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Dispositivos de medição;
Porém estas cartas também podem ser usadas para controlar eventos positivos,
estudaremos a aplicação normal destas cartas, para o número de itens não-
conformes e número de não-conformidades.
3.1. Introdução as Cartas de Controle para Atributos
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É uma forma algumas vezes mais barata de coleta de dados do processo, porém
demanda de um tempo e uma quantidade de peças maior para fazermos uma
análise do processo.
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3.1. Introdução as Cartas de Controle para Atributos
np n = Nº de itens inspecionados
p= n np = Nº de itens não-conforme
Para um “p” muito pequeno, o LIC pode ficar negativo, neste caso não existe LIC.
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3.2. Carta “p” para proporções não-conforme
Os subgrupo podem variar em tamanho, o ideal é que a variação não seja maior que 25%.
a. Coleta de dados
• Tamanho da amostra de inspeção deve ser constante
• O período de formação dos subgrupos deve ser compatível com os intervalos de produção.
b. Limites de Controle
LSCc, LICc = c 3 c
c = Nº de não-conformidade em cada k subgrupo
n = Tamanho da amostra do subgrupo
k = Número de subgrupo