U NIVERSIDADE F EDERAL DE S ÃO C ARLOS - UFSC AR

DF - D EPARTAMENTO DE FÍSICA

Relatório da Prática 5
Circuito RLC e Aplicações
Física experimental 3 - Eletromagnetismo

Arthur Lopes Marques Lara - 770951

Felipe Lopes Meneguine de Oliveira - 811611
José Luiz Carvalho Silva - 814103

Professor: Maycon Motta

São Carlos, 24 de janeiro de 2024

 1

Sumário
1 Objetivos 2
1.1 Objetivos Gerais . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2
1.2 Objetivos específicos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 2

2 Fundamentos teóricos 3

3 Materiais Utilizados 5

4 Procedimento Experimental 5

5 Resultados e discussões 7
5.1 Parte 1 - Amortecimento elétrico . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 7
5.2 Parte 2 - Defasagem . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9

6 Conclusão 15

7 Perguntas 15

8 Referências 16

9 Apêndice 16
9.1 Tableas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 16
9.2 Imagens . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 18
9.3 Incertezas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 21
 2

O último experimento consiste em juntar todos os assuntos vistos até então no estudo de um
circuito resistor-capacitor-indutor em série ou RLC. E, para esse estudo ser melhor aproveitado, foi
dividido em duas partes. A primeira estuda e discute acerca da resposta do amortecimento elétrico,
um efeito que pode ser comparado ao que foi previamente estudado no curso de mecânica e aqui
cabe uma comparação com tal parte da matéria. E a segunda parte estudou a defasagem do circuito,
mais precisamente a defasagem do resistor e do capacitor.
As respostas amortecidas foram adquiridas ao conectar o oscilador em cinco circuitos RLC
predefinido pelos experimentadores e procurando manualmente a figura que formava. Suas especi-
ficações foram dispostas em uma tabela e as imagens na tela do osciloscópio capturadas e analisadas
de forma computacional. Os resultados obtidos foram simplesmente visuais, visto que o ajuste não
foi feito como desejado e, portanto, os parâmetros necessários para uma melhor análise não foram
obtidos.
E o estudo da defasagem foi feito partindo da frequência de ressonância, obtida no resistor,
que é uma peça muito importante, pois será a referência para podermos comparar a defasagem do
capacitor e do indutor, mais posteriormente. Em posse da frequência de ressonância, é importante
salientar que a mesma conseguida experimentalmente é ligeiramente diferente da teórica, mediu-
se a defasagem do capacitor e do indutor em relação ao resistor e com isso a desfasagem entre
eles, com o auxílio das figuras de lisonjou, apresentadas com uma concordância muito satisfatória.
E, também, a defasagem de sinais foi medida, medindo a tensão nos componentes estando sobre
o efeitos de duas frequências, chamadas frequências de corte e comparadas com 70% da tensão
máxima. Por fim, o fator de qualidade foi obtido.
O experimento não teve um resultado muito satisfatório na primeira parte, mas, em compensa-
ção, a segunda parte ocorreu bastante próximo do esperado.

1 Objetivos
1.1 Objetivos Gerais
O experimento tem por objetivo entender o funcionamento de um circuito RLC C (resistor-
indutor-capacitor) em série e estudar sua resposta em diferentes frequências e constantes de amor-
tecimento e quanto ao comportamento dos osciladores mecânicos e elétricos.

1.2 Objetivos específicos

1. Mapear, com o osciloscópio, medir a tensão do indutor alterando seus componentes e relaci-
onar com os osciladores amortecidos (crítico, subcrítico e supercrítico);

2. Verificar o valor da frequência de corte e de ressonância do sistema, além de construir sua

respectiva curva;

3. Estudar a defasagem do indutor e do capacitor de forma indireta, comparando ambos com o

resistor;

4. Encontrar o fato de qualidade.

 3

2 Fundamentos teóricos
Circuitos RLC (Resistor – Indutor – Capacitor) ligados em série conseguem gerar análogos
elétricos aos osciladores que estudamos primeiramente em cursos de mecânica, com um sistema
massa-mola ou um pêndulo. No caso do circuito, assim como no estudo de carga e descarga de um
capacitor, vamos usar o gerador para enviar ondas quadradas ao sistema, a fim de obter a influência
de cada componente no circuito. Na posição em que o capacitor está completamente carregado,
deixamos o sistema oscilar livremente. A lei de Kirchhoff afirma que:

V r +V l +V c = 0 (1)
di
Onde Vr = Ri,Vl = L dt e Vc = Cq . Desenvolvendo de forma a obter todas as tensões em função
da carga, obtemos:

d 2 q Rdq 1
2
+ + · q = q̈ + γ q̇ + ω02 q = 0 (2)
dt Ldt LC
A equação diferencial acima é exatamente a de
q um oscilador amortecido, com constante de
1
amortecimento γ = RL e frequência natural ω0 = LC . O oscilador amortecido, por sua vez se
divide em mais amortecimentos possíveis, ele pode ser:
γ
Subcrítico, quando 2 < ω0 ;
γ
Supercrítico, quando 2 > ω0 ;
γ
Crítico, quando 2 = ω0 .

Para os casos de amortecimento subcrítico, a solução é dada por:

−γ
q(t) = Qe 2 t cos(ω ′t + ϕ) (3)
Com ω’ sendo menor que ω0 e definida como:
r
′ γ
ω = ω02 − ( )2 (4)
2
A parte exponencial da solução determina como será o decaimento da amplitude, de forma
que ela influencia somente na envoltória da função. As oscilações são ainda determinadas pela
cossenoidal.
Para os amortecimentos supercríticos, a constante de amortecimento já se sobrepõe à frequência
natural e o movimento deixa de ser periódico, sendo definido pela equação:
−γ
 
x(t) = e 2 t aeβt + be−βt (5)
Outro fenômeno crucial de se analisar nos circuitos RLC é a ressonância, que ocorre quando a
tensão no indutor é igual à tensão no capacitor. Considerando as seguintes equações:

V = V sin(ωt + φ ) (6)
g 0
 4

Q I0
V = =− cos(ωt) (7)
c C ωC
dI
V =L = ωLI0 cos(ωt) (8)
L dt

V = Ri = RI0 sin(ωt) (9)

R
Sendo φ a defasagem, pode-se obter, por meio da Lei de Kirchhoff, a seguinte relação:
1
V0 sin(ωt + φ ) = RI0 sin(ωt) + I0 (ωL − ) cos(ωt) (10)
ωC
Desenvolvendo essa equação, de forma a obter a corrente em função das outras variáveis, obte-
mos:
V0
I0 = q (11)
1 2
R2 + (ωL − ωC )
Dessa forma, ao analisar o comportamento das tensões em função da frequência, quando ω0 →
0, φ → pi π π
2 e quando ω → ∞, φ → 2 . Portanto, Vr está sempre defasado de 2 em relação tanto a
Vl quanto a Vc, ouqseja, Vl e Vc estão sempre defasados de . Isso quer dizer que, na frequência de
1
ressonância ω0 = LC , a tensão no indutor e no capacitor simplesmente se anulam, fazendo com
que o circuito opere como se fosse apenas um resistor. Assim, atingimos o máximo de corrente.

A ressonância, como vimos, relaciona apenas a tensão no indutor à tensão no capacitor, de

forma que ela ocorreria mesmo na ausência de um resistor. No entanto, tratando-se de um sistema
real, há sempre uma certa resistência associada ao circuito, que causa dissipação de energia. A re-
sistência também vai determinar a larga do pico de ressonância, como uma sensibilidade da tensão
à variação de frequência. Essa sensibilidade é definida pela diferença entre as frequências para as
quais a potência dissipada é metade da máxima. Essas frequências são denominadas frequências
de corte e no caso do resistor são as frequências para as quais a tensão é 0,707 da tensão má-
xima. Dessa afirmação, podemos definir mais uma grandeza, o fator de qualidade, que caracteriza
a energia total do sistema pela energia perdida em um ciclo, sendo descrito pela equação:
2πE
Q0 = (12)
∆E
Ou, no caso de circuitos RLC como:
ω0 L f0
Q0 = = (13)
R f2 − f1
 5

3 Materiais Utilizados
Para realizar o experimento foram utilizados os seguintes materiais:

1. Cabos pontas de prova banana-banana e jacaré-jacaré;

2. Multímetro Minipa ET-2042E;

3. Multímetro Minipa ET-2042C;

4. Protoboard Steck (Física experimental (30,5 x 22,5) cm);

5. Indutores da protoboard de 103 ± 0, 25mH e 203 ± 0, 5mH;

6. Resistores soldada em uma base contendo duas pontas de provas adaptadas para serem en-
caixadas na protoboard sendo eles: R1 = 548 ± 7, 4 e R2 = 5547 ± 73, 8Ω

7. Capacitor comercial soldada em uma base contendo duas pontas de provas adaptadas para
serem encaixadas na protoboard de 4, 7 ± 0, 1F e 22, 6 ± 0, 55F;

8. Osciloscópio (SIGLENT digital storage SDS1102CM);

9. Gerador de funções (Minipa function generator model MFG-4200);

10. Notebook com os softwares SciDavis e Excel instalados.

4 Procedimento Experimental
Para executar o experimento vamos seguir duas etapas:

1. Oscilador:

1.1 Utilizar o multímetro para medir a indutância dos dois indutores, a capacitância dos
dois capacitores e a resistência dos dois resistores;
1.2 Montar um circuito RLC como indicado na imagem;
 6

Figura 4.1: Esquema circuito RLC

1.3 Configurar o gerador de função para onda quadrada;

1.4 Usar as seguintes configurações de RLC, frequencia e tensão
1.4.1 Configuração 1:R = 548 Ω, L = 103 H, C = 22 ηF, Frquência = 264,187 Hz e
Tensão = 1,68 v;
1.4.2 Configuração 2: R = 5547 Ω, L = 203 H, C = 4,7 ηF, Frquência = 93,933 Hz e
Tensão = 3,48 v;
1.4.3 Configuração 3: R = 5547 Ω, L = 103 H, C = 4,7 ηF, Frquência = 93,933 Hz e
Tensão = 2,86 v;
1.4.4 Configuração 4: R = 548 Ω, L = 103 H, C = 4,7 ηF, Frquência = 111,546 Hz e
Tensão = 8,32 v;
1.4.5 Configuração 5: R = 548 Ω, L = 203 H, C = 22 ηF, Frquência = 714,285 Hz e
Tensão = 2,04 v;
1.5 Analisar, no osciloscópio, uma configuração de amortecimento;
1.6 Usando o programa WebPlotDigitalizer tomar os pontos das imagens do osciloscópio;
1.7 Conseguir os parâmetros do ajuste do gráfico partido da imagem.

2. Frequência:

2.1 Montar um circuito RLC fixo ligado ao gerador de tensão com a tensão de 10 V e sendo
os componentes: L = 103 H, R = 548 Ω e C = 22,6 ηF;
2.2 Usar a configuração C, da Figura 4.2 como referência para conseguir a frequência de
ressonância, F = 70,8 KHz, a saber;
 7

Figura 4.2: Esquema circuito para medir tensão nos componentes RLC

2.3 Use as configurações A e B para medir a defasagem entre RC e RL;

2.4 Capture a imagem mostrada no visor do osciloscópio;
2.5 Use o osciloscópio para calcular a incerteza;
2.6 Com as figuras de Lissajou de cada um calcule a defasagem;
2.7 Compare a defasagem de ambos e diga o quão próximo esão de π;
2.8 Use f1 = 6,65kHze f2 = 7,6KHz como frquências de corte ;
2.9 Afira a tensão em todos os componentes ( R, L, C, e fonte) nas duas frequências de
corte;
2.10 Comparar cada tensão com 70% da tensão máxima( a tensão adquirida com a frequência
de ressonância);
2.11 Encontrar o fator de qualidade.

5 Resultados e discussões
5.1 Parte 1 - Amortecimento elétrico
Na primeira parte do experimento usamos cinco configurações diferentes de resistores, capaci-
tores e indutores. Essas estão dispostas na Tabela 5.1 a seguir:
 8

Tabela 5.1: Tabela das configurações utilizadas

Configuração Resistor (Ω) Indutor (µH) Capacitor (µF) Frequência (Hz) Tensão de pico(Vpp)
1 548 ± 7, 4 103 ± 0, 25 22 ± 0, 55 264,187 1,68
2 5547 ± 73, 8 203 ± 0, 5 40, 1 93,933 3,48
3 5547 ± 73, 8 103 ± 0, 25 40, 1 93,933 2,86
4 548 ± 7, 4 103 ± 0, 25 40, 1 111,546 8,32
5 548 ± 7, 4 203 ± 0, 5 22 ± 0, 55 714,285 2,04

Tais resultados foram obtidos usando a configuração disposta na Figura 4.1 e ajustando a
frequência até encontrar a melhor resposta. Em exemplos a imagens da configuração 1, apresentada
na Figura5.1 a seguir:

Figura 5.1: Imagem da tela do osciloscópio da configuração 1

As demais imagens originais do osciloscópio estão dispostas na 9.2.1.

E, partindo desses resultados foi possível identificar a resposta do amortecimento elétrico, que
são:
 9

Tabela 5.2: Resposta amortecida de cada configuração

Configuração Resposta
1 Amortecimento Sub crítico
2 Amortecimento Super crítico
3 Amortecimento Crítico
4 Amortecimento Sub crítico
5 Amortecimento indefinido

Em seguida, como auxílio do programa WebPlotDigitizer os dados foram retirados das fotos e
dispostos em tabelas, como a Tabela 5.3 a seguir:

Tabela 5.3: Tabela a partir da imagens da configuração 1

Tempo µs ± 25µs DDP mV ± 50mV

0 -6,9.30E+03
3, 00.102 5, 13.103
5, 90.102 -2, 27.103
9, 20.102 2, 30.103
1, 23.103 −7, 14.102
1, 53.103 1, 13.103
1, 83.103 −2, 13.103
2, 12.103 6, 3.00.102
2, 43.103 −1, 26.102
3, 72.103 1, 68.102

As demais tabelas estão dispostas na Seção 9.1.1.

Eventuais discordâncias foram apresentadas pela incerteza de X do osciloscópio e pelo ruido
apresentado em todas as partes do experimentos, que foi possível ser diminuído em alguns e per-
maneceu presente em outros.

5.2 Parte 2 - Defasagem

A defasagem foi obtida da análise, com o osciloscópio, de dois sinais o do componente estudado
em relação à fonte.
E, de acordo com a teoria [3], obtivemos o valor de 7,841 KHz para a frequência de ressonância
e quando colocada, ainda não era a frequência ideal, que foi obtida, por meio de ajuste manual,
com o valor de 7,088 KHz.
Podemos observar que essa era a frequência mais próxima com base no método visual, apre-
sentado naFigura 5.2 a seguir:
 10

Figura 5.2: Corrente de ressonância

E, pelo método da figura de Lissajou 5.3

 11

Figura 5.3: Figura de Lissajou da corrente de ressonância

E, assim, com tal frequência foi possível encontrar a defasagem do capacitor para com o resistor
5.4 e do indutor para com o resistor 5.5 e assim, com o auxílio da figura de Lissajou (5.6 e 5.7 RC
e RL respectivamente), é possível comprara a defasagem entre o capacitor para com o indutor.
 12

Figura 5.4: Defasagem RC

Figura 5.5: Defasagem RL

 13

Figura 5.6: Lissjou RC

 14

Figura 5.7: Lissajou RL

E, para estudar a defasagem de sinais, duas frequências de corte foram encontradas sendo elas
f1 = 6,55675 KHz e f2 = 7,63209 KHz e nelas a tensão em cada componente foi medida e, também,
as tensões na frequência de ressonância foram tomada e multiplicadas por 0,707. Os resultados
estão dispostos na Tabela 5.4 a seguir:

Tabela 5.4: Tabela das tensões dos componentes em casa uma das frequências de corte

V indutor ± 0,2 V V capacitor ± 0,2 V V resitor ± 50 mV V fonte ± 50 mV

F1 = 6,56 Khz 3,64 4 400 760
F2 = 7,6 kHz 3,52 3,28 440 780
0,707 V 3,67 3,92 405 777

E, assim, o fator de qualidade (Q) foi obtido utilizando os valores de f0 = 7, 08KHz, f1 =

6, 65kHze f2 = 7, 6KHz sendo Q = 6,5914
As incertezas foram feitas pelo método visual da tela do osciloscópio e são: incerteza da defa-
sagem da corrente de ressonância = 32 mV, incerteza da defasagem do resistor e do capacitor = 80
mV, incerteza da defasagem do resistor e do indutor = 40 mV e incerteza da defasagem do indutor
e do capacitor = 95 mV
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6 Conclusão
O experimento foi dividido em duas partes, na primeira foi estudada a resposta do amorteci-
mento elétrico e na segunda a defasagem do indutor e do capacitor usando o resistor como parâme-
tro comparativo e foi efetuado o estudo da defasagem do sinal.

Em primeiro lugar um circuito RLC foi montado e com o osciloscópio as respostas elétricas
foram medidas. Uma foto foi tirada da tela do osciloscópio e o gráfico analisado e comparado com
um movimento amortecido. Por fim, os dados foram tirados da imagem, no programa WebPlotDi-
gitizer e com esses dados, dispostos em tabelas, era suposto que confeccionássemos gráficos para
realizar o ajuste, no entanto não foi possível realizar o ajuste e, com isso, não foi possível adquirir
os parâmetros para que o fator de qualidade fosse calculado. Os resultado obtidos foram por pura
interpretação gráfica e uma tentativa de aproximação manual da função de envelope, porem os va-
lores obtidos estavam muito distantes, com concordâncias menores que 20% e foram descartadas
dos resultados.

Em seguida para o estudo de defasagem um circuito RLC foi montado, onde o resistor estava
aterrado e, partindo da teoria, descobrimos a frequência de ressonância e, partindo dela, desco-
brimos a frequência experimental. Com ela defasagem do resistor e do capacitor foi medida e o
mesmo para o resistor e o indutor e esses valores foram muito próximos de 90 graus (92,55º e
89,24º respectivamente) e o valor de 181,79º foi obtido um concordância de 99,4%. Posterior-
mente a defasagem de sinal foi estudada, encontrado duas frequências de corte f1 = 6,55675 KHz
e f2 = 7,63209 KHz e delas os valores das tensões de cada componente foi aferido e comparado
com o valor de 0,707 da tensão máxima, que era conseguida com a frequência de ressonância. Ne-
nhum valor foi exatamente igual, mas as concordâncias foram 99,2% para Vindutor ( f 1), 95,7% para
Vindutor ( f 2), 98% para Vcapacitor ( f 1), 80,4% para Vcapacitor ( f 2), 98,7% para Vresistor ( f 1), 92,1%
para Vresistor ( f 2), 97,7% para V f onte ( f 1) e 99,6% para V f onte ( f 2). E, por fim, o fator de qualidade
Q = 6,59 foi obtido.

7 Perguntas
1. De que forma a ressonância em um violão se assemelha à ressonância em um circuito RLC
em série?
Resposta: A ressonância em um violão e em um circuito RLC em série compartilham seme-
lhanças fundamentais no fenômeno de ressonância. No caso do violão, a ressonância ocorre quando
a frequência natural das vibrações das cordas coincide com a frequência da fonte de excitação, re-
sultando em uma amplificação das vibrações. Analogamente, em um circuito RLC em série, a
ressonância ocorre quando a frequência da fonte de alimentação coincide com a frequência natural
do circuito, resultando em uma resposta máxima em termos de corrente. Ao analisar os componen-
tes, as cordas do violão podem ser comparadas aos elementos capacitivos e indutivos do circuito
RLC, pois possuem massa e elasticidade, contribuindo para uma frequência natural de vibração. O
amortecimento, seja pelo ar e atritos no violão ou pela resistência elétrica no circuito, desempenha
um papel crucial na transição para um estado estável após a ressonância, diminuindo gradualmente
a amplitude.
 16

2. Como a oscilação de um pêndulo em um relógio de parede pode ser comparada ao compor-

tamento de um oscilador amortecido em um circuito elétrico?
Resposta: No caso da oscilação de um pêndulo em um relógio de parede, a frequência natural
de oscilação é influenciada pelo comprimento do fio e pela aceleração devido à gravidade. Quando
o pêndulo é perturbado, ele oscila em torno de sua posição de equilíbrio, e o amortecimento ocorre
devido à resistência do ar e outros atritos, levando à dissipação de energia ao longo do tempo.
Comparando com um oscilador amortecido em um circuito elétrico, o pêndulo pode ser associado
ao componente indutivo do circuito RLC, pois ambos estão relacionados ao armazenamento de
energia. O amortecimento no pêndulo, causado pela resistência do ar, é análogo à resistência
elétrica no circuito, que contribui para a dissipação de energia e a transição para um estado estável
após uma perturbação.

8 Referências
[1] Nussenzveig, H. M. Curso de Física Básica, vol. 3, São Paulo: Edgard Blucher, 2002.
[2] Nussenzveig, H. M. Curso de Física Básica, vol. 2, São Paulo: Edgard Blucher, 2002.
[3] Guia para o experimento 5 .https://ava2.ead.ufscar.br/pluginfile.php/1042044/modr esource/content/29/G
v3.pd f .Acessoem : 11deJaneirode2024.
[4] Sears, F. W., Zemansky; M. W.; Young, H. D.; Freedman, R. A. Física III: Eletromagne-
tismo, 12a. ed., São Paulo: Addison Wesley, 2009, 425 p.

9 Apêndice
9.1 Tableas
9.1.1 Tabelas retiradas das imagens do osciloscópio

Tabela 9.1: Tabela configuração 2

Tempo µs ± 25µs DDP mV ± 50mV

2,34E+02 -4,55E-13
3,12E+02 1,10E+03
3,94E+02 -1,41E+02
5,05E+02 1,32E+02
6,33E+02 2,27E+01
6,93E+02 7,73E+01
8,99E+02 4,55E+00
2,94E+03 3,64E+01
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Tabela 9.2: Tabela configuração 3

Tempo µs ± 25µs DDP mV ± 50mV

-3,65E+01 -4,44E+02
3,33E+02 4,69E+02
1,10E+03 -4,08E+01
2,48E+03 -4,08E+01
2,48E+03 -4,08E+01

Tabela 9.3: Tabela configuração 4

Tempo µs ± 25µs DDP mV ± 50mV

3,10E+01 -1,15E+03
1,25E+02 9,31E+02
1,74E+02 -6,94E+02
2,51E+02 5,64E+02
3,16E+02 -4,21E+02
4,03E+02 3,66E+02
4,70E+02 -2,43E+02
5,42E+02 2,26E+02
6,20E+02 -1,64E+02
6,83E+02 1,44E+02
7,61E+02 -8,50E+01
8,25E+02 8,70E+01
8,86E+02 -6,33E+01
9,52E+02 6,73E+01
1,03E+03 -4,61E+01
1,11E+03 4,69E+01
1,21E+03 -2,58E+01
1,25E+03 4,75E+01
1,46E+03 -2,39E+01
1,62E+03 3,42E+01
1,71E+03 -9,52E-01
2,00E+03 8,15E+00
2,50E+03 8,15E+00
 18

Tabela 9.4: Tabela configuração 5

Tempo µs ± 25µs DDP mV ± 50mV

-2,27E+01 -5,72E+02
2,20E+02 1,10E+03
4,39E+02 2,17E+01
6,59E+02 7,61E+02
1,01E+03 7,25E+00
1,20E+03 7,25E+00

9.2 Imagens
9.2.1 Imagens da tela do osciloscópio

Figura 9.1: Imagem da tela do osciloscópio da configuração 2

 19

Figura 9.2: Imagem da tela do osciloscópio da configuração 3

 20

Figura 9.3: Imagem da tela do osciloscópio da configuração 4

Figura 9.4: Imagem da tela do osciloscópio da configuração 5

 21

9.3 Incertezas
9.3.1 Incerteza osciloscópio

Figura 9.5: Incerteza defasagem

 22

Figura 9.6: Incerteza RL

Figura 9.7: inceerteza RC