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MICROSCOPIA ÓTICA
1 INTRODUÇÃO
2 OS MICROSCÓPIOS ÓPTICOS
O tipo mais simples de microscópio é uma lente de aumento, que permite a observação
de estruturas com diversas vezes de aumento; é muito utilizado para a observação de grãos e
minérios, de superfícies de fratura de metais, de amostras de fibras têxteis, papel e outros
produtos da indústria química e metalúrgica. Os microscópios “compostos” já são
instrumentos mais poderosos, que permitem desde a observação com aumentos de algumas
dezenas de vezes até um máximo de 1500 a 2000 vezes, o limite da observação com luz
visível. O microscópio composto tem basicamente dois conjuntos de lentes, a ocular ( que
fica próximo ao olho do observador, ou do dispositivo fotográfico) e a objetiva ( que fica
perto do objeto a ser examinado). Unindo os dois conjuntos de lente fica um tubo ótico com
“comprimento ótico” padronizado , geralmente com 160 mm. Na prática os microscópios
modernos tem um grande número de outros elementos óticos incorporados ao caminho da
luz dentro do “tubo”, como filtros, analisadores, prismas, espelhos , lentes “Zoom”, etc. A
Figura 1 mostra o esquema de um microscópio moderno, indicando os diversos elementos.
Os primeiros microscópios desenvolvidos para Biologia e Petrografia usavam ( e usam ainda
nestes campos do conhecimento) uma iluminação por luz transmitida. Assim a luz gerada
por uma fonte (lâmpada + espelho parabólico, em geral) é “colimada” por lentes
Para a observação de metais, porém , este esquema não foi possível de ser utilizado. Os
elétrons da camada condutora dos metais interagem fortemente com os fótons, tornando
estas amostras pouquíssimo transparentes. Por este motivo foi desenvolvido um tipo de
microscópio em que a iluminação é por meio de luz refletida, seja iluminação oblíqua com
sistemas de iluminação independentes do microscópio ou, nos microscópios mais
sofisticados, através de um sistema de iluminação pelo próprio tubo e objetiva do
microscópio, usando engenhosos sistemas de espelhos, prismas e vidros semi-espelhados
que deixam passar a luz em uma direção e a refletem na outra. A Figura 2 mostra o esquema
de um microscópio de luz refletida.
LR = Kλ / 2NA
onde K é uma constante que pode chegar a 1,22 com o uso de um condensador adequado e λ
é o comprimento de onda da luz utilizada para iluminar a amostra. Quando uma lente está
focada em um dado plano do objeto, pontos que estão um pouco acima e um pouco abaixo
deste plano podem ainda ser vistos com um foco aceitável. Profundidade de foco então, é
outro conceito importante, que corresponde à distancia através da qual o plano da imagem
pode ser movido sem que a imagem perca a nitidez. Em outras palavras profundidade de
foco é a diferença entre a máxima e a mínima distância no objeto que podem ser observados
com determinada lente. Campo-de-visão de uma lente é uma outra grandeza importante, que
descreve o tamanho da área que é enxergada pela lente. Nos microscópios modernos as
lentes são projetadas para ter um campo-de-visão compatível com o ângulo de visão máximo
que o olho humano acomoda, que é de cerca de 50º.
As amostras ficam montadas sobre uma placa chamada de platina, sobre um porta-
amostra , também chamado de charriot. Geralmente o porta-amostra tem vários sistemas de
cremalheiras (coroa e pinhão) para movimentar a amostra; dois nas direções X e Y e muitas
vezes um outro para rodar a amostra (platina giratória) nos microscópios que utilizam
analisadores de luz polarizada. O conjunto do porta-amostra, platina e parte do sistema de
iluminação nos microscópios de luz transmitida, movimenta-se na direção Z paralela ao tubo
ótico, através de outros dois sistemas de cremalheiras, que correspondem ao foco grosso e ao
foco fino.
Uma outra técnica importante na microscopia de luz refletida é campo escuro, que
permite através da iluminação oblíqua (obtida colocando um obstáculo no centro do feixe de
luz) obter um contraste brilhante em regiões que apresentam uma pequena inclinação em
relação à superfície, como as “valetas” formadas nos contornos de grão pelo ataque
metalográfico.
Existem ainda técnicas baseadas na interferência da luz entre dois feixes, úteis para a
observação qualitativa ou quantitativa de pequenos relevos na superfície da amostra; as mais
importantes são o contraste de interferência, que usando múltiplos feixes provoca o
aparecimento de franjas de interferência que montam um mapa do relevo da amostra e o
contraste de interferência ou interferência Nomarski, que usa luz polarizada e uma objetiva
especial que tem um prima duplo de quartzo (prisma Wollaston) para produzir contraste de
cor e de luminosidade entre estruturas e também para revelar pequenos relevos, como os
produzidos por deformação plástica na superfície polida dos metais.
3 MICROSCOPIA QUANTITATIVA
Vários métodos tem sido utilizados para medir tamanho ou diâmetro de grãos em
amostras policristalinas. Na verdade as formas dos grãos são em geral irregulares, o que faz
com que a definição de diâmetro de grão seja arbitrária e dependente de hipóteses
simplificadoras sobre a geometria dos grãos. Felizmente é possível obter uma medida que
embora não seja exatamente o diâmetro, correlaciona-se muito bem com as propriedades dos
materiais. Este parâmetro, de muito maior generalidade e independente de qualquer hipótese,
é válido para qualquer estrutura granular que preencha o espaço, independentemente da
forma, do tamanho e da posição dos grãos. Este "diâmetro" é o comprimento de interseção
médio L3 obtido de medidas do número de intersecções L2 de uma linha teste de
comprimento conhecido com os contornos de grão, no plano de polimento. Para grande
número de medidas ao acaso a média dos valores da intercecção torna-se o valor real,
tridimensional L3.
L3 = 1/NL = LT/P*M
Figura 7: Contornos de grão e linha teste usada para contar número de intersecções L2
onde, n é o número de grãos por polegada quadrada com 100 X de aumento. Normalmente,
para se obter o tamanho de grão ASTM é necessário contar-se um mínimo de 50 grãos em
três áreas diferentes, e este valor deve ser convertido para número de grãos por polegadas
quadrada e para um aumento de 100 X.
Existe uma relação entre N, o tamanho de grão ASTM e o L3, o livre intercepto médio
dado em centimetros:
4 APLICAÇÕES
REFERÊNCIAS BIBLIOGRÁFICAS
Van der Voort, G. “Optical Microscopy”, verbete em “Metals Handbook Vol. 9, (th edition,
American Society for Metals, 1985. Pg 71, disponível na Biblioteca PMT-EPUSP
Padilha, A.F. e Ambrósio Filho F., “Técnicas de Caracterização em Ciência dos Materias”,
Editora Hemus , 1986. Disponível na Biblioteca PMT-EPUSP
Colpaert, H. “Metalografia dos Produtos Siderúrgicos Comuns”, Edgard Blucher, São Paulo,
2º ed. 1953. Disponível na Biblioteca PMT-EPUSP
Tschiptschin, A.P., Goldenstein, H., Sinatora, A. “Metalografia dos Aços”. ABM 1987.
Disponível na Biblioteca PMT-EPUSP
EXERCÍCIOS