54
52
48
45
50,33
47
48
47
49
46
47
47,33
46
46
48
47
46
44
46,17
47
49
50
47
44
45
47,00
50
50
49
48
47
48
48,67
45
47
46
47
46
45
46,00
46
45
47
46
45
44
45,50
54
54
53
55
52
52
53,33
10
46
48
47
47
47
45
46,67
48,55
0,9
48,95
1,5
46,50
1,2
Pea
Mdias

Rbar = (RA + RB + Rc) / 3 = (0,9 + 1,5 + 1,2) / 3 = 1,20
e = Rbar / d2 = 1,20 / 1,128 = 1,064
usando m=2, g>15
VE = 5,15 e = 5,15 x 1,064 = 5,48

Ro = (Xbar max - Xbar min) = (48,95 - 46,50) = 2,45
R
VE 2 =
5,15 o
d2
nr
VO =
2,45
5,482
= 6,49
5,15

1,91
10 2
o = VO / 5,15 = 6,49 / 5,15 = 1,26
usando m = 3, g =1
2
m = 2
e o =
R&R =
1,0642 1,262 = 1,649
VE 2 VO 2 =
5,482 6,492 = 8,49
Variao pea-a-pea
Rp = (Xbar max - Xbar min) = 53,33 - 45,50 = 7,83
132

p = Rp / d2 = 7,83 / 3,18 = 2,462
usando m = 10, g = 1
VP = 5,15 p = 5,15 x 2,462 = 12,68

Variao total
VT =
R & R 2 VP 2 =
8,492 12,682 = 15,26
Em termos percentuais, para esse exemplo, tem-se:

Repetitividade:VE % = 100 5,48 / 15,26 = 35,9 %
Reprodutibilidade:VO % = 100 6,49 / 15,26 = 42,5%
R&R:R&R % = 100 8,49 / 15,26 = 55,6%
Pea-a-pea:VP % = 100 12,68 / 15,26 = 83,1%
Como o valor de R&R % elevado, conclui-se que o sistema de
medio possui muita variabilidade e precisa ser melhorado.
Exerccio 74
Os dados a seguir foram obtidos junto a um sistema de medio de

vazo. Faa um estudo formal de R&R, estime todas as parcelas de
variabilidade e conclua sobre o sistema de medio (obs: as
especificaes para esse processo so de 65 < vazo < 80)
Operador 1
Operador 2
Operador 3
Operador 4
1a
2a
1a
2a
1a
2a
1a
2a
70
70
71
72
71
70
73
72
73
71
71
74
70
71
74
72
69
68
70
70
69
68
72
71
68
74
71
74
71
71
74
74
69
68
71
70
68
70
71
73
67
68
71
69
67
67
70
72
69
70
72
72
70
69
73
72
68
69
69
69
71
67
71
73
Dia

O MTODO DA ANLISE
DE VARINCIA
133
A anlise de varincia (ANOVA) uma tcnica estatstica que pode ser

usada para o estudo da variabilidade de um sistema de medio.
Usando a ANOVA, a variabilidade pode ser decomposta em quatro
fontes: peas, operadores, interao entre peas x operadores e erro de
replicao devido ao dispositivo de medio.
As vantagens da ANOVA so que ela pode lidar com qualquer arranjo
experimental, permite uma estimativa mais precisa das varincias e
permite extrair mais informao.
Os dados devem ser coletados de maneira aleatria, obtendo-se uma
planilha similar quela do mtodo da mdia e amplitude.
Ento, parte-se para o clculo das Somas Quadradas, usando-se o
seguinte formulrio (onde n = No de peas, k = No de operadores, r =
No de ciclos):
Eq 93
Eq 95
Eq 96
T...2
nkr
- Termo de correo:
TC
Eq 94
- SQ Peas:
SQp
Ti2.. TC
- SQ Operadores:
SQo
T.2j. TC
- SQ Peas x Operadores:
kr
nr
Tij2.
SQpo
SQp SQo TC
r
Eq 97
- SQ Total:
2
SQT x ijk
TC
Eq 98
- SQ Erro:
SQe = SQT - SQp - SQo - SQpo

A planilha de dados preparada conforme segue, supondo um exemplo
com 10 peas, 3 operadores, 2 ciclos de medies:
Operadores
Peas
Totais Ti..
T1..
T2..
10
T10..
Totais T.j.
T.1.
xij1 xij2
T.2.
T.3.
Calculadas as somas quadradas, a tabela ANOVA resulta:
T...
134

Fonte de Variao
SQ
GL
MQ =
Teste F
SQ / GL
Peas
SQp
n-1
MQp
MQp/MQpo
Operadores
SQo
k-1
MQo
MQo/MQpo
Peas x Operadores
SQpo
(n-1)(k-1)
MQpo
MQpo/MQe
Dispositivo (erro)
SQe
nk(r-1)
MQe
Total
SQT
nkr-1
Ento, compara-se os valores calculados de F com os valores tabelados

da distribuio F. Recomenda-se usar um nvel de significncia =
0,05.
Se os valores calculados forem maiores que os tabelados, ento a
variabilidade provocada pelo termo correspondente significativa.
A interpretao de efeitos significativos a seguinte:
Peas significativo:
Esse um resultado desejvel, indica que a variabilidade entre peas

maior que aquela devida ao dispositivo de medio.
Operadores significativo:
Esse resultado no bom ou ruim, mas indica que a variabilidade entre

operadores maior que aquela devida ao dispositivo de medio.
Interao significativo:
Esse resultado no esperado; em um estudo deste tipo, no h motivos

para existir uma interao significativa entre peas e operadores.
preciso investigar o que ocorreu e talvez o estudo tenha que ser refeito.
Resultando o usual, ou seja, interao no significativa, fortemente
recomendado agregar a soma quadrada da interao ao erro, criando um
termo de erro mais forte estatisticamente, com um maior nmero de
graus de liberdade.
Eq 99
Eq 100 :
SQagr = SQe + SQpo

GLagr = nk(r-1) + (n-1)(k-1) = nkr-n-k+1
Nesse caso a Tabela ANOVA resulta
Fonte de Variao
SQ
GL
MQ =
Teste F
SQ / GL
Peas
SQp
n-1
MQp
MQp/MQagr
Operadores
SQo
k-1
MQo
MQo/MQagr
SQagr
nkr-n-k+1
MQagr
SQT
nkr-1
Dispositivo + interao
(erro)
Total
A interpretao do teste F para peas e operadores segue a mesma lgica

vista acima. A partir das MQ possvel estimar os componentes de

135
variao usando o seguinte formulrio:

Para o caso em que a interao significativa:
VE 5,15 MQe
VO 5,15
MQo MQpo
nr
VP 5,15
MQp MQpo
kr
Interao 5,15
MQpo MQe
r
R & R VE 2 VO 2 I2
VT R & R 2 VP 2
Para o caso em que a interao no significativa:
VE 5,15 MQagr
VO 5,15
MQo MQagr
nr
VP 5,15
MQp MQagr
kr
R & R VE 2 VO 2
VT R & R 2 VP 2
Se a estimativa de algum componente de variao resultar negativa,

adota-se que seu valor igual a zero.
Nota:
A contribuio percentual de cada parcela pode ser avaliada conforme

visto antes, ou seja, dividindo pela variao total do processo ou pela
tolerncia:
Eq 101 - Repetitividade:
VE % = 100 x VE / VT
Eq 102 - Reprodutibilidade:
VO % = 100 x VO / VT
Eq 103
- R&R:
Eq 104 - Pea a pea:
R&R % = 100 x R&R / VT

VP % = 100 x VP / VT
Os dados do exemplo anterior, que foram analisados usando o mtodo
da mdia e amplitude, tambm podem ser analisados via ANOVA:
136

Operador A
Ciclos
Peas
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
Totais T.j.
Operador B
Operador C
1a
2a
1a
2a
1a
2a
50
52
47
46
47
50
45
46
54
46
50
51
48
46
49
50
47
45
54
48
51
54
47
48
50
49
46
47
53
47
49
52
49
47
47
48
47
46
55
47
47
48
46
46
44
47
46
45
52
47
47
45
47
44
45
48
45
44
52
45
971
979
930
Totais
Ti..
294
302
284
277
282
292
276
273
320
280
2880
Utilizando o formulrio fornecido, chega-se as seguintes somas

quadradas:
Fonte de Variao
SQ
GL
Teste F
MQ =
SQ / GL
34,8
Peas
313,0
Operadores
69,1
34,6
18,2
Peas x Operadores
34,9
18
1,9
1,7
Dispositivo (erro)
33,0
30
1,1
Total
450,0
59
18,3
Os valores tabelados de F so os seguintes:

Para peas:F0,05(9,18) = 2,46
Para operadores: F0,05(2,18) = 3,55
Para a interao: F0,05(18,30) = 1,95
Como pode ser visto, peas e operadores so significativos (F calculado
> F tabelado), mas a interao no significativa. De acordo com o
procedimento recomendado, aglutina-se a interao ao erro:
SQagr = 34,9 + 33,0 = 67,9
GLagr = 18 + 30 = 48
E a tabela ANOVA refeita:
Fonte de Variao
SQ
GL
Teste F
MQ =
SQ / GL
34,8
Peas
313,0
Operadores
69,1
34,6
24,4
Dispositivo + Interao (erro)
67,9
48
1,41
Total
450,0
59
24,6

137
Confirma-se a significncia de peas e operadores e a estimativa dos
componentes de variao resulta:
VE 5,15 MQagr = 5,15 1,41 6,12

VO 5,15
MQo MQagr
34,6 1,41
= 5,15
6,63
nr
10 2
VP 5,15
MQp MQagr
34,8 1,41
= 5,15
12,14
kr
32
R & R VE 2 VO 2 =
6,122 6,632 9,02
VT R & R 2 VP 2 =
9,022 12,142 15,12
Essas estimativas so mais precisas que aquelas obtidas usando o

mtodo da mdia e amplitude. As diferenas, no entanto, no so muito
grandes.
Exerccio 75
Reanalise os dados do exerccio 74 usando o mtodo da ANOVA.

Calcule todas as parcelas de variabilidade e verifique se os resultados
coincidem com os obtidos anteriormente.
ESTUDOS INCLUINDO A
VARIAO PRPRIA DA
PEA
Usualmente, a variao prpria da pea (ovalizao, conicidade, etc.)

no significativa e considerada como parte constituinte da variao
do sistema de medio.
No entanto, em alguns casos a variao prpria da pea significativa e
podem existir motivos que justifiquem a sua avaliao independente.
Tanto o mtodo da ANOVA quanto o mtodo da mdia e amplitude
podem ser extendidos para incluir essa parcela de variabilidade.
Em ambos os casos, a coleta de dados precisa ser ampliada, incluindo
uma investigao mais completa da pea, que girada 360o e/ou
investigada ao longo de seu comprimento, para verificar a conicidade.
Ento, em cada ciclo de medies so anotados dois valores, mais
especificamente, a leitura mnima e mxima. A coleta de dados resulta
conforme o exemplo que aparece na prxima pgina.
Os clculos de Repetitividade, Reprodutibilidade e variao pea a pea
seguem o mesmo formulrio visto anteriormente. O clculo de variao
dentro da pea novo, e a variao total passa a incluir mais essa
parcela. Todos os clculos so apresentados a seguir:
e = Rbar / d2 = 1,90 / 1,128 = 1,684
VE = 5,15 e = 5,15 x 1,684 = 8,675
usando ciclos = 2, g > 15
138

Ro
VE 2
5,15

=
d 2
nr
VO =
2,30
8,6752
= 5,89
5,15

1,91
10 2
o = VO / 5,15 = 5,89 / 5,15 = 1,143

=1
usando operadores = 3, g
2
m = 2
e o =
R&R =
1,6842 1,1432 = 2,035
VE 2 VO 2 =
8,6752 5,892 = 10,48
Variao pea-a-pea
p = Rp / d2 = 10,58 / 3,18 = 3,327
usando peas = 10, g = 1
VP = 5,15 p = 5,15 x 3,327 = 17,134

Variao dentro da pea
XbarVDP = RXbarVDP / d2 = 1,50 / 3,18 = 0,472
usando peas = 10, g =1
VEVDP = 5,15 Ramp / d2 = 5,15.1,40 / 1,41 = 5,114 usando ciclos = 2, g

=1
VDP = XbarVDP +
VDP = 3,70 +
Exemplo de aplicao do
mtodo da mdia e
amplitude
1
2
1
2
5,15 XbarVDP 2 VE VDP
n VDP r
5,15 0,4722 5,114
32
= 4,323
Em um estudo que inclui a variao prpria da pea:

Operador A
Pea
1
10
Operador B
Operador C
Mdias
1a
2a
1a
2a
1a
2a
Max
90
89
87
90
89
88
Min
88
88
83
86
83
82
Rvdp
Max
90
92
87
87
91
88
Min
88
89
83
82
85
84
Rvdp
Max
94
90
88
86
94
91
Min
89
87
86
85
90
88
Rvdp
Max
86
89
87
83
87
88
Min
84
85
82
81
85
85
Rvdp
Max
86
85
86
83
88
85
Min
82
80
80
80
83
81
Rvdp
Max
87
90
84
86
90
86
Min
83
85
81
83
85
83
Rvdp
Max
87
89
86
89
87
90
Min
83
86
83
84
84
87
Rvdp
Max
85
88
86
85
85
87
Min
82
84
81
82
84
82
Rvdp
Max
84
82
83
81
85
82
Min
80
78
78
79
81
78
Rvdp
Max
95
94
92
92
93
95
Min
90
91
86
89
90
91
Rvdp
86,85
1,9
84,55
1,7
86,5
2,1
Mdias
139
Peas vdp
86,92
3,83
87,17
4,00
89,00
3,00
85,17
3,00
83,25
4,50
85,25
3,83
86,25
3,50
84,25
3,50
80,92
3,83
91,50
4,00
Amplitude entre mdias de operadores
Ro
Amplitude entre medies
Rbar
Amplitude entre mdias de peas
Rp
Mdia da variao dentro da pea
XbarVDP
3,70
Amplitude das mdias da variao dentro da

pea
RXbarVDP
1,50
(Soma) e Ramp
(12)
2,30
1,90
10,58
(18)
(12)
1,40
140

Eq 105 - Variao total VT =
VT =
R & R 2 VP 2 VDP 2
10,482 17,1342 4,3232 = 20,54

Repetitividade: VE % = 100 8,675 / 20,54 = 42,23%
VO % = 100 5,89 / 20,54 = 28,68%
Reprodutibilidade:
R&R: R&R % = 100 10,48 / 20,54 = 51,02%

Pea a pea: VP % = 100 17,134 / 20,54 = 83,42%
Dentro da pea: VDP % = 100 4,323 / 20,54 = 21,05%
O valor de R&R % muito alto; conclui-se que o sistema de medio
possui muita variabilidade e precisa ser melhorado. A variao dentro
da pea tambm elevada e os procedimentos de medio devem
considerar isso.
Exerccio 76
Os dados a seguir representam medies feitas sobre o cano de uma

pistola automtica. Sabendo que as especificaes para essa medida so
125 +/- 5,0 , faa um estudo do sistema de medio, estimando as
parcelas de variabilidade correspondentes ao equipamento, operador,
pea-a-pea e dentro da pea. O sistema de medio satisfatrio ?
Operador 1
Pea
1
Operador 2
2a
3a
1a
2a
3a
Max
124,8
124,7
123,9
123,4
124,1
123,6
Min
122,4
122,2
121,8
121,0
121,9
122,6
Max
126,2
127,1
126,8
127,0
127,3
126,7
Min
124,7
126,1
124,5
124,7
125,5
125,0
Max
124,2
124,4
124,8
125,1
125,4
124,8
Min
122,8
121,7
121,7
121,7
122,3
121,8
Max
126,8
127,7
127,4
127,1
126,4
127,1
Min
124,8
123,9
124,6
124,2
124,7
124,7
Max
126,3
126,8
126,9
127,2
127,4
127,3
Min
125,2
125,2
124,5
125,7
125,5
125,2
Max
126,1
126,1
126,8
126,4
126,6
126,1
Min
124,6
124,4
123,7
124,3
123,6
123,2
Max
125,0
124,6
124,5
124,9
124,1
124,4
Min
123,3
123,1
123,0
123,3
122,9
122,8
Max
126,8
127,5
127,2
127,1
127,0
126,4
Min
125,2
124,6
124,5
125,5
125,2
125,1

USO DA ANOVA NO
ESTUDO DA VARIAO
PRPRIA DA PEA
141
A ANOVA tambm pode ser usada na anlise de estudos que

incorporam a variao dentro da pea. Nesse caso, alm de operadores e
peas, tambm se considera um terceiro fator, qual seja, a variabilidade
dentro da pea.
A tabela ANOVA fica mais extensas, aparecem vrias interaes (peas
x operadores, peas x dentro de peas, operadores x dentro de peas) e a
anlise segue os procedientos estatsticos usuais.
O esperado que nenhuma das interaes seja significativa; por outro
lado, a variabilidade dentro das peas pode ou no ser significativa. Se
ela for significativa, os procedimentos de medio devem levar isso em
conta.
A Tabela com os mesmos dados do exemplo anterior, mas dispostos de
forma adequada para a Anlise de Varincia, e a prpria tabela ANOVA,
obtida com o uso de pacotes estatsticos, aparecem logo a seguir
Operador A
Operador B
Operador C
1a
2a
1a
2a
1a
2a
Max
90
89
87
90
89
88
Min
88
88
83
86
83
82
Max
90
92
87
87
91
88
Min
88
89
83
82
85
84
Max
94
90
88
86
94
91
Min
89
87
86
85
90
88
Max
86
89
87
83
87
88
Min
84
85
82
81
85
85
Max
86
85
86
83
88
85
Min
82
80
80
80
83
81
Max
87
90
84
86
90
86
Min
83
85
81
83
85
83
Max
87
89
86
89
87
90
Min
83
86
83
84
84
87
Max
85
88
86
85
85
87
Min
82
84
81
82
84
82
Max
84
82
83
81
85
82
Min
80
78
78
79
81
78
Max
95
94
92
92
93
95
Min
90
91
86
89
90
91
1098
3460
10316
Pea
1
10
Totais
T.j.
3474
3382
Totais das leituras mximas e mnimas (T..k) :

T..1 = 5269
Totais
Ti..
1043
1046
1068
1022
999
1023
1035
1011
971
142

T..2 = 5047
Fonte
SQ
GL
MQ
Sig.
Pea
950,70
105,63
25,6
Sim
Operador
122,87
61,43
14,9
Sim
Dentro
410,70
410,70
Pea * operador
74,30
18
4,13
1,8
no
Pea * dentro
5,80
0,64
0,6
no
Operador * dentro
0,80
0,40
0,4
no
Pea * operador * dentro
19,70
18
1,09
0,5
no
Erro
141,00
60
2,35
Total
1725,87
119
Nesta anlise, Peas e Operadores so fatores a nveis aleatrios,

enquanto que "Dentro" um fator a nveis fixos. Nesse caso, os testes F
so feitos como segue:
Fonte
Teste F
Pea
MQp / MQpo
Operador
MQo / MQpo
Dentro
No disponvel *
Pea * operador
MQpo / MQe
Pea * dentro
MQpd / MQpdo
Operador * dentro
MQod / MQpdo
Pea * operador * dentro
MQpod / MQe
No existe um teste exato para a variao dentro das peas, mas se

algumas interaes no forem significativas, ento podem ser usadas as
alternativas apresentadas abaixo:
Termos no significativos
Teste F
Pd
MQd / MQod
Od
MQd / MQpd
od e pd
MQd / MQpod
od, pd e pod
MQd / MQe
Conforme mencionado anteriormente, o esperado que nenhuma das

interaes sejam significativas. Nesse caso, todas as interaes podem
ser agregadas ao erro, e os clculos para a ANOVA ficam facilitados:
TC
Eq 106 - Termo de correo:
T...2
n 2 k r

Somas quadradas
Pea
Operador
SQp
SQo
Ti2..
2 k r
T.2j.
n 2 r
T..2k
Componentes de variao
TC
MQp MQagr
2 k r
TC
MQo MQagr
n 2 r
TC
MQd MQagr
nkr
Dentro
SQd
Total
2
SQT x ijkl
TC
Erro
(Agregado)
SQe = SQT - SQp - SQd - SQo
nkr
143
e MQagr
De forma que a Tabela ANOVA resulta:

Fonte de Variao
SQ
GL
MQ =
Teste F
SQ / GL
Peas
SQp
n-1
MQp
MQp/MQagr
Operadores
SQo
k-1
MQo
MQo/MQagr
Dentro
SQd
MQd
MQd/MQagr
SQagr
2nkr-n-k
MQagr
SQT
2nkr-1
Erro (Agregado)
Total
Para os dados do exemplo, teramos:
Fonte de Variao
SQ
GL
MQ =
Teste F
SQ / GL
Peas
950,7
105,6
46,8
Operadores
122,9
61,4
27,2
Dentro
410,7
410,7
181,9
Erro (Agregado)
241,6
107
2,26
Total
1725,9
119
E as estimativas dos componentes de variao resultam:
144

Pea
Operador
Dentro
Erro (Agregado)
105,6 2,26
MQp MQagr
p
2,93
23 2
2 k r
61,4 2,26
MQo MQagr
o
1,22
10 2 2
n 2 r
410,7 2,26
MQd MQagr
d
2,61
10 3 2
nkr
e MQagr
e 2,26 = 1,50

VE = 5,15 e = 5,15 x 1,50 = 7,73
VO = 5,15 o = 5,15 x 1,22 = 6,28
R&R =
VE 2 VO 2 =
7,732 6,282 = 9,96
Variao pea-a-pea
VP = 5,15 p = 5,15 x 2,93 = 15,09
Variao dentro da pea
A variao dentro da pea, por apresentar nveis fixos (mnimo e
mximo), deve ser calculada somando-se mdia da diferena +
variabilidade da diferena. Para fazer isso, primeiro calcula-se para
cada pea a mdia da VDP; depois, usando-se essas mdias acha-se
X VDP e VDP ; finalmente, usando a expresso abaixo, calcula-se a

VDP (faixa de 99%):
VDP = XVDP
1
1
5,15 VDP = 3,70 + 5,15 0,463 = 4,89
2
2
Variao total
VT =
R & R 2 VP 2 VDP 2
VT =
9,962 15,092 4,892 = 18,73

Repetitividade:VE % = 100 . 7,73 / 18,73 = 41,27%

145
Reprodutibilidade:VO % = 100 . 6,28 / 18,73 = 33,52%

R&R:R&R % = 100 . 9,96 / 18,73 = 53,18%
Pea-a-pea:VP % = 100 . 15,09 / 18,73 = 26,10%
Dentro da pea:VDP % = 100 . 13,44 / 22,53 = 59,7%
Os resultados coincidem com aqueles obtidos pelo mtodo da mdia e
amplitude. O sistema de medio rejeitado, pois existem problemas de
Repetitividade e Reprodutibilidade.
Alm disso, a variabilidade dentro da pea significativa, e deve ser
levada em conta no processo de medio.
Exerccio 77
Analise novamente os dados do exerccio 76, desta vez usando o mtodo

da ANOVA e supondo que as interaes no so significativas.
Verifique se os resultados coincidem aproximadamente.
SISTEMAS DE MEDIO
DE ATRIBUTOS
Em muitas operaes industriais o controle feito pela monitorizao de

atributos, atribuindo-se um julgamento do tipo bom/ruim para cada
unidade inspecionada.
Para avaliar a consistncia e uniformidade dos critrios de julgamento
pode-se efetuar um estudo do sistema de medio.
Esse estudo feito selecionando-se uma amostra aleatria de peas (50
ou mais) e fazendo com que dois ou mais operadores inspecionem esse
conjunto de peas em duas ou mais oportunidades.
O tamanho da amostra deve ser tal que apaream ao menos 10
defeituosos. Ento, independentemente do tamanho da amostra, guardase apenas as observaes classificadas em ao menos uma oportunidade
como defeituosas. A tabela a seguir ilustra como deve ser feita a anlise
para o caso de trs operadores avaliando duas vezes cada unidade:
Pea
Operador 1
Erros
Operador 2
Erros
Operador 3
Erros
Erros
Repet
Repet
Repet
Repro
7
23
29
51
75
121
124
152
160
178
179
191
Totais
Totais
0
1
1
1
1
1
4
14
146

Nota: Nas colunas dos operadores, 1 representa a classificao da pea como

defeituosa.
Foram encontradas 14 discrepncias de repetitividade, quando o mximo
seria 36 (3 operadores x 12 peas = 36). Assim, o percentual de
discrepncias de repetitividade estimado como:
Repetitividade % = 14 / 36 = 39%
Ao mesmo tempo, as discrepncias de reprodutibilidade, avaliadas como
a amplitude entre as contagens de defeituosos feitas por cada operador
sobre cada pea, alcanaram o valor de 7. O mximo possvel seria 24
(12 peas x nmero de ciclos que geram o nmero de discrepncia nas
observaes = 24)
Reprodutibilidade % = 7 / 24 = 29%
De forma geral, se os erros de repetitividade ou de reprodutibilidade no
ultrapassarem a 20%, o sistema aceito. Neste exemplo, tanto a
repetitividade como a reprodutibilidade ultrapassarem 20%; portanto, o
sistema de medio precisa ser melhorado nesses dois aspectos.
A anlise das discrepncias nos julgamentos ir revelar se h problemas
no sistema de medio. Os problemas mais comuns em sistemas de
medio de atributos so os seguintes:
A definio de no-conformidade e no-conforme deficiente, deixando
margem para dvidas.
Os operadores no esto suficientemente treinados a respeito da
definio.
H diferenas entre os gabaritos usados por diferentes operadores.
Exerccio 78
Os dados a seguir foram obtidos junto inspeo final na montagem de

caixas de alto-falantes. Avalie esse sistema de medio quanto a
repetitividade e quanto a reprodutibilidade. O sistema satisfatrio ?
Operador 1
Operador 2
Ciclos
21
23
30
37
44
61
63
71
88
94
Pea

147
EXERCCIOS
Exerccio 79
Os dados a seguir se referem a medies da potncia do feixe de laser de

um aparelho de CD. As especificaes para essa caracterstica so 0,45
+/- 0,15 mW. Analise esses dados usando o mtodo da mdia e
amplitude. Calcule todas as parcelas de variao e conclua a respeito da
adequao do sistema de medio.
Operador 1
Ciclos
Operador 2
Operador 3
1a
2a
1a
2a
1a
2a
0,60
0,58
0,54
0,58
0,59
0,60
0,40
0,40
0,39
0,36
0,41
0,38
0,41
0,44
0,39
0,38
0,44
0,42
0,62
0,62
0,54
0,58
0,60
0,56
0,40
0,45
0,43
0,41
0,40
0,41
0,46
0,50
0,41
0,44
0,49
0,42
0,42
0,42
0,34
0,35
0,37
0,43
0,45
0,48
0,38
0,39
0,48
0,45
Aparelho
Exerccio 80
Refaa o exerccio 79 usando o mtodo da ANOVA.
Exerccio 81
Os dados a seguir representam medies da dimenso de uma pea

cilndrica, com especificaes 90 +/- 10. Analise esses dados usando o
mtodo da mdia e amplitude. Calcule todas as parcelas de variao
(inclusive variao prpria da pea) e conclua a respeito da adequao
do sistema de medio.
Operador 1
Ciclo
Pea
1
Operador 2
1a
2a
3a
1a
2a
3a
max
97,5
95,4
97,7
95,9
95,4
96,4
min
96,2
95,3
95,2
94,6
94,5
96,3
max
87,5
87,5
88,7
86,8
86,5
87,4
min
87,1
86,4
86,0
85,3
84,4
85,8
max
88,6
89,9
90,2
86,8
88,3
86,4
min
87,0
88,1
87,3
86,0
87,4
85,2
max
93,6
92,9
93,9
92,6
93,8
93,2
min
92,5
92,2
91,9
92,1
90,2
93,1
max
87,2
85,8
87,3
85,7
85,6
85,3
min
85,9
85,4
84,8
84,9
84,4
84,5
max
94,0
94,4
93,1
93,7
91,2
94,0
min
93,2
92,0
92,5
91,4
90,0
89,9
max
95,7
95,2
96,0
94,2
93,8
96,0
148

min
94,6
94,0
94,5
93,7
93,5
91,6
max
90,6
89,8
90,6
89,3
91,4
90,1
min
89,5
89,4
90,4
89,1
89,2
90,0
max
94,0
95,4
95,0
92,6
92,8
92,6
min
93,0
92,5
92,3
91,6
92,1
91,6
Exerccio 82
Refaa o exerccio 81 usando o mtodo da ANOVA (considere que as

interaes no so significativas).
Exerccio 83
Os dados a seguir foram obtidos junto um posto de inspeo localizado

em uma fbrica de enlatados. Avalie esse sistema de medio quanto a
repetitividade e quanto a reprodutibilidade. O sistema satisfatrio ?
Operador 1
Avaliao
Operador 2
23
48
102
155
207
315
345
347
389
434
442
491
634
689
802
855
901
Pea
(na coluna dos operadores, 1 representa a classificao da pea como

defeituosa).
Seis Sigma
Carla ten Caten
INTRODUO
Cada dia mais as empresas procuram oferecer produtos de alta

qualidade. A excelncia em qualidade o motivo do sucesso de
inmeras empresas: (i) Uma empresa operando livre de erros e dentro do
cronograma. (ii) Uma carta que leva apenas um dia para chegar de um
ponto a outro. (iii) Uma companhia de seguros que paga o sinistro em
apenas alguns dias. (iv) Um aeroporto que nunca perde uma bagagem.
Para atingir a excelncia exigida pelo mercado atual, necessrio que as
empresas definam os padres de qualidade a serem alcanados e
sustentados. Esta uma necessidade imediata pois reduz: (i) Defeitos.
(ii) Retrabalho. (iii) Reclamaes. (iv) Tempo de operao. (v) Custos.
A competitividade faz com que as empresas reduzam custos e
mantenham ou ampliem os nveis de qualidade. Uma empresa altamente
competitiva: (i) Garante sua permanncia no mercado. (ii) Mantm seus
clientes satisfeitos. (iii) Conquista novos clientes. (iv) Aumenta os lucros
empresariais.
O Avano tecnolgico e a variedade dos produtos aumentou nas ultimas
dcadas. Com matrias primas e componentes complexos aumenta-se
tambm a chance de falhas. Para reduo da chance de falhas, a
Motorola na dcada de 80 desenvolveu o programa Seis Sigma para
soluo de problemas de qualidade.
Inicialmente, o objetivo principal era a reduo da variabilidade nas
caractersticas crticas do produto levando a chance de falha
praticamente zero. Contudo, o programa seis sigma transcendeu a
reduo da variabilidade, tornando-se uma filosofia de soluo de
problemas calcada no ciclo PDCA e no emprego de ferramentas de
qualidade e tcnicas estatsticas.
Razes podem ser apontadas para o sucesso: a) Mensurao (monetria)
dos benefcios; b) Mtodo DMAIC; c) Comprometimento da alta
direo; d) Treinamento seguido de aplicao; e) Emprego de tcnicas e
ferramentas; f) Foco no cliente e foco financeiro.
Um programa Seis Sigma formado por vrios projetos Seis Sigmas. As
tcnicas e ferramentas utilizadas no Seis Sigma permitem: (i) Entender o
problema. (ii) Estudar suas causas. (iii) Analisar alternativas. (iv)
Implantar solues que iro reduzir os defeitos ao padro de poucas
ocorrncias por milho. (v) Manter as melhorias implantadas.
Os resultados do Seis Sigma esto fundamentados em alguns conceitos
bsicos, incorporados na metodologia, como: (i) Envolvimento de todos
150
6. Seis Sigma
os nveis gerenciais. (ii) Consistncia do mtodo de trabalho. (iii) Uso do

raciocnio estatstico. (iv) nfase na aprendizagem e capacitao. (v)
Foco no cliente. (vi) Foco no impacto financeiro dos projetos propostos.
A MOTOROLA E O SEIS
SIGMA
Nos anos 70 o mercado norte-americano sofreu a competitividade de
empresas japonesas. Com veculos mais econmicos, maior durabilidade
e confiabilidade eles conquistaram os consumidores. Assim, o perfil dos
consumidores mudou e as empresas passam a buscar meios de
sobreviverem neste cenrio.
Ainda nos anos 70 uma empresa japonesa assumiu o controle da
Motorola, fazendo mudanas drsticas na maneira de operar a fbrica
que resultaram na reduo de defeitos. No foram feitas modificaes no
maquinrio, na equipe ou na tecnologia empregada, os resultados foram
obtidos apenas mudando o modo de operar da empresa. O que deixa
evidenciado que as falhas na produo de componentes eletrnicos
decorriam do modo de operar da gesto anterior.
Nos anos 80, por quase uma dcada a Motorola buscou meios para se
tornar competitiva. Em 1981 CEO (Chief Executive Officer), Bob
Galvin, desafiou seus executivos a melhorar sua performance dez vezes
em cinco anos. Em 1985 Bill Smith lanou estudo demonstrando que um
produto sem defeitos no processo dificilmente falha nas mos do cliente.
Em 15 de janeiro de 1987, foi lanado um programa chamado Seis
Sigma em toda organizao Motorola.
Bob Galvin se props a fazer o trabalho da maneira mais perfeita,
atentando para cada detalhe e com foco na necessidade do cliente. O
programa corporativo estabeleceu o Seis Sigma como nvel de
capacidade exigido para se aproximar do padro de zero defeito, ou seja,
a busca da perfeio.
O padro de zero defeito foi desenvolvido em todas as reas: produtos,
processos, servios e administrao. Em 1988 o Prmio Nacional de
Qualidade Malcolm Baldrige torna popular o sucesso da Motorola.
Figura 81- A evoluo do Seis

Sigma no tempo

6. Seis Sigma
EMPRESAS QUE
ADOTARAM O SEIS
SIGMA
151
Algumas empresas que adotaram o Seis Sigma: Allied Signal (Motores e

Automao), GE, ABB, Sony, Microsoft, Ford, LG, Dow Chemical, Seagate
(Discos Rgidos), Kodak, Navistar (Caminhes e Motores), GenCorp (leos
e Combustveis), Dupont e Samsung.
A MEDIDA SEIS SIGMA O nome Seis Sigma inspirado em um parmetro estatstico que representa a
variabilidade. Variabilidade = defeitos. Muitos processos quando esto
sendo avaliados, apresentam o comportamento de uma curva em forma de
sino, chamada por curva Normal ou curva de Gauss.
Figura 82- A medida Seis

Sigma
O nome Seis Sigma inspirado no desvio-padro da populao que

representa a variabilidade de uma distribuio normal. Possui: medidas
prximas da mdia, menor variabilidade no processo, menor desvio padro
(sigma) e meta de atingir a quase perfeio.
Figura 83- Efeito do Seis

Sigma : Diminuio da
variabilidade
152
6. Seis Sigma
Figura 84- Nmero de

peas com defeitos
diminuido
A medida Seis Sigma admite que existiro variaes na mdia (p.ex., mdia
desloca em 1,5). Mas mesmo assim o ppm continuar muito baixo.
Figura 85- Variaes na

mdia
Os processos costumam ser gerenciados de modo a manter todos os valores o

mais prximo possvel do alvo. Isso implica esforos contnuos no sentido de
centrar a mdia e reduzir a variabilidade. Existem ainda limites de
especificao dentro dos quais o processo deve operar. Quanto menor a
variabilidade (sigma) observada, maior ser o nmero de desvios-padres
(sigmas) que caber entre os limites de especificao.
Quando afirma-se que um processo tem qualidade Seis Sigma, na verdade
diz-se que se tem aproximadamente doze sigmas entre os limites de
especificao. Nesse caso, se o processo for mantido aproximadamente
centrado, o resultado ser algo muito prximo do zero defeito, ou seja, a
busca pela perfeio. Considerando-se que uma das premissas do programa
Seis Sigma que todos dentro de uma organizao tm que buscar a
perfeio naquilo que fazem, justifica-se a designao Seis Sigma.
Historicamente as organizaes justificam seu desempenho em termos de
mdias. comum ouvir expresses como: custo mdio, tempo de ciclo
mdio, tempo mdio de entrega, etc. A utilizao de mdias pode impedir
que sejam visualizados problemas, s vezes, de grande relevncia. Isso
porque a variabilidade pode ser o grande responsvel pela gerao de
resultados fora dos limites de especificao, ou seja, gerao de problemas.
Consideremos que nosso cliente dependa da expedio de notas fiscais num
prazo mximo de 6 horas. Poderamos considerar que estamos realizando
bem nosso trabalho de expedio de notas, se observarmos que estamos com
um desempenho mdio de 4 horas para entrega do nosso produto (notas
fiscais) ao cliente. Essa concluso pode ser equivocada caso o processo de
entrega apresente uma variabilidade excessiva. Podemos estar entregando

6. Seis Sigma
153
15% da notas fiscais num tempo maior que 6 horas e no estarmos

enxergando isso, em funo de olharmos apenas o desempenho mdio. Isto
significa que nosso cliente continuar insatisfeito com nossos servios,
mesmo que divulguemos nosso desempenho mdio como sendo bom.
A utilizao da variabilidade como um indicador do desempenho do processo
pode ser muito til. Para a gerncia mais fcil entender o desempenho
olhando para a variabilidade, e no apenas para a mdia.
A metodologia Seis Sigma tem uma relao muito forte com o
desenvolvimento de atividades objetivando a reduo da variabilidade nos
processos. A forma com que a variabilidade abordada pelo Seis Sigma um
de seus diferenciais em relao a outros programas de qualidade. No Seis
Sigma a variabilidade medida em funo do nmero de defeitos, e defeito
qualquer instncia ou evento onde o produto ou processo falham em
satisfazer um requisito do cliente.
Atravs do levantamento do nmero de defeitos possvel chegar ao
rendimento de um processo e, ainda, determinar por meio do uso de tabela
especfica o nvel sigma do mesmo. Mais do que um sistema estatstico, o
Seis Sigma acaba tornando-se um sistema matemtico, j que os
procedimentos para determinao do nvel sigma so focados em defeito.
Assim cada indivduo ganha o entendimento da importncia da reduo dos
defeitos em seu processo, e a influncia desta reduo na satisfao total do
seu cliente.
Figura 86- Comparao

entre os nveis da
qualidade
Figura 87- Comparao

entre Trs Sigma X Seis
Sigma
154
6. Seis Sigma
OS AGENTES DO SEIS Para implementar e desenvolver projetos Seis Sigma, necessrio formar
especialistas. A formao de especialistas representa um investimento que
SIGMA
pode fornecer grandes retornos financeiros.
A Kodak, que comeou a implementar o Seis Sigma em 1995, e teve o

sistema operando efetivamente em 1998, espera que cada funcionrio
qualificado apresente projetos que rendam cerca de 200 mil dlares por ano.
Os funcionrios qualificados so os agentes do Seis Sigma e recebem os
nomes de:
Figura 88- Agentes do Seis

Sigma
(i)Leadership: So os CEOs (Diretores), que so os responsveis pelo

desempenho das organizaes. Como o Seis Sigma deve ser
aplicado de cima para baixo, dos CEOs que parte a iniciativa
de implantar a Qualidade Seis Sigma.
(ii)Champions: So pessoas altamente capacitadas que entendem da
Qualidade Seis Sigma, e so responsveis pelo seu sucesso. So
os Vice-presidentes Executivos.
(iii)Master Black Belts: Normalmente so encontrados em empresas que
realizam mais de um projeto (simultaneamente). So os lderes
tcnicos do Seis Sigma. Devem ser treinados nos conceitos
estatsticos a fim de entender a teoria matemtica e no
propagarem erros aos Black Belts e aos Green Belts. Auxiliam os
Black Belts a aplicar os mtodos corretamente em situaes
incomuns e devem possuir boa capacidade de comunicao e
habilidades pedaggicas desenvolvidas.
(iv)Black Belts: So tecnicamente treinados para atingir metas e devem
estar ativamente envolvidos no processo de mudana
organizacional. Devem dominar as tcnicas e ferramentas
estatsticas. Perfil esperado: entusiasta, dinmico, persistente,
criativo, motivado para alcanar resultados, com iniciativa, com
habilidade de bom relacionamento e de trabalhar em equipe,

6. Seis Sigma
155
organizado, interessado em estatstica, com conhecimento na sua

rea de atuao e na rea de informtica.
(v)Green Belts: So lderes capazes de entender o funcionamento do
programa, porm sem a responsabilidade de aplicar e conhecer as
ferramentas estatsticas e organizacionais envolvidas no
processo.
Figura 89- Agentes do Seis

Sigma
Para implementao dos Projetos Seis Sigma so formados times,

preferencialmente por Green Belts. Estes times so liderados por pessoas
especializadas, os Black Belts.
Os Black Belts com maior experincia podero apoiar outros times em
projetos futuros. Eles obtero o ttulo de Master Black Belts e dedicaro
maior tempo ao Programa Seis Sigma.
Na organizao deve existir um Champion que deve dar apoio aos times
buscando recursos para que os projetos sejam implantados com sucesso. Mas
ele tambm dever exigir que os times apresentem resultados peridicos
sobre seu trabalho, apresentando esses ao CEO.
O CEO (Cheef Executive Office) desempenha um papel crucial num
programa Seis Sigma. Ele deve estar francamente envolvido com o programa
e pr-ativamente apoiando os projetos.
A conduo dos projetos Seis Sigma feita apoiada no mtodo DMAIC.
Essa sigla origina-se dos termos em ingls: Define (Definir); Measure
(Medir); Analise (Analisar); Improve (Melhorar) e Control (Controlar).
(i)Fase Definir Define de forma precisa o escopo do projeto.
(ii)Fase Medir Determina a localizao ou foco do problema.
(iii) Fase Analisar Estuda e determina as causas do problema prioritrio.
(iv) Fase Melhorar Prope, avalia e implanta solues para cada problema
prioritrio.
(v) Fase Controlar Garante a manuteno dos resultados.
156
6. Seis Sigma
ETAPA DEFINIR
A primeira etapa, Definir, contempla o entendimento do problema e a

definio do projeto, dos objetivos e das metas a serem alcanadas. Pode-se
usar a funo de perda de Taguchi para estimar os ganhos obtidos com a
reduo dos custos da m qualidade resultante do projeto.
Ao final dessa etapa, todos devem estar esclarecidos a respeito do estudo que
ser feito e das melhorias que devem ser alcanadas. Perguntaram a Albert
Einstein o que ele faria se tivesse 1 hora para salvar o mundo. Ele respondeu:
Gastaria 55 minutos para definir corretamente o problema e 5 minutos para
resolv-lo.
Exemplos de Metas e Indicadores:
Objetivo: Reduzir as perdas de produo da linha da fbrica I
Meta: Reduo em 50% at maio de 2009
Indicadores: (i)Perdas de faturamento de produtos no entregues
(margem mdia: R$ por tonelada); (ii)Gastos com horas extras
(R$/hora; nmero de horas).
Ferramentas: (i)Brainstorming - Mximo de idias; Inibe pensamento crtico;
Incentiva criatividade. (ii) Diagrama Causa e Efeito (Espinha de Peixe); (iii)
Carta do Projeto - Espcie de contrato; Metas e parmetros do projeto.
Figura 90 - Diagrama de
Causa e Efeito
ETAPA MEDIR
Terminada a etapa Definir, o projeto a ser desenvolvido e os objetivos a
serem alcanados esto claros para a equipe. A inclinao natural seria
iniciar as aes. Contudo, a sistemtica Seis Sigma prev duas etapas

6. Seis Sigma
157
antes das aes propriamente ditas: Medir e Analisar. Essas etapas so

fundamentais para assegurar que as aes a serem realizadas sero
efetivas na busca dos objetivos traados.
A segunda etapa, Medir, envolve a coleta de dados referentes a todos os
aspectos do problema. Os dados so coletados de forma estratificada e
permitiro subsidiar as anlises subsequentes. Geralmente usa-se os
grficos de Pareto estratificados por defeito, dia da semana, tipo de
produto para identificar e focar a soluo dos poucos defeitos vitais.
H uma citao famosa, atribuda a Lord Kelvin, que ajuda a entender a
importncia da etapa Medir:
Se voc medir aquilo de que esta falando e o expressar em nmeros,
voc conhece alguma coisa sobre o assunto, mas, quando voc no o
pode exprimir em nmeros, seu conhecimento pobre e insatisfatrio;
pode ser o incio do conhecimento, mas dificilmente seu esprito ter
progredido at o estgio da Cincia, qualquer que seja o assunto".
Ferramentas
Mapa do Processo
Figura 91
- Mapa do Processo
Folha de Verificao
Figura 92 - Folha de
Verificao
Objetivo: Documentar conhecimento existente; Descreve: limites,

tarefas, parmetros do produto/processo.
6. Seis Sigma
158
Grfico de Pareto
Figura 93 - Grfico de Pareto
Ferramenta que permite a realizao de priorizaes e rastreamento de

possibilidades de falha. Refinamento e priorizao das variveis crticas.
FMEA
Figura 94 - FMEA
Objetivo: definir o principal processo envolvido no projeto.
SIPOC
Figura 95 - SIPOC
Anlise de Sistemas de
Medio (ASM)
Objetivo: Identificar grau de confiabilidade e auxiliar na proposio de

melhorias.

6. Seis Sigma
159
Figura 96 - ASM
ETAPA ANALISAR
A terceira etapa, Analisar, contempla a anlise dos dados. Nessa etapa

so feitos estudos aprofundados, entendendo-se as relaes entre as
variveis e identificando-se as causas razes do problema em estudo
atravs de projeto de experimentos. Esses dados devem ser convertidos
em informaes que sustentem o plano de ao. Em geral isso envolve
identificar e analisar as alternativas de controle e melhoria.
A etapa Analisar do DMAIC possivelmente a mais importante na
implantao de um projeto Seis Sigma. Frequentemente as equipes
experimentam problemas nesta etapa: (i)Ocorre abordagem superficial.
(ii)Ocorre aprofundamento em demasia e atraso do projeto.
A experincia do Black Belt importante pois, orienta a equipe a
respeito das tcnicas e ferramentas apropriadas, bem como sobre o nvel
de detalhamento que deve ser adotado nos estudos.
Ferramentas: (i)Teste de Hipteses: Teste t, Teste z, Teste F, Quiquadrado; (ii)Correlao Linear: Coeficiente de Correlao;
(iii)Regresso: Simples e Mltipla; (iv)ANOVA: Anova One-way,
Comparaes mltiplas; (v)Projeto de Experimentos: Fatorial 2k,
Bloqueamento
ETAPA MELHORAR
A quarta etapa, Melhorar, prev a elaborao de um plano de ao e a

implantao das aes. O trabalho realizado durante a etapa Analisar
oferea as informaes necessrias e justificveis para a elaborao de
160
6. Seis Sigma
um plano de ao eficiente nesta etapa do projeto. nessa etapa que

ocorrem as mudanas no processo, produto ou servio para aperfeioar
os processos e obter resultados, usualmente atravs da remoo das
causas razes e de mudanas no processo e produto.
Algumas aes mais simples j puderam ser tomadas no decorrer do
desenvolvimento do projeto. As principais aes surgem aps a etapa
Analisar. A anlise contribui para assegurar a efetividade das aes
empreendidas, mas as aes propriamente ditas so realizadas na etapa
Melhorar.
Um bom plano de ao deve estar alicerado no cumprimento de prazos
e na atribuio de responsabilidades. O 5W2H pode ser uma ferramenta
til neste sentido, pois define : (i)Os responsveis em realizar cada ao;
(ii)Porque a ao deve ser feita; (iii)Datas limites para a concluso das
aes planejadas; (iv)Como a ao deve ser feita; (v)Custos de
implantao.
Plano de Ao (5W2H)
Ajuda a organizar estratgia de ao (Mudanas nos processos e

procedimentos, que iro conduzir qualidade Seis Sigma).
Figura 97 - 5W2H
Matriz de priorizao
Estabelece uma ordem de priorizao das possveis solues por meio de

critrios de pesos pr-definidos.
Figura 98 - Mapa de
priorizao
ETAPA CONTROLAR
A quinta e ltima etapa, Controlar, prev a difuso e padronizao de

procedimentos, de forma que eles sejam integrados as rotinas
operacionais, assegurando a manuteno dos ganhos obtidos na etapa
anterior. Pode ser utilizada a ferramenta de Controle Estatstico de
Processo.

6. Seis Sigma
161
A importncia dada etapa Controlar pode ser considerado um

diferencial do Seis Sigma em relao a outras metodologias. Isso porque
parte da aprendizagem do Seis Sigma a compreenso de que a etapa
Controlar to essencial ao projeto quanto s demais etapas do DMAIC.
A equipe deve estar preocupada em buscar meios para assegurar que os
investimentos e melhorias no sejam perdidos pela falta de manuteno.
Ferramentas: (i)Controle Estatstico do Processo: Cartas de variveis:
Xbar e R; Carta Xbar e S; Carta X e MR; Cartas de atributos: p, np, c e
u; (ii)Processos a prova de erros: Dispositivos Poka-yoke.
importante manter os ganhos obtidos atravs da padronizao: Mais
importante que a mudana em documentos e desenhos, a mudana das
pessoas. O projeto apenas deve ser encerrado quando todos os
envolvidos estiverem cientes dos novos padres de operao e
capacitados para atuarem de acordo.
O MTODO DMAIC E O
PDCA
DMAIC - Maior nfase ao planejamento; Interposio entre Analisar e

Medir (DMAIC) e, Observar e Analisar (PDCA); DMAIC - Maior
nfase no atendimento s CTQs.
As vantagens da ANOVA so que ela pode lidar com qualquer arranjo
experimental, permite uma estimativa mais precisa das varincias e
Figura 99 - PDCA X DMAIC permite extrair mais informao.
Os dados devem ser coletados de maneira aleatria, obtendo-se uma
planilha -similar
da mdia
e amplitude.
DMAIC
Maior quela
nfase do
ao mtodo
planejamento;
Interposio
entre Analisar e
Medir (DMAIC) e, Observar e Analisar (PDCA); DMAIC - Maior
Ento,no
parte-se
para o clculo
das Somas Quadradas, usando-se o
nfase
atendimento
s CTQs.
seguinte formulrio (onde n = No de peas, k = No de operadores, r =
No de ciclos):
CARACTERSTICAS DO
SEIS SIGMA
(i)Envolvimento de todos os nveis gerenciais: A iniciativa de implantar

qualidade Seis Sigma parte do presidente da empresa (CEO). A escolha
dos projetos feita por Champions, comumente pessoas que pertencem
ao quadro da alta direo. Desta forma os projetos tm o apoio efetivo da
alta gerncia, o que aumenta a chance de sucesso. A conduo do projeto
e a implantao das aes contam com equipes formadas por
colaboradores de todos os nveis hierrquicos, o que facilita a
implantao das aes, reduzindo a chance de resistncia s mudanas.
(ii)Consistncia do mtodo de trabalho: Depois da definio do
problema, comumente, as empresas tendem a pular para a fase de aes
de melhorias. O Seis Sigma apia-se no mtodo DMAIC (Definir,
Medir, Analisar, Melhorar e Controlar) para conduzir o processo de
mudana.
162
6. Seis Sigma
O DMAIC contempla duas fases antes das aes propriamente ditas:

Medir e Analisar. Essas fases so conduzidas em profundidade, com o
apoio de ferramentas estatsticas. O resultado um conjunto de aes
muito mais consistentes, dirigidas s causas razes do problema.
Aps as aes, o DMAIC cobra mais uma etapa: Controlar, que implica
assegurar que os ganhos obtidos sero preservados, enfatizando solues
que conduzam a melhorias de carter permanente.
(iii)Uso do raciocnio estatstico: Conduz ao profundo entendimento do
problema e das relaes entre as variveis envolvidas. Utilizar o
raciocnio estatstico implica em: a)Entender que existe variabilidade;
b)Medir a variabilidade presente nos processos; c)Atuar
sistematicamente no sentido de reduzir a variabilidade, avanando em
direo meta de zero defeitos. O conhecimento adquirido atravs das
anlises estatsticas a base de aes eficientes e eficazes.
(iv)nfase na aprendizagem e capacitao: O uso do mtodo DMAIC, do
raciocnio estatstico e de tcnicas de engenharia exige equipes
capacitadas. Todos os componentes da equipe devem ser treinados antes
de iniciarem a participao nos projetos Seis Sigma. O treinamento deixa
os participantes preparados para atuarem melhor tanto no mbito dos
projetos Seis Sigma como em todas as suas tarefas dirias, representando
um importante ganho para a empresa.
(v)Foco no cliente: A definio do problema e a escolha dos projetos
devem ser feitas considerando as necessidades do cliente. Isso assegura
que os estudos e as mudanas nos processos, produtos e servios traro
impacto no resultado dos negcios, na medida em que iro promover
melhorias em aspectos relevantes para o cliente.
(vi)Foco no impacto financeiro: Nas etapas iniciais do projeto, o
DMAIC exige a avaliao do impacto financeiro. Essa avaliao auxilia
na: a)Escolha adequada do projeto - geralmente so escolhidos projetos
que possuem um impacto financeiro significativo; b)Aumento do
interesse e apoio da alta gerncia pois os retornos financeiros so
grandes; c)Quantificao do impacto financeiro - motiva e mobiliza a
equipe no esforo de atingir as metas propostas.
PROGRAMA DE
TREINAMENTO
Os projetos Seis Sigma exigem levantamento de dados, estudos e

anlises estatsticas, alm da elaborao e implantao de planos de
ao. Essas exigncias requerem equipes capacitadas, que conheam
mtodos e tcnicas de engenharia e estatstica.
Usualmente, o programa de treinamento ir envolver os tpicos a seguir:
(i)Introduo ao Seis Sigma; (ii)O Mtodo DMAIC utilizado no Seis
Sigma; (iii)Ferramentas da Qualidade; (iv)Estatstica Aplicada;
(v)Regresso e correlao; (vi)Controle Estatstico de Processo;
(vii)Anlise de Sistemas de Medio; (viii)FMEA Failure Mode Effect
Analysis; (ix)QFD Quality Function Deployment; (x)Projeto de
Experimentos.
Cada empresa escolhe os tpicos e a profundidade de abordagem

6. Seis Sigma
163
apropriada, dependendo da natureza de seu negcio.

Exemplos:
a)Numa empresa qumica, onde a otimizao de processos a principal
atividade, Projeto de Experimentos dever ser tratado de forma
aprofundada.
b)Numa empresa, do setor de servios, onde o desempenho e o risco das
diversas etapas do processo so a maior preocupao, o FMEA de
processo e o QFD iro receber a maior carga horria.
Pode ser necessria a incluso de outros tpicos, considerando
necessidades de projetos especficos.
Exemplos:
a)Os projetos em uma empresa podem envolver a simulao de etapas de
atendimento e prestao de servios. Nesse caso, algum treinamento de
Modelagem e Simulao ser necessrio.
b)Outras empresas podem experimentar problemas no armazenamento e
na gesto de estoques. Novamente, a capacitao dever incluir esses
tpicos.
164
6. Seis Sigma
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reas sob a curva normal

(Cauda da esquerda)
z
0,09
0,08
0,07
0,06
0,05
0,04
0,03
0,02
0,01
0,00
0,00
0,01
0,02
0,03
0,04
0,05
0,06
0,07
0,08
0,09
-3,9
-3,8
-3,7
-3,6
-3,5
-3,4
-3,3
-3,2
-3,1
-3,0
-2,9
-2,8
-2,7
-2,6
-2,5
-2,4
-2,3
-2,2
-2,1
-2,0
-1,9
-1,8
-1,7
-1,6
-1,5
-1,4
-1,3
-1,2
-1,1
-1,0
-0,9
-0,8
-0,7
-0,6
-0,5
-0,4
-0,3
-0,2
-0,1
0,0
0,0000
0,0001
0,0001
0,0001
0,0002
0,0002
0,0003
0,0005
0,0007
0,0010
0,0014
0,0019
0,0026
0,0036
0,0048
0,0064
0,0084
0,0110
0,0143
0,0183
0,0233
0,0294
0,0367
0,0455
0,0559
0,0681
0,0823
0,0985
0,1170
0,1379
0,1611
0,1867
0,2148
0,2451
0,2776
0,3121
0,3483
0,3859
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2,9
3,0
3,1
3,2
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3,5
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3,9
0,5000
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1,0000
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1,0000
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0,9999
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1,0000
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0,9931
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0,9971
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0,9996
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0,9998
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0,9999
0,9999
1,0000
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1,0000
0,5359
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0,7549
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0,9319
0,9441
0,9545
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0,9767
0,9817
0,9857
0,9890
0,9916
0,9936
0,9952
0,9964
0,9974
0,9981
0,9986
0,9990
0,9993
0,9995
0,9997
0,9998
0,9998
0,9999
0,9999
0,9999
1,0000
Distribuio de Student - cauda da direita

Pr (t > talfa) = alfa
GL
Nvel de significncia
- alfa
0,250
0,100
0,050
0,025
0,010
0,005
1
2
3
4
5
6
1,000
0,816
0,765
0,741
0,727
0,718
3,078
1,886
1,638
1,533
1,476
1,440
6,314
2,920
2,353
2,132
2,015
1,943
12,706
4,303
3,182
2,776
2,571
2,447
31,821
6,965
4,541
3,747
3,365
3,143
63,656
9,925
5,841
4,604
4,032
3,707
7
8
9
10
11
0,711
0,706
0,703
0,700
0,697
1,415
1,397
1,383
1,372
1,363
1,895
1,860
1,833
1,812
1,796
2,365
2,306
2,262
2,228
2,201
2,998
2,896
2,821
2,764
2,718
3,499
3,355
3,250
3,169
3,106
12
13
14
15
16
0,695
0,694
0,692
0,691
0,690
1,356
1,350
1,345
1,341
1,337
1,782
1,771
1,761
1,753
1,746
2,179
2,160
2,145
2,131
2,120
2,681
2,650
2,624
2,602
2,583
3,055
3,012
2,977
2,947
2,921
17
18
19
20
21
0,689
0,688
0,688
0,687
0,686
1,333
1,330
1,328
1,325
1,323
1,740
1,734
1,729
1,725
1,721
2,110
2,101
2,093
2,086
2,080
2,567
2,552
2,539
2,528
2,518
2,898
2,878
2,861
2,845
2,831
22
23
24
25
26
0,686
0,685
0,685
0,684
0,684
1,321
1,319
1,318
1,316
1,315
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1,714
1,711
1,708
1,706
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2,069
2,064
2,060
2,056
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2,500
2,492
2,485
2,479
2,819
2,807
2,797
2,787
2,779
27
28
29
inf
0,684
0,683
0,683
0,674
1,314
1,313
1,311
1,282
1,703
1,701
1,699
1,645
2,052
2,048
2,045
1,960
2,473
2,467
2,462
2,326
2,771
2,763
2,756
2,576
Distribuio do Qui Quadrado - cauda da direita

Pr (QQ > QQalfa) = alfa
GL
Nvelde
significncia - alfa
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2
3
4
5
6
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0,010
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0,020
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0,016
0,211
0,584
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11,345
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3,841
5,991
7,815
9,488
11,070
12,592
5,024
7,378
9,348
11,143
12,832
14,449
6,635
9,210
11,345
13,277
15,086
16,812
7,879
10,597
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7
8
9
10
11
0,989
1,344
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1,239
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16,013
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19,023
20,483
21,920
18,475
20,090
21,666
23,209
24,725
20,278
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12
13
14
15
16
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3,565
4,075
4,601
5,142
3,571
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4,660
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6,908
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26,217
27,688
29,141
30,578
32,000
28,300
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18
19
20
21
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10,851
11,591
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30,191
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33,409
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36,191
37,566
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35,718
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23
24
25
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9,542
10,196
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10,982
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14,041
14,848
15,659
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17,292
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44,314
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37,652
38,885
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38,076
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40,289
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42,980
44,314
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42,796
44,181
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27
28
29
30
11,808
12,461
13,121
13,787
12,878
13,565
14,256
14,953
14,573
15,308
16,047
16,791
16,151
16,928
17,708
18,493
18,114
18,939
19,768
20,599
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48,278
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41,337
42,557
43,773
43,195
44,461
45,722
46,979
46,963
48,278
49,588
50,892
49,645
50,994
52,335
53,672
Distribuio F - cauda da direita

Pr (F > Falfa(n1,n2)) = alfa
Nvel de significncia - alfa = 0,05
n1 1
161,4
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5,99
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6,94
5,79
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215,7
19,16
9,28
6,59
5,41
4,76
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19,25
9,12
6,39
5,19
4,53
230,2
19,30
9,01
6,26
5,05
4,39
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19,33
8,94
6,16
4,95
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236,8
19,35
8,89
6,09
4,88
4,21
238,9
19,37
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4,15
7
8
9
10
11
5,59
5,32
5,12
4,96
4,84
4,74
4,46
4,26
4,10
3,98
4,35
4,07
3,86
3,71
3,59
4,12
3,84
3,63
3,48
3,36
3,97
3,69
3,48
3,33
3,20
3,87
3,58
3,37
3,22
3,09
3,79
3,50
3,29
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3,01
12
13
14
15
16
4,75
4,67
4,60
4,54
4,49
3,89
3,81
3,74
3,68
3,63
3,49
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3,34
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3,01
3,11
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3,00
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3,52
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3,47
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3,07
2,96
2,93
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2,81
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2,98
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40
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4,18
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n2
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3
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n1
n2
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4,40
3,70
254,1
19,49
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3,73
3,44
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2,95
3,68
3,39
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10
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3,01
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2,76
2,71
2,66
2,85
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2,64
2,59
2,80
2,71
2,65
2,59
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12
13
14
15
16
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2,67
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2,54
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2,69
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2,38
2,31
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2,19
2,43
2,34
2,27
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2,15
2,38
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2,34
2,25
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2,11
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2,31
2,22
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2,08
2,02
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2,66
2,63
2,60
2,57
2,61
2,58
2,54
2,51
2,49
2,55
2,51
2,48
2,45
2,42
2,49
2,46
2,42
2,39
2,37
17
18
19
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21
2,45
2,41
2,38
2,35
2,32
2,38
2,34
2,31
2,28
2,25
2,31
2,27
2,23
2,20
2,18
2,23
2,19
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1,74
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1,73
1,71
1,70
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2,25
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2,98
2,80
2,93
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2,87
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2,73
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2,20
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2,35
2,33
2,30
2,11
2,29
2,26
2,23
2,21
2,02
2,20
2,17
2,14
2,11
1,92
2,12
2,09
2,06
2,03
1,83
2,72
2,64
2,59
2,44
60
80
100
500
2,63
2,55
2,50
2,36
2,50
2,42
2,37
2,22
2,35
2,27
2,22
2,07
2,20
2,12
2,07
1,92
2,03
1,94
1,89
1,74
1,94
1,85
1,80
1,63
1,84
1,75
1,69
1,52
1,73
1,63
1,57
1,38
1,63
1,53
1,47
1,23
6022
99,39
27,34
14,66
10,16
7,98
n2
1
2
3
4
5
6
6056
99,40
27,23
14,55
10,05
7,87
6107
99,42
27,05
14,37
9,89
7,72
6157
99,43
26,87
14,20
9,72
7,56
6,84
6,03
5,47
5,06
4,74
6,72
5,91
5,35
4,94
4,63
7
8
9
10
11
6,62
5,81
5,26
4,85
4,54
6,47
5,67
5,11
4,71
4,40
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4,03
4,50
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4,00
3,89
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4,03
3,89
3,78
12
13
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15
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4,30
4,10
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