UNIVERSIDADE FEDERAL DO MARANHÃO

Centro de Ciências Exatas e Tecnologia - CCET

Departamento de Física

Disciplina: Experimentos de Física Moderna

Relatório 01: Medida da constante de Planck através do efeito

fotoelétrico
experimentos de física moderna

Nome discente:Lucas Nathan Pereira Silva

Turma: 01(M345)
Matrícula: 2019008428
Nome Docente: Prof. Dr. Carlos Alberto Carneiro Feitosa
Data do experimento: 30 de novembro 2021

São Luís - MA, 2021

SUMÁRIO SUMÁRIO

Sumário

1 resumo 2

2 Efeito fotoeletrico 3
2.1 filtro interferometro . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3
2.2 Métodos práticos e teóricos . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3
2.3 Resultados . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 5

3 Conclusão 6

1
 1 RESUMO

1 resumo

Neste presente relatório serão feitas as medições referentes ao chamado efeito fotoelétrico,com o in-
tuito de se calcular a constante de Planck, o processo pela qual isso será feito envolve medidas feitas
em laboratório do efeito para diferentes frequências de luz, com o seguinte tratamento de dados via
regressão linear e posteriormente a propagação dos erros de medida, com a finalidade de se ter uma
medida acurada relacionada ao fenômeno.

2
 2 EFEITO FOTOELETRICO

2 Efeito fotoeletrico

2.1 filtro interferometro

Em um espelho ou filtro dicróico são usadas camadas alternadas de revestimentos ópticos com diferentes
índices de refração, estes são construídas sobre um substrato de vidro. As interfaces entre as camadas de
diferentes índices de refração produzem reflexos em fases, reforçando seletivamente certos comprimentos
de onda de luz e interferindo em outros comprimentos de onda. As camadas são geralmente adicionadas
por deposição a vácuo. Ao controlar a espessura e o número de camadas, a frequência da banda passante
do filtro pode ser ajustada e tornada tão larga ou estreita quanto desejado.

Figura 1: filtro Dicróico

2.2 Métodos práticos e teóricos

o experimento em questão se utilizou dos seguintes materiais

• Fotocélula

• Filtros de interferência, conjunto de 4

• Lâmpada espectral Hg 100

• Fonte de alimentação para lâmpadas espectrais

• Placa de montagem R

• Amplificador de medição universal

• Multímetro digital

• Cabo blindado, BNC, l 300 mm

• Cabo de conexão, 250 mm, vermelho

• Cabo de conexão, 250 mm, azul

3
2.2 Métodos práticos e teóricos 2 EFEITO FOTOELETRICO

A partir destes materiais apresentados, o esquema completo do experimento pode ser visto na figura
abaixo:

Figura 2: Esquema montado

A partir disto o experimento consiste em medir a tensão relacionada ao detector fotoelétrico que
é exposto à uma lampada de mercúrio, essa que tem suas faixas espectrais filtradas de acordo como é
explicada na primeira subseção de como o filtro de interferência filtra a banda de frequência especifica,
a partir disto relacionamos o comprimento de onda previamente selecionado pelo filtro em especifico,
fazemos isso utilizando o modelo matemático proposto por einstein que pôs-se a explicar o fenômeno.
Einstein demonstrou que o efeito fotoelétrico consiste do fato de a luz ser compostas por particulas
estas chamadas fotons com uma quantidade bem determinada de energia que dependia da frequencia
associada ao espectro luminoso
E = hν (1)
onde h é chamada de constante de planck e ν é a frequencia relacionada ao o fóton, a energia acima
está relacionada há uma unica particula de luz, esta que se tiver energia suficiente atinge a superficie de
um material(metálico de preferencia) e que causa a ejeção dos eletrons com uma determinada energia
cinetica , dada da seguinte forma
mv 2
hν − A = (2)
2
tais eletrons são detectados fotocélula que na formam uma corrente, consequentemente uma diferença
de potencial que pode ser medida, esta que

eU + ϕ = Ec (3)

onde ϕ é um potencial adicional de contato relacionado as superficies do anodo e do catodo:

hν − A = eU + ϕ (4)

4
2.3 Resultados 2 EFEITO FOTOELETRICO

onde U é o potencial eletrostatico(ddp) e e a carga elementar do eletron, onde para referencia

e = 1, 602.10−19 C, a partir disso o objetivo é utilizar os dados a partir de uma regressão linear e
calcular o valor da constante de planck, onde o gráfico segue a forma:
A+ϕ h
U (ν) = − + ν (5)
e e
porém o potencial aparece em função de ν, onde ν = c
λ onde c = 3.108 m/s e λ o comprimento de onda
do feixe de luz associado

2.3 Resultados

obtivemos quatro medidas, segue os resultados obtidos e tabelados abaixo:

comprimento de onda(λ) frequencia(ν) ddp(U )

366 mm 8, 19.1014 Hz 1,26 V
436 mm 6, 88.1014 Hz 0,80 V
546 mm 5, 48.1014 Hz 0,30 V
578 nm 5, 19.1014 Hz 0,13V

Tabela 1: Tabela de medidas

a partir dos dados obtidos, foi-se feita uma regressão linear dos dados com o auxilio do SciDavis,
com plot

Figura 3: Onde o gráfico representa uma função U = Ax + B, onde A = h

e e B = − A+ϕ
e

Onde obtivemos com o auxilio do programa um valor para A, equivalente a A = 3, 69148621104162.10−15 ±

1, 4054057556466.10−16 e B = −1, 75297137680528 ± 0, 0919915634897046, ou seja:
h J.s
= 3, 691.10−15 ± 1, 405.10−16 (6)
e C

5
 3 CONCLUSÃO

3 Conclusão

A partir dos dados obtidos foi possível inferir o valor da constante de Planck, seguindo os métodos de
propagação de erros e estimando um valor de erro absoluto e relativo da medida final

δh = eδA (7)

onde δA é o erro da medida do coeficiente angular da regressão linear,e δh o erro da medida da constante
de Planck, tal que o erro absoluto da medida é:

δh = 2, 25.10−35 J.s (8)

tal que o valor medido é equivalente a

h = 5, 91.10−34 ± 2, 25.10−35 J.s (9)

este com um erro relativo estimado em er = 3, 8%.