CONTROLE ESTATSTICO DE

PROCESSOS - CEP
Profa. Ghislaine Miranda
Bonduelle
UFPR/DETF

CEP
Pode ser definido como um mtodo
preventivo de se comparar continuamente
os resultados de um processo com um
padro, identificando, a partir de dados
estatsticos, as tendncias para variaes
significativas, eliminando ou controlando
estas variaes com o objetivo de reduzilas cada vez mais.

CEP
o conjunto de tcnicas utilizadas para o
controle da qualidade do produto durante
cada etapa de fabricao.

FERRAMENTAS

Histogramas
Diagramas
Curva de Distribuio Normal
Cartas de Controle
Capacidade do Processo
Grfico de Pareto
Diagrama de Causa-Efeito/Ishikawa

VARIAES NO PROCESSO
Comuns ou aleatrias
Intrinsecas ao processo

Variaes aleatrias:
intrsecas ao processo

VARIAES NO PROCESSO
Causais : podemos interferir

CEP

HISTOGRAMAS
um tipo de grfico de barras que apresenta
de forma clara a distribuio de um grupo de
dados.
A altura ou o comprimento das barras em um
histograma correspondem ao numero de vezes
ou freqncia que um determinado dado ocorre.
Os histogramas so muito teis na
visualizao do padro de distribuio dos
valores observados. Eles mostram tanto o grau
de disperso quanto a localizao (tendncia
central) das amostras coletadas.

CONSTRUO

Colete os dados
Determine a Amplitude das Amostras
Coletadas

Amplitude = Maior Valor Menor Valor

Determine o Intervalo de Classe (h)

h = Amplitude
k

K = nmero de classes

HISTOGRAMAS
Estabelea os intervalos de classe e
classifique os dados coletados.
Determine as freqncias relativas e
construa o histograma.
Anote no grfico todas as informaes
disponveis (fornecedor, mdia, desvio
padro, especificaes, etc).

CARTAS DE CONTROLE
So grficos de anlise e ajuste da
variao de um processo em funo do
tempo, atravs de duas caractersticas
bsicas: sua centralizao e sua
disperso.
A Centralizao pode ser verificada
atravs da mdia do processo e a
Disperso estimada atravs do desviopadro ou da amplitude dos dados.

CARTAS DE CONTROLE
CARTAS DE CONTROLE POR
VARIVEIS
Baseadas nas distribuies contnuas
apresentam dados que podem ser
medidos ou que sofrem variaes
contnuas.
Exemplos: variaes na altura de um
talho, resistncia a trao.

CARTAS DE CONTROLE
CARTAS DE CONTROLE POR
ATRIBUTOS
Baseadas em distribuies discretas,
possuem um carter dicotmico , ou seja,
os dados s podem ser contados ou
classificados.
Exemplos|: passa/no passa; mole/duro;
conforme/no-conforme.

PRINCIPAIS TIPOS DE CARTAS DE

CONTROLE POR VARIVEIS

- carta de mdia e desvio-padro ( e s);

- carta de mdia e amplitude (e R)
Observa-se que a anlise deve ser feita
aos pares, observando a centralizao e a
disperso.

CARTA DE CONTROLE PARA

MDIAS E DESVIO PADRO
Estas cartas so construdas a partir de
dados do processo. Observa-se que o
desvio-padro um melhor indicador da
disperso do processo que a amplitude,
porm o seu clculo mais complexo.

CARTAS DE CONTROLECONSTRUO
1. Coleta de dados

k*n>100
K=nmero de amostras
N=tamanho das amostras

CARTAS DE CONTROLE Construo

2. Clculo das mdias das amostras (x)

Xi

x1 x2 x3 ... x n

n = nmero de itens da amostra-tamanho

da amostra
xi-n = valor individual do item i.

CARTAS DE CONTROLE
Construo
3. Clculo da mdia do processo (X)

x1 x 2 x 3 ... x k
X
k
k= nmero de amostras
= mdia das amostras i

CARTAS DE CONTROLEConstruo
4. Clculo do desvio-padro

(x

x)

n 1

xi-n = valor de cada item da amostra para

o qual se quer obter o desvio-padro.
= mdia da amostra em questo
n = tamanho da amostra

CARTAS DE CONTROLE Construo

. Clculo do desvio padro mdio do
processo

s1 s2 s3 ...sk
s
k

k= nmero de amostras
si = desvio-padro da mostra i.

 6. Clculo dos limites de controle (LSC e

LIC)
6.1. Para a mdia :
Limite Superior de Controle (LSC) = + A3 *
Limite Inferior de Controle (LIC) = A3 *
6.2. Para o desvio padro:
Limite Superior de Controle = B4 * Limite
Inferior de Controle (B3 *
S = desvio-padro mdio do processo
A3, B3 e B4 so fatores que dependem do
tamanho da amostra (Tabela