Phased Array - Curso de Ultrassom

~ Q Trein~ mento Ultrassom Phased Array
CURSO DE ULTRASSOM
PHASED ARRA Y
'
.......
-
Diego Lucas da Silva Ludney Oliveira de Jesus
US-N2 US-N3
' Rua. Américo Menuno, 130-Vila Menu220 • CEP: 13.171-560-Sumare - SP

WWW.COTREINAMENTO.Cmt.BA
-""\
.n
C t\ tTéil, .~ A~ 1Tt1C.')':) '
~ • ..--, '\~, r ,
't>F,.-,. ,c...c::, <:nbllk O ~1'.::.,é:;I"'\., L <.t,.j ,..,C,,, 1 .._;,
~NU,f1::>'> ê>c-.S,~ uc:-, í~r«.i Q,~a.::.~:;> í\Q~, '

""J.)tT~Q.M,N'\<-J\-• "':.>CI ,(}l\\l~I'\ :!)!' -:3)[f'l!)'f~
"Dé T"' 62...M, .v"'.:.··""· ei,-:. ,p,,;, e::-. ::,r-., S) ~ r-\J , ,:::, (!,{ º ,< .sv t.: iz_,., <.. , ;
i!>..: T"~ (iM 1/\J \<;1~ ";r) Co M f .Z. i f', ,!,'J ~ -:">ç:) ~ ,<° 1.~ Íi"t:)
G'-~ (1.1)'-j- ~ lJ t.11.-ro~.:,
..:f.;.;-,9-:a,) M~-r.!O;\~~ ~.:.'Otu, ;J>iM{rH.1-::.N "'J)~F~n~

f\)':: 41.,(Y"l ~~ ._: (...O .l)\ (.;) 'I>
.._
.._.
......
(;O Trei~mento Ultrassom Phased Array
'
}
)
1. Conceitos Básicos da Tecnologia Phased Array
1.1 Introdução
Desde os anos 1940, as leis da física que governam a propagação de ondas

sonoras de alta frequência através de materiais sólidos têm sido utilizadas para
- detectar fendas, vazios, porosidade, e outras descontinuidades internas em metais,

compósitos, plásticos e cerâmicos, bem como medir a espessura e analisar as
- propriedades do material. Testes de ultrassom são completamente não destrutivas e

seguros, e é um método bem estabelecido em muitos processos na indústria de
base e indústrias de serviços, especialmente em aplicações que envolvam soldas e
metais estruturais.
Durante suas duas primeiras décadas, instrumentos ultrassônicos comerciais

confiaram-se inteiramente em transdutores com um único elemento usando um
cristal piezelétrico para gerar e receber ondas de som, transdutores de duplos
cristais para transmissão e recepção, e por meio de sistemas de transmissão que
usava um par de transdutores de único elemento em conjunto. Essas abordagens
ainda são usados pela maioria dos atuais instrumentos ultrassônicos comerciais,
projetado para detecção de defeitos industriais e de medição de espessura, no
.....
entanto instrumentos usando matrizes progressivas são cada vez mais importante
no campo dos Ensaios Não Destrutivos.
O princípio da interação construtiva e destrutiva de ondas foi demonstrado

pelo Inglês cientista Thomas Young em 1801 em um experimento notável, que
utilizou duas fontes de luz para criar padrões de interferência. As ondas que se
combinam em fase reforçar-se mutuamente, enquanto as ondas que se combinam
- fora de fase irá cancelar um ao outro.
CQ Treinamento Página 1
0 ª Trei ~amento Ultrassom Phased Array
Two-Point Source
lnterference Pattern
e Maximum Pressure
e .Minimum Prcssure
-
'-
Sources
Figura 01 - Interação de Ondas Ultrassónicas.
Mudança de fase, ou a eliminação, por sua vez é uma maneira de controlar

essas interações nas frentes de onda que se originam de duas ou mais fontes. Ele
pode ser usado para dobrar, orientar ou concentrar a energia de uma frente de
onda. Na década de 1960, os pesquisadores começaram a desenvolver sistemas de
ultrassom Phased Array que utilizaram transdutores de múltiplos pontos de
origem. No início dos anos 1970, sistemas comerciais Phased Array para uso em
diagnóstico médico apareceu pela primeira vez, usando feixes direcionais para criar
imagens transversais do corpo humano.
....
-
Figura 02 - Phased Array utilizado na Medicina.
L
--
Ultrassom Phased Array
1.2 Princípios
Ondas ultrassônicas são vibrações mecânicas induzidas em um meio elástico

.- (a peça de teste) pela sonda piezo cristal animado por uma tensão elétrica.
Frequências típicas de ondas ultrassônicas estão na faixa de 0, 1 MHz a 50 MHz. A
maioria das aplicações industriais requerem frequências entre 0,5 MHz e 15 MHz.
Inspeções de ultrassom convencionais usam transdutor monocristal com

.....
feixes divergentes. Em alguns casos, transdutores de elementos duplos ou
monocristais com focalização. As lentes são utilizadas para reduzir a zona morta e
aumentar a resolução do defeito. Em todos os casos, o campo do ultrassom se
propaga ao longo de um eixo acústico com um único ângulo refratado.
Um padrão de varredura de ângulo único tem detecção e capacidade de

dimensionamento para defeitos de diferentes orientações limitada. A maioria dos
padrões de "boas práticas" adicionam varreduras suplementares com um ângulo
adicional, geralmente 10-15 graus de separação, para aumentar a probabilidade de
detecção.
Problemas nas inspeções aumentam cada vez mais se o componente tem

uma geometria complexa, grande espessura, ou área de varredura limitada. A fim de
resolver os requisitos de inspeção, sistema Phased Array com transdutores
multi cristal focalizados e feixes ativados por uma peça dedicada de hardware pode
ser necessário (ver Figura 3).
-
....
- Figura 03 - Ultrassom Convencional x Phased Array.
..... CQ Treinamento Página 3

......
-- .
(:O Trein~mento Ultrassom Phased Array
J.3 Física da onda de Ultrassom Phased Array
Durante a transmissão, o instrumento de aquisição envia um sinal de disparo

para o Instrumento Phased Array. O último converte o sinal em uma alta tensão com
uma largura de pulso e tempo de atraso pré-programado definido na lei focal. Cada -
elemento recebe apenas um pulso. Isto cria um feixe com um ângulo específico e
focado em uma profundidade específica. O feixe atinge o defeito e salta para trás.
Os sinais são rncebidos, em seguida, deslocado no tempo de acordo com a

lei focal. Eles são, em seguida, reunidos em conjunto para formar um único pulso
ultrassônico que é enviado para o instrumento de aquisição.
~li 'ns'
:.:. cr.o c~
Figura 04 - Princípios de Focalização do Feixe para Incidência Norma e Angular.
O valor de retardo para cada elemento depende da abertura ativa do

.....
elemento do transdutor, tipo de onda, ângulo refratado e profundidade focal. Phased
Array não altera a física do ultrassom, ele é meramente um método de gerar e
receber ondas ultrassónicas.
Para obter interferências construtivas direcionadas nas regiões de teste da

peça, cada elemento individual do transdutor Phased Array deve ser controlado por
um computador utilizando uma "Focal Law". A Focal Law abrange quantidade de
elementos acionados, amplitudes, atrasos, etc. O tempo de atraso em cada
elemento depende da configuração da inspeção, ângulo do feixe, sapatas, tipos de
transdutores, etc.
0 ª Tre in~ mento Ultrassom Phased Array
@ t.!O
©
F1 ! 15 !
....... !
l1
-- 1:0
- :
100
··-· -:- ... --
J.._L __ ;_J__ _
A---;,,.~ - .....-·: -~--
!.· ____ : ~..
fr = )V_
J
....
r"
~~-
r
~
J
j
- 20 -
fj
,' .,··
,,
,
- / --.-i
,-·!.....
;.. ..
l
~
'Í
1
4...
1
I
..
, '.... ..............
- ..
1
f, ~ -.CI\"
t......"......~ '~,, •• .,.J
.. ....
•
'
••
l .......-
' ..
•
... ,
... • • • ....
,-~
'
•1
···,.
-\'\
\
r,:.···· ····\
t) 8 1.2 1.s ~o
El-?ment number
--
'. 28
..-
Figura 06- Valores de atrasos e principais profundidades de varredura para um
transdutor Phased Array Linear com 32 elementos focalizado a 15 mm, 30 mm e 60
.,...
mm com onda longitudinal.
!>00
J50 - - - - - - - - ... - - - - - .. - - - ,_ - - - • - - - - !. - - - - -
1 1 1
'
p, .:ou --------~---------~--------+ --------
1 ' '
F
350 '
--------1-------- ' - --- --r----·----
-~- .
..,..
e:
-;_ 300
~
~ •1
,:;
250
É Experimental setup
P: ·P· i=
F iuo
foatdi-p:h .. x,mm
! ·n~;.t .i:-i:-.; ,1 e 16 ,1,,n,:.nts
'!,O O.IJ, t;ir,l.crro?ntno.1
·oo .
-----~---------~-------·r--- -- ----
1 1 1 1 1 11 11
50
0.5 O 75 125 , 5
;:
Element pttch [mm]
Figura 07 - Atraso depende da dimensão do pitch para a mesma profundidade focal.
--. .,
(.:O Trein_:1mento Ultrassom Phased Array
+ +
: f ;
-;-·--
2 ···
·--- -· :' ~,..,r,
r - - - -~- -·-·-,;
! " '
- .
'
;
1
...
i _/
Figura 08 - Um exemplo da posição do elemento e profundidade focal para um

transdutor sem sapata (onda longitudinal entre 15º e so, e exemplo do atraso que
depende do ângulo gerado.
Transdutor com sapata. Se o transdutor Phased A1Tay utiliza sapata, o valor

do atraso também depende da geometria, da velocidade da sapata, da posição do
elemento e do ângulo refratado (ver Figura 09).
O atraso tem uma forma parabólica para o ângulo natural dada pela lei de
Snell (ver figura 1O). Para ângulos menores do que o ângulo natural fornecido pela
lei de Snell, o atraso do elemento é maior na parte de traz do transdutor. Para
ângulos maiores do que o ângulo natural, o atraso é superior para a parte da frente
do transdutor.
-
- <.:=Õ Trein~men~ Ultrassom Phased Array
.. ..
.
;J
60·
.,.
a
'
''
'' ''
.... '\
'" '/,
' ''
' )A./ .w
V"
''
•
''
'
Figura 09 - Exemplos de valores de atraso e formato da detecção de furos

cilíndricos transversais com onda transversal. O transdutor tem 16 elementos com
sapata de Plexiglás com 37ºe incidência no aço de 45~
-
:~~;,~. . . . . :
........ :····. ··:··· ····:-······:·······:· ······;··. .... .
çY-!
1-
:
- e•-.--.---~
' ,;:::
i- -. -• ...... •...... - :'

i
'
F,.. 2' F, •
/!
'j •t
i
•
!
1:
E en-emnv'TI~
't . s:
Figura 1 O- Exemplo do atraso dependendo do ângulo refratado e posição do

elemento para transdutor Phased Array com sapata de Plaxiglas com 37 ~
Tolerâncias de atraso. Em todos os casos acima, o valor do atraso para cada

elemento deve ser controlado com precisão. O mínimo incremento de atraso
determina a máxima frequência do transdutor que pode ser utilizada de acordo com
a seguinte proporção:
~ Q Trei~mento Ultrassom Phased Array
ll
.1 11.klav (in 1nicroseconds, ~ls]
.(
Onde:
n = número de elementos
fc = frequência central (MHz)
1.4 Digitalização do Sinal e Processamento

-
Para gerar um feixe em fase e com uma interferência construtiva, vários
elementos do transdutor ativos são pulsados em tempos ligeiramente diferentes. O
eco do ponto focal desejado atinge a vários elementos do transdutor com uma
mudança de tempo computável. Os sinais de eco recebido em cada elemento
transdutor são antes de serem somados deslocados no tempo. O resultando da
soma é um A-Scan que enfatiza a resposta do desejado ponto focal e atenuam
vários outros ecos de outros pontos do material.
As pequenas frentes de onda podem ser sincronizadas em fase tardia de

tempo e amplitude, de tal modo que se cria um fei)(e. Esta frente de onda está
....
baseada na interferência construtiva, e produz um feixe de ultrassom focalizado com
capacidade de direção. Um diagrama de um equipamento, os sinais emitidos e ....
recebidos de elementos em fase são apresentados na Figura 11 .
"-
(:OTrei~mento Ultrassom Phased Array
Probes
Emittin9
Tr ~g.-·
r. ':)
f1_ ~o
\
'\''
Acquisition r .... Phased array ..rL .- D )Y
unit
~
unit
I l...
...n_
..0 7\.
• Flaw
-O / .
;·.
- ~
o
Acqumtron Phased array o
un1t
1'11!,
unit o • Flaw
"' ,e
o
Figura 11 - Formação do Feixe Phased Array.
..... --tvarredura Eletrônica (também chamado de E-Scan), e originalmente

chamada (Varredura Linear); o atraso da mesma lei focal é multiplexado através de
um grupo de elementos ativos (ver Figura 12); a verificação é executada em um
ângulo constante e ao longo do comprimento do transdutor com agrupamento por
fase com um grupo de elementos ativos, chamado de abertura virtual do transdutor
(VPA). Isto é equivalente a um transdutor convencional de ultrassom, e faz a
digitalização da varredura para o mapeamento de corrosão (ver Figura 13) ou
inspeção de uma solda com ondas transversais. Se uma sapata inclinada é utilizada,
as leis focais compensam diferentes atrasos de tempo no interior da sapata.
......
" .
0 ª Trein~ento Ultrassom Phased Array
Electronic Scan
t a;~!:&,: ; .SI
Foc;nf law •
11.......,,•s
Focal law 5
Linear array
ACOloSIIC Acousllc
ldtl. f1ck1 5
Figura 05 - Varredura Eletrônica.
Figura 12 - Exemplo Detecção e Mapeamento Corrosão.
'f..varredura Setorial (também chamado de S-Scan, varredura azimutal, ou

varredura angular): o feixe é varrido através de uma gama angular para uma
profundidade focal específica, usando os mesmos elementos. Outras varreduras
com profundidades focais diferentes podem ser adicionadas; os feixes angulares
podem ter varreduras de diferentes valores (ver Figura 13). A gama do ângulo inicial
e final depende do design do transdutor, da sapata utilizada, e do tipo de onda; a
gama é ditada pelas leis da física.
~Q Trein~mento Ultrassom Phased Array
Sectorial Scan
Figura 13 - Varredura Setorial.
Focalização Dinâmica de Profundidade (também chamado de DDF): a

digitalização é realizada com diferentes profundidades focais (ver Figura 14). Na
prática. um único transmissor de pulso concentrado é usado, e é realizada na
reorientação da recepção para todas profundidades programadas.
Oepth Focusing
OODqJDOD 1
1 +-,-:o 5ean, spo!
1--.., . '''°'
Figura 14 - Varredura Focalizada.
0 º Trei n~mento., Ultrassom Phased Array
.....
1.5 Vantagens e Desvantagens
As vantagens da tecnologia Phased Array:
• Velocidade - Inspeções Phased Array tem uma ordem de magnitude

mais rápida que a inspeção por ultrassom convencional. Isso fornece
uma poupança significativa em termos de tempo de inatividade do
operador e da planta fabril.
.._
• Flexibilidade - Usando arquivos de instalação eletrônica, um único feixe

pode inspecionar muitos componentes e diferentes padrões de
inspeção;
• Inspeções Complexas - Phased Array pode ser programado para

inspecionar componentes com geometrias complexas, como soldas ou
bicos automatizados, com relativa facilidade. Phased Array também
podem ser programados para varreduras especiais, como tandem,
pitch and catch, e descriminação por zona;
• Pequeno Arranjo - Um único transdutor pode ser utilizado para acionar

vários feixes e substituir pequenos transdutores para aplicações
especiais.
• Confiabilidade Mecânica - Poucas peças móveis para fazer um sistema

de inspeção confiável. Substituindo a mecânica pela eletrônica, reduz o
desgaste de peças e aumenta signmcativamente a confiabilidade da
inspeção.
• Dimensionamento das indicações sem o movimento do transdutor.
• Focalização do feixe sônico ao invés de utilizar vários transdutores

convencionais.
-
(:OTrein~ mento Ultrassom Phased Array
As potenciais desvantagens dos sistemas Phased Array:
• Os Equipamentos e Transdutores Phased Array são muito caros,

chegando de 1O a 20 vezes mais caros que o Ultrassom Convencional;
-
• Requer conhecimento e habilidade por parte dos operadores;
• As calibrações do sistema são demoradas, pois exigem verificações

periódicas de funcionalidade;
• As análises de dados são mais demoradas devido a complexidade do
...... sistema e avaliação das imagens podendo ser visualizadas através das
vistas A-Scan, 8-Scan, C-Scan, D-Scan e S-Scan.
- 1.6 Principais Aplicações
Mapeamento de Corrosão - Pode ser utilizada na indústria petroquímica

para inspeção de fundos de tanques, indústria naval para inspeção de cascos de
navio ou também na indústria aeronáutica para inspeção de carenagens de avião.
.. ·••m • •.i--=:i
' 1 1 '
..
1
..
, . ... . .. . .
1 , ' •
Figura 15 - Mapeamento de Corrosão.
CQ Treinamerto Página 14
_,.
~Q Trein~_me~ ~ Ultrassom Phased Array
Inspeção de Solda com Material Dissimilar - Nestas situações de inspeção

são grandes os problemas encontrados, como por exemplo, forte atenuação e
variação da velocidade em materiais austeníticos, inclinação e distorção do feixe,
microestrutura com bastante sinal de ruído e acesso do transdutor limitado devido
geometria e configuração da solda.
Sta1n!ess steel
safe-end ~•ld !
Sta1nless stee' lnconel
burtering
Figura 16 - Inspeção de Soldas de Inox Austenítico.
Inspeção de Tubulação de Solda de Inox e Carbono - Em muitos casos é

necessária a verificação de defeitos na região da ZTA. Estas inspeções devem ser
realizadas em tempo rápido pois podem estar localizadas em áreas em operação.
Figura 17 - Inspeção de Soldas de Tubulações de Inox e Carbono.
Inspeção de Vasos de Pressão - Pode ser realizada em substituição a

Radiografia de acordo com ASME VIII Div.2.
\_
... 0ª Trein~mento Ultrassom Phased Array
...
....
........
......
....... Figura 18 - Inspeção de Vasos de Pressão .
Inspeção de Tanques - Pode ser realizada em substituição a Radiografia de

acordo com API 650 .
....
.....
Figura 19 - Inspeção de Tanques.
Inspeção de Tubulões de Caldeira - Pode ser realizada em substituição a

Radiografia de acordo com ASME 1.
Figura 20 - Inspeção de Tubulões de Caldeira.
Inspeção de Tubos - Na fabricação de tubos conforme norma API 5L.
'-
<._CQ Trein~mento Ultrassom Phased Array
• Figura 21 - Inspeção de Tubos.
Inspeção de Manutenção - Inspeção realizada em equipamentos em

operação para monitoramento e análises de indicações.
Figura 22 - Inspeção de Manutenção.
-
2. Básico sobre o Sistema Eletrónico - Instrumentação Phased Array
Os principais componentes necessários para um sistema básico de um

instrumento Phased Array são apresentados na Figura 23.
Computar
~
UT PA instrument -
~
Motion Control
(wlth TomoViEM' (Tomoscan Ili PA) Drive Unit
software) ..
, .. {MCDU--02)
•
i " i .
., ,,
....
~ 1
Test p1ece
ínspected by
-, Phased anay probe
~
.... Scanner/manipulator
phased arrays
Figura 23 - Sistema Básico Phased Array.
2.1 Principais Características do Equipamento Phased Array
Um valor elevado da relação sinal-ruído, maior velocidade de aquisição de

dados, evitando ecos fantasmas e preservando a expectativa da vida dos
transdutores Phased Array conseguidos através da optimização de parâmetros do
ultrassom.
2.2 Emissor / Receptor
Esta seção descreve alguns dos efeitos das principais características do

equipamento, tais como tensão, largura de pulso, filtros, e alisamento.
Voltagem - A tensão máxima aplicada sobre os elementos de um transdutor

Phased Array depende da frequência, espessura do cristal e abertura do elemento.
t_ .....
~ Q Trein~mento 1 Ultrassom Phased Array
·:.. -----~·,
.
( 1
.1
--
,, . \. >
; \
\ -
: 'f: j~ .... :' ,l
\
\
'· .
i 'i i
;:; • 1
!,
:,
t
'--~-~-- -------
""'-------- • ' •
... • 1 •• ' • 1 . '; .• .,
f·, j 1,, ... "t f 1AI 1
Figura 24 - Máxima Tensão Dependendo da Frequência e Abertura do Transdutor.
A baixa tensão tem uma dupla vantagem: ela aumenta a vida útil do
transdutor e produz menos calor, por isso não há necessidade de dispositivos de
resfriamento extra. O valor de baixa tensão pode ser compensado com o aumento
de ganho (hardware) sem um aumento significathto para o nível de ruído, ver
exemplo na figura 25.
10) V· 6) d8 100V · 66 d6 S
50 V €0 dO êO V 7~ dl3 li 50V ,:! dO S
Figura 25 - Compensação da Tensão através do Ganho (dB) .
..;Q Treinamento Página 19

-
Largura do Pulso - A largura do pulso depende da frequência do transdutor.

---·~----~-·--~----~-----.----·~----.-----~----
.;:.o ' ' '
- - - 1.
1
.. - - - J1 - - - • J1 - - - - .11 - .. - - ·1' - - - - .. ,_
1
- • - - '· - • - - '- - • • -
t 1
•
' ' .
- • r · - - • .,- • .. • , - • - - , - • - - -,- - • - ·•· - • - .. , .. - • - - r - • • -
' ' '
fW;., .)ns} x;( [M8z] = ~00
• - - ... ,. - - - .. ' - - - - j - .. - - ..• - .. - - -·- - .. - ··- - .. - .. • .. - - - - ·- - - .. -
1 1 t 1 1 1 1 t
1' 1 1 1 t 1 1 t
•- - •r•- - · 1 - • - - , - • - - i - • - - -,- - • - ·,- - · - • , .. - • - - i - • - -
-- - .. . - - ..... - -- .. "' - -- .. - . - - -· .. - ..... ·- - .. - ..... - -- -... - - . -

1 1
~
1 1 1
• ' 1
1 1 1 1 1 t
.. - - .. t .. ... .. i .... - .. i .. - - - •• - • - - ·• - - - - - .- - • - .. ,- - • - ... ,- - .. - -
' 1
• • ' 1
1!>0 - .. .J • • -
1
- .J -
1
• - - . , ... -
t
.. - ··- -
t
- - .. ,. -
I
.. - - .... -
f
•• -
100
1
so .. - - ... ,A,.
1
.. - - .. ~ - .. - ... -
1
.. - - .. - .. - - •• -
t
- - - .. · -
1
- - - .. ,_
1
- - - - ...
1
- -
Figura 26 - Largura do Pulso Ajustada em Função da Frequência Central do

Transdutor.
Se o mono cristal é excitado por um sinal elétrico com uma diferente duração
de frequência, a pressão sonora tem uma dimensão diferente, ver figura 27.
.....
(:O Trei~mento Ultrassom Phased Array
Exc1tat1on signal Sound pressure Amplitude shape
-
a
É Constant
oscillatron at F,
b
r-- Lowdarnp
~
Medium damp 1
e
1
1
:· 1/, ._
d · ·1
Med1um damp 2
'-
11
'-'
e
f-
T1me [~1s j Normallzed distance z N
H1ghdamp ......
-
Figura 27 - Pressão ultrassônica dependendo da forma do pulso (duração).
Excitação para um cristal plano de formado circular.
Filtros - Os valores das faixas dos filtros passa alta e passa baixo são
definidos com base na frequência central do transdutor e valores da largura absoluta
da faixa. Dependendo do tipo de aplicação, o valor da largura do pulso e as faixas
de filtros podem ser alteradas. A melhor Relação Sinal Ruído e análise mais precisa
dos dados irá compensar a perda de sensibilidade (perda de ganho).
..
-
Figura 28 - Exemplo de melhorar a capacidade de dimensionamento de trinca
.....
por meio de filtros de alta frequência e ajuste da largura do pulso. Neste exemplo um
Transdutor Phased Array Linear de 5MHz e onda transversal detectou uma trinca
com 1O mm de altura.
Esquerda: Filtro 2-1 O MHz, Largura do Pulso= 100 ns; Altura da Trinca= 8.8 mm
Direita: Filtro 5-15 MHz, Lãrgura do Pulso = 50 ns; Altura da Trinca = 10, 1 mm
Sv~v\ t:C)<;.1.\::-,
Smoothing - é uma operação eletrônica realizada no sinal retificado. Esta
ferramenta tem uma dupla vantagem: aumenta a qualidade de imagem (Figura 29) e
leva a uma menor frequência de digitalização (aumenta a taxa de aquisição e
diminui o tamanho do arquivo) ver figura 30 .
.,.
.
,
..
Figura 29 - Diferença da Imagem com a Aplicação do Smoothing.
__, . j
.
--.-lA . : . . :.,, 1
~L e."', : ' ' .... :
LK:L . . . .,.,
Figura 30 - Exemplo do Processo Smoothing e Influência na Frequência de

Digitalização.
2.3 Digitalizador
._
Esta seção descreve os principais parâmetros do digitalizador, incluindo
frequência, média, compressão, PRF, taxa de aquisição, ganho, profundidade
dinâmica do foco.
Frequência de Dlgltallzação - é o inverso do intervalo de tempo necessário

para uma amostra A-Scan RF {ver figura 31 ). A Frequência de Digitalização
determina o número de amostras para uma escala especifica do sinal da inspeção.
1 1
:r, 1 1 1
!(
1 1 1
.
1 1 1 1 1 1 1 1
1
1
1
1 ~ : 1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1 1 1 1 1 1
t + 1 1
l ..,.
1 1 1 1 1 1 1
\'
1 1 1
1 1 1 1 o 1 1 1 1 1
1 1 1 1 1 1 1 1 • 1 1 1 1 1 1 1
: •r;
I ·, ;
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1 1 ., 1
...
1
1 _;•~ : 1
1
1
1
1
1
1 ........ .
~
'/
1 1
-
1
1
1
1
1 1 1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1 1
: i 1 1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
l
1
1 ._,
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
t
1
:l
t ~l
1
1
t
1
1
1
1
+ • .1:o
1
1
1
1 1
1
1
1
l
1
t
1
1
1
1
1
1
t
1
1
1
1
1
1 J/
1 I
i/
, 1
1
1
1
1
1
1
''
·--·
1 1 1
1
t
1
1
t
1
1
1
1
1
t
l
1
1
'
t
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
l 1
1
1 --+'1
1
1
t
1 '
1 1
1
'• 1 1 1 1 1 1 1 1
' 1• '
1 1 1
TOF [ps] 1/ digitizing frequency
Figura 31 - Exemplo de Frequência de DigitaJização com Sinal RF.

..
l
(5=0 Trein~mento Ultrassom Phased Array
Averaging - é o número de amostras (A-scan) somado para cada passo de

aquisição exibido em cada A-Scan. Neste caso aumenta a SNR por redução de
ruídos aleatórios:
A função da Averaging reduz a velocidade de aquisição.
Compressão - é a redução do número de pontos de dados amostrados com

base em posição e amplitude máxima (ver a Figura 32). A compressão reduz o
tamanho do arquivo sem comprometer a detecção de defeitos e contribui para uma
- maior taxa de aquisição.
I ./~o/
o
o
o
I º r ºº
.. r-
I
. . ........
... o
t
.. •
oo'--·
l'~---o--• '"\·'·'· .o ..o....
u • ,:a-.:1. u 1 ••
u
l
1
-l-L
~ _,••..--..t-•
º
o º o/
~ - - - - ~ - ·~· ·-.':..
•"\••_1"·_...:l:_,••• · · ..--
- -•- - -
_ ,.-_
--,· ·_
-:·~
-c·-
,•
/l
-:-'· -t,,•
. '()
- - , .!o'···
..-, .--
f'"V
,
1
Figura 32 - Exemplo de Compressão com relação 4:1 para A-Scan.
Taxa de Repetição do Pulso (PRF) - é a frequência de disparo do sinal

ultrassônico. A PRF depende do averaging, do tempo de aquisição, do atraso antes
da aquisição, do comprimento do gate, do tempo de processamento, e da relação de
atualização dos parâmetros. Em geral, a PRF deve ser ajustada tão alta quanto
razoável, assegurando que quaisquer ecos fantasmas estejam fora da faixa de
aquisição.
l
PRF depende da espessura a ser percorrida pelo som, do averaging, de

acordo com a seguinte formula:
,_
PRF < [
1
J
estart + range >
x avcnH!ÍIH!
... '"
1
Onde start e range são valores (em segundos) na tela do aparelho de

ultrassom.
Um exemplo que a PRF depende do range e do averaging estão mostrados
na figura 33.
..--
---
......._
-.
.,
-
..-.::r.-
~-
• ------
- --~
_,
-
e~
- --
- :-----
,._- ----=-- -- -
,
-_..
....
--
z
--
Figura 33 - Exemplo da PRF e Relação de Aquisição dependendo do Range
e do Averaging.
w. f'f\ oq_"Q:C..' n .3. ""~

Damping (Hz) - representa o
Taxa de Aquisição (Hz} - representa o número de sequências completas de

aquisição que o sistema de controle pode realizar em um segundo. Taxa máxima de
aquisição depende de muitos recursos: tempo de aquisição do sinal, averaging,
frequência de digitalização, recepção do sinal, número de A-scan, taxa de
transferência, e os valores de compressão. Taxa de aquisição determina a
velocidade máxima de digitalização sem falta de dados de ultrassom.
.......
<:ª Trei~amento Ultrassom Phased Array
fl\vf:,,,.. ,.., <../.. Acqu isition rnte ~;

F<lctor Chc1nging
ch,,nging Mv~ ~
l1 range Incre<1ses i Decreases l

A,·eraging liKre<,ses i Decreases !
.....
Repetition rate I PRF 1 liKreases "' Increases 1
P-i?.itizing trequency hKreases Í Decre.1ses !

• ~ .> J .• ..., ... , , n1c. , 111 c, l
A. ngul<lr 1;e!:-olution
-.) -..::.>l.: ··"» .~(')~ llV" ,1..
Incre,,ses i Decre,1ses J,
_ Tr.1nsier rate
• P "f ., 'i L11 rJ H'+ {l e"1 <., ;,-
hKre,1ses i Increases i
Incre,1ses i Decreases !
rv ti ,-, ,r •l .:> ot'O ...s,111~:'lt~s
~ um.ber
r:. (,/) ,:)
Corr~rression&,1tio IncrE•<1ses i Incre<1ses i

,.Jlr.,,.Lri. , .l f OM < ...< I\.:>
Tabela 01 - Fatores que afetam a Taxa de Aquisição
As seguintes relações devem ser satisfeitas:
., . . . . ~cannin~ speed
• .~ L·qu1~1t1on rate > . '" .
s~an ax1s resolut1on
...... ., . .. PRF
• .'"\cqu1s1t1on rate < ..
Numl1êr ol to~al laws
. Tran~lc2r rat~
Acq ms1t1on rat~ < ..
11( sample + -',n, + ·\c 2 , + 3,r---ak A,m l
\\·here:
]/ = number ot toc,111,1',·s (A-sCt1ns)

..
_..,,e lJ = ,·,1lid onl>· if C-sú1n d<1t<1 in g<1te l is s,·n-ed
= ,·<1lid only ii C. -súu\ dtll<"\ 111 gate .:! is s,,,·ed

..
·"(peak A) = Y<11id onl>· it A-sCM\ Fe,1k is S<1Yed
= number oi points
.......
., .
(:O_Trein~ mento Ultrassom Phased Array
o 1. 1
J,I
1
p'I :e;.,,••
/
7
.
. to • 1:).
'\. '•• '\ (:
;I
,
''''"~ ·
Figura 34- Exemplo da Influência da Velocidade de Varredura com a Taxa de

Aquisição.
Definir a PRF corretamente é muito importante para evitar os ecos fantasmas,

e para coletar todos os dados relevantes. Ecos fantasmas são interferência de ecos
devido a um descasamento entre a taxa de repetição (PRF) e a janela de aquisição
de dados.
Figura 35 - Exemplo de Ecos Fantasmas.
3. Transdutores Phased Array
Uma das principais questões técnicas para aplicações em larga escala com --
tecnologia Phased Array na década de 1970 e em meados de 1980 foi o processo
de fabricação e isolamento acústico entre os elementos em uma matriz. A alta cross-
talk amplitude entre os elementos e o desafio de cortar em forma de curva materiais
piezoeléctricos levou a um retrocesso no desenvolvimento industrial. Os materiais
piezelétricos mais comuns estão listados na Tabela 02.
CQ Tre inamento Página 27

~Q Trei~mento Ultrassom Phased Array
Symt,ot/l ºnit Qoarlz Bi1Ti03 Pt,~b.-:Oó PZT--! PZT-5H2 ... P\ºF.-:

__.:,
').,
d33 (p(0-:J 190 S5 289 593 20
g33 10·3 \'m X 37 12.ó 42.5 26.l 19.7 190
;,~ g-- 10-13~
d" ~~ . m 1.:).:)
" ... '.!394 3bl2 l:'142 ll.<,S2 3,800
kt 0.09;:i 0.3S 0.32 0.51 0.5 0.1
k :, !700 225 1300 - 11
Za, ( 10" R.1yI1 13.2 25.9 20 30 - 4
~1e..:han1c.d Q 2.500 350.. 15-24 500 <,5 3-10
Tabela 02 - Materiais piezelétricos mais comuns.
A quantidade de energia acústica transferida para a peça de teste atinge o

seu máximo quando é combinada a impedância acústica entre o transdutor e a peça
de teste. Algumas aplicações requerem uma técnica de imersão e algumas usam
componentes com cantata direto, tipicamente por materiais tais como o alumínio e /
ou aço. A maioria dos Phased Array utilizam ondas transversais e longitudinais para
aplicações de inspeções de soldas montados em uma sapata para otimizar a
eficiência e também minimizar o desgaste.
Fabricação de Piezo Compostos - Materiais piezo compósitos foram
- desenvolvidos em meados da década de 1980, principalmente nos Estados Unidos

da América, a fim de melhorar a resolução de imagem de ultrassom em aplicações
biomédicas. Piezo compostos são feitos de vários cristais orientadas uniformemente
embutidos em uma matriz de epoxi, tal como representado na Figura 36.
: i
i
~ \ .. ,.• • .i•. r·~- r; "I
Figura 36 - Coordenadas 1-3 do composto piezoelétrico utilizado na indústria de

transdutores Phased Array.
CQ Treinamento Ultrassom Phased Array
3.1 Tipos de Transdutores Phased Array para Aplicações Industriais
Os transdutores Phased Array utilizados para aplicações industriais e seus

tipos de focalização e deflexão do feixe estão listados na tabela 03 e mostrados nas
figuras de 37 á 41.
Type D etlection Beam shape Figure

Annula.r Depth - ;: Spheric,u Figure 3-5
1-D Line.u- planar Depth. angle Elliptic::al Figure 3-b
Depth. solid
2-D matrix Ellipt1cal Figme 3-7
,U\gle
2-D segmented Depth. sobd Sphencal or
annular ,tngle Figtue 3-S
ellipttcal
Depth. small
1.5-D m.atri..x Elliptical Figure 3-9
solid angle
Tabela 03- Tipos de transdutores Phased Array mais utilizados.
Figura 37 - Transdutor Phased Array Anular
Figura 38 - Transdutor Phased Array Linear 1-0.

--
(:OTrei~~ento Ultrassom Phased Array
Figura 39- Transdutor Phased Array Matriz 2-D .
..
-
Figura 40 - T ransdutor Phased Array Matriz 1.5-0.
Figura 41 - Transdutor Phased Array Anular Segmentado
Outros tipos de transdutores Phased Array para aplicações especiais são

mostrados nas figuras de 42 á 45 .
.......
~Q Trein_:1mento Ultrassom Phased Array
Figura 42 - Transdutor Phased Array Circular 1-D
Pulse-echo
or
transmit-receive mode
,,,1.1, ..
,"' ,,'
,, , I
. ,'
.. .,,,,' ,'
,,,,..,, IJ
.••.
,,," I
, ,, l
I
,'
I
Figura 43 - Tipo de Transdutor Phased Array para inspeção de tubos de pequenos

diâmetros
i ,l
, ,l i
• 1 ..
... '
,.,
l" ·" .. .......

Figura 44 - Transdutor Phased Array Cônico Matriz 2-0
,....
(50 Trein~mento Ultrassom Phased Array
a) b)
e)
..
-
Figura 45 - Transdutor Phased Array Focalizados Mecanicamente: (a} Circular
Convexo Focalizado; (b} Anular Côncavo; (c) Linear Côncavo; (d) Linear Convexo.
Exemplos mais utilizados de transdutores focalizados estão apresentados nas

...... figuras de 46 á 49 .
....
Figura 46 - Padrão de Focalização Esférica (Profundidade 1-0) e simulação

do perfil do feixe para um transdutor Phased Array .
...
0ª Treinamento , Ultrassom Phased Array
x-zplane x-y plane
Figura 47 - Padrão de Focalização Cilíndrica (Profundidade e ângulo 2-0) para

transdutores lineares para detecção de trincas superficiais e internas; simulação do
perfil do feixe para ambas as profundidades.
'...
t t
. y ,'
.
# •
!
' . I
'
t , i- - -T:_-_ :\..... ••••••- •• ••• • •••
....... - 1. - .. _ .. "' \
'. ,· ,, i ·,.
,,/ '. ,_,~ -
, .. ,-~,
!1 - - . '·,- ,
' ~r4'· .. ·:::·.. !~:- _·:::._,..,. ........... .
1 1
,,- -- - - i
,,'
,, z •
Figura 48 - Padrão de Focalização Esférica/Elíptica (ângulo solido 3-0} transdutor

Phased Array Anular Segmentado e simulação do feixe para duas profundidades e
dois ângulos.
(;O Trein~mento Ultrassom Phased Array
---
_.,.,~- ---
~-----
---~- --
..._
-
-. -~-
..
-·- '" '-·-- -~--~ -.,- ~~""
...
Figura 49 - Padrão de Focalização Elíptica (ângulo sólido 3-D) transdutor de Matriz
2-D e simulação do feixe para duas profundidades e dois ângulos.
3.2 Matriz Linear
Transdutores Phased Array de Matriz Linear são os mais utilizados em

aplicações industriais. Suas principais vantagens são:
• Fácil design
• Fácil fabricação
• Fácil programação e simulação
- •
•
Fácil aplicações com sapatas de contato direto, e imersão
Relativamente baixo custo
• Versatilidade
As características funcionais das matrizes lineares estão detalhadas nas

seções seguintes.
CQ Treinament Página 34
-- .
0ª Trei~mento Ultrassom Phased Array
Abertura Ativa - é o comprimento ativo total do transdutor. Comprimento da

abertura é dado pela fórmula abaixo: As características funcionais das matrizes
lineares estão detalhadas nas seções seguintes.
A = nr + g( n - 1)
Onde:
A= Abertura Ativa (mm)

g = Espaço entte dois elementos adjacentes (mm}
n = número ativo de elementos
e = largura do elemento (mm)
Wpassive
n=8
+--
p g
A
Figura 50 - Abertura Ativa e Passiva
Abertura Ativa Efetiva - a Abertura Ativa Efetiva (Aeff) é a abertura

projetada mostrada ao longo do feixe refratado, ver figura 51.
Onde:
a1 = ângulo incidente no meio 1
l3R = ângulo refratado no meio 2
.- A abertura efetiva depende do ângulo refratado programado. A abertura

......
efetiva tem uma grande influência sobre a profundidade focal real e poder de
concentração de direção .
A,.,
A.~= A . (OSI) ( OSV .. ,··
f
F
P.
•
Figura 51 - Definição da Abertura Efetiva
Abertura Ativa Mínima - é a Abertura Ativa Mínima para conseguir máxima

focalização no ângulo do feixe refratado.
. , ., , . , A ) ] O·-.;;
= 2[f
( \' - - \' - • Slll-p
A min .R 1 .., R I
./ • ,.R • cos-~R l
Onde:
VI = velocidade no primeiro meio (água, sapata) [mm/µs)
VR = velocidade na peça de teste [mm/µs]
f= frequência ultrassonica [MHz]
F = profundidade tocai para máximo ângulo refratado [mm]
Rmax = ângulo máximo refratado na peça de teste [1
CQ Treinamento
- Ultrassom Phased Array
Um exemplo de dependência mínimo de abertura em ângulo e profundidade

focal é dado na Figura 52 para um transdutor de matriz linear de 32 elementos, p
(pitch) = 1,0 milímetro em uma sapata Rexolite® de 30º{ângulo natural de 45ºno
aço com ondas transversais). Intervalo de varredura ajustado de 35 ºa 70 ~
40 -,.------,--,-~-----,.---~~-----,--.-~~~~~~--,------,~,---~~~--,-~--,
1 1 1 1
\70 i
l 1 1
1 1 1 1 1 1 1 1 1
35 - ··--1-·-·-··-~·-···-+- ···-f--···.)·---··)·----·-l----·4---·---·~·--·
'
: !
' •
l
'
:
'
: t : •
:
• 1
Í Í Í Í Í j I Í Í
1 1 1 1 1 1 1 1
1 1 1 1 - 1· 1 r 1
E ! 1 ! ! ! ! !
E 30 -·--·--·: ·-·-·; - ···-··· !' --···· ·! ---·-·- !'·---·······-
!
--.: ·- ---· :---..
;
·---·· :·-···---
i :--···---
:
QI
'-
j
1
i
1 1
Í
1
i 1
i Í
1
Í
1
I
1
i
1
f l l l l . l l l l
Q/
Q,
2s -···---~---·····-L---·---~---·····l
1 1 1
-·····J·---····.L------l-------L···---.i
1 ' 1 1 1
.... ___ 1' ..... __ _
~ 1 1 1 1 1 1 1 1
E
::,E
i.'
'
~.'.
1
I.
•
!
••
!
••
1•
•
!
i
•
l•
J
!
••
20 -----}---i ·---~-·-···f--·--·l---····{·---i----·{-·---+---{----
~ ' .....,_L_____,j!__,_Ll __,__ji__,__ j,1_ _j___j

1 l i i
_____ J....___ j_____ _
i i l i i l ! i i
i
1
i
1
i
1
i
1
i
1 1
i i
1
i
1
1 1 1 1 1 1 1 1
10 20 30 50 60 70 90 100 110 120
Focal depth [ mm J
Figura 52 - Exemplo de dependência do tamanho mínimo de abertura em

profundidade focal. Transdutor Phased Array p = 1,0 milímetro, n = 32 elementos;
ângulo refratado = 70 9 ; profundidade tocai efetiva z = 88 milímetros
Abertura Passiva (W) - é o comprimento do elemento ou largura do

transdutor (ver figura 50). Abertura passiva recomendada é determinada pela
frequência do transdutor e alcance da profundidade focal.
Sua contribuição para a profundidade focal (comprimento do campo próximo)

é dada (por transdutor não focalizado) pela formula:
1 -
.......
(._CQ Trein~mento Ultrassom Phased Array
Uma boa estimativa prática é dada pela formula:
,. - ,.,-\ -.
·"o~- º
,_)/
";..
•
A abertura passiva contribui para a sensibilidade e dimensionamento do
comprimento do defeito. A eficiência máxima de um transdutor linear é obtida com W
passive = A. A abertura passiva também afeta o padrão do feixe difratado e a largura
do feixe (ver a Figura 53). Geralmente, o design dos transdutores Phased Array com
W passive/ p> 1O e/ ou manter W passive= (0,7 a 1,0) A (aplicável a transdutores
não focalizados).
e)
. ~' A
a)
Figura 53 - Influência do comprimento da abertura passiva no comprimento e

formato do feixe: (a) princípio de deflexão e dimensões do feixe; (b) formato do feixe
para W = 10 mm; (e) formato do feixe para W = B mm, 5 MHz onda transversal, p = 1
mm; n = 32 elementos; F = 50 mm no aço.
Um transdutor linear com abertura passiva maior tem dupla vantagem:
• efeito de foco alcance mais profundo

• comprimento feixe estreito
Mecanicamente a focalização com abertura passiva irá reduzir a propagação

do feixe em direção y (ver a Figura 54). A desvantagem mecanicamente da pré-
focalização é a aplicabilidade limitada do transdutor e o formato de sapatas
complexas.
Figura 54 - Exemplo de focalização mecânica de abertura passiva para detecção de

defeitos linear em áreas de furos cilíndricos.
Mínima Abertura Passiva - A abertura passiva (elevação) tem um valor

mínimo ditada por uma série de fatores (área mínima do elemento, sensibilidade,
largura de banda, comprimento do feixe, pitch do elemento, e frequência). Os
valores recomendados para elevação mínima para as frequências específicas são
apresentadas na Figura 55.
13 - --
12 ...._..... =.......... t_.......J ..........;......._.J .......... i_........l...........L........ 1-..........
; : ; : ; : ; :
11
\ : i : i : : : :
§ 1. 1 ; 1 ; 1 1 f 1
; ·: ___ 1. ___l-!---! --!-1---L-11-
g 8 ·-·....1·-····.. · i ......... ~ ...... _ .. ; .... ..... ,;··· - .. -;. ··-.. ·-;--........,; .......... :.......... .
~ : : : : : ;
~ 7
; ;
-,-..... ;........... ;..- ---; .......... ; ,,_.,,,.,;.......... ; ......... ;-.. ---.-; .......... í.........
--~---········?··········-~·-········-- ~-····-··---i ·····-··-~···········
+·-·--··+·-·--~- · · -~ . ... . +. . . .+. . . . +. . . . .
E 6 .............. ;...........i............~
,
:~ s .......... 1..........( .......
~ 4 . ......... ,........... : ...... __ : ......... .:........... : .......... :.... - ....... ....... : .......... :......... ..
i i i i i ; ; i
3
1 1 1 1 i i i 1 1 1
2 .,......,....,..,"1-r-,-,-1"'1'-r....-r...-r,...,....,...,..,...~...,....,.,_,....,P'"'T"'Í".,..,..........,"'T'T'..-,-,..........,.,..,...,...,,.....,...,
o 2 3 4 5 6 7 8 9 10
Frequency [MHz)
Figura 55 - Abertura passiva mínima em função da frequência.
(;QTrei~mento Ultrassom Phased Array
Pitch Fundamental - O pitch fundamental (p) [mm] é a distância entre os

centros de dois elementos adjacentes:
p= e + gl
Gap do Elemento - A abertura elemento (g) [mm] (canal) é a largura de

isolamento acústico entre dois elementos adjacentes.
Largura do Elemento - A largura do elemento (e) [mm] é a largura de um

único elemento piezo composto. A regra geral é manter e <0,67A para evitar lóbulos
- nas direções dos feixes .
.....
Tamanho Máximo do Elemento - O tamanho máximo do elemento {Emax)
[mm] é a largura de um único cristal piezelétrico, dependendo do máximo ângulo
refratado.
0.51-4 )..
ennx < · A
' .. Slll I-IR m:t'í .
Tamanho Mínimo do Elemento - Questões tecnológicas (corte de material
- piezelétrico com um pitch <0,30 milímetros é um desafio tecnológico) e exemplos

práticos limitam o tamanho da área mínima do elemento devido aos seguinte efeitos
negativos:
• Redução da Sensibilidade (aumento da impedância elétrica)

• Efeitos de lnterferência
• Requer área mínima para modos de vibrações específicas
Este efeito limita o tamanho do pitch com base no valor da abertura passiva.
O limite prático é dado pela fórmula:
\Vp.1ss1 v~
e min. > lo
-
~ Q Trein~mento Ultrassom Phased Array
A faixa recomendada para a faixa do tamanho do pitch do elemento (valores

min-max) é apresentado na Figura 56.
3.2 ~
:
:
:
-~
:
.--
: :
:!
:--:--:--:--=--=--,
! : : : :
2,8 J._._---L. --...1. -.-----~ --.--..l .. ----.t .. -.-.J

.----. t____ -- ~ ----. _. i... -· --L--. _--L-----_
: : : : : : : : ~MIN: :
2.4 •-u•••;: ••u•u :_.. , :! • H • •• • ;•uuo• :ouu.o; •n••• ;••--•n :.... ._, ~: MAX)! u•-•• :: ••Hu•
e,.. 2
:
:
1
:
t I
; '=
!
t
:
:
:
I
:
;
t
•
t '
;
;
1
;
1
:
.s : : t : ! : : : : : : - .
: :f :• : : ! '. !
ª~ 1.6 . -----. ~ ..... -.... _;_. --- -.; ... -- .... ; .... -- - -- ; _. .. ·- . .,.;_ .......... _,; _____
1
: !
f
• ! : !
1
:
1 1
__; ___ ...... ~ .. - .

: :
-- -.:..: ......... -~: .. -.-..
1 1
a., : : : : t : : : ! !
<li ! : . : ~ ~ : : : : !
•!::! 1.2 . -- --... : - . --- . - ! .. . -·-· ! . - .. -· ... ~---. - . -~·- ... - ·-:· .. ' - .. -~·- . -· - . -~-......... -- -~ ......... -~ ... --· ·:-...... .
·······~·t·····
"'
.J::.
1.1
0.8
~
; :
·-l·······l······~·-····-I-·-···-~·-·· ··f ·······~·-···--l·-·····'
~ : ; : : : : ...J
0.4 ....... ...... _f•••u-·r·-...···!·.....··:
~ ; :-u·1·.:.:.:. ::.:.·~-=-~·= t·· ........~-----,
~
o f 1 1 1 l 1
.
t
o .
1
t
'
•
•
'
•
'
•
i .
•
'
•
•
o 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
Frequency iMHz}
Figura 56 - Praticas recomendadas de valores (min-máx) para tamanho do pitch do

elemento em função da frequência.
O tamanho do pitch também depende da faixa de varredura, impedância
acústica do material, tamanho da abertura ativa, configuração de hardware (número
máximo de pulsadores), requisitos de inspeção, e envelope de varredura.
Faixa de Varredura - A faixa de varredura (af3 sweep [max-min]) é a

diferença entre o máximo e mínimo ângulos do feixe focalizado refratado na peça de
teste, ver figura 57.
CQ Treinamento Ultrassom Phased Array
r-
S/l-waves
L-waves
~ófi~ ,.,,,,,,,.••"'T
• ...• / ,6A. .., ..
,.
..··•·
..
" ' - r "•,, •....••.•':.
...,·
..•
~-~
~....··•····
Figura 57 - Definições de faixa de varredura para inspeção de contato direto (onda

longitudinal} e sapata (onda transversal / longitudinal).
Poder de direção do foco - [F (í3R) / Fo] é um recurso adimensional que

expressa a dependência profundidade focal ao ângulo de varredura (ver a Figura
58).
Onde:
F(J3r) = profundidade focal do ângulo refratado
FO = profundidade focal para ângulo da sapata pela lei de Snell
Por exemplo, para um transdutor Phased Array Linear em contato direto com
o corpo de prova (sem sapata) gerando ondas longitudinais, o poder de direção foco
é reduzido pela metade para um ângulo de varredura de 45 º e reduzido para um
quarto para ângulo de varredura de 60 ~
-
--
.,.. -·-
0ª Trei~amento Ultrassom Phased Array
-
1
....... .
o<>
...
CI.I
~
a.
0.8
0.7
- ·· ,,1
''· -
"'::;u 0.6 -, ....... . - "l +
-- ·-.·,-'
.E 1'
O'
0.5 -
-~eCI.I '
CI.I
ví 0.4
0.3 '
. 0.2
o 10 20 30 40 50 60
Refracted angle ._.
Figura 58 - Poder de direção do foco dependendo do ângulo refratado

,.....,
Compensação do Ganho - Um exemplo de compensação de ganho devido

faixa de varredura (abertura efetiva) é apresentado na Figura 59. Ao usar uma
sapata, o valor referido é o ângulo refratado dado pela lei de Snell para o material
específico e ângulo da sapata.
.. . ... .....·····~--··-·······-..
. .
~ ~ {/ ! .·, :1
.. ..
.. ''
11/ 1 ' ..
' ......·· ·· ·:..····· ..... ···:-··········
.
.
·~-·-······--·~
1/ l 1 .... ...
• ·-·~;····:--··:····:-··- ... .. , ......: .............. , ..... !....... ~
. . . . . .
:: . .......................
.: ..'.
.. ............. .. .............. ....
······-···
[;\ l l l
1 : : : : : : : :..\
\l \l i
.
.
.i . . . . ·:.. . . :
.
.
•
•
.:
:..
.
t
'
!.
;
•
•
•
1
J
-t
./. . : _......;.....,....;....:-.~:- ····i····;.....;..... ~·-··::_·:.\···· ! .; .............:............... ···-··· -··· ..................
..' ..'
t )
. .. .. ,
. . . . . . . . . . . . . . , . . . . . . . . . . ... . '-, . ... . . . . . .. .. . . . . .~ ... .. . . ... . _ • •
1: .:, ;e ~ ;;,
Figura 59 - Amplitude dependendo da direção do ângulo para ondas longitudinais no

aço (-60ºá + so,; e onda transversal com faixa de 30ºá 70ºcom ângulo central de
45 ºdo feixe refratado.
A secção transversal de um feixe circular, na incidência normal, torna-se

elíptica em altos ângulos de refração. As dimensões do feixe dependem das
aberturas ativas e passivas, de acordo com as relações explicadas nas seguintes
seções.
\_
(:OTrei~mento Ultrassom Phased Array
Ganho de compensação com ângulo refratada agora está incluído na

compensação de ganho, cujo valor é calculado por um procedimento ACG (Ganho
Ângulo Corrigido). O valor depende também da frequência, a abertura ativa, tipo e
profundidade do refletor.
...
Comprimento do Feixe - O comprimento do feixe (/1y-6 dB) [mm] é o
comprimento do feixe em visor C-scan com uma determinada profundidade (z} em
um plano perpendicular ao plano incidente (em paralelo com a abertura passiva ver
a Figura 50}.
O comprimento do feixe é avaliado com base na dinâmica do perfil do eco do

furo de fundo plano (FBH) (ver a Figura 60). Um método alternativo é usar um furo
cilíndrico transversal.
Figura 60 - Comprimento do feixe (~y-6 dB) medido em um bloco de referência.
Largura do Feixe - A largura do feixe (~X-6 dB} [mm] é o comprimento do

feixe em um visor C-scan em uma determinada profundidade (z) do plano de
incidência (paralela a abertura ativa).
O. l.J UTr. thi.

~X ::: .,
- 6 JB ,\ 1.:n:,; ~
CQ Treinamen·, Página 44
As fórmulas de Comprimento e Largura do feixe são validas para percursos

sónicos maiores que a profundidade focal. As fórmulas preveem a relativa largura do
feixe de 15% a 30% de exatidão. A largura de feixe é medida com base na dinâmica
do eco de um furo cilíndrico transversal. A largura de feixe depende da profundidade
focal, ângulo refratada, abertura virtual do probe (VPA) , e frequência do transdutor
(ver as figuras de 61 á 64).
iOJ
: 'lo.ar pt'.,s~ ar1;r, PIOt>:
=~. . ,:,
; 'l-Mt •
;o a OSmm
1
,, " 3~
o,
ê
.
P.. •vli:.:- .,:t,...
31 mm
_r,
~
. - ...
V
, .
,, ...
•'
~
~e :t 3:, 4~ s,: t~i
~~h;-:,r,j
Figura 61 - Exemplo da largura do feixe dependendo da profundidade e ângulo

refratado para transdutores de onda transversal. Medição da largura do feixe em
furos cilíndricos transversais para transdutor Oºd e onda longitudinal.
VPA = 32 el VPA = 16 el VPA = 8 el
'i\ '
---., ...,__ ..\X ••
J \
..lX 3.2 el ' ..lX 16 el ..lX 8 ~,
<
Figura 62 - O princípio da largura do feixe dependendo da probe virtual (VPA) para:

(a) 32 elementos, (b) 16 elementos, (e) 8 elementos.
QO Trein~mento Ultrassom Phased Array
·-·-·-*• .......... ' ........................................................... ..

6 •.. ······~· ............
..
•
. . •
~.s ········-~·······-· ·······--~·····---·~···------~-------··=............ :........... :

. •
. 1 • •
t I t I t t f
t f f
7 •· -----r···---·-· ·······--:· ·····-··! ··--·····! ····-····~·-·----··!·-----···1
1 I 1 1
. . . . . .
6.5 • · .• --~· · · ------ · · ····-·-: · ···--· -· ! · ·------ -: ··-- ---- · ! ··---- - · · !··---··· -~
.
1' 1' '
t I' f• 1
t •
1
o -- . ·· -........................ ........... : . ......... -- : .... ·----·: ...... ----. ! ... -- --- - . !·---- .. -. ·~
. . .
1
.
. ··----- ···-·----·--·------·-····----··-----·····-----····--·······-
····-·- ... . . .
.
t
.
1
.
1
.1
.
t
: : : ; : ;
.
(
4.S
5
····-----~····
- • -
.
.: -·-. ···-··---!··---····!····---··!·----·-·
..................
.: . .:.
- - • • • _____ .. _ , . - - - · - - - - • • · - · · · - - · . · · · - - - - · . • · - - - · - - • • · · · - - · · · . •4
: :'
·:·--------!------··-~
~
.. .
• •
.....
•
.
• '
.
1
-· ·------:. .......... !.. • • .. ...... ;~ •• , ...... _.; ............. ; ... ............ :-----·· •• ; ............ ;
• •
-:.ã t
' t
.. 1
' 1 t
' I t t
3 ~:: ~~:~J:: :~:::t·-~:. :::···: !::::~: ::: t::::::::: l::: :::::: t::::~:: :1
3,5
. . . . . . .
:!.S ............. -~- .......... -~ .. --- .... --: .........--..,. '. ---- . "............ : ·-............ !-··-··· ..
1 t 1 1 t t t t
!
:?
' 1
. • • •
1.5
:? 3 4 5 6 7 6 9 10
Probe Freouency ' MHz)
Figura 63 - Exemplo de largura do feixe dependendo da frequência do transdutor

para uma mesma abertura ativa; LW á O~ F = 20 mm no aço carbono.
'!- ,-
te
·~·'f .i'j "''··1· ·,,-.-,·
r .. ,.
--t--r--r--i-
- ~--
.· :~,-;--+-·r-~
1 . , . • ., .
,J -~ -:--: ! ! ---:- ~ !- : --:-:--: .. +-,

t l •
:t·,· ·r-, · -r · -r-1·-T·-r·
t t t J 1
·1-1·-r. 1
·,-., 1 t I j
; --~·-!-!--~--:-.- !--.--.-- :--:--: ..i

~
•
· · -~ -r · -t-i- -r--i--i· -T-r--r--t- -r- -r- ~
~
,f
· --,1 ·
1
1
1
1
l
I
•
1 1 1
--,--,--r·-r-,· -rI · -r1t · ·,--,
1 1
1 1
'
1
i
1
·-T • ·r-,
1 I j, 1
1
' . -, • -r. •r-- 1--r ··,- ,. -T--r. ·1-1. -T. · , - ;

O
; ••. .. -2--!..
t
- 1 1
·--i--~-~--4--~--:--~--i ...~-:
.r t t 1 t 1 1 t I i
· -1 · -r-·r1-~,- --r- -r·T-1 ·-r· T- ~
1 -~·-r··r--,·-T""l"-1~--!--}--J..-.
·-4·-~--1--~--}-+-~--~--~~
·: "( ., •~ .s
t
•
I
.............
·,,
f
~
•
:t
t
l;.
1
; • t ,.. • . . . , .. ..
Figura 64 - Exemplo de largura do feixe dependendo do número de elementos
(VPA) para transdutor 1-D de contato direto com onda longitudinal no aço carbono.
(Direita) 8 MHz, F = 30 mm; (Esquerda} 1O MHz, F = 20 mm.
A relação entre a medição teórica e experimental está dentro de 0,5

milímetros de largura de banda de erro. Os erroc.- são maiores para os pequenos
VPA e menor frequência, devido ao grande envelope da dinâmica do eco.
Profundidade Focal - A profundidade focal (Fp) [mm] é a distância ao longo

do eixo acústico para uma resposta de máxima amplitude (ver Figura 65) .
....
- .
. ... :: .
.. ,,·ir•
Figura 65 - Definição da profundidade focal e profundidade do campo
Existem quatro tipos de opções de focalização:
• No eixo z (profunàidaàe variável): Projeção

• No eixo-x (profundidade constante, angular}: Profundidade Real
• No caminho UT (plano xz): Metade do Percurso
• Em uma linha de equação específica no plano xz: Plano Focal
Projecuon (Zl True depth CxJ Half path Focal plane

ix· ... Z") 1 z .. a,c- b
y
Figura 66 - Tipos de Focalização para Transdutores Phased Array Lineares
(50 Trein~~ento Ultrassom Phased Array
Profundidade do Campo - A profundidade do campo (L-6 dB) [mm], ou

distância focal, é o comprimento medido com decaimento de 6 dB ao longo do eixo
acústico, tendo a profundidade focal como um ponto de referência.
Distância Focal - A distância focal é a distância de exploração em

- profundidade ou em comprimento de percurso sônico por leis focais multicanal ou
com ângulos de varredura (ver figura 67). A distância focal é determinada pelo
método da queda dos 6 dB; para algumas aplicações a distância focal é determinada
pelo método da queda dos 3 dB.
Q;
u
:::J
+-'
" o..
~
<(
Focal range
Ultrasound path (mm)

Figura 67 - Definição da faixa focal para método da queda dos 6 dB (pulso-eco)
Resolução Campo Próximo - A distância para resolução do campo próximo

(zona morta, dns-.óG) [mm] é a distância mínima da superfície de varredura, onde a
amplitude de um refletor (SDH ou FBH) terá uma resolução de 6 dB em comparação
com a amplitude do eco de entrada {pulso inicial) para um feixe normal (ver figura
68). A zona morta aumenta à medida que o ganho aumenta.
Resolução Campo Distante - A distância para resolução do campo distante

(dfs-BW) [mm] é a distância mínima da superfície de varredura até o interno da peça
onde o transdutor Phased Array pode distinguir em 6 dB o sinal específico de
refletores (SDH ou FBH) localizado a uma altura de 1 mm a 5 mm do fundo da peça.
.....
-' .
(:ª Trein~mento Ultrassom Phased Array
-- IP BW
o o o l / SOH
_J
o
o
..
o
.J 1 ·
Figura 68 - Definição de resolução no Campo Próximo e Campo Distante.
Resolução Axial - Resolução Axial (flz) [mm] é a distância mínima ao longo

do eixo acústico para o mesmo ângulo, para que dois defeitos adjacentes
localizados a diferentes profundidades sejam claramente exibidos pelo decaimento
amplitude em mais de 6 dB de pico a vale (ver figura 69). A fórmula resolução axial é
dada por:
ó 1 - 20 J H IP s J PL
~=- = ,. tc:-1 p,~·I.'~ lmm/u-.J
•
x --- 2 -- or 1 [nun]
A duração do pulso mais curto (transdutor altamente amortecido e / ou maior
frequência) vai produzir uma melhor resolução axial. Resolução axial é avaliada por
uma posição estática do transdutor.
~· ... ,... '\":
..
( ~ ........ 1
'•
í ,
Figura 69 - Definição de Resolução Axial. Exemplo de Resolução Axial para 17~

dois defeitos no A-Scan separados por 1 mm.
Resolução Lateral - Resolução lateral (.ô.d) [mm] é a distância mínima entre

dois defeitos adjacentes localizados nas mesmas profundidades, que produzem
amplitudes claramente separadas por pelo menos 6 dB de pico a vale (ver figura 56).
Para resolução lateral, o transdutor é movimentado. Dependendo do movimento do
transdutor, a resolução lateral depende da largura do feixe (transdutor se desloca
paralelamente a abertura ativa), ou o comprimento do feixe (movimento do
transdutor paralelo à abertura passiva), avaliada por um método de eco dinâmico.
,. ... A resolução lateral depende da abertura ativa efetiva, da frequência e
- localização do defeito (ver Figura 70 e Figura 71 ). Se o transdutor é uma matriz

anular, o comprimento do feixe é equivalente a o diâmetro do feixe.
A fórmula da resolução lateral ao longo da abertura passiva é dada por:
~}'- 6JB
.1d =
4
rc,oí!)i.,1.t ,.: .. ,,,,. !
(t)
,, 1
....
11 r.? ,l: .. ,•h.f,',I
-+ :-+-----
•,, · nn
Figura 70 - Resolução lateral, discriminação de dois defeitos adjacentes: (a)

princípio do movimento do transdutor; (b) dinâmica do eco de dois defeitos; (e)
imagem de inspeção ultrassônica para distingui defeitos (mesma profundidade e
mesmo ângulo de detecção) separados por uma distância menor que 1 mm.
Fórmula da resolução lateral no eixo x (em paralelo com a abertura ativa) é

dada por:
0.11 ,. ,
..l / =: ll'~l ptú~
<r /sin(6 / 2)
Onde:
âdx = 0.25 da largura do feixe (a>< -6d8) pela queda 6dB [mm]
Vteste piece = Velocidade ultrassônica na peça de teste [mm/s]
f = frequência do transdutor [MHz]
e= ângulo sob o qual o VPA é visto do ponto focal (ângulo de abertura efetiva) [!
/ ,,
Figura 71 - O princípio da resolução lateral no eixo-x (abertura ativa) para sapatas

de ondas transversais (à esquerda}; mesmo princípio para transdutor virtual com
ondas longitudinais e sem cunha (à direita).
0º Trei~~mento Ultrassom Phased Array
--- li
•
50: S
..
li
j•
,•. s
,,
',, .1
.. 1
j
- 1
'! f
-- =
... Figura 72 - Exemplo de inspeção PA para detecção de três entalhes, espaçados em
1 mm (à esquerda); resolução lateral para ondas transversais de 8 MHz, VPA = 1O
mm para a detecção de dois defeitos espaçados 0,5 mm e localizado a uma
profundidade z = 17 milímetros (à direita).
Resolução Angular - A resolução angular é o valor angular mínimo entre

dois A-scan onde defeitos adjacentes situadas na mesma profundidade são
distinguidos com o transdutor na posição estática (ver figura 73).
- ®
J
Figura 73 - Resolução angular e detecção de três SDH (Furo Cilíndrico Transversal)
=
-
de 0.5 mm espaçadas por 0,8 milímetros e 1,2 mm; SDH estão localizados em z
25,7 milímetros: (a) princípio; (b) ângulo corrigido e profundidade real; (c) eco
dinâmico .
.....
(50 Trei n~mento Ultrassom Phased Array
• • • • ••
••I •
Figura 74 - Exemplo de resolução lateral, imagens S-scan para 1O "pits" de 0,5 mm

espaçados por 0,5 mm de um gancho de rotor. Características do transdutor: 1O
MHz, p = 0,31 mm, n = 32 elementos, F = 15 mm, onda longitudinal.
Outro exemplo de resolução angular para detectar e dimensionar trincas na

raiz da solda é apresentado na Figura 75.
Figura 75 - Exemplo de resolução angular para detecção e dimensionamento de

trincas na raiz da solda, separadas por 2.5 mm.
,-
0 º Trein~mento Ultrassom Phased Array
Lóbulo Principal - O lóbulo principal é a pressão acústica dirigida para o

ângulo programado.
Lóbulo Lateral - Lóbulos laterais são produzidos por vazamento de pressão

acústica a partir de diferentes elementos do transdutor e definidos a partir do lóbulo
principal.
-- Lóbulo Grade - Lobulos Grades são gerados pela pressão acústica devido a
amostragem dos elementos do transdutor (ver Figura 76}.
Suas localizações são dadas a partir da fórmula abaixo:
== sin 1, 111 A , [in r,1d]

!'
Onde: m = ±1 , ±2, ±3,...
Steering angle
Figura 76 - Plotagem dos Lóbulos para um transdutor Phased Array: M = Lóbulo

Principal; S = Lóbulos Laterais; G = Lóbulos Grade. G é mostrado em laranja; o
lóbulo principal, em amarelo (esquerda}. Exemplo de dois lóbulos grade simétricos
(G), devido a uma grande distância do pitch e o tamanho do pequeno da abertura
ativa para transdutor de 4 MHz de onda longitudinal (à direita}.
--
0º Trein~mento Ultrassom Phased Array
Para otimizar o projeto de um transdutor Phased Array, precisa-se:
• Minimizar a largura do lóbulo principal

• Suprimir os lóbulos laterais
• Eliminar os lóbulos grade
Apodização do Feixe - Apodização do feixe é uma característica controlada

pelo computador que aplica uma tensão mais baixa para os elementos exteriores, a
fim de reduzir os lóbulos laterais.
Amplitude dos Lóbulos Grade - A amplitude dos lóbulos grade depende da

dimensão do pitch, número de elementos, frequência e largura da banda. (ver Figura
77 e 78).
:.,
p ~ 9, r. 8
b)
3MH: p: 6: n =.1 .1 t,1
..
,, '·'
5 f.lhz
p = 36, n - JO
Figura 77 - Lóbulos Grade depende: (a) frequencia; (b) dimensão do pitch, e número
de elementos {abertura constante de 72 mm).
CQ Treinamento PáginaSS
. ....
..
1
"
' : .e
.. -
: <: 1
i..W - L0iê • º(
DN= ?Y{,:
1
1
;-
1• •
.,.. 1 .. (
- .. . '
;,e: .J• • ,..,
::,::- ....
··----· '
• •• 1
,:..
..__ ••
r 1
~
.../"
l·
r "'Wtv'faJ .
Figura 78 - Influência do amortecimento (damping) em lóbulos grade para um
transdutor de 1 MHz com focalização z = 60 mm (simulação utilizando PASS).
Esquerda: largura da banda de 20%; direito: largura da banda de 70%.
Os lóbulos grade podem ser diminuídos da seguinte forma:
• Diminuição da frequência
• Redução de Medidas
• Aumento do tamanho da abertura ativa (número de elementos ativos)
• O aumento da largura de banda, o que estende os lóbulos grade
• Reduzir a faixa de varredura (adição de uma cunha)
• Subdividir os elementos (corte elementos em elementos menores)
• Redimensionar o espaçamento do elemento (usando posicionamento irregular
do elemento para acabar com os lobos de grade)
-.
(50 Trei~~mento Ultrassom Phased Array
Normalmente, a otimização do projeto do transdutor pode indicar tamanhos de

elementos pequenos, tais como grande variedade do sistema Phased Array. Assim,
não pode haver uma compensação entre o sistema de otimização e o custo.
1 o o
, : li • r : l CÍ
Figura 79 - Exemplo de elementos grade dependendo do número de elementos

ativos
3.3 Transdutores Phased Array
Para cada situação especifica, o design do transdutor deverá considerar os

seguintes princípios:
• Design compacto, caso de alta qualidade, boa absorção de choque, boa

proteção contra os elementos.
• Capacidade de governar o feixe através do intervalo de varredura adequada
não gerando lobos grade com ondas longitudinais. utilizando o contato direto.
• Possibilidade de orientar o feixe de o º a 70 º p ara matrizes lineares em
modo de onda longitudinal e de 28 º a 85 º em modo de onda transversal com
transdutor na sapata, ou através do intervalo de varredura adequada.
• Alta largura de banda (PN> 75%), isto é, duração de impulso tão curto
quanto possível (veja a Figura 79 como uma diretriz para um transdutor de 1 ,5 À)
• Possibilidade de utilização de técnicas de conversão de modo e em tandem
• Pequena variação da sensibilidade (menos de ± 2 dB em condições de
fabricação) entre os elementos do transdutor
• Pequena variação do ganho de referência (menos de ± 3 dB) entre
transdutores de mesma família.
• Cabos a prova d'água.
• Resistente à radiação (106 R / h) para aplicações nucleares.
......
0º Trein_:1__mento Ultrassom Phased Array
• Facilidade de etiquetar e identificar.

• Flexibilidade para utilizar o transdutor Phased Array em vários projetos, e
não somente nos modos de onda longitudinal ou transversal.
.......
1,6 , - - - - . . - - - - . - - - - - - - - . . - - - ~ - - - - . - - . . . . . . . . - - - . . - - - - - ,
1
1.4 ~ ~ ~
- - . - . \ .. - .. .. - .. - . . . . - -:- . ... - - - . - - . - ~ .'
---~----·~------,--
1
· ·--
..
' • • t • •
1
.
-
1/1
1.2 --~-----,----·- ,·--·--
:L
- ,2
e
::,
'O
0.8
0.6
Ili
1/1
3
o. 0,4
0. 2 - ---· -:--- - · -~------:- - ----~- -- - - - -:------}- --- - -:- ··----!--- .. --:-

' I I f
o +---r---.----,.--,.--..--....---.---.---.-..--,---r---.-- - . - -.--"T"""".......----r----r'---1
o 2 3 4 5 6 7 8 9 10
Center frequ ency [ MHz)
Figura 80 - Valores recomendados de duração de pulso para transdutores de 1,5 À.
Seguem abaixo alguns passos necessários, ou raciocínio para se projetar um
- transdutor Phased Array
1 - Se a peça a ser ensaiada é isotrópica, verificar se:

\. .
< tt?:-l p•~'ú'
.f~1ax 60
grain
Onde: O grain = tamanho médio do tamanho do grão.

Isto irá evitar atenuação excessiva e ruído estrutural devido a alta frequência.
2 - Determinar a faixa máxima de varredura: incluir uma sapata com ângulo

refratado no meio do intervalo de varredura ("ângulo natural"). Este determina
o tamanho máximo campo.
3 - Calcular o ângulo para evitar lóbulos de grade, definido p <À / 2.
0ª Trein~n,ento Ultrassom Phased Array
4 - Verifique se lóbulos grade inevitáveis podem gerar indicações espúrias.

5 - Verificar se o campo for superior ao valor do comprimento de onda,
quando ela é usada com uma sapata, uma altafrequência (f> 6 MHz), e uma
largura de banda alta (BWrel> 85%).
6 - Definir a profundidade focal ideal para o ângulo máximo refratado
(abertura eficaz mínima); esta determina a abertura real do transdutor.
7 - Definir o comprimento de campo próximo.
8 - Verifique se Fmax < No.
9 - Definir a profundidades focais máximas e mínimas; esta determina o
tamanho da abertura passiva.
1 O - Verifique se A> Wpassive e Wpassive> 1 Op.
11 - Definir a quantidade de elementos.
A
11 = -
p
12 - Especifique o BW e valores .6.r-20 dB, o comprimento do cabo, elementos
específicos para o transdutor, como uma entidade única.
13 - Avalie outros fatores do modelo KLM: influência do comprimento do cabo,
impedância elétrica, e sensibilidade.
14 - Avalie as perdas de ganho da superfície de contato (ver Figura 80) e
rugosidade da superfície interna(ver Figura 81 ).
15 - Avaliar a perda de ganho devido à atenuação na sapata e na peça de
teste.
16 - Avalie o ganho total utilizado e a SNR para o seu refletor (sob o pior
cenário).
17 - Desenhe as curvas de detectabilidade para os ângulos extremos S-scan.
18 - Se o SNR é inferior a 1O dB, considere uma das seguintes opções:
aumentar ou diminuir a frequência, aumentando o tamanho da abertura, ou
focalização do transdutor.
19 - Realize os passos de 1 a 16, mais uma vez. Se a SNR for maior do que
1 O dB, em seguida, encontrar as dimensões do feixe.
20 - Avalie as resoluções axiais e laterais.
21 . Executar uma simulação para confirmar os resultados.
CQ Tremamento Página 59
...
C:ª Trein~mento Ultrassom Phased Array
RMS (micro inch)
125 250 soo

o ~ ~=----.---.--,---..-;-,----.-,--r--r----,----.---.---,
-2
-6
cê
~
-8
e:
9 -1 O
,;·
'-
~ -12 .
,, J!
~
- 14 . • ·
- ?2s ::.Hz , ASME
·····-·-····· ·---- .. -~ ................. .
,
' ,
a
E
< -16
- s :.·H~ ..:······ ···········-~·-· ·· ··
1
1
'
'
•
. ···- ····
-18
- - 1> •.t1-:
.. - 1o t.•Hz .
t· -
.'
. . . - .. - . . . . . . . . . . - ......... - • • • • • • . .. • -
.
1
1
-20 - ' - - - - - - - ' - ' - - - - - - - '''---- - - - - '

.•
O 5 10 15
Roughness R<l {micronsj
Figura 81 - Queda de sensibilidade devido ao contato em superfície rugosa.

Acoplante: glicerina; refletor de referência: SDH com um diâmetro de 2 mm.
ASME V exigência de rugosidade é de 250 µ em. {micro-polegadas).
10 ', 4H.:
TW·-n°
25 · · i"= 20 Oíllí • · · · · · · · · · · • • • • • • · · - · · - • · · • • • • • • • ·
F= 20mm
co 20 .. P. :=. J{3~ ::. Zlr. . . -....... .... .
~
<.,
v
:::
::: 15
a.
;::
~
~ 10
o
z
5
10 20 30 40 50 60 70 80 90 100 110 120

Roughness Ra [microns)
Figura 82 -Aumento do ruído devido à rugosidade da superfície interna.
- Acoplante: glicerina. Refletor de referência: EDM entalhe de 12 mm x 1,5 mm.
(.,_CQ Trei~amento Ultrassom Phased Array
.r
Identificação do Transdutor - As características mínimas para identificação
do transdutor (ver Figura 83) sâo:
• Frequência
• Tipo do Transdutor (linear, anular, matricial)
• Número de Elementos
• Dimensão da abertura ativa
• Dimensão da abertura passiva
• Dimensão do Pitch
• Número de série
Outras informações a serem identificadas (opcional)
• Altura do primeiro elemento

• Ângulo da sapata
• Velocidade da sapata
Cable~
Stainless steel
case OLYMPUS Damping
material
~i~zocomposite;
/.._
/
~==~~:::::=:::!!::::=~==~~==~ ~ Matching layer;
/. 4
Figura 83 - Exemplo de identificação do transdutor Phased Array.
Os transdutores Phased Array geralmente possuem um padrão de

identificação e explicações de suas numerações (ver Figura 84).
l
F1,·q11~11t"'
2L16- Wl-2.5-0M ( ,nau,,•~ r t)'I"'
All,1)' r ~pl' ( .,1,1.· h- 111_11h
N11ml:11:1 ui ,.+·111t·nt\ (.'""'.J 1yp,•
,,,.,,,,. ty p•·
\\•,..,., l)'pl·
fld1,td•·tl ,lll<Jlt: j·, \t•:d
GtossHy Us(d to 0 1der Ph,ised-Array Prlbes

~I C<lUl' llCY R~lr.J<ll·d ,1n9le in itcl'I CHin!J l)'l>l'
.. l ~ J l\ MI-, J1l• 1tt .,tt, t \•, ... J,,-
(u,,.. t ,nfy wUh )fihe"\} <11\lH•J t,1:-.• n, tlt- ,.1nn• JKvh1• l..a.111 v
)
I \
)Mllt
I , t.lH. .. 1~
\\'J\C lypc
l)V
( .1111(' l"OlJlh
;, S : S n,
111 IOMHJ s ,hC',tt '" ,h t• ( 011n1.'< lur 1)'l't.'
Att") tn,., \ 1 lh.,lCWlilJI V.11••• 0'-,1 0n•ht\4•r• t nrw1h,
l lmc.u \U11:d \n!y .... ,th ~•l~<lfAld '"V11C 1111 <'l} Ut ij11~tttu,k1• • .rMc."" 1 •r
Nu111lw1 of t:l~mt•nh Prulil• l)lflt'
fl, lfl ..1, rn nh A ,,w,t.. 111•,,11 ,, lh • •h-rn.d ,.... ~1,•
I,.> 11 ..t.·:na,I\ \\' ,lt'4Jht h'9'UO \\tlh t"lh""fl•lt•~ " .. lt>""
•• 1 , .....1,-n,•111, f tttnt ui
111\ 11&..C.'fwnh 1 trnn"....hhh
Figura 84 - Explicação da numeração do transdutor Phased Array
Caracterização do Transdutor - é uma avaliação QA de características

específicas em um transdutor Phased Array, a fim de estabelecer o valor ou valores
reais do transdutor para sequência de inspeção / qualificação procedimento.
• Ângulo Refratado [ 1
• lndex [mm]
• Atraso da Sapata [s]
• SNR [dB]
• Profundidade Focal [mm]
• Distância focal (profundidade de campo) [mm]
....
• Divergência do Feixe (dimensões) (1
• Zona Morta [mm]
• Resolução do Campo Distante [mm]
• Resolução Lateral (mm]
• Resolução Axial [mm]
• Frequência [MHz]
• Duração do Pulso [uS]
• Largura de banda [%]
j
• Localização dos Lóbulos Laterais / amplitude [º/ dB)

• Localização dos Lóbulos Principais / amplitude[ º/ dB]
• velocidade real na peça de teste [mm/ ms, m / s]
.....
• Amplitude Cross-talk entre os elementos [dB]
• Número de elementos mortos
• Fiação elétrica (conectividade entre o número de elementos e o número de
geração de pulsos)
• Aspectos mecânicos do transdutor (carcaça do cabo, o desgaste do
.....
transdutor)
• Conexão elétrica
• Reprodutilidade do Elemento (variação da sensibilidade)
• Impedância Acústica [O]
Tolerâncias do Transdutor - são tolerâncias geralmente aceitas pela

maioria dos padrões e profissionais, ver tabela 04.
Featnre Tolerclnce Remc\rk s '-
Center trequency ±10 °o Ditterent eYaJut\tion method::;..

B<U'l.d,,·id th +"O ºo Depends on setup.
Pulse dur.üion ±20 ''o Depends on setur.
Pulse length ±1: À Depends on setul-'·
Refracted ,1ngle ±2 : Could be l~trger (±.3 · to ±3:) for
í3r > 63·.
Foútl depth ±30 '-'o Depends on me,1Suren1ent
method. ......
Inde:\ point +"m1n ~ Iigrates ,dth refr,1eted angle.
Imp edance ±30 °o Dei-,ends on sehtp.
Elem ent sensitiYit,· ±2 dB Edge element::;. mc1~· haYe 1Mger
,·alue.
Cross-talk ,,mplihtde < -!O dB; Depends on element position and
± 10 dB refraded .mgle.
1
Tabela 04- Tolerâncias praticadas nas características do transdutor Phased Array
l
-
3.4 Sapatas Phased Array
Transdutores Phased Array são normalmente utilizados com Sapatas.

Wedge Delay - Atraso da Sapata {DW} [uS] é o tempo do percurso para
- ângulos específicos da sapata {toda espessura). O cálculo é detalhado na Figura 85.

\
\
-
....
• Wedge
-
--
\
\
\
----~
\
~---$.
,''H
. .__..___._~--~~~--~·. .,______,
- 1
1
:----
1
1 -{
1
1
F1gura 85 - Informações da sapata para cálculos de wedge delay e index.
As sapatas Phased Array geralmente possuem um padrão de identificação e

explicações de suas numerações (ver Figura 85).
N111ttho!ri11y Sy~re11• U\e.1 to Or(. r Wed,;l''>
SA1-N45S
Wt 11'1<' l ,f ,. ', V1 .. IHI(
l'rnh~ 111 111,HUI) Mt•h.,, h·tl ,UliJh• lu ,,,.,.t
Glo)Hry Uied to 01/!,·1 Wc:d}i:~
WMfgf't)I"'
\_AI
\AJ
\! 1
'°'~"tç, .Vl~f.r t-Nft prc.. l)f"4' AI
"""t,.J- t• e .at)IJl-r l., Ãt J?t• <I • t f"C" AJ
..., ..tq- ft~ 1t1liJf, lwAm f!hrt• t ,1w U
o
(•
t,Q
.
Mt-tr.st•, 'ft .iruJS.- ln ,1, • l
n
úl
ru,I~
'•
m,,ueu "'I
n ,m,N tr,.11 .,11, 1
\\',1\1•
\
'YI"'
hf'.1f' .... .,._,
1 l,, ...... , .. ,, ...... , .•. ~ ... 1 l'la1fi1U !ir,11 INJ,•
U111.1éttri119 Syi:1em Uscc! to Orr:l!r WIHt't B·ni'S
WB13-25-E [IHOtl1•r
\\
1
.11 •• , 11hu11u IWttJhl
Glc,1\\l 1y Uwd to Ou.'er Watu Bo•"I
\'J...... l m• tyjw \\
1
.,1,., ~d1 11,1t1 lhi11t,t if'll(,i'.,ld'
'.'.ftl
.., ..t~ }..hl,1 f•1t11t11U,•t IU 1111111, f • 11\ 111 1 U• ,4,.,
ft.w-.-wt,uu IH"" li }\ :i. '"~1 :r,l n11hutal•ns. u,
\\IUI 111\.lh• bM lrA t1t1n, ,\f ilt 41' !· ,un
11a,,duo11 1c,rl/
\ 1,f:U WMIN 191 f1111 lililh , .. ,.,
u,,Ht..,u, ')'"' 1\
Figura 86 - Explicação da numeração da sapata Phased Array

CQ Treinamen~o Página 64
....
(.:_0 Trei:_amento Ultrassom Phased Array
4. Tipos de Varredura
Detecção de defeitos e confiança no dimensionamento são baseadas em

padrões específicos de leitura e combinações funcionais entre o scanner e o feixe
Phased Array.
A inspeção pode ser:
• Automatizado: o scanner é movido por um motor e controlado por um drive:

• semi-automático: o transdutor é movido a mão, ou utilizando um scanner
manual, mas o movimento é lido por um encoder e os dados são aquisitados;
• manual (ou baseada em tempo, às vezes chamado de inspeção livre): o
transdutor Phased Array é movido a mão e os dados são salvos com base na
aquisição pelo tempo, ou em alguns casos os dados não são salvos.
Varredura Linear - é uma sequência de varredura de um eixo usando apenas

um codificador de posição (seja de digitalização ou índex) para determinar a posição
da aquisição. A varredura linear é unidimensional e prossegue ao longo de um
caminho linear.
As únicas configurações que devem ser fornecidas são a velocidade. os

limites ao longo do eixo de digitalização, e o espaçamento entre as aquisições (que
pode depender da resolução do encoder).
Varreduras lineares são frequentemente utilizadas para aplicações tais como

inspeções de solda e mapeamento de corrosão. Varreduras lineares com eletrónica
de varredura é tipicamente uma ordem de grandeza mais rápido do que varredura
com ultrassom convencional.
A Figura 87 mostra uma típica varredura de ultrassom convenciona

(esquerda) e uma varredura linear equivalente (à direita). A varredura linear poupa
tempo tanto nas zonas "nulas" onde as varreduras de inspeções mudam de
direções, como também nas varreduras normais.
CQ Tre,namento Página 65
- Q OTreir1__:1mento Ultrassom Phased Array
- .- - - ,. " .. "
- - - 1 •
Figura 87 -Varredura Ultrassom Convencional x Varredura Phased Array
Durante a varredura linear, a o transdutor Phased Array emite uma varredura

eletrónica, ou uma varredura S-scan, ou várias varreduras. Dependendo do setup ou
do instrumento, pode ser realizado varias varreduras simultaneamente. Por exemplo,
a Figura 88 mostra varreduras eletrônicas com dois ângulos de acordo com as
especificações para inspeção seguindo os requisitos do ASME.
Figura 88 - Típica varredura eletrônica com dois ângulos para soldas com
transdutores Phased Array. Normalmente são utilizados em ambos os lados da
solda.
Varreduras lineares são muito úteis para a caracterização do transdutor

sobre um bloco de referência com furos cilíndricos transversais (ver figura 89).
===::=:::::=:=::::=:::::==:::=::::::==::;:=::=:::=::=::::::::::;;:::::::::=:=:::::::;;:::--. X
- - - - -- - - -- - - - - - - - - ~;?"
,...:a....-L"-: .......
Figura 89 - Varredura linear para caracterização do transdutor.
-.
-------
(;O
....
Trein~mento
____
Varredura Bidirecional - a varredura é realizada de forma que o transdutor

se movimenta para ambos os lados com relação ao eixo axial (ver Figura 90).
Varredura Unidirecional - a varredura é realizada de forma que o transdutor

se movimenta para apenas um lado com relação ao eixo axial (ver Figura 90).
V.J..r,M S so.r. A'< ~

f:lC,Ef . EE
• •
.! ..
! r ..
~
·~ •
~
.
•Z-
r •
~ .. ! ~
r ..
! ... r •
• ! r ..
! .. r ..
..... ! r ...
; r:; R!CilOt,;,.1 :e:.·.·~ :, 5 U!~?DlECilO~ LS:~r,•, ·, ~
M O\'L'.'E~:- ·:,1" !i r CQ)l:iílC•11

',10\'t'! l ':- \',TiHOU • .;,:Q..,13 Th.,•,
Figura 90 - Varredura Bidirecional e Unidirecional.
Varredura Helicoidal - A varredura helicoidal é usada para inspecionar

superfícies cilíndricas. O Scanner realiza um movimento helicoidal em torno do
cilindro. Dois encoders independentes controlam a varredura. O encoder da
varredura axial controla a rotação contínua em torno do cilindro, enquanto o encoder
de posição axial controla o movimento contínuo ao longo do comprimento do
cilindro. O sinal de sincronização pode ser utilizado para reiniciar o encoder do eixo
de varredura para posicionar o "Zero" depois de cada rotação em torno do cilindro.
As varreduras helicoidais são bastante utilizadas na inspeção de tubos, e

podem ser realizadas girando o tubo ou girando o sistema do scanner com os
transdutores.
(:OTre in~mento Ultrassom Phased Array
As combinações destes dois movimentos irão criar uma varredura helicoidal

(ver a Figura 91 ).
~----------
lndex axis
•
Scan axis
Figura 91 - Varredura Helicoidal
Varredura Espiral - A varredura espiral é projetado para inspecionar

superfícies circulares, tais como discos. O mecanismo de inspeção executa um
movimento em espiral sobre a superfície circular (ver Figura 92). Dois encoders
independentes controlam a varredura. O encoder de varredura axial controla o
,.... ângulo teta (9) em rotação contínua em tomo do centro de superfície; enquanto o
encoder do eixo de posição controla a posição (p}, no movimento contínuo ao longo
do raio. Um sinal pode ser utilizado para reiniciar o encoder do eixo de varredura
para a posição zero após cada rotação.
1
\
........ ___ -
Figura 92- Varredura Espiral
(:OTrein~men to Ultrassom Phased Array
Direções do Feixe - A direção do feixe do transdutor Phased Array pode ter

as direções mostradas na Figura 93 em comparação com os index do eixo de
varredura. Estas instruções são definidas pelo ângulo de inclinação do transdutor.
Scan axis
r---------~ r-------- -~
VI
] ~ ....1_•_3_3_...
•
1
.,.
•
r---------~ r------- --~
'-
1
1
•
1
Figura 93 - Posição do transdutor e direção do feixe em relação ao index do eixo de

varredura.
Outros Padrões de Varredura - em tese, o movimento do transdutor e a

direção do feixe pode gerar padrões de varredura para qualquer uma das seguintes
combinações (ver Tabela 05 e Figura 94 a Figura 96).
Peça Scanner Feixe Varredura

Fixed Fixed Line.u (transfation1 Linear scan
Fixed Index a..'<is Liiw,u· (rntation > Helicoidal '-
Translation Fixed Ltne,u (rotation ) Helico11..fal ..,.
Fixed 5~,U"\ ,l..Xl.S Line.u (QOc ske,,·, l'n idunensional
Tabela 05- Varredura de Inspeção dependendo da peça, scanner e feixe.
'-
(._CQ Trein~~ento Ultrassom Phased Array
B.;J"t', l1 r:;;,J· ~Jr:

---------------------------- .
- Cri 1,n,a scJn
- ..
- -
- Figura 94 - Princípio de varredura eletrõnica do feixe. Peça e transdutor não são
movimentados.
Figura 95 - Varredura eletrônica e linear da solda. Varreduras perpendiculares ao

eixo (Ultrassom Convencional) são eliminadas através da varredura eletrônica do
transdutor Phased Array. Note que as sapatas são utilizadas para reduzir o desgaste
e otimizar a incidência do feixe.
(:OTrein~_n,ento Ultrassom Phased Array
Figura 96 - Geral sobre a varredura helicoidal pela combinação da translação da

peça e rotação do feixe.
Varredura Baseada no Tempo - se o encoder é configurado pelo tempo,

então a aquisição é baseada na varredura pelo tempo (segundos), ver figura 97. A
varredura é usada para detecção e dimensionamento, mas não deve ser utilizada
para plotagem do defeito.
...,..
'
--- -
Figura 97 - Exemplo de varredura baseada no tempo (B-Scan e S-Scan). O valor do
eixo horizontal B-Scan é o número de dados aquisitados pelo A-Scan em um
intervalo de tempo.
O tempo de aquisição pela varredura baseada no tempo é calculado pelo

número total de aquisições, dividido pela taxa de aquisição:
CQ reinamento Página 71
.- CQ Trein a mento Ultrassom Phased Array
5. Sensibilidade (Calibração TCG)
Um exemplo de calibração da sensibilidade conforme os requisitos do ASME

é a construção de uma curva TCG que ira cobrir toda a faixa de espessura das
partes que serão inspecionadas para cada um das leis focais Phased Array
conforme sequência:
1 - Posicionar o cabeçote Phased Array no bloco de calibração de modo que o furo

seja detectado na inoidência direta na maior amplitude {eco maximizado);
2 - Acrescentar o ponto à curva TCG usando um ganho que leve o eco de resposta a
80%;
3 - Repetir para todos os demais furos para atender a cobertura total da região de
interesse da peça a ser inspecionada;
4 - A TCG deverá ser construída da mesma forma para todos os canais Phased
Array.
A figura 98 exemplifica uma calibração da TCG para feixes sônicos angulares.
Plotagem do 1e ponto da TCG Plotagem do 4e ponto da TCG
Plotagem do Sç ponto da TCG

Plotagem do 2º ponto da TCG
Plotagem do 3° ponto da TCG Plotagem do 5• ponto da TCG

Figura 98 - Exemplo calibração TCG para feixe angular setorial.
-- CQ Treinamento Página 72
A calibração da sensibilidade TCG é realizada utilizando-se blocos de

referência com furos cilíndricos transversais. Exemplos de Blocos Planos conforme ,
T-434.2.1 e Blocos Curvos conforme T-434.3.2 definidos no ASME Seção V Artigo 4
Edição 2013.
Figure T-434.2.l
Non-Piping Calibration Blocks
•1 o l',C!tf: lj '.'
1 + .i r ,1 ---";; -.
) , . .-···"'!-•
1 /
/ ...,.-..- /?-<,.. '2T-
\ ' ; .,. ,· .
'
1
1 ,., J
..... CT '-
---- -- '-
t_
Minimum d1mens1ons
D; l ·2 1n. (13 mm!
W,dth; 6 in 1150 mml
length = 3 x Thickness
Cladding (if present'
Sotdt Oimcn.~lon.~1 1n. (mm )

'.\,,(ui Úll>lh 1 <> / tu.; - T
"o,tC'h ·.·.1<nh e', 1 lh ml,
Notth lml!th 1 1JS I nun.
C.ili brotlon Block Thlcknes\ (71, Uolc Ulametcr, ln .
Wcld Thlckn!:S'i (1). ln. (mm) ln. (mm) (mm)
llp tn 1 (!.'iJ /, ( l~l r,r 1
U\'l'I t (~5) through :! (50) 11/. p;q llr 1 '/ IJ)
1>. tr 2 !511 th~,>tJl:h 1 ( IOIII :; (• ;;JMI j:';
lhcr 1 lJllU 1 • 1 (:?5}
Figura 99 - Bloco Plano para Sensibilidade conforme ASME V.
<5Ó Trein~men~ Ultrassom Phased Array
Figure T-434.3-2
Altemate Calibration Block for Piping
\. T a1<1a1 '"ole -
; . T ta n{l~'.'lt1Jl h~'a í~:,:., \2•:

.
...
1
.: '',
\
.
I '
'
l \ ,,
,.
. ,.:.:;_
i.5 in. (38 mmi mm. ·',.,• ,.
/
1
,
-. - {-:..-- -_-:,
1
~
A>. ,:il nottll íl l

i " " ;.o ln, t2S mm• or T
""
1.0 m 125 mm mm li
ll t
i t •, •'
,• ~=.:: ..
1.5 in. cs3mm ,m,n
.,,,•, :,•: 1.
~ ,, ...
t'
~
'\
t /
i \ º. Tt.i n{l;n113I h -:,fn (Nct, 1 12 •!
·• T .:ix,al t,o!o ~. T ax1JI no•o
--- - ---~
.r T
Ci i 5 n.
Figura 100 - Bloco Curvo para Sensibilidade conforme ASME V.
-
~Q Treinamento Página 74
(5=0 Trein~mento Ultrassom Phased Array
6. Calibrações e Verificações
Os equipamentos de ultrassom Phased Array exigem algumas calibrações

que precisam ser realízadas antes de iniciar as inspeções. Tratam-se de calibrações
de velocidade do material a ser inspecionado, atrasos do som devido as sapatas e
também equalização de sensibilidade para garantir que indicações seja detectadas
com a mesma amplitude independente da profundidade ou ângulo de detecção.
Calibração da Velocidade - esta calibração define a velocidade do material

a ser inspecionado e pode ser realizada utilizando o bloco de calibração V1 -
EN 12223 no caso de inspeções em aço carbono baixa liga.
Um exemplo de calibração da velocidade para feixes setoriais de onda
transversal pode ser realizado utilizando os recursos do software do equipamento.
Neste caso a velocidade é calculada com base no percurso sônico dos ecos
múltiplos de 100 mm e 200 mm provenientes do raio de 100 mm do bloco V1 (ver
Figura 101 ).
1 ~
\
1 1
1 'I
1if",. ,1
1 li I
1 1
li \ i1
+ o
• 100 200
Figura 101 - Exemplo da calibração da velocidade
Calibração do Atraso da Sapata - esta calíbração pode ser realizada

através do raio de 100 mm do bloco V1. O objetivo da calibração do atraso da
sapata, conhecido também como Wedge Delay ou Probe Delay dependendo do
equipamento, é garantir que um determinado refletor ou descontinuidade seja
detectado na mesma profundidade ou distância projetada independente do ângulo
de detecção.
--------~
0ª Trei~mento Ultrassom Phased Array
$1
1
+
Figura 102 - Exemplo da calibração do atraso da sapata.
-
Calibração da Sensibilidade - esta calibração pode ser realizada através do
..... furo de 1,5 mm do bloco V1. O objetivo da calibração da sensibilidade ou
equalização das leis focais é garantir que um determinado refletor ou
descontinuidade seja detectado com a mesma amplitude independente do ângulo de
detecção.
-......
- ...
~
'
1
$
Figura 103 - Exemplo da calibração da sensibilidade.
Além das calibrações de velocidade, atraso da sapata e sensibilidade, serão

necessário inserir outras informações no setup do equipamento antes de iniciar as
inspeções. Informações como lndex offset, Scan offset são importantes para garantir
os posicionamentos corretos dos transdutores Phased Array fixados em um scanner.
0ª Trein:1mento Ultrassom Phased Array
Um exemplo do esquema de posicionamento dos transdutores Phased Array

em conjunto com sistema ToFD é mostrado na figura 104.
o r
Canais PA Canais PA ; 1
,' / 65 a 128
1 a6<i ; /
(Negativo) (POSl!IVO) /
PC S
,, ; '
90 270
Canais TOFD
63 e 64 ou 127 e 128
_,jr~,-1~~---'-~-----:~
..
180
Scan Offset
..
lndex I lndex
SKEW90 1 r
.:.> (!:, 2 SKEW 270
\ 1 //
\ 1 /
Figura 104 - Esquema de posicionamento dos transdutores para o Equipamento

Omniscan .
7. Software de Aquisição de Dados
Durante uma varredura com o dispositivo mecânico, os dados são coletados

com base na posição do encoder. Os dados são exibidos em diferentes pontos de
vista para a interpretação.
Normalmente, o Phased Array usa vários A-Scan empilhados (também

chamado de "B-scan"), com diferentes ângulos, percursos sónicos e tempo de atraso
em cada elemento do transdutor Phased Array.
A real informação do número total de A-Scan, na qual são acionados para

posições especificas do transdutor, são mostrados em escaneamentos setoriais ou
S-Scan, ou escaneamento eletrônico 8-Scan.
(50 Trei n_a m ento Ultrassom Phased Array
Ambas varreduras S-scan e eletrônicas fornecem uma imagem global e

rápida sobre informações de descontinuidades e possíveis componentes detectados
na gama ultrassônica em todos os ângulos e posições (ver figura 105).
® PA probe @
•
o
o
o --
·-
Figura 105 - Detecção de quatro furos cilíndricos transversais (SDH): (a) princípio de
varredura setorial; (b) Vista S-Scan usando ± 30 ~
Plotagem dos dados para o layout 2-D da peça de teste, chamado de "S-Scan
corrigido", faz com que seja simples a interpretação e análise dos resultados de
ultrassom. Varreduras S-Scan oferecem os seguintes benefícios:
..... • Exibição de imagem durante uma varredura

• Representação verdadeira da profundidade
• Reconstrução volumétrica 2-D
Imagens avançadas podem ser conseguidas por uma combinação de

varreduras setoriais e lineares com ângulos múltiplos de escaneamento durante o
movimento do transdutor. S-Scan são displays em combinações com outras vistas e
levam a uma forma de reconhecer a imagem do defeito. A Figura 106 ilustra a
detecção de defeitos artificiais, e a comparação entre as dimensões do defeito
(incluindo forma) de arquivos 8-Scan.
(:OTrein~mento Ultrassom Phased Array
Figura 106 - Imagem avançada de defeitos artificiais usando dados unificados:

defeitos e padrão de varredura (topo); display B-Scan unificado (fundo).
Uma combinação de varreduras de ondas longitudinais e transversais pode

ser muito útil para detecção e dimensionamento com pouco movimento do
transdutor (ver Figura 107). Nesta configuração, a abertura ativa pode ser movido
para otimizar os ângulos de detecção e dimensionamento.
Figura 107 - Detecção e dimensionamento de defeitos pela combinação de ondas

longitudinais e transversais.
Feixes focalizados cilíndricos, esféricos ou elípticos ter uma melhor proporção

sinal ruído (capacidade de discriminação) e uma difusão de feixe estreito do que
feixes divergentes. A Figura 108 ilustra a discriminação da furos cilíndricos por um
feixe focalizado.
{.:OTrein~me nto Ultrassom Phased Array
L......:. ln . in . 1,..,, ~' · i,, ;., ' i., · u n ' ,. · ,,, 1. ,_._, · i... ~ ... · ;,.,. · i ,,
- .1
Figura 108 - Discriminação (resolução) de furos: (a) vista de topo (C-Scan); (b) vista
lateral (B-Scan).
A análise em tempo real pode ser combinada com o movimento do transdutor,

e os dados fundidos em um único ponto de vista (ver Figura 109). Esta característica
oferece os seguintes benefícios:
• Alta redundância
• Localização do defeito
• Plotagem exata
' • Imagem Defeito
-
(::ª Trein~mento Ultrassom Phased Array
a+ b+ e
'---·- . ..
,,,,.---
Figura 109 - Padrão de múltiplo escaneamento e arquivo unificado para mostrar

técnicas de potenciais defeitos
A figura i 1O mostra o volume de planos setoriais. Cada fatia apresenta uma

secção do defeito em uma posição diferente. Essas fatias comparam a metalografia
com varias fatias durante dimensionamento e caracterização do defeito.
Figura 11 O- Vários padrões de leitura e dados mesclados para mostrar técnicas de

imagem de potencial defeito.
-
(:O Trei~a mento Ultrassom Phased Array
8. Análise de Dados
As análises de dados ultrassônicas podem ser visualizadas por imagens

definidas por diferentes pontos de vistas entre o percurso sônico na peça e os
parâmetros de escaneamento (índex). A vistas mais importantes, semelhante a um
desenho técnico projetado em 2-0, é mostrada na figu ra 111. Estas vistas
projetadas são planos ou planos acumulados vindos de C-Scan, 8-Scan e 0 -Scan;
as projeções são chamadas de vistas de topo, lateral e fundo.
Top (Cl view
--~~- ·'
.- , - - -, - : - ~ ~- --
.'
, ·'
,· ·'
,· , · , ·'
, ·'
, , ·'
lndex axis
,,.... ,.
..... ., . '.\
i ;"
.
I , ·'
..•..·· i , .~·
.
..··
,•' ..
1 .',
End (O) view
Side (8) view
Figura 111 - Vistas ultrassônicas (8-Scan, C-Scan, e D-Scan). O skew do transdutor

é 270~ Vermelho, indicações no eixo ultrassônico; azul, índex no eixo mecânico;
verde, varredura no eixo eletrónico para escaneamento linear.
Se o skew do transdutor é Oºou 180 ~ a vista later ai 8 -Scan vai se tornar a

vista 0-Scan, e vice e versa. O 8-Scan é definido pela profundidade e pelo eixo de
movimento do transdutor. O 0-Scan é definido pela profundidade e pelo eixo de
varredura eletrônica.
.,.Q Treinamento Página 82

(:ª Trein~mento Ultrassom Phased Array
As vista ultrassônicas básicas (varreduras) são:
• A-scan
• 8-scan
• C.-scan
• D-scan
• S-scan
• Vista Polar
• Strip Chart (amplitude e/ ou posição)
• Vista TOFD (especial aplicação de escala de cinza em um B-scan)
A-Scan - é uma representação (vista) da amplitude do pulso ultrassônico

recebido em função do percurso sônico, ou uma forma de onda. Um A-scan pode
ser apresentado como um RF (radio frequência) ou sinal retificado bipolar (ver figura
112).
Figura 112 - Representação A-Scan: Sinal RF(esquerda); Retificado (direita)
Codificação de cores da amplitude do sinal retificado A-scan (ver Figura 113)

adicionadas a outras dimensões e fazendo com que seja possível ligar o movimento
das coordenadas do transdutor com o dados do ultrassom (ver Figura 113)
L
~Q Trein:1mento Ultrassom Phased Array
100% r =
~
Q)
"O
::,
·ci
=
E
<:
100
Ullrasonic path / TOF

o •
Figura 113 - Exemplo de codificação de cores do sinal A-Scan retificado usado para
criar uma codificação de cores no 8-Scan.
Dados ultrassônicos com display RF geralmente são codificados como em

escala de cinza, com limites em preto e branco de -100% a 100% {ver Figura 114}
para preservar a informação da fase do sinal. A codificação da amplitude em escala
de cinza é usado em configurações TOFD e análise de dados .
.•1
1
1: :1 .: ,
1:
........
,,.._ '·!
l
f
u-
......
....
Figura 114 - Codificação do sinal de amplitude RF em escala de cinza.
(5=0 Trei~mento Ultrassom Phased Array
B-Scan - é uma visão 2-0 dos dados ultrassônicos gravados. Normalmente, o

eixo horizontal é a posição de verificação e o eixo vertical representa o percurso
sônico ou tempo (ver Figura 115); os eixos podem ser invertidos, dependendo do
visor requerido.
A posição dos dados exibidos é relacionada com as posições do encoder no

momento da aquisição. Essencialmente, um B-scan é uma série de A-scans
empilhados. Cada A-scan é representado por uma amostragem da posição do ....
encoder. O A-scan é •codificado por amplitude de cores (paleta).
A-scans empilhados, ou um B-scan, é efetivamente o envelope do movimento

da dinâmica do eco no eixo do feixe mecânico ou eletrônico. Como tal, esta
exposição alonga imagem do defeito, e distorce o tamanho do defeito, devido à
propagação do feixe e outros fatores. Alguma experiência é necessária com cursor
de dimensionamento para entender e compensar esse problema.
Number of A-scans--- - - - - - - -....
.........
E
-E
iaJ*+4 rw
-r
Scanning length (mm)- - - - - - - - - - .
Figura 115 - Vista B-Scan não corrigida.
....
-
I'
(_:0 Trei~mento Ultrassom Phased Array
Se o percurso do som é corrigido para o ângulo de refração e atraso, o B-

Scan irá representar a visão lateral do volume corrigido da parte inspecionada, com
comprimento de varredura no eixo horizontal e profundidade no eixo vertical (ver
Figura 116).
"
Figura 116 - Vista B-Scan corrigida
C-Scan - é uma visão 2-D de dados ultrassõnicos exibidos como uma vista de
cima ou planta do ensaio. Um dos eixos é o eixo de digitalização; o outro é o eixo de
posição (índex). Com sistemas de ultrassom convencionais, ambos os eixos são
mecânicos; com Phased Array Linear, um é o eixo mecânico, o outro é electrónico. A
posição de dados exibidos está relacionada com as posições do encoder durante a
aquisição. Apenas a máxima amplitude para cada ponto (pixel) é projetada sobre
este "Scan index" vista de planta, tecnicamente conhecido como C-Scan (ver Figura
.... i i7) .
Figura 117 - Exemplo de vista de topo (C-Scan).
~ Q Trein~mento Ultrassom Phased Array
D-Scan - é uma representação gráfica bidimensional dos dados. É

semelhante para o B-Scan, mas a vista é no ângulo direito do 8-Scan. Se o 8-Scan
é uma vista lateral, em seguida, o D-Scan é uma vista de fundo. Ambos D-Scan e B-
Scan são fechados para mostrar apenas os dados pré defindos de uma
profundidade. Um dos eixos é definido como eixo índex; o outro é o percurso sônico
(ver Figura 118). O 8-Scan exibe digitalização do eixo em função do tempo,
enquanto que o D-Scan exibe o index versus o tempo .
•,
Figura 118- Exemplo de vista 0-Scan
Se o percurso sônico é corrigido para ângulo e atraso, o eixo vertical

representa a profundidade. A vista D-Scan é muito usada para analises de dados
usando desenhos de overlay 2-D, particularmente para soldas.
S-Scan - (setorial ou escaneamento azimutal) é uma representação de vista

2-D para todos A-Scans de um canal especifico para atraso e ângulo refratado
corrigido. Um típico S-Scan é uma varredura através de uma faixa de ângulos
usando a mesma distância focal e os mesmos elementos. O eixo horizontal
corresponde a distância projetada do ponto de saída para uma imagem corrigida e o
eixo vertical corresponde a profundidade (ver Figura 119).
.....
-.
...
'· .. _ ~
......
-
----- . ::::: . - - --. ---- -.
, "
h " '('p I J OÇt ( v)
/
..
~
~
L -- '·
...... .. PtoJeCl(d diçlJnce (mm)

........
.. Figura 119- Exemplo de S-Scan .
S-Scan são exclusivos Phased Array, e podem ser de contato com onda
longitudinal ou transversal, de imersão ou sobre uma sapata. S-Scan também
podem ser apresentados como corrigido ou não corrigido; S-Scan corrigido mostram
a posição real do refletor e são uteis para visualizações de comparações de
imagem .
.....
r,: ... W:,-

h• Í •T"":i3 ""' 1,H o,q, 1
... ,,.r,~ ... ~•-...-1
' J<>J I ,. .. ..:J~
Figura 120- Exemplo de S-Scan (com correção do volume) com meio percurso
sônico (à esquerda) e em profundidade real (à direita) para detectar furos cilíndricos
transversais (SDH). Nota-se a detecção de um SDH na parte direita inferior da tela
em profundidade real.
...
Vista Polar - (ver Figura 121) é uma vista bidimensional, útil para traçar
dados de inspeções de peças cilíndricas, usado em conjunto com modelo de
estrutura 2-D que fornece a localização do defeito (Profundidade 10 / OD e ângulo).
-- .
- \ '
I
,1
•
•
.. ' -
.
Figura 121 - Exemplo de Vista Polar
Strip Charts - é uma vista de amplitude de pico do sinal no gate em função

do tempo, geralmente por um único canal. Em alguns strip charts, tais como outros
dados estão inclusos o ToFO. Normalmente, strip charts usam vários canais, cada
um exibindo os dados a partir de regiões específicas de uma so!da ou outros
componentes (ver Figura 122).
1 'J,J' 1
•' li.'. ·r •I • , 11 ,
1 1 ,
.\1
,·1
1 1
•
1 l
..
1
,.,.
i;
.. e,.! 1
l
(
i 1 1 ,
:l
·}
\
~
l '• 1
._
• \ 1
r
F
1 .
Figura 122 - Display Multi-canal Strip Charts de AUT Pipeline
~ Q Trei n~mento Ultrassom Phased Array
Vistas Múltiplas e Layouts - Várias vistas podem ser exibidos na tela em

layouts (ver Figura i 23). Estes tipos de displays necessitam capturar a forma de
onda completa (ao contrário dos Strip Charts mostrado na figura i 22, que apenas
exigem tempo e amplitude do eco no gate). Propriedades específicas e informações
do grupo são mostrados em cada vista.
Figura 123 - Layout de analise com quarto vistas para inspeção de solda de material
dissimilar com transdutores Phased Array de baixa frequência.
As vistas podem ser exibidas como um único plano ou como projeção do
- volume usando a seleção do gate (ver Figura i 24 e Figura 125).
-..
CQ _reinamento Página 90
'
Scan axis
: .•· \ ..··
\ ... ···· ....s,: ,
,
..· : ..···. '
.. I
........ ~ ..··.
.. :...··•
\
I
End (D) vi ew
\ I
\
• I o
Side (B) view
Figura 124 - Projeção de um plano único das vistas 0-Scan e B-Scan.
,-------,,
+ Scanaxis •
Gate selection
\
I
End (O) view
'
I
I
, ~- • 1 "''~ ,,·n t •
\
• I o •., t •• • ····-=· ....
., . "· ~ I
Side (B) view
Figura 125 - Projeção do volume com cursares de referência ligados nas vistas
D-Scan e 8-Scan. Todos os defeitos dentro da faixa do gate são exibidos. _.
~ Q Trei n~ mento Ultrassom Phased Array
Uma combinação de dados TOFD e dados ultrassónicos pulso eco Phased

Array para inspeção de solda pode ser exibido em um único layout (ver Figura 126).
••
~..----------~*------~--~.,.,.
~
,~e, -~--a-
• ~ t.
'I, k:: '"''~ 1.
.. ,-«,~
..
I·
Figura 126 - (a) C-Scan; (b) B-Scan; (e) S-Scan; (d) A-Scan; (e) TOFD.
A técnica TOFD é muito utilizada para inspeções de solda. Nos últimos anos,
o uso do TOFD tem crescido rapidamente para muitas aplicações, tais como
inspeções de dutos e vasos de pressão.
A configuração geral para TOFD é mostrada na Figura 127. A Figura 127
mostra uma típica imagem TOFD.
Transmmer
:"-> ·.___~~~~---Pc_s._2s_ _ _ _ _ _ _~~

.--"'"'\._ LJterJI wJv~i ;.:::/~
···------------- ..... ___

"-1<1>
..- .. --
- --------- ------ - d
,,
___ I
'
_. Lateral w;ives l •1 Low~rtlp H
Figura 127 - Princípio TOFD e sinal das fases para quatro sinais prind pais.
CQ Tre inam ento Página 92
....
Figura 128 - Display padrão TOFD, usando escala de cinza 8-Scan.
9. Desenvolvimento e Implementação do Plano de Escaneamento
Para desenvolvimento e implementação do plano de escaneamento, deve ser

avaliado todos os detalhes dimensionais da solda a ser inspecionada, como por
exemplo, ângulo do bisei, espessura da solda, limitações de varredura. ZTA. Para
que as informações sejam confiantes, recomenda-se utilizar de desenhos técnicos
conforme mostrado na figura 129.
' 1 " li• T ••
~1 /
1
~'
'
.., "
-- · - - ~ ~ 1
l.
.. 1
"
..
Figura 129 - Desenho com esquema geométrico para simulação de inspeção.
::t Treinamento Página 93

::·
... ...... .
........ ,-...,
~---·~
·----
~ ·11·
!
.......
... . . . .
""' ·--• -: .:; .
__ ::;;·.a .
.... " -
;-.;:.,;;-.
-...
-,e.,: •
·······
,.,, ·,t r-# 4'." r...~ !"U"" '!<--..1 ::: •
····""··· ~- ... - ,,_.
:L
1111111111111m1111111mUIIIIIJll1111I11mm111m1
,,...,..._, ,,_, __
Figura 130 - Simulação de inspeção pelo lado interno de conexões. Feixe Linear O~
C::6 1 fP ;J
.,, .... "' :-r-:-

···· ·· ·····
• • i • ;•
. .. ,.. . -·~....
=t.:
~
- -
-- ,
-- · ~\.~
,
5L16-A1 Comµ.,c! .
......., , ,· ;• ---· ·· ·..
~----·
,,., .. :- - · < ·-
.. fl ... . • .i; ~ - : ..~,u ;.i ~ •
"•.. ····•·: .. -_; . .. ..!I~..., ..: -1-l l 1
llllllllllll
, !14We.u... • · --·
_____ __.
Figura 131 - Simulação de inspeção pelo lado do costado. Feixe Setorial Angular.
A figura 132 apresenta uma simulação típica de inspeção de soldas em

materiais revestidos. A figura da esquerda apresenta uma superfície de revestimento
irregular, na qual interfere diretamente no resultado do ensaio. A figura da direita
representa uma superficie de revestimento em boas condições para o ensaio.
/ - n
,.
r-'
1
/
L,
.J
e/ \
'
\
; 1
\L._
1
1
•
1
Figura 132 - Simulação de inspeção de solda em material com revestimento interno.
(50 Trein~mento Ultrassom Phased Array
-·
1O. Introdução a Análise de Inspeções
TomoVlew - é um software baseado em computador usado para o projeto de

aquisição de dados e visualização de sinais ultrassônicos. Os parâmetros de
-
configurações ultrassônicas são flexíveis, exibindo diferentes tipos de vistas. Isto
assegura que podem ser utilizados em uma grande variedade de aplicações, para
pesquisa e para indústria.
TomoView é projetado para executar testes de ultrassom (UT). aquisição de

dados com vários elementos Olympus Phased Array (PA) ou unidades
convencionais (UT), dando-lhe a flexibilidade de escolher a configuração para a sua
aplicação. Pode ser utilizado nos seguintes equipamentos:
_,
• TomoScan FOCUS LT™

• TomoScan FOCUS LT Rackmount
• MultiScan MS 5800™
• OmniScan MX2 PA & UT
• OmniScan MX PA & UT
• o :_:
V..rson 3.1 or iov.er
·
- - - ...-. .. .
··-~ .
.
: ; i.~ ·· j
•
: ;•
--
.. :
• • :-: - . • •
'.
• el . 4
Figura 133- Equipamentos compatíveis com o Tomoview.
O TomoView é compatível com Microsoft Windows, XP, Windows Vista, e

Windows 7, podendo operar de forma eficiente em computadores portáteis, bem
como em estações de trabalho, podendo lidar com grandes arquivos de dados.
·--
.-
O TomoView tem uma capacidade avançada de multitecnologia simultânea,

dando lhe o poder de realizar UT Convencional, Phased Array (Pulso-Eco, Pitch-
and-Catch, ou Ernissão-Recepçao) e ToFD. Quando o TomoView é utilizado para
aplicações de inspeção de ultrassom, é possível construir aplicações de diversas
formas.
,r
••
• •
•
• ••
t
• .... . • , ..
... .. ...
. . ..... . ~~
1
....
. '.
••
Figura 134- Layout Tomoview com diversas vistas.
Um dos importantes recursos do Tomoview, é o Volumetric Merge, na qual

permite que feixes acústicos diferentes sejam mesclados em um único grupo, o que
proporciona uma representação clara de toda a parte inspecionado, tornando a
análise da indicação muito mais fácil.
:.............. .; . -- ... -
I I
Figura 135 - Imagem "Merge", unificação as imagens mostrando todas as

indicações detectadas independentes da orientação das indicacões originais
CQ Treinamento
~ Q-Treinomento Ultrassom Phased Array
PASS - (Software de Simulação Phased Array) Software desenvolvido pelo

Laboratório de Acústica da Universidade de Paris. Ele é usado para visualizar o
desenho da sonda, gerar leis focais e características do feixe para resolver setups
complexos ou cenários de inspeção. Os resultados do ultrassom (arquivos .mnp)
podem ser analisados em software Tomoview da R/0 Tech.
Um exemplo de visualização do ponto focal para uma simulação do feixe com

transdutor anular, é apresentado na figura i 36.
l:!I)~
F,:;.c.:i! d'!i::h nr., j
O FIO
1000
a Fie:,
800
v
E.
60>:
~
~
::.
. 1 :•:
200
:.
8
Eiement nuMl::~r
Figura i 36 - Exemplo de simulação PASS para um transdutor Phased Array Anular

com 8 anéis (elemento). Focalização de 10mm até 100mm; valor do atraso para
duas profundidade de focalização.
CIVA - é um software com plataformas de conhecimento dedicadas a ensaios

não destrutivas. É composto por simulação, imagem e análise de módulos, que
permitem desenvolver ou otimizar as técnicas de inspeção e prever desempenho em
situações reais de inspeção. Hoje o CIVA está presente nas técnicas de Ultrassom
(CIVA UT), Raio X/gama e tomografia computadorizada (CIVA RT-CT), Eddy Current
(CIVA ET) e Ondas Guiadas (CIVA GW).
CIVA oferece dentro da mesma estrutura, vários módulos de simulações

adequadas às necessidades industriais.
• Para a concepção de novos métodos e transdutores (Ex. Phased Array)

• Em relação à qualificação de métodos, para fins de demonstração de
desempenho.
• Para a interpretação dos resultados complexos, diagnósticos automáticos.
• Para realizar testes virtuais na fase de concepção das peças
• Para executc{l' o treinamento
O quadro de imagem junto com as ferramentas de sinal e de processamento

de imagens permite a interpretação, experiência de simulação e resultados
experimentais.
Figura 137 - Exemplo simulação CIVA.
0ª Trein~mento 1 Ultrassom Phased Array
11. Dimensionamento de Descontinuidades
A estimativa do tamanho do defeito é, portanto, uma forma de medir a

mudança de amplitude através do movimento dos cursares sobre a imagem de
escala de cores das vistas 8-Scan, C-Scan, 0-Scan e S-Scan. Os seguintes pontos
Devem ser considerados:
• A imagem é resultado de uma reflexão ou de uma difração?

• A imagem foi formada como resultado de uma conversão de modo?
• Qual é a largura do feixe focalizado na direção de deslocamento do transdutor?
• Foi aplicada focalização dinâmica de profundidade ou não?
Todas as considerações acima contribuem para a discrepância de amplitude

durante o dimensionamento; A lista não é exaustiva, mas ainda sujeita a fatores
comuns que afetam técnicas convencionais pulso eco de dimensionamento.
Em um exemplo, a dimensão do comprimento de uma descontinuidade será
determinada pela técnica da queda de 6 dB posicionando os cursares nos extremos
da descontinuidade, obtendo-se a dimensão diretamente na tela do aparelho através
da vista C-Scan.
-------
-·
Figura 138 - Exemplo de dimensionamento do comprimento de uma

descontinuidade pela queda dos 6 dB.
Outro exemplo, a dimensão da altura de uma descontinuidade que pode ser

determinada pela técnica da máxima amplitude posicionando os cursares nos
extremos da descontinuidade, obtendo-se a dimensão utilizando da vista S-Scan.
-·
--
Figura 139 - Na primeira imagem, a amplitude é maximizada posicionando o curso

de ângulo (S-Scan) no centro da indicação; na segunda imagem movimenta-se o
cursor de ângulo (S-Scan) para cima até uma queda da máxima amplitude e
referenciar a posição com o cursor vermelho; na terceira imagem movimenta-se o
cursor de ângulo (S-Scan) para baixo até uma queda da máxima amplitude e
referenciar com o cursor azul. A diferença dos valores entre os cursares vermelho e
azul é o resultado da altura da indicação.

0º Trein~mento 1 Ultrassom Phased Array
12. Normas e Códigos
• ASME V 20 l3 - Artigo 4- Mandatório Apêndice TV
MANDATORY APPENDIX IV
PHASED ARRAY MANUAL RASTER EXAMINATION TECHNIQUES
USING LINEAR ARRA YS
IV-410 SCOPE IV-422 WRITIEN PROCEDURE REQUIREMENTS

Thi~ M,1111.J.itury AppcntlL\ dcsnihcs thc requircmcrll~ IV·422.l Requirements. Thc rcquircmcnts uf
to bc usc<l lor pha.,l·tl .in-ay, 111a11u.1I ra.~tt."r s,,anning. ultra- und shall .ipply
sonic l\.'chniqucs using linear arrays. Thc tcchníqul'S cuv- IV-422.2 Procedure Qualification. "111c MJuircmcnls
crcd by th!s AppendL\ Jrc singlc (ílxed angle), E-scan ui ' and r shall apply.
(lixctl Jngle), ,tnd S·:,(.·an (:.wccpíng multiple Jnglc).
ln general. this Arlidc ís in conlurmancc with Sl::·2700, IV-461 INSTRUMENT LINEARITY CHECKS
Standard Praclicc for Contacl Ultrnsonic Tcsling ol Welds IV-461.2 Amplitude Controt Linearity. The ultrasonic 1
Using Ph,L~cd Arr..1ys. SE-2700 provltlcs details to be con· inslrum<:nt's ,11nµ1itutl1: coulrol linearHy shJII h1: evalu-
si<lered in thc proccdurcs uscd. .1tctl ln ~cl·ordanl.'e wit h 1 1, •! 1pi:m1 li for eai.:h
pulser-receiver circuit
IV-420 GENERAL IV-462 GENERAL CAUBRATION REQUIREMENTS
Thc requiremcnls ol l l apply except as nmdified IV-462.7 Focal law.''" Thl' focal law to bc u.sed during
by this Appendb.;. lhe examinali(ln shall be used lor calibration.
IV-462 .8 Beam Calibration. AI! individual b1:ams 1
uscd in the exammation sha ll bc rnlibrall!tl to providc ,
rneasuremcnt ul dh.wncc ,md amplitu<ll' wrr1:ction ovcr 1
lhe suu nd path cmplnyetl in thc l!Xaminalmn Thi:; :;lt,111 in·
Table IV-422 elude applicahlc 1."t1mpcn,;ali1111 for wctlgc sc>llllU p,llh var·
Requirements of a Phased Manual Raster lations and ,wdgl' .1tll'nualion l'lll'f."ls.
Scanning Examination Procedure Using
Linear Arrays IV-492 EXAMINATION RECORO
For cal·h cxamin,1tion. Lhe required intormatiun of
~:\s~11 rl:1l !\on~,~liJI
ltl.'uuirl.'mt-111, {A, Ao11htabld \'Jrbhh.• \",111.mlc
Jnd lhl:' folluwing 111turmalion shall bl! rl'curclcd:
(a) scarch unit tn1e, element si:1.e ;rnd numl>cr. and pitch
x.1rch 111111
(dctMnl <it.,· .111,i numhcr, .inJ ruirh
X - ,ind gap d hnensions
;md J:'11> dbncnwms) (/,) focal l.iw paranwtcrs. iru:luding, .is applicublc. angle.
focal mngê X - focal deµth. dement numbers usctl, range ol dcments. e le-
(idcnt,iy pt,1nc. dcpth. nr <ound p~th) ment incremental change. angular range. and angle incn··
ru1tml '"'"~rrurc s1zc X - mental change
( 1.c nunihcr 01 clemcms. elt Crtl\"I!
(e) wedge anglc
hcll?ht and clcmcnt \nd1b)
W,'<1,t, ;mgk X -
:\ddttional ~.-,c.in r~'((U>n•mcnh
k.u,gc nr clc111cnt 11umhN"'- Ukd X -
(1 C, 1-l!I\, IU-50, C!C,)
Ek-m.:nt incrcu~nt.11 ch:,n~c X ..
(l <.',. u. etc, 1
\d,h1io1~'\l !.-,,au r,'(f11h'é1111"nti.
Ans:ul~r mni;c ll<~
( l.c., ,IU de,: - ;;u Mil, 511 dei(
X
-
• 711 dei!, ClC.)
Anj!IC ,ncrcmc111.1l ,h.111i:c X ..
li e. 11 .ice. • l dce. ctc 1

C:º Trein~mento Ultrassom Phased Array
• ASME V 20 13 Artigo 4 - Mandatório Apêndice V
MANDATORY APPENDIX V
PHASED ARRAY E-SCAN ANO S-SCAN LINEAR SCANNING
EXAMINATION TECHNIQUES
V-410 SCOPE V-471.l Examination Coverage. TI1c rcquiretl \'oluml'

or Lhe wl'ltl anel bast' mal1mal tu bl' ex:.iminc<l shall bc
Th1s Mandalory Appcllllix dcscribcs thc rcquircml'nls scannctl u~íng a lin ear scanníng tcchniquc wilh an cnL'O·
Lo bc usctl lor pha:.cd array C-:.c.111 {lixc<l ;111gle) an<l der. E.1d1 linea r sc.:an .sh.ill be p.iralll'I lo lhl' wcld axb at
S-scan cncodc<l lincar scanning ex3111in;ili11ns using .i rnnstant stantloll tlistanrc wíth thl.' heam orit:ntt:<.I per•
linear .irray Sl'ard1 uníts. pcndkul.ir lo thc wcld axis.
(a) Thc seard 1 un il shall bc m-.1i11t.ii11c<l ala fixcd tlis·
lJlll'l' from thl' wcltl axis br a fixl·d guitlc or mcc:hanrt.il
V-420 GENERAL 1111.'i.lllS.
Tlw ri:quircnienls of A111.k 1 .ipply t·xtcpl as modiiic<l

hy lhls Appen<lix
V· 42l.l Requirements. Thc rl!quircmcnts ot Tahll•
antl - shall appl·:.
Table V-421
V-421.2 Procedure Qualification. Thc rcquiremc nl!>
Requirements of a Phased Array Linear
ol ' . anti 'f shall apply.
Scanning Examination Procedure Using
Linear Arrays
V-422 SCAN PLAN
t.,,cnri.,I t,11n,..,sc.-n11JI
A Sl,lll pl,1n (durnmcnte<l t•x,1111inallun slralcgy) sh.ill hc R•~•nln:mcn t, (,h ,\11111icablcl ,-.ui .1bll: \la rlabl~
pruvttlc<l showing "l',m:h unil pl..1wmcnl an<l 111ovemcnt ~I!. '11'"1 ·1·t'·o..)
lltJl provitles a st.imlanliwtl antl n:pcat.1hh: 1tll'thotlulu1,tv ( dcmt.'nl pltch , ~,z,:, numl•cr, ;,nd ,:;ap
lor the l.'X,1111i11ati1111. ln atltliliun tu thc inturmatiun in dlnu:nsinn~}
f.1h l L \ L! l. thc scan plan sh:.ill inclutlc ht·~1111 ,tnglcs local r.m~c(SI
( ,dl'llll~ pl.m.:. J,..1,th. 11r s,·,und 11:ith
and dirl'i.:lions wilh respl'i.:t to lhe wd<l ~•xis rctercru.:e
.l< :ipphob!c)
poinl. Wl'l<l joint gcomctry. anti numbcr ot cxa111ination \'lrt~.ll apcr.ur... <:.1.,'(<I
an.>a., ur zones. (numll('r ot d&..·menL~. c:c-mt.!nt ,,1dth,
.rnd dl<'<tl\'... hdllht1 .'• • 11
V-461.2 Amplitude Control linearity. 111c ullrasonk
\\'cdi:c n.1tur:1I rcrr.ictcd .111~lc X
instru 111ent's amplitude control lím~.,rity shall bc i:valu- Sonp!an X
:llctl in .iccordancc with \ A11p 'llial\ li for ead1 \'.'eld .l'.\1~ rctcr.:"".cc p,.,.·-nt '11..irkm.~ X
pulsi:r·rl•t:ci\'cr cirl'Uil.
•.\ddltiurul t:-,c:m fl'<III Jremt·nts:
V-462. 7 Focal Law. ·, The loi.:al law lu b11 usl'd during l<astcru:~ .indc(<l
the cxamination shall be use<l fui lalibratiun. Apc.rrurc st.,n .u~d !Unp ~:cmcn:
:,.r:nhc~
V-462.8 Beam Calibration. Ali indi\'idual hc:ims uscd A;,cm.r.: mcrcmc!c:.11 duni:cl~) X
in lhe i:x.iminatiun shall bl' l'alibratctl to provitlc rneasurc· ' - 11d,.: · 1 ~km,'llg Slljlr~,11
mcnt ui <lbtani.:c antl amplitude con-cctiun uvcl' lhl' suund ,\d1ll lfu11.1I !l ... t.m rciptlt'l.·111,·nl\:
palh empluye<l in thl= cxaminJliuu. !o\\ e.·n .im, r.lni:~( <l
Ans:ul;u- sw,:,.'V lr.cr,.,111:nt ( incrcml'nt:I!
:in!(ll'Ch,mi:.:, d.:i:I
V-467 ENCODER CALIBRATION Ap,·~ Jt,· cltr~nt 1111111h.:1or. (llr.-1 a11d
A c:alihration c:ltl'ck shall he pcrlormetl .il intcrvals rwl l,l.tl
to cxc:cl!tl une 111011th or prior lo lirst use lhcrcJllcr. hy

~on.
muving lhe cncoJcr a minimum dist:11tl'l' ol 20 in. t 11 Elf,·nh·,· hcrqht 1, th,· 11,,unu: m.:asur.:11 tr11m t hl.' 11ut,1dl· .-J:;,· ui
(500 111111]. Thl' display distann• shall hc within 1% o l th.: t,rst ln l."l dcm,:111 u:..,11 m lh•· ht<',il l.iw.
lhe t1Ltunl distante 111nvt.>tl. 1

(/,) Tlw examinaticm .mglc(s) tur E-sc.:an anel r,111!,'I.' ofan- (c1) 0.0'1 ln. (1 mm) lor material< 3 in, l75 mmJ thick
gles tor S•sl.'an shall bc approprlatc for tl1e joinl to ue (b) Cl.08 ln. (2 111m) lur material 2 3 in. (75 mm) chick
l')(;JJllÍllCU.
(e.} S!.'annlng spcetl shall UI! ~ud1 lhal tlata drop-uul is V-471.7 Reflectors Transverse to the Weld Seam. As
less than 2 d.1ta lines per mch (25 mm) uf lhe linear scan an altt?mate to line scanning. .1 manual anglc heam exam-
length and that there are no adjacent data line skips. ination may ~ perlurme<l for rellecturs transversc tu lhe
(ú} For E-scan techniqut!s, uverlap bt>tween adiat~nl ac- weld a."is.
live a11crtures (i.e.. aperture incremental changcJ shall lle
a minimum of 50% of thc elTcl.'tive ;ipert.ure heigbL V-492 EXAMINATION RECORO
(e) For S-scan lechniques, the angular !.·weep incremen-
tal changc shall he a ma.ximum of 1 deg <>r sufficient to <l!>· Fur cach examination, thc requiretl inlormalion of
sure 50% bcarn ovcrlap. ;ind th!! following infurmation shall bc ret:11rd1.>d:
U) When mu ltipll• linear scans are rcquired lo cover lhe.· (a) search unit elemenl size. number. and pitch ;md gap
rcquired volume ot weld and base material. overlap be- dí1111:nsiuns
lWt.'tm adjaccnt linear scan:; shall be a minimurn ui 10% {b) toc.:al IJw paramcters. iucluding. as i.tpplitablc, anglc
of lhe effonive .:1pt!fture 111:ighl lor E-scans nr bearn \\'ldth or angul.ir range. focal dcpth àllll planc. l.'lcmcnl numhcr:,
lm S-:.t·,111:.. used. angular or elenwnt i111:nm11:ntJI ch.mge.•md slJrt
V-471.6 Recording. A·:.l.'Jll dut.i sh.111 lu.: ll,:ordcd 1111 aml i.·wp elemcnt numl>crs ur start clemcnl nurnher
the arca ul tntcn.'sl in ,tn unprocc:.sl!d lurm with no (e) \Wdg.: natural n:lructcd Jngh:
lhreshulding, ,ll .:1 minimum tligitiz,1tiun r:1t~· ut ílw time:. (ri) sc.:.in pl.in
lhe ex.101in.1tio11 lrcquenq. and rernrdlng incrí.!mcnls of A-scan rccurdet.l dalJ nced onl) hc rctained until f1n.ii
J maximum ui tlaw evaluatiun h~ ht'Cn performct.l

• ASME V 201 3 -Artigo 4- Mandatório Apêndice VU
MANDATORY APPENDIX VII

ULTRASONIC EXAMINATION REQUIREMENTS FOR
WORKMANSHIP BASED ACCEPTANCE CRITERIA
Vll-410 SCOPE Vll-431 INSTRUMENT REQUIREMENTS 1

The ultrasonic examination shall be perfurmed using a
.- Thb Mandatory Appc11c.Jix provic.lc!> re4uiremcnls whf:.'n
,111 i.lulom.itt..'Cl or s<:mi-autumatL'<l ultrasonic exJmi11Jtion systcm cmpluying uutu111;1ted or semí-automated scanning
is performcd for \\'Orkma11~1ip hased acceptance with co111puler bascd dJla acquisition and :lllalysis abil-
rritcria. ities. The cxaminat lon tur transversc rcllcclors may he
perlorrm,d manu;illy per .!. l unless lhe referencing
Cmlc St1:tion specil ic.-s ít .liso sh.111 hc hy ,111 a utumatcd or
scmi-autumatcd sc:111.
Vll-420 GENERAL
Vll-434.2.4 Scanner Block . A block shull be fabri-
The rcquircmcnls ol "u,ll' 1 apply extcpl as mudilicd cat<.!d na•etíng l h e rcqu1rements ol 1· a11tl
by lhis Appcndix. T- 1 f.. l'Xl't!pl th.il ib Lhickness, 7', shall 1~ wath·
1
111 Lhi: lte:.scr ui / 1 in. (6 mm) ur 25% ui the material lhiC'k-
Vll-421.3 Written Procedure and Procedure Qualifi- ness tu be examine<l and lhe number aml position of the
cation. Thc requirements ui _ õ.ltld 1 ,1 side-<lrilled hules shall be aúequatc to confirm the sensi-
li 1 ' shall apply. livity setting ui cach pro be, or probl' pair 111 lhe case ol a
TOFD sclup. as positioned per lhe scan plan in the scanner.
Vll-423 PERSONNEL QUALIFICATIONS Tlw scanner block is in a<ldilion to lhe calibration block re·
quiretl per !, unless Ll1f:.' scanner bluc.:k also has ali
011ly 4ualifü:d UT pcrsonnd trained iu the Usl· ui the lhe Spl'dficd rdcrence r.;oílcctors requirctl pl'r
e4uipment and wlw havt! dc monstratcd thc ability tu f•I 1 •• -
propcrly an1uirc ex.unination data, shall conúult prudut-

tiun :.cJns. Pcrsonncl who illlJlyzc anc.J inlerprct thc Vll-4 42 SCANNING DATA
colle<.:tccl data shall bc J Levél li or Ili whu havc d,x:umcn- The original sca11ning data, unprocessl'd. slwll he savcd
l<.!t.l training in lhe use ui lhe <.·quipmenl and so ltw.i r c l'lt-ctronkally (c.g.• mag11etk. optkal. llash mcmury, etc).
uscd.
Vll -466.l System Confirmation Scan . Thc scanner
Thc training ,llld dcmons tratiPn rcquircmenls shal I bc
block shatl lw scannl'd anc.l the rch!rcm:e rcl1cctor imllca-
audn:~'>c<l in thc employcr's wrill<.!n prJtlit:t>.
..... lions recorded lo conlirm system calil>r.llion prior to anc.l
at tht: completion ui eai::h exam i11atin11 or series ol similar
examinat ions, when cx.1mination pcn;on ncl (excepl fur
Tabte Vll-421 automall!d f:.'qu1pme11t) are changcd, anti lf lhe scan plan
Requirements of an Ultrasonic Examination is rec.iuirl.'<i tu be motlitied (i.e., ) to satisfy the re-
Procedure for Workmanship Based quire rncnts of T-466.3.
Acceptance Criteria
Vll-466.2 Calibration Checks. The requirements of
I:< scnti.il '\1111c,."'·ntia l T-4662 are not applicablc tu this Appendix.
lk(f11irc-ntcnt (as ,\p111ícalllC'J \ 'a ri.lhlc \ ,ITÍahl o:,
SCJI\ }11,111 X
Vll-466.2.l Simulator Checks. The re4uiremcnts
Lomputcr SOll\'.';JTC X .. . ofT-466.2.1 are nol applh:ahle to thi!. Appcmlix.
..... Sc.111nln:? tc-chnrquc (.iu.nm.itcJ \~ X .. Vll-47Ll Examination Coverage. The volume tu bl!
$Cml•.1utn111.ucdJ
:.rnnned !ihall be cxamincd per lhe srnn plan.
l·f aw d1..:Jctcnr..mon mdhnd!>loi;y :\
M.1w ~11.lllP (knt:th) ffiéthodology X
Sc~n:h urut mc,;h,:w ,c-.11 lh .tunn;: cfovic,• X
( 111.mul~cturo:,r ~ncl modd)
~~Jtrncr Jdh,.'rlng .1nd i;u1d1111t .. X
mcd,,1ni.c;;111

~Q Trei~amento Ultrassom Phased Array
Vll-483 EVALUATtON OF LAMINAR REFlfCTORS Vll-487 EVALUATION BY MANUFACTURER

Rcllcclurs cvaluatl'd as laminar reflcclors in lhe base The M.111ulal'turcr shall he respunsibll' for the revk>w.
matl'riaf whích inlcrltire wlth lhe sc;mníng ol lhe cxamina- i nl t!rpre ta tio 11, evalualion. ,mtl at:u:ptant:e ui t hc rnm-
lion volume sh,111 requlre the scan plan to be modified pleted scan Jaw to assurc c:umpliancc with the rcquirc·
such lhat Lhe maxlmum fe.tsible vulumt:' is examint!d anti mcnr.s uf · , th ís Apptmdix, and lht! rcfcn:nclng
shall bc nutl'd in lhe recurd uf tlw examinalion ( ·• ). Code Sectio1L Act:eptanc:c shall be cumplcted prior lo pre-
sentation of the scan data and accompanying <lut:umenw-
tion lo lhe lnspeclur.
Vll-485 EVALUATIO N
Vll-492 EXAMINATION RECORO
Final 11aw evalualiun shall unly bc ruadc after ali display
pararneter adjustmenls (e.g. contrast, brightnesi., and. if Thc required inlom1ation of and lhe tolluwing 1n·
applkable, lateral and backwalJ remova! and SArf proc:es- lormulion shalf ue rccordcd:
slng, t!lc.J havc bccn completcd (a) sem plan
{/>) sc.inner and atlhering and guiding l11t.!chm1ism
(e) indirntiun data (i.c .. position in wldd, lcngtlt, and
Vll-486 SUPPLEMENTAL MANUAL TECHNIQUES char.1ctcritJlio11 (e.g., LTack, laL·k ui íusion, luck ut pent:tr 1·
tion, or indusivn )j
Fl;1w:. lil!lcCll!Ú during lhl' .1uto111atl!d nr scmi- (e/) lhe final dísplay pro1:essmg Jcvds
autom,Hcd s,an may Ili: .iltcrnativl'ly cvaluatl'I.I. if applit:· (e) supplemcnt,11 m,utual tedmiquc(sl indit:al1on cJ,llJ,
;ible, by supplt!ml•ntal manual tcdmh.1ues. if Jpplicahlc [s.ime informatimt as L ,J

- 1
• ASME V 2013 - Artigo 4 - Mandatório Apêndice Vffi
- MANDATORY APPENDIX VIII

ULTRASONIC EXAMINATION REQUIREMENTS FOR A FRACTURE
MECHANICS BASED ACCEPTANCE CRITERIA
VII l-410 SCOPE Vlll-431 INSTRUMENT REQUIREMENTS

This Mantlal()ry Appcndi:>( pruvidcs ret1uiremenls when Thc ultrasonic cxaminatiun sh.ill bl! pcrfurmcd using a
,rn automate<l or scmi-auto1n.ltt"1 ultrasunic t.'Xamination systcm cmploying autum.ited or St.'llli·automated scanning
is performed lor lracturc me.hanics based acccplam:e wilh compuler busc<l data acquis1liun J111.I analysis abil·
l"l"iteri;i , lties. Thc cxamin,1tio11 for trc1nswrs1.• retlcc:tors may be
pl'rtom1cd mJnu;illy per unles.s lhe rell'rc11t:ing
Cmlc St.-ctin11 spedíies il ;úso shJII hc by an autu111Jtcd or
Vlll-420 GENERAL Sl'l11Í·JUl1llll.llt!d St:an.
The r1.,quin:1111mls ol .,, l11 li: ' Jpply exct:pl a.o; motfüicd Vlll-432.l General. The normal lrequcnl'y shaU hc lhe
by thls Appen<lix. :,a1111: as u:.ed in lhe qualilitaliun.
Vlll-421.2 Procedure Qualification. Proc1.'t.lurc 4uali- Vlll-434.2.4 Scanner Block. A bloc:k shall he fobri-
llc,1tiun is requirc<l per , 111 1 ,·,, ,. caled mecling lhe requircments of ·1 ·1 , l and
Vlll-42L3 Written Procedure and Procedure Qualifi-
r exccpl lhat its thickn~. 7', sllilll oo with-
cation. The rcquirt>menls ui .in<l 1 _,, , , in the lesser ui 1/ 1 in. (.6 mm) or 25% of the material tJiit:k-
1 - • l shall apply.
ness to be e.xamined and thc numher and position or lhe
sidt!·drilled hules shaJJ be adequate to confirrn the scnsi-
tivily sctting uf each probe, or probe µair in lhe case of a
Vlll-423 PERSONNEL QUALIFICATIONS
TOFD setup. as pusitionl'd pt.!r thc st:an pl.111 in the srnnner.
Only tiualificd UT personnel lraine<l in the usc ui lhe The scanner hlock L~ in addition to the calibraliun block re-
cqulpmcnt .in<l wlw have dcmonstratc<l thc .ibility to quired per · 1, unlcss thc sc-Jnner block <liso has all
properly Jtquirc l')i.Jfllinatiun data . .sh.ill cun<lul't pmduc- lhc spcciíicd rcferl'nce rerlectors rt' quired pl.'r
lion scans. Pcrsonnd whu analy;w anti inh:rprcl tlw col· 1t: T l
lcctl.'d data shall he .i Levei 11 or Ili whu havc
c.lornrne11lcd trainiug in lhl' use ur lhe 1.,quipmcat .rnd i;uft- Vlll-442 SCANNING DATA
Wtl rc uiw<l
Tlu: lrJining Jlld dcn1011sl1'JUon rt!quircmcnli. i.hall bc The nriginJI scanning dalu, u11prot:ess1.'Cl, slwll be save<l
adclresscd ln the employer's written prat:liCI!. t.'ll><:trunically (c.g.. 111ag11ctit:. uplic,11. tlash mcnwry, t'tc.)
Vlll-466.1 System Confirmation Scan. Thc scanner
bluck shall IJe scanned ai1d llw reh!rcnc:c retlectur inúica-
Table Vlll-421 tiuns rernr<led lo t:ont1rm that prior lo and at lhe i:umµle-
Requirements of an Ultrasonic Examination lion ol ec1d1 exmnlnation or seri1.,s uf similar examinalions.
Procedure for Fracture Mechanics Based Wht!!I exJmination personnel (excepl lor automated
Acceptance Criteria equipmcntJ are changcd, and il lht.' st-an plan is required
ü-..:ntial
to he modilied (i.e.. \ Ili ' ) tu satisfy the requirements
:\onc-sscntial
lkquln'flll.'UI (a,, .-\pplic~blcl \'ariablt.- \.mahlc olT-466.3.
ScJn plJn \ Vlll-466.2 Calibration Checks. The rcquircments of
Lomput~r ~ÍIWJn:? X ...
~(Jnnmg tcchmqu-, {J~:r,uutcd v<.
<cn11•autnmJtcd)
X ... T-466.2 are nul applit:able to this Appendix.
Vlll-466.2.1 Símulator Checks. The requirenwnts
R,11• <11.111p (lcn1;1h) 111c1hmlnln1t\' X ". o( T~166.2.1 are rwt applirable to lhls Appcmlix.
~c.in:h 11n11 mccl•1n,cil tht11ri11j! dC\ltc
(11s1n11r.1cturt·r Jnd 1110d~I)
X ... Vlll-47Ll Examination Coverage. The vol11111c w be
Sc,rnncr ,ind .1dh,:nni: ~n.l ~utdlng ... X sc:J1111ed ~hall he examlt1eu per lhe st:an plan.
- mc:-rh.1n~m
Vlll-471.3 Rate ofSearch Unit Movement. The ratl' ui
scarch unil 01uv1m1cnt shall not e:>(t:eetl thal qu.11il ied.

(;O Trei~mento Ultrassom Phased Array
(,·) lhl' tlaws Jrc prop1:rly lJlcgoriictl (l.l'., surl.ice ur IX-492 DEMONSTRATION BLOCK RECORO
sulmirlace)
Tlw folluwing lnlonnallon ~111111 bi: rwordi:J
IX-483 SUPPLEMENTAL MANUAL TECHNIQUE(S} (u) lhe lnfurmation spcdfii:tl by thc proct.'Jurc bl!ing
ACCEPTABLE PERFORMANCE qualllicd
(b) dcmonstratlun blot:k lhick nt!Ss. joinl gcoml.'try 111-
Demonstr.itiun hluc:k naws may bt! sizt!d and c.itt!gor-
d uding :rny claddlng or wcld ovcrlays, and llaw dal,l
ized by a supplcmental manual tcchniquc(s) outlincd in
lhl' prnnicJure, unly if lhe autom:ttcd 11r semi-autom:lled [i.c .. posilion in block. size (length Jnd heighl)J,:,epar.Hiun
d istanre to nearcsl surf.ice, c.Jtei;ory (surla(~ or
rtaw recorded responses mcel thc rcquiremcnls uf
• ·:.:1 , 1 and/or il is u~d lor tl1e Jetec1 ion of transwrst• s uhsuriat'l')
reílcL'tors. Acceptable pcrfonn.1111.:e, unlcss spccificd hy (t:J st.1nning Sl'nsiti\'ity ,rnd search unll trawl spcl'd
thl' Usl'r or reforcnàng Code, is dl'fined a:. thl' demonstra- (ti J qualilication scan data
111111 hlock's llawi. hcing (e) flaw si,dng data [samc informalion as lbw dat.t ln
(u) siz«d .is hl'mg equal hl or gr c,tler tlia.n their aclual ')
:.izc (i.c .. uuth lenglh .inú hcighl) O) suppleml'nWI manual tcchníque(s) siiing Jala. it ap·
(b) prupcrly cat,,gorizi:d (i.~.. s url.icl' or subsurfon·l plkable [sanll' inform:llion as ílaw data ln )
._,
r
(_;0 Trei_:amento Ultrassom Phased Array
• ASME V 20 13 - Artigo 4 - Não Mandatório Apêndice P
NONMANDATORY APPENDIX P
PHASED ARRAY (PAUT) INTERPRETATION
P-410 SCOPE P-450 PROCEDURE

This Nonmandalory Appcnúix is lO hc USl'd as ,m .,iú lor P-451 MEASUREMENT TOOLS
Lhe lllll'rprclalion oí Phascd Array Ullras.~n1l Tcsling
(PAUTJ images. The llaw signal inlcrprclaliun llll'tho- PAUT instrumcnls typkally havc llaw sizing alds con-
dology usi11g PAUT is vc1y s11nil,1r lo th;,t ol rnnvcnliunal taincd within the soll\\'~trc. Thesc sizing aids an: hascd
ultr.,sunics: hu\\'l'\'l'r, PAUT h,,s impro\'cu imagmg cap- on using mulllple scls ol hm1zo11tal and \ ertil.,tl lun,ur,; 1
abil itics lhat aid in 1la,, signal inkrprctatiu11. This inlt.'r- overlaid un thl' v;iriuus 1111,1g'-· displays. PAUT instrunwnt.s
prclaliun gui<lc is primarily ainw<l al using shcar ,,·a,·e rcly un thc Jn·ur.1cy ol tlu: uscr in pul i11l11rmallon (surh JS
,111gle ucams 011 butt \\t:l\h,. Othcr possihilitics indutll· rnmpunent lhicknessJ and t':llibr.11í11n lo .1c:1:uratcly <lis-
(,1) lung1tud inal \\'JVcs
pl,1y íl,1w me.isurcmenL,; and lotations.
{b) zero dcgrec sc:anning
(e) 1:untplcx inspl'<.:llons, l',g .. nozzlt.'S, lillet wclds
P-452 FLAW SIZING TECHNIQUES
P-420 GENERAL Flaw sizing can bl:' pcrlormeú using ,1 v,ll'lcty ol mdu.stry
accepted lechniqu'--s. sud1 as amplitude drop (e.g., -6 dB
P-421 PAUT IMAGES - DATA VISUALIZATION Drup) let:hniqui:s and/ortip dillrallion tl't'hniqucs. Diller·
PAUT data is roullncly displ,1yed using .a rainho1, colur 1:111 lla\\' types mJy rl,quirc dillerent sizing tcchniqucs.
palcllt·, with lill.' range ui rnlors reprcscnling a r.111ge ot

P-452.1 Flaw Length. Fl.iw lengths parallel to lhe
s1gn.1l amphlUdl•. Genenll) '\, lute· reprcscnls 0% s1gnal
surlaci: 1:an bc measurcd lrom lhe distancc cnrnded D-
amplitude. "hluc" ( or lighter rolors) reprcscnts low ,1mplt-
or C-scan im.iges using amplitude <lrop kdrniques hy pla-
tutles, .111d · n_.d" (or d.irkcr colorsJ reprcsents ahovc ri:jcc:l
dng thc \'erlil.il u1rsun, un the cxlenl.s of lhe llaw úis- 1
sig11al ,1mplitudc (scc l 1g1 l • 1).
pl.iyt'd 011 lhe D- or C-scan d1spl,1y. 1 p. 1i;~ •
(u} PAUT ha., the Jhllity lo im,1gc thc d.1t.i in Lhe same
shows an examplc of l'Ursors usctl lut lt:llbtth sizing.
lon11Jl J.s cunvenl1011.1l ullrasunilS - A·St\llb, ,1nd timt
or dbt,1111:e enlu<lcd B-sca11. D·.sl'an. :1nd C-sl'.ins. (Sce P-452.2 Flaw Height. 1·1aw helghl normal lo lhe sur· ,
l l'~u e P-1:!1·.!.) lace c..in be me,1:.un•d lrum lhe B·, l·, or S-sl.ln image:.
/1:0TI:. Thi: i:xamplt.-s :.huwn 111.:rc J!i: 11"\ nl-.:t-s:o..1rily typ1~1l ut .111 J.:· using amphtuúc drop or lip dillr.icliun lec:hniques.
kl'b Juc ln Jltt<:r,·n.;..,. 1n ,h,1ric, Mt.:. U.:ll"t uncnt;itiun, roui:hn ... ~,.
.... (o) Using ,1111pli1udc drop tcd111iqucs, lhe horiwnt.il
t.'lC.
t:ursors are pl,tlcu un lhe di.splaycll 11.iws upper .111d IUWl'I
(b) Thc PAUT pruuary imJgc displays are ,Ili E-sc:.111 or extenls. l 1gutl P· 152 :.-1 shows ,111 l'X,1111pll' of rnrsors
S-scan, exclusive lo thc PAUT lt·chuique. Both lhe l::·SGlll uscd lor heighl sizing with thc ampliludc drup technique.
;iml S-scan display lhe data in a 20 view wilh d1slanle (b) Using lip diffraction ll·<.:hn1qu1:c, lhe horizontal c:ur-
from lhe front of thc wcdgc 011 thc X-axis, and dcplh un sors ilre placcd 1111 lhe upper .ind 101,•l:'r lip signals of lhe
lhe Y-ax1s. This Vil'\\' is alsu c:onsi<lered an en<l vicw." displJyt-d llaw. F1· ,ia· F shows an ex.implc ol cur-
E-s<.:ans anu S-scans are cumposed ol ai! uf the A-sca11s sors ust.'d for hcighl :.i'ling with the lip diflraclil,n
(or fm:al laws) in a particular sctup. Thc A·sl'Jll for ead1 tcclmil1u•..
hc,1111 (or fm:al law) i.s availablc lur use in llJw .signal
interprctalion.
(,1 A11 E-sca11 (also ll'rmed an 11k-ctronk rc1s1cr sc:Jn) is
,1 single loC'JI law multiplexl-<l, auoss a group of ac:ll\'c clc- P-480 EVALUATION
ments. for a c:nn:.l,111l Jngll' hcam slepped :ilong tlw
phascd anay prohe lcngth 111 delincd ini.:rcmc11ti. . Thi., S<'llion shuw!i .i \-;Jrit.'IY of PAU'!' images and 1111_. in•
1•1 •,urc l'-1 'I " shows ,Ili examplc ol JII E-sc.in. tcrprct.1.liun/expl,111,1tiu11. Tlwrc .ire signific.inl v.1rialions
{ti) An S·sC',111 (also tcrmcd a Sertur, Sc<.:lorl.il. SWl'Pl An- am11ngs1 11.lws .111d PAUT selllp!i ,md úispl,1ys. «.u lhe tol-
glt•, or A:lllllULhal s<.:,111) may rdcr tu cithcr lhe heJm 111m·e· l11w111g ím..igcs should bl: usl-<l a, .i gutdl' only. Evaluator
mcnl ur Lhe data displ,1y (:O.l't! l 1 •1 l l P 121 J expcricm.:c and analysis skills are vcry i111po11a11l as wcll.
......
~--- -- ~
_,
..,
Figure P-421-1
Black and White (B&.W) Version of Color Palette
S1g:ial Amplitude Response
Blue U,ghlJ Red <darkl
Figure P-421-2
Scan Pattern Format
Top ic, Vle\v
/ /
,,./;!:) ///
/ /
/ /
/ /
/ ./
0-scan ls1de v,ew!
-1 \ , 1),
Oepth J!1----'---'-\.. !.v_/_'__o_______
8 scan !end v1cwl

13. Critérios de Aceitação
• AStvfE vm 20 L3 - Divisão 1 - Mandatório Apêndice 12
MANDATORY APPENDIX 12
ULTRASONIC EXAMINATION OF WELDS (UT)
U -1 SCOPE {u) lnc.lk.itions d1ara,tcrí:tcd as c;rad,s. lad, ot tu:.ion, or

• inwmpletc pcnctration are un;u:c;cptahlc rcgardlc:,s ol
(u) Thb Ap1>cndlx .Jesl'rihf.'s rnclhod:. which sh.ill ht!
lellbtth.
i:mployell whl!n ullrJsunic l'X,1111i11Jti11n ui wclds is s11cc:l·
(li) Othcr imperlcc:tions are u11.iu:cpt;1hlc il lhe 111dil~·
licd 111 lhi.\ D1vis11111.
ticins cxc.:ccd the relercnc.:c levei amplitude ,lll<l ha\'c
(h) Artidl~ ,t ui St.•t:lion V shall hf.' applic<l lor df.'l;iil rt'·
lcngths whic;h cxc.:cc.>J:
quircnwnl:. i111111:lliot.b, prucedures and qu;1lili<:-Jli1111s. un-
( 1) 1/1 i11. (6 111111) fur t up tu ·~1 in. ( 19 11 1111);
lcss 11lhcrw1sc spedlied in lhis Appcndix.
{t.1 Ullrasunk l!XJ111in.Hiun shall l><! pt>rlunncd in .ic:cor· (1) '/,t lor I fn,m Y, in. to 2'/1 in. (19 mm lo 57 111111);
tlJnl<' wilh ;l writtcn procl!(iun.:. c;crtifiL'I.! by thc Manulac;- (3) "'/1 ín.. (19 mm) lur t o,·cr 2 1/ 1 in. (57 111111).
lurer tu lll' in acconlani:c with thc r"{uiremcnlS ui T• 150 whcrc t b lhe thic;km:~ ui lhc wcld c:xduding any ai·
ol St!ction V. lowablt> reinfor,cmcnL Fur a butt wcld j11i11ing two mcrn-
lwrs having diHerent lhickncsses at lhe wchl. 1 i:, lhe
lhinncroflhcse two thickncsscs. lf a lull penctr.ition wcld
12-2 CERTIFICATION OF COMPETENCE OF indude~ a lillc:t weld, thc: thic:kness ol the thrnal of the fil.
NONDESTRUCTIVE EXAMINER lel shall be indudcd ín 1.
Person ncl pertorming and cvalualing ultrasonic l'x;1111i·
11,1tion,. rcyuircJ by thb Oi,·ision sh.ill mccl the rt:lluirc·
ments ui li\\ e; l.
U-4 REPORT OF EXAMINATION
Thc M,111u1acturcr ~h,111 p1cpa11: .i rcµort uf thl! ullrJSO·
nic.· c.,amination and a ropy ui lhis rc11on shall hc rclaincd
12-3 ACCEPTANCE-REJECTION STANDARDS
hy thl! Manula..- turer as íl'(JUircd hy this Divb1nn ( l ll 1 J.
Thcse Stancfards i.h,111 apply unh.•s., utlwr :,l,imlanls are Thc rcpurt ~h.111 rnn1a111 lhe intormatiu11 rcqu1rcd hy Scc.··
:,pt:dfíed tur spet:ilk .ipplicalions wilhin this Division. lic>n V. ln adtlition, a rcrnrd ui n:pJirt!d :ircJs shall bc
lmpcrkdions whlch produ..-c .i responsc i;rcatcr th,111 nul~'\l as wcll J·. lhe rcsult~ ui thc rcc.i.x;11nln.itiun ol lhe rc:·
20% ol thc rclcrcncc lcvel shalt hc invcstigatt.'\l tu tlu: cx· pairL'\l arc:-as. Thc Manulac:turl!r shall also maí ntain a rl··
lclll lhal lhe opcratur t:Jn c.lclcrminc lhc shJpc. idl•ntity. t:ortl ut .ili rc:tlct:l iuns from uncorTc:ctcd a re.tas having
... ,tnd lol,1lion uf ali sud1 illlpt!rkt:tions aml evaluatc thcm rt!sponses lhat exc.·t.>ed 50% ol Lh1: rclcrcncc levei. 'fhis rl'·
111 tenns ol the acccptanc.:c stand,11'1.ls gh·cn in (a) and (h) c:ord shall locatc: cach .u-c:a, thc re.ponsc lt>\'CI, lhe dimen·
bclow. 5iu1b, lhc Jepth belo\\' thc surlace, and thc cl,L'isilica1iun.

• ASME VTTJ 2013-Divisão 2
7.5.4 UlTRASONIC EXAMINATION

7.5.4.1 Ali wcld<:d joints to be uhrasonically examine<l shall be examined and doninwnle<l in ac:cordancc wilh Articlc
4 of Scction V cxcept ,is specificd bclow:
{a) 1\ complete set of rerords. as desaibed in T-491 anti T-492 of J\rtide 4 of Section V, for cach vesscl or vcsscl pa1t
shall be rewíncd by lhe Manufacturer ill accorililnce with p.11,i~1 p 1 1 -1 .. t ln addition, a record ofrepaircd arcas shall bc
noted as well as the resullS ofthe ree.xamination ofthe repaire<l arcas. The Manufacturer shall also marnlain a record frum
uncorrccled arcas having respunses lhat exceed 50% of the reference lcvel. This ren,rtl shall locate cach arca, thc
rcsponsc levei, the dimensions, the dcpth below lhe surface, anti lhe dassilicatíon.
{b) Pcrsonnel perfonning and cvalualing ultrasonic cxaminations required by lhis Oivision shall bc qualificd and
ccrtificd in accordam:c wilh 1• pi
(,) Flaw L'valuat1uns shall only bc pcrformcd by UT Levei li or 111 personncl.
(e/) Ullr.isonic c)(;)minJtion sh!lll bt! performed in acwnlance with a writlen procetlurl' certificd by the ManufJcturcr to
bc in .u:corddncc with lhe rt-quirl!mcnts of T-150 of Section V.
(e) SAW wclds in 2'/.i Cr-1Mo-~1V vesscls requirc ultrasonic cxaminallon using spcdali,ed techmques beyoncl lhosc
requircd by lhis l)ivision (sec 1 1· 1pl1 ). Anncx A of API Rt"Commcndcd l'ractice 934-A may bc uscd as a gu1d1.• in
lhe sclcction of thc cxaminalion sp1.'Cifks.
7.5.4.2 Acceptance Criteria. TI1csc standards shall apply unlcss othcr ~tant.lards arL' spccificd for spccilk applka·
tions wilhin this Division. All impcrfcctions thal producc an amplitude greater lhan ;!0% of lhe refcrcncc lcvel shall -....
bc inwstigated Lo lhe exti:nt thal thc opcrator can dctem1inc the shape, idcntity. and loc.:atwn of ali suc.h lmperfoclions
and evalualc thcm in lt!rins of llll' acccptancc standards given in ( ,1 J and bclow.
(n) lmpcrfel.tiuns that are mlerprctctl to be cracks, lack of fusion, or incomplcte penctration are unau:eptable regard- '-
lcss of lcngth.
(IJ) Ali other linear type imperfections are unacceptahle if the amplitude e.,cee<ls lhe refercnce levei and the length of
the imperfci:tion excccds the following:
{l) 6 mm (1/1 in.) for t l~s lhan 19 mm (71 in.)
(2) t/3 for l greater lhan or equal to 19 mm(% in.) and lcss than or c.'qual to 57 mm (2-1/4 ín.)
1
(3) 19 mm (Y1 ln.) for t greatcr lhan 57 mm (2· 1 in.)
ln the abovc criteriJ. t is lhe.• thickncss of tlw wdd, cxduding any allowable reinfort:cllll'lll (s~ • 1 1 ).
For a butt weld joining two mcmbcrs having dilTercnt lhicknL'sscs al thc.• wl.!ld, t is thl.! thinncr ofthcsc lwo thickncsses. li rt
íull pcnclrntion wcl<l includcs a fillet wcld. lhe lhickness of U,c throat uf lhe fillcl shall bc induded ln L
CQ reinamento Página 113

.....
• ASME VIB 2013- Divisão 2

.....
7.5.5 ULTRASONIC EXAMINATION USED IN LIEU OF RADIOGRAPHIC EXAMINATION

7.5 .5.1 Whcn usc<l tn licu of thc rn<liographk cxamination rcquircmcnts of ,' • l • ullrasonic cxaruinalion
shall bc performcd in an:or<lancc wilh a writtcn proc:c<lure c:onforming to lhe rcquiremcnts of SL'l.'.tion V. i\rtide 4. Man-
<latory /\ppen<lix VIU and lhe follo\\'ing additional requiremcnls. For SAW wclds in 2';1 Cr-1Mo-'l1V vessds. ultrasonic
cxamination is rL'Quired 1sec - ..i ].
(u) The ultrasonic examinalion arca shall mdude the volume of the wcld. plus 50 mm (2 ín.) on each side of the weld for
matrrial lhickness grcater than 200 mm (8 in.). For material thickneslô 200 mm (8 in.) or IL~s. the ultrdsonic examinallon
arca shall indudc lht- volume of lhe wcld, plus thc ll'ssl'r of 25 mm (J in.) or t on cad1 sidc of lhe weld. Altcrnat1vdy.
cxamin,1lion volume ma) bc reduc:c<l to indudc lhe a<:tual hcat affectcd wnc (111\Z) plus 6 mm ('l1 in.) of ba:.c material
bcyond lhe heal affl'<:ll'<l :wne on cac:h side of lhe wcld providcd thc followmg rcquirements are mel:
(1) The cxll'lll of thc wdd 11/\Z 1s mcasurcd and doc.:umcntcd durinit Uw wcld quahílcation process: êlltd
(2) Thc ullrJsoníc transduccr positioning and sranninK dcvkc is controllcd using J rêfcrcm:c mark (pamt or luw
slrcs:. stamp mljaccnl to lhe wl'ld) lo cnsurc that thc ac.:tual IIAZ plu~ an atldition.il 6 mm (0.:.!5 in.) of b._1sc mctJI is
cxaminl.'d.
(b) Tlu.' imtial straiiihl hcam material cxamí11:.1tion (T-472 of Scction \', Arcic:k 4) for rcílcc:tors t.hat could intt:rfcre with
thc ,llll(lc bcam cxaminalíon shall bc pcrfonncd:
{I) Manually,
(:!) 1\s part of a prcvious manufalturíng procc\S, or
(3) Durin): tht• automatíc UT exammation pro\'1dcd detcctlon of thl'SC rt:ílcl:lors is demonstrJtcd.
(<.) l'crsonnc:I perforn11ng and cvaluating UT cxaminauons shall bc quahficu and c:crliílcd in ac:corclanc:e w1lh
p.'' .114t q h ; • . Only UT Levei li or Ili pc~onncl shall analy.i:c thc data or interpn:l lhc rcsulls.
(d) Contrac.tor qualiílc:alion rccords of ccrtific<l pcrsonnel shall bc approved by thc Cêrtilic:are lloldcr and mainlained
by Uteir l!mploycr.
(e) ln addit iun, pcrsonncl who .1rquirc and ,maly'l.c UT data shall participalc in lhe qualifü:·,1tion of úu! pruccdure per
Sec.:tion V, Artidc 4 Mandato!')' 1\ppcnd1x IX.
GJ ,\pplicalion of automated ultrasonic cxaminalions shall bc notcd on the Manufac.:turcr's DatJ Report, .is well as tJw
cxtcnl of ils u.w.
NOTt·. s~cuon.11 sc;in~ (S·s~':lns) w1th phJs~ .m-:iy,; m;i,· be u,ed for rh.- eum1na1ton of welds, pm,,ded the,: .are qualiliM ",1tisfactunly m
accord.111ce ,,,th I r S-sc-.;ins pro,·lde ól S:.m b eam rrom a ~111~le em1ss1on polnt. wh1ch cuvers part nr .ali nf the w~ld. dependln,z on ITJlls•
duc:,n slz .... 101111 ~eometl')', anti section tludmu,-. \\'h1le S·sc.ins <:.111 denum,qr;ite i:ond d<'t<ect.thJltl)· frnm ~ide dnlled hnles, hec,111se ther Jh!
om11i,dlr~11111JI 1etlecto1-s, the heams ,,111 he mis·nnl'nlo!CI ior pl.111.1r rt.'tlectnrs (el!. IJck ol fu.,11111 .rnJ t·r J<-kll. ) Th1• "p.irtkularlr tru" for th1ek·
er s«111111s. .iml 11 1s recnnm11:nded tli.it mulople linear p.isse~ ,,·1th S·scJnç be ut1h1ed lor compnn.-nts i,e:iter thJn .!5 mm 11 111.) tluck ,\n
~d~JllJh! num~r nf tl;iws shnutd h<' ll\t'd III the demonstr.itlnn hlock mensure del«tabihty lor the entore w.elJ volumt'.
7.5.S.2 Flaw Sizing. TI1c dimension~ of the llaw ~tnll bc dctcnnincJ by lhe rect.an11,lc that fully rnntains lhe arc,1 of
U1e ílaw (see 1 1 tJ1rough i 1'l).
(11) Thc lcngth (1) of Ull' ílaw shall bc drawn pan1lh!I lo thc insidc prcs:.urc-rctaimng surfac:e of lhe c:omponcnl.
(b) Thc dcplh of lhe 11.iw shall bc drawn nonnal lo lhe insiJc prcs-surl· retaining surface and shall bc dcnolt·d a:. "a" for
a surfac:c llaw or "2a" for a subsurface flaw.
7.5.5.3 Flaw Evaluation and Acceptance Criteria. Flaws shall bc cvaluate<.l for acccptancc using lhe appltcablc
cri leria or ... , 11, or , anti with lhe following atltlitional rcqulrcmc-nts. Unacccptabli: flaws shall bc
repaire<! and lhe repaired wclds shall be rc-cvalualL'<I for ac:cept:ance.
(a) Surface 1-laws • Flaws ídentificd as surface ílaws during lhe UT cxamínation may or may nol bc surfacc connectcd.
11icrcforc, unless the UT d.ita analys1s l'tmfimis thal lhe Jlaw is not surfon~ conncttcd, it shall bc l"Onsidcred surfac:e con-
nec.:tcd ora ílaw open to the surfan•. anJ is unacc:eptable unlcs:-. surfau: exa.mination is pcrformed. lf the tlaw is surface
mnncrred. lhe rcquirl•mcnts abovc slill apply However, in no ease shall rhe flaw exceetl lhc acrcplance crilcria in this
Div1s1on for th,• material cmploycd. J\c:cept.ancc surlac:c examinalion lt'<:hniquc!; are as follows:
(J) Magnelic particle cxaminatwn (MT) m acc.:ordance wiU1 r ph -

<.:ª Trein_::mento Ultrassom Phased Array
{2) Liquid pcnctr.mt cxamination (PT) in :ll'Cort.lance with p.u.1g1 .iph 7 S ; ,

(3) Eddy Currcnt cxamination (ET) in ac.:c.:ordant:c with p,1r,1g1,1ph 7.~.H.
(b} Multlplc Flaws
(1) Oísc.:ontinuous ílaws shall bc c.:onsic.kr<!d a singular pi.mar flaw if lhe t.lisumc.:c hctv,ecn ac.ljaccnt tlaws is cqual lo
or lcss Uldn lhe dimcnsion S as shown in l 1:
(2) Disc.:ontinuous ílaws that are uricntet.l primarlly in parallcl planes shall be consic.Jeret.l a singular planar ílaw ifthe
distancc bclwecn the adjact>nt planes is c...qual to or less than 13 mm ( 1/; in.) (see f ).
(3) Oiscontinuous ílaws that are coplanar and nonaligned in the through-wall thkkncss direction of Uw componcnt
shall be rnnsidered a singular planar ílaw if thc c.listance betwccn adjacent naws is e<1ual to or lcss than S as shown in
1 .li.
(4) Disc.:ontinuous naws that are coplanar in the thruugh-wall direction within twu parallel planes 13 mm eJ: in.) 1
apart (i.e.• normal to Lhe prcssur1.~retaining surfac.:e ofthc c.:omponcnt) are unacceplable if thc additive ílaw depth dimcn-
sion of tJ1c ílaws cxc:1.-cds thosc shown in • 1:i.
(<:) Suhsurfacc Flaws - lhe ílaw hmgth (1) shall not cxc.:ced 4t.
Table 7.8
Flaw Acceptance Criteria for Welds Between Thicknesses of 6 mm (~4 in.) and < 13 mm f1/2 in.)
li
1lucknc,,, 1 Surf,lll' 11,m Suh~url,tec H,m I

· 111n1 ( / . 111.1 o.,,s 111111 IU.U,40 IIL) U.4H 111111 (0.020 tn.) :. t,..$ 111111 ( 1/~ irL)
1(1 mm f'l,, 111.) 1.04 111111 (0.0-42 lll) o.52 1u.u:n in. J
111111 ! ú.4 mm r / ,
1
irL}
< 13 111111 ( 1/. lll) 1.U 111111 ((l.044 IIL) 0.57 111111 (11.02:l 111.J s. f,.4 mm ( 1/. irL)
GENERAL !\UTES:
fa) The parame,er t 1s the thickness of the w..td exdudinA any J.!lowable reinforcement. and the parameter I js the length of the
fiaw. For a butt weld 1oimng t\\'o memhers ha\1ng diff~rent thJCknessb at the weld. r is the thmner of these two th1cknesses.
lf a full penetration weld includes a fillet weld, rhen the thickne~~ of the throat of the fillet \\'eld shall oe mclude<l 111 e.
(h) The acceptance hnuts. s.pecified here are ha,ed upon workmanshrp considerauons and are 110, neces,:irily intendrd for ust in
e\·.iluabng tlaws idennfted after the vessel ha, gone lnto serncr.
(e) <1 anel/ Jre il:. defiued 111 , , .,, ,
(d) t:or intermediate thidmesses e f<, mm ( 1/~ in.) < e < IJ mm ( 1. rn.)1. linear interpolaoon 1s permic;sihle.
(e) The mteria for< 1:1 mm ( t in.) is for rn~rpolation of inr,mned1ate th1cknes,es only. Set' for 1:i mm (1/: rn.) th1ckness.
(f) A suhsurfoce 1111.hc,1t1011 sh.ill be cons1derl.'d JS J suríace rfaw 11 tho: sep.1ra11on ()' JO h,:ur~ .1 1J oí tht' mdteatt0n lrom tht' ne.ir·
est surfare nf the romponent is e qual to or less lhan hall the thruuJ!h dimension l:!d rn 11:!llrt' i. l 1, Sketch (l> )1 oí tht/ i;uhsurfJt:t'
md1cJt1011.
Table 7.9
Flaw Acceptance Criteria For Welds With A Thickness Between 13 mm (o/2 in.) And Less Than 25 mm
(l in.)
Fl.1wTypc 11/t I
Surt. ,cc tia\\ ' 111JU7 -: r, ..; mm r11. in.l
1
Sub5unacc íl.iw 11.IH •• 1>.-l mm ! /, li\ l
t:t,:Nl:R..\L NOTl:S:
(J) Thl.' par,1ml.'lcr t J'.', thc thicknl'S'.'> ol th1: wdd cxdudm~ JO}' allnwablc rcmturwmcnt. and thc p,Hamch:r I i'.'> thl· !cnt,>th 111 thl.' 11.1\\'.
For a hutt wc!d ~1111111~ t\\'11 mcmhcrs hJ\111~ d1lll·n:nl th1ci.:nl•ss .11 tlw wc:ld, t 1s thc tl11nncr ui thc,-c lwo th1c:k11cl>.'>l'S. li .1 tull pc·
nctr,1lron wdd rndudel> a lill.:l wdd, Chen thc thkknl'S,. nl chc lhro.tl ui tlw 11111.'l w,:hJ shall hl' rndutll.'d 111 t .
(b) ,\ subsurfilcc 1ndK,1L11111 sh,tll bl· rn11s1dcrcd ,ts .1 ~ur1.ll'I.' llaw 11 tlw scp.ir.1111111 t.'i rn 1 1 ) ol lhl· 111<lK.itinn !rum thc 111.'Jrl'Sl
:.ur1,1n, ot c.h1: t:111111>0nl'llt 1, c4uJJ to ur I,~, 1han h.tlt th.: thr1111~h d1111c11,1u11 {:!d 111 1 tr, - 1 , ~Kct,h (hlJ nl thc :.uh,urfdl~
1,
1nd .tllnn.
(,:) Tho: Jnl:pl,Hlt:l' l11111L,; s-pc,1tio:c.l hcr.: ,trl' h.lwd upun \\'orkni.1n.,l11p rn11~1dcr,lllun.s ,tnd .m: nu t 111.'l'l'~s.ll'II)' 111tc1ufoc.l tor ll~l' 1111:,·,1!,
UJlllll: 11..i\,·s 1d~nuticc.l ,lltl·r th1: n,~,.,c11u, i:nnl' 111111 ,1:J'\·1n:
(d) u ,md / .trc a., dctmcd 111 1 ,1 1111 - " , - ·

(_:0 Trein~ento Ultrassom Phased Array
Table 7.10
Flaw Acceptance Criteria For Welds With Thickness Between 25 mm (1 in.) And lessThan or Equal to
300 mm (12 in.)
l'law :!5 mm 11 111.) <. r <h 1 mm 1:! 1/:! in.) 1OU mm l ·1 in.) • 1-,.momm li:! 1n.J
,\\jll'ct K.ltio ~ 11rt.1cc 1 1.,11· !luh,urfacc Haw \ urfan• l l.1w 'lu b<1urtacc- 11a1,
u/f u/1 u/i <1/I u/1
(Ulll O.O.li U.llJ·l 0.Ul4 o.o.w
U.U5 u.n:u u.o.m 0.():!11 ll.U2 :!
- 0.10
0.1;
1) 241
0.11.ih
01141
IIU-17
U,U·U
11.0:i•l
11.llt,(>
l).11..!:!
O.U.!:i
U.llW
U.U:!:i
U.U:!'.I
0.0.M
n 2; 11.0.3:i 0.1171! ti.li.li IIJJ.10
0.30 • U.Uü-, U.tl'•ll 0.0.HI 1111-17

11.J!i 0.117-l (1 lll:l o.o.,\ ll.U;'\,J
IJ.lO 11.1111:, 11.1 lh ll.O.,ll 11.lll,t
11 ,;r, 11.1111'. U. l .!'.1 0.0:,1 U.llh'J
u.so O.IUl7 11.IH u.o:;! 0.07h
~on:s·
CENER,\L
(d l The (l.lraml'tcr 1 •~ thc th1cknl~!> ui lhe \..·dJ l'l:cludm~ any a!IO'::ah:l' rlinlorl'C~nt, .mJ thc paraml1er / 1, tnc 1l·ni,.itil ui lhe tlJw.
rur J butt wdJ J1•1niw,: tw,, mcml1<:r.- ÍIJl'tn;.: JJllcrenl thllkm:,, Jl 1h,· w1:lc.l.1 1s lhe th111n•·r ol 1!1•~•· 1,·.11 tlm:km:,s••,.. li a lull
l
p1:111:t.r.mon w1:!J mdutk'lo a 111kt l\'l·!d, thl·n thl• thid.-n.-,.~ ot thc throat uf thc ti!!d w.:!J i;~.!1! bc incluJ.'1.11 e
(bJ ,\ ,ub,urtôilCI.' ind, ••w<>n ~ 1.ili bc C1rnsa!t:rnl .1~ J :.urfJll f 1w 11 thf..' sc:par.iuon (S m : 1 ol t:11: mwcatwn trum Úll nc.irl-:.l
~urt;u;i: 111 llll' cnmpnncnt 1, cqu.~I h> or I,:~ thJn h.111 tlw through c.hmcn,wn (:!J 111 ! 1 11. - • Skctd1 [bl) ol th,: sub~urtaw
inJ1tatJon.
(ti Th1: .1,l·ept:m~ !101.L, sp1:ohcc.l hcrc arf..' ba.,l-<l upcm workmansh1p i:on.\ldcr,ltmn., ,mc.1 Jrt.' not nL'Cl'SsJr1ly mtcmlcc.1 for usc tn
cv.iluat111g tbws 1c.l1:nuli1:u .iltcr th1: l'l.,..,d ha,, gonc mto service.
(d) i:ur mtcrm,:ili.Jtc fl. ..•. a,,,.,çt rat,o c1// anJ th1dmc» t (h~ mm (2 ~: m .) < t < 100 mm(~ m.)l. lincarinkrpu!atinn 1, 11<:rnus,thlc.
(e) lt th,: .1.:l1:ptanw lTttt:n., 111 th,~ Uhk rc,u lts m :i tlJw lcn»lh, /, IL·•s than l>.4 mm (0.25 111.J. a \<alue uí 6.4 mm (U.:ZS ln.} nldJI I>,: 1
usc.:J 1
li) Fur mat,:ria:, l.'XC\.'l'll•ni; 6.'i5 !-ll'.1 (':15 k."l ui uma te 10:ru.1:,: :.trcn:..1h. 1h~· u,,: ol t!u,; t.,lú· 1, lunitc.:d to ,1 th1i:1mL"' ol 20tl mm ( H m l

0º Trei~mento Ultrassom Phased Array
Table 7.11
Flaw Acceptance Criteria For Welds With A Thickness Greater Than 300 mm (12 in.)
,hpnt J<,1rl11 ~urf,tl'l.' Haw ~ub•mrfurc l l.1w
t1/I u ll
O.OU .'í.!l mm /02:W m.1 b.l mm ru.2-111 in.l
U.05 1>.1 mm (O.l·IU in.1 o.7 mm (0.2<>1 in.l
U.IU u.7 mm(IUb-1 ln.J 7 b mm !U.300 111.I
0.15 7.t> mm llUUU m.) U.tl mm (O..! lH m.)
U. '0 11.S mm(IU.lo i11.l IO.I 111!11 {IU'I(, in.)
O..!:; IU.l mm ((Ullli ín.) I J.t, lll!ll (1• ~St, ÍII,)
lUU 11.h mm { 0.-1:;1, m.) 13.1 nun f0.5:!U m.)
tUS 13 ·1 mlll ru:,.rn m.) 1;:, mrn(ll.fol.! ln.)
Cl.·10 .. l'.i.;? mm ( U.UJO in.J I" 7 mm ftl.l,''h 1n l
O 1.:; 1:..5 111111 I O.<, I .! UI 1 .!0,,1 111111 (tl.1111 l UI)
0.50 15.tt 111111 (IU1.!-l 111.J B2 rum 10•11.! m.!
GES ER,\L NOTES'.

(a) Thc f}drJ nwter t is ll1c thrdmL•:.:. ui thl.' \\'cltl cxdutltni: any allol'.'ahll.' rcrnturn•mL·nt. and thc p.tr.tml.'tL'r / i~ thc cngth ui t!1L· tl1w.
For ;1 buu wchl 10111111g twu rncmb11rs havin;: d1th:r,·m thn:kn,·~s ,ll thc \H•,tl t ,~ tltL' thtnnL·r 111 tlwsc t\\'U thrcknô~s. lt J tull jll~
nctr.1l«111 wclJ mdm.h::.. il lillt:t wdd, llten tht• thu:knl.'!>:.. 01 thc throat ol thc 11:,ct wc;J shJII hc mduJL·d 111 e
(hl ,\ subsurlan• indtcatron shJII bc con!>rllcn:<l a;. .i i.urta,c tl.!w 11 th11 ~parat1,in {S 111 ~ ~ : ) ut thc 1ndrcatron trom thc rll'.irc\t
surtan• ol lhe rnrnponcnt i, equal to n, lt'Ss than halt thl.' through d1mcn!,tun (2J III l " l, Sk.:tdl (hl) of lhe !>Ub,urtJçl.'
111d 1c.llion.
(e) Thc act'cptancc limil!> Spt.'Cii1ctl hcrc an: h,l!>cd upon wurkman:.h1p C\lll~i<leraliom, .111d are not llL'ü'S:,ari.ly mll'ndcd for u,c in t'\'al·
uating llaws identilictl alter thc vl·~sel has gcrnc tnto St'í\'rt~.
ld I Linear inll'rpolauon 1~ pcmus.~1hl11 lor intem1cdiJtc v:ilm:s ol thc llaw ;i:,pcn rauu a/1.
fc) This tal>k• 1s nol a, 1IKahlc tur rnall'rials cxn-cdin • 655 Ml'a (95 ksi} ulllmJtc tcnS1k s tren ~h.
Figure 7.ll
Single lndications
s. d
la Surface lnd1ca1,on tbl Surf4te 1nd1carion
lei Sut.wrfaeo lndicatlons

Figure 7.12
Multiple Planar Flaws Oriented in a Plane Normal to the Pressure Retaining Surface
' ...... i
1
i
1
twhichever
(whi~heve1
IS
i
1
greaterl i
1
•
S s. 2d: or 2d2
i
1
Suríace Flaw #1
1
---· ,-----·---- ·--
1 Su,1,ce Flaw #2
1
j
Unclad Surfac 1
S s. 2d3 or 2dz
- 1
Surface Flaw 1:3
l 1whichever is greater)
1
S 2 0.4d.-t--- --.
j.-- Clad Surface
S < 2d. or 2d
(whicheve'r is greaterl
1
!
Pressure Retaining Surface
Of Unclad Component Or
Clad-Base Metal Interface
Of Clad Component
S s. 0.4d,~i---.....--2d.
1
, -= 2a
Surface Flaw :t4 Ss.2d 1 or~
(whichever is g reaterl
dA,d,.d:
1
2d.,2d,,2d, = depths of
individuat°flaws
1o--- - 2 a -- --...; Surface Flaw #5
Ss2d 0 o, 2d;-W
lwhichever is
greaterl
---,
..... CQ Treinamento Página 118
-
r
(50 Trei~mento Ultrassom Phased Array
Figure 7.13
Surface and Subsurface Flaws
,_
'-
\...
I
I
1
\ 1
J
, I
....
....
....
CQ Treinamento Página 119 '-

(:O Trei~mento Ultrassom Phased Array
Figure 7.14
Non-Aligned Coplanar Flaws in a Plane Normal to the Pressure Retaining Surface
I·
Unclad Surface
8
A-8-C-D
Surface Flaw #1
1
1
i
i
i
Oit--+---+--~____,~_....-
s2~ d, or 2d2 1 e S 1 5. 2d1 or 2di
(whichever j--""'",---- - - 2d2 <whichever is
greater) !1 ---1-- - a- - - greaterl
i1
i
2~, I
_ _,__o-----i---- --s o.4d 1
~
i
! E
1
1
1
S3 _s 2d 1 or 2d2
{whíchever is
- d 1,2d 1,2d2,2d3 = Depths Of

Individual Flaws
greaterl
E.· F · G · H ·-- - ·--·-·-·- ·--- - ·- ·-·-· ·-·-

Surface Flaw #2
ij
J
Clad Surface - i1
s!~2d2or 2d3
i (whichever is
i
i greater)
i
1
1
1 G
Pressure Retainíng Surfac - - - -- - + - - -1-- S2 5. 2d2 o r 2d3
Of Unclad Component Or {whichever is greaterl l
Clad-Base Metal Interface k------2a----
Of Clad Component 1

(
t
r (5=0·Trein~mento,. Ultrassom Phased Array
-../
(
l
Figure 7.15 \
r
Multiple Aligned Planar Flaws \
Parallel Planes
Bounding
Aligned l=iav;s
Unclad Surfac
1
.,--
1 2 in. 113mml
_J__-
a. .--------t
-------·---·-·----t--- ,-
Pressure Retainmg Surtace

(
'
(
"
Of Unclad CompoMnt Or
Sec1ion T-T Clad-Base 1',letal lnterfac;;
• or Clad Component
Surface
Flaws
Note rn
s·-t T
\._.,
.
.....
,
Surfac.e
Flaws (_ '
Notet21
e j il
E
Surface
Flaws
Note 131
F
- _ ,
23
H- ·- ----i- ? --·-·-·-- 1- H
NOTtS.
(1 J Th1:. 1llu:.lr,HJ11n 111Jil:ilc:. two ,urt.u:c llaw~. Thc 11r,t. u,. b on Lhc out.•r !-Urlacc. and lhe ~,..:ond. o:, ,s ,,n Lh1: 111111:r :.urlac,·
(01 n;i) ~ (a) - a~)/2 \\'1lhm pl3m.'!> A 11· and n - li' ·
<21ThL, illustratlo11111d1catl'S two :.ub~ur1,1w !l.1w:,. (n
1 • n2) (a" - n;.)/2 w1tJ11n pl,1ncs r. (.' n11d D f)'
(3) This tllustration inúa:atc:. rwo i.ur1acc Jlaw, and une \Uhi.urlaw 11.iw.
(

Phased Array - Curso de Ultrassom

Enviado por

Dados do documento

Direitos autorais

Formatos disponíveis

Compartilhar este documento

Compartilhar ou incorporar documento

Opções de compartilhamento

Você considera este documento útil?

Este conteúdo é inapropriado?

Direitos autorais:

Formatos disponíveis

Phased Array - Curso de Ultrassom

Enviado por

Direitos autorais:

Formatos disponíveis

~ Q Trein~ mento Ultrassom Phased Array

' Rua. Américo Menuno, 130-Vila Menu220 • CEP: 13.171-560-Sumare - SP

~NU,f1::>'> ê>c-.S,~ uc:-, í~r«.i Q,~a.::.~:;> í\Q~, '

..:f.;.;-,9-:a,) M~-r.!O;\~~ ~.:.'Otu, ;J>iM{rH.1-::.N "'J)~F~n~

Desde os anos 1940, as leis da física que governam a propagação de ondas

- detectar fendas, vazios, porosidade, e outras descontinuidades internas em metais,

- propriedades do material. Testes de ultrassom são completamente não destrutivas e

Durante suas duas primeiras décadas, instrumentos ultrassônicos comerciais

O princípio da interação construtiva e destrutiva de ondas foi demonstrado

- fora de fase irá cancelar um ao outro.

Mudança de fase, ou a eliminação, por sua vez é uma maneira de controlar

Ondas ultrassônicas são vibrações mecânicas induzidas em um meio elástico

Inspeções de ultrassom convencionais usam transdutor monocristal com

Um padrão de varredura de ângulo único tem detecção e capacidade de

Problemas nas inspeções aumentam cada vez mais se o componente tem

- Figura 03 - Ultrassom Convencional x Phased Array.

..... CQ Treinamento Página 3

J.3 Física da onda de Ultrassom Phased Array

Durante a transmissão, o instrumento de aquisição envia um sinal de disparo

Os sinais são rncebidos, em seguida, deslocado no tempo de acordo com a

Figura 04 - Princípios de Focalização do Feixe para Incidência Norma e Angular.

O valor de retardo para cada elemento depende da abertura ativa do

Para obter interferências construtivas direcionadas nas regiões de teste da

··-· -:- ... --

Figura 07 - Atraso depende da dimensão do pitch para a mesma profundidade focal.

Figura 08 - Um exemplo da posição do elemento e profundidade focal para um

Transdutor com sapata. Se o transdutor Phased A1Tay utiliza sapata, o valor

Figura 09 - Exemplos de valores de atraso e formato da detecção de furos

i- -. -• ...... •...... - :'

Figura 1 O- Exemplo do atraso dependendo do ângulo refratado e posição do

Tolerâncias de atraso. Em todos os casos acima, o valor do atraso para cada

1.4 Digitalização do Sinal e Processamento

As pequenas frentes de onda podem ser sincronizadas em fase tardia de

Figura 11 - Formação do Feixe Phased Array.

..... --tvarredura Eletrônica (também chamado de E-Scan), e originalmente

Figura 05 - Varredura Eletrônica.

Figura 12 - Exemplo Detecção e Mapeamento Corrosão.

'f..varredura Setorial (também chamado de S-Scan, varredura azimutal, ou

Figura 13 - Varredura Setorial.

Focalização Dinâmica de Profundidade (também chamado de DDF): a

1 +-,-:o 5ean, spo!

1.5 Vantagens e Desvantagens

As vantagens da tecnologia Phased Array:

• Velocidade - Inspeções Phased Array tem uma ordem de magnitude

• Flexibilidade - Usando arquivos de instalação eletrônica, um único feixe

• Inspeções Complexas - Phased Array pode ser programado para

• Pequeno Arranjo - Um único transdutor pode ser utilizado para acionar

• Confiabilidade Mecânica - Poucas peças móveis para fazer um sistema

• Dimensionamento das indicações sem o movimento do transdutor.

• Focalização do feixe sônico ao invés de utilizar vários transdutores

As potenciais desvantagens dos sistemas Phased Array:

• Os Equipamentos e Transdutores Phased Array são muito caros,

• As calibrações do sistema são demoradas, pois exigem verificações

• As análises de dados são mais demoradas devido a complexidade do

- 1.6 Principais Aplicações

Mapeamento de Corrosão - Pode ser utilizada na indústria petroquímica

Figura 15 - Mapeamento de Corrosão.

Inspeção de Solda com Material Dissimilar - Nestas situações de inspeção

Figura 16 - Inspeção de Soldas de Inox Austenítico.

Inspeção de Tubulação de Solda de Inox e Carbono - Em muitos casos é

Figura 17 - Inspeção de Soldas de Tubulações de Inox e Carbono.

Inspeção de Vasos de Pressão - Pode ser realizada em substituição a

....... Figura 18 - Inspeção de Vasos de Pressão .

Inspeção de Tanques - Pode ser realizada em substituição a Radiografia de