Escolar Documentos
Profissional Documentos
Cultura Documentos
DE MATERIAIS
3ª aula
PMT-5858
3ª AULA
3ª aula
1. INTERAÇÃO ELÉTRONS AMOSTRA
ESPALHAMENTO ELÁSTICO:
Energia 1 a 40 keV
Convergência 1º a 0,05º
Spot size dp: 1 nm a 1 µm
Corrente de feixe 1 pA a 1µA
PMT-5858 - TÉCNICAS DE MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURA PARA CARACTERIZAÇÃO
DE MATERIAIS
3ª aula
λ = A/(NAρQ)
A peso atômico
NA número de Avogadro
ρ densidade
Q seção de choque
3ª aula
C 5,5 22 49 89 140
Al 1,8 7,4 14 29 46
Fe 0,3 1,3 2,9 5,2 8,2
Ag 0,15 0,6 1,3 2,3 3,6
Pb 0,08 0,34 0,76 1,4 2,1
U 0,05 0,29 0,42 0,75 1,2
PMT-5858 - TÉCNICAS DE MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURA PARA CARACTERIZAÇÃO
DE MATERIAIS
3ª aula
ESPALHAMENTO NÃO ELÁSTICO
dE/ds (eV/nm) = k Z ln E/ A E
k constante
Z número atômico
A massa atômica (g/mol)
E energia do elétron (keV)
3ª aula
CARACTERÍSTICAS DO ESPALHAMENTO DOS ELÉTRONS
3ª aula
2. VOLUME DE INTERAÇÃO
VISUALIZAÇÃO DIRETA EM POLIMETILMETACRILATO (PMMA)
3ª aula
Simulação de Monte Carlo
3ª aula
CÁLCULOS DE MONTE CARLO
Amostra: Fe, 20 keV
3ª aula
MONTE CARLO – DEPENDÊNCIA DA ENERGIA DO FEIXE
Amostra: Fe
R = 0,55µm
R = 1,82µm
R = 3,7µm
10 keV 20 keV 30 keV
R ~ E 1,67
R = 1.69µm
R = 3.98µm
C, Z = 6 Ag, Z = 47
R = 1,82µm R = 2,03µm
Fe, Z = 26 Pb, Z = 82
R ~ A / (Z 0,89 ρ)
PMT-5858 - TÉCNICAS DE MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURA PARA CARACTERIZAÇÃO
DE MATERIAIS
3ª aula
CÁLCULOS DE MONTE CARLO - ÂNGULO DE INCIDÊNCIA - TILT
Amostra: Fe, 20 keV
0º 30º 60º
3ª aula
3. ESPALHAMENTO ELÁSTICO
ELÉTRONS RETROESPALHADOS (BSE)
η - coeficiente de retroespalhamento de elétrons (backscatter
coefficient)
Fe, Z = 26 Pb, Z = 82
η = n BSE / nB ,
onde: nB número de elétrons incidentes
n BSE número de elétrons retroespalhados
η = i BSE / i B
η cresce com Z
η med = η 1 C1 + η2 C2 + ...
PMT-5858 - TÉCNICAS DE MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURA PARA CARACTERIZAÇÃO
DE MATERIAIS
3ª aula
3ª aula
PMT-5858 - TÉCNICAS DE MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURA PARA CARACTERIZAÇÃO
DE MATERIAIS
3ª aula
OS ELÉTRONS RETROESPALHADOS RESPONDEM À COMPOSIÇÃO
QUÍMICA DO MATERIAL. PERMITEM FORMAR UMA IMAGEM BSE,
CUJO CONTRASTE É DADO PELA DIFERENÇA DE NÚMEROS
ATÔMICOS.
PMT-5858 - TÉCNICAS DE MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURA PARA CARACTERIZAÇÃO
DE MATERIAIS
3ª aula
DEPENDÊNCIA DA INCLINAÇÃO DA AMOSTRA - TILT
0º 30º
60º
3ª aula
ELÉTRONS RETROESPALHADOS - DISTRIBUIÇÃO LATERAL
3ª aula
ELÉTRONS RETROESPALHADOS - PROFUNDIDADE
Distribuição de BSE em
função da profundidade
3ª aula
ELÉTRONS RETROESPALHADOS -
SUMÁRIO
⇒ Informação:
◊ número - composição
◊ número e trajetória - topografia
3ª aula
4. ESPALHAMENTO NÃO ELÁSTICO
ELÉTRONS SECUNDÁRIOS (SE)
90% SE < 10 eV
3ª aula
ELÉTRONS SECUNDÁRIOS -
ONDE SÃO GERADOS?
ELÉTRONS SECUNDÁRIOS -
DE ONDE VÊM?
DA SUPERFÍCIE DA AMOSTRA
PMT-5858 - TÉCNICAS DE MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURA PARA CARACTERIZAÇÃO
DE MATERIAIS
3ª aula
ELÉTRONS SECUNDÁRIOS - DEPENDÊNCIA DO NÚMERO ATÔMICO
ELÉTRONS SECUNDÁRIOS -
DEPENDÊNCIA DA ENERGIA DO FEIXE DE ELÉTRONS, E0
Variação de (δ - coeficiente de emissão de elétrons secundários)
Elemento 5 keV 20 keV 50 keV
Al 0,40 0,10 0,05
Au 0,70 0,20 0,10
3ª aula
ELÉTRONS SECUNDÁRIOS - IMAGEM DE SUPERFÍCIE DA AMOSTRA
3ª aula
ELÉTRONS SECUNDÁRIOS -
DEPENDÊNCIA DA INCLINAÇÃO DA AMOSTRA - TILT
R = R0 sec β
3ª aula
CLASSES DE ELÉTRONS SECUNDÁRIOS
δT = δI + δII η
3ª aula
ELÉTRONS SECUNDÁRIOS -
SUMÁRIO
⇒ Resolução:
3ª aula
5. ESPALHAMENTO NÃO ELÁSTICO - RAIOS - X
3ª aula
3ª aula
3ª aula
IONIZAÇÃO DAS CAMADAS INTERNAS
Esquema do mecanismo de
ionização das camadas
internas gerando tanto
elétrons Auger como raios-X
característico.
Diagrama de níveis de
energia
PMT-5858 - TÉCNICAS DE MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURA PARA CARACTERIZAÇÃO
DE MATERIAIS
3ª aula
CAMPO DE FLUORESCÊNCIA (Fluorescence yield)
3ª aula
λ = B / (Z - C)2 , onde
λ - comprimento de onda
B, C - constantes diferentes
para K, L, M
Z - número atômico
λ = 1,2396 / E
3ª aula
3ª aula
PROFUNDIDADE DE GERAÇÃO DOS RAIOS-X
INFLUÊNCIA DA DENSIDADE
3ª aula
RESOLUÇÃO ESPACIAL DOS RAIOS-X
Ti Kα
α, tilt = 0
6 keV 10 keV
20 keV 40 keV
20 keV, tilt = 0
Mg, Kα
α Ti, Kα
α
Cu, Kα
α Nb, Kα
α
PMT-5858 - TÉCNICAS DE MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURA PARA CARACTERIZAÇÃO
DE MATERIAIS
3ª aula
ABSORÇÃO DE RAIOS-X
I / I0 = exp - (µ
µ / ρ) ρ x , onde
Ni
PMT-5858 - TÉCNICAS DE MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURA PARA CARACTERIZAÇÃO
DE MATERIAIS
3ª aula
I = I0 e-µl
I0 é a intensidade do feixe original
I é a intensidade do feixe a uma distância l no interior da substância
µ é o coeficiente de atenuação
I = I0 e-(µ/ρ)ρl
ρ é a densidade
(µ/ρ) é o coeficiente de atenuação de massa
ρl é densidade de área ou espessura de massa
3ª aula
Ti Kα
α, tilt = 0
6 keV 10 keV
20 keV 40 keV
20 keV, tilt = 0
Mg, Kα
α Ti, Kα
α
Cu, Kα
α Nb, Kα
α
ESPECTRO DE RAIOS-X EM EDS
PMT-5858 - TÉCNICAS DE MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURA PARA CARACTERIZAÇÃO
DE MATERIAIS
3ª aula
Ni, 40 keV
PMT-5858 - TÉCNICAS DE MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURA PARA CARACTERIZAÇÃO
DE MATERIAIS
3ª aula
6. ESPALHAMENTO NÃO ELÁSTICO -
ELÉTRONS AUGER
Esquema do mecanismo de
ionização das camadas
internas gerando tanto
elétrons Auger como raios-X
característico.