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Autor: SKF
Traduzido por:
- Eng Andr Luiz de Pdua Pereira
Sumrio
Este documento discute mtodos de diagnstico e de anlise de vibrao que lhe ajudar a
reconhecer problemas de rolamento em suas fases iniciais. Esboa vrios parmetros que afetam
a vida dos rolamentos, enfoca os problemas complexos relacionados com as medies de
vibrao, e descreve os mtodos de anlise do Microlog que fornecem a soluo atualizada para
a deteco antecipada de defeitos dos rolamentos.
Por exemplo, a seo de secador de uma mquina de papel tpica, pode incorporar 250
rolamentos, cada um tendo uma determinada vida at a fadiga. O tempo operacional anual de
8,200 horas, normalmente resulta numa taxa de falha de 3-5 rolamentos por ano.
Um programa de manuteno preditiva que envolve medies peridicas de vibrao permite
que se diagnostique estgios iniciais de defeitos, permitindo ento entrar com a ao corretiva
que vai prolongar a vida de servio dos rolamentos.
Um recente estudo de substituies de rolamentos em um programa de manuteno preventiva
na indstria de polpa de papel da Europa (Figura 2) revelou que somente 5% dos rolamentos
estavam com problemas e que isso poderia ter resultado em dano catastrficos da mquina,
incorrendo em custos de manuteno entre 10.000 a 30.000 de dlares por hora. No havia
nenhum dano fsico visvel em um tero dos rolamentos substitudos. Dois teros de todos os
O Problema da Medio
Embora uma falha num rolamento possa transmitir uma fora significativa atravs do seu
mancal, a resposta da estrutura normalmente muito pequena (como se pode constatar pela
Monitoramento de Vibrao em Mquinas (http://www.vibra.dynamiczone.com/)
medio com um acelermetro mantido perto da zona de carga do rolamento). A figura 3 mostra
um grfico no domnio do tempo de tal sinal do acelermetro. Mostra o pulso de sinal de defeito
somado com o de baixa freqncia de vibrao devido a desbalanceamento ou desalinhamento. A
dificuldade da medio captar acuradamente e separar estas pequenas excitaes do rolamento
na presena de componentes de vibrao geralmente maiores.
Nas fases iniciais do desgastes superficial, os sinais captados pelo transdutor esto encobertos
por sinais de rudo. Medies destes sinais em estgios iniciais requerem instrumentao que
incorpore um largo alcance dinmico, amplificador de baixo rudo embutido, e circuito para
aumentar estes inexpressivos sinais de resposta dos rolamentos.
Os filtros com quatro faixas de passagem selecionveis so utilizados para uma tima operao
como relatado, para medies circunstanciais ( recomendado que a baixa freqncia do rolo
Monitoramento de Vibrao em Mquinas (http://www.vibra.dynamiczone.com/)
fora do filtro passa-faixa seja pelo menos 10X a freqncia rotacional do motor).
Outro uso dos filtros passa-faixa, que pode melhorar uma medida, limitar as ressonncias
estruturais do rolamento para dentro do intervalo do filtro passa-faixa.
Estas ressonncias fornecem amplificao do sinal aumentando a relao sinal/rudo global.
A deteco de envelope aumenta o impulso repetitivo de defeito no tempo. O processo de FFT
produz uma exibio de espectro que mostra as freqncias harmnicas da falha do rolamento.
Se uma resoluo mais alta de converso de FFT executada, a modulao de bandas laterais
pode ser reconhecida para posterior identificao de freqncias de modulao de carga (Figura
9).
Um benefcio adicional da deteco de envelope a intensificao para a identificao das
componentes de bandas laterais do eixo. Na identificao dos Marcadores de Bandas laterais
mostrada na tabela inferior da Figura 9, o pico nmero 1 rotulado como BPFI (freqncia de
passagem da esfera no defeito da pista interna). O nmero 2 e o numero 3 mostram marcadores
de bandas laterais posicionados nos picos espaados exatamente em 1 ordem e refletem a
modulao de carga nas pistas interna na rotao de 2,400 RPM do eixo.
Concluso
O Microlog CMVA10 e posteriores incluem vrios modos de medio para que o engenheiro de
manuteno possa executar a anlise do desempenho do rolamento. Alm da anlise de espectro
FFT habitual, os novos mtodos de envelope de acelerao esto disponveis para anlise
antecipada e diagnose de defeitos. O Microlog CMVA10 e verses posteriores incorporam
circuito de Tecnologia SEE que emprega um transdutor de emisso acstica responsvel pela
deteco de microfissuras, superfcie soldada entre os elementos girantes e pistas, e da
lubrificao deficiente.
A famlia de instrumentos SKF inclui duas unidades portteis que incorporam o transdutor como
parte do pacote. O Picolog executa medies globais de Vib ISO de velocidade, Envelope de
Acelerao (RMS) e medies de Envelope de Acelerao (pico) com um transdutor externo .
Esta unidade, junto com o software PRISMA 2 Jr., permite organizar uma rota, armazenar
automaticamente os dados, e fazer o "upload" dos dados para arquivo ou para estudo posterior
de tendncia. O Picolog tem tambm capacidade de realizar medio com Tecnologia SEE.
A Caneta SEE uma unidade similar a Caneta de Vibrao plus, mas que mede o pico global do
sinal envelopado como gerado pelo transdutor de emisses acsticas de alta freqncia, tambm
integrado.
A famlia de instrumentos da SKF inclui software de manipulao de dados, trabalhos em redes,
sistemas de monitoramento contnuo, e programas de diagnstico automtico sendo atualmente o
conjunto mais formidvel de componentes agrupados para todas as aplicaes usadas em
programas de manuteno preditiva industrial. Em suas pesquisas e desenvolvimento a SKF
"Condition Monitoring" est continuamente estendendo as fronteiras de medio do
Monitoramento da Sade dos equipamentos.
f A x f A =
f A = sen 51A + sen 52A + sen 53A ...+ sen 99A + sen 100A
f A = sen 51A + sen 52A + sen 53A ...+ sen 99A + sen 100A
= sen 51A sen 51A + 2 sen 51A sen 52A + 2 sen 51A sen 53A ...
+2 sen 51A sen 100A + 2 sen 52A sen 51A + sen 100A sen 100A
Uma vez que os componentes da soma + esto geralmente fora da faixa de medio de
anlise, estamos interessados somente nos componentes de diferena.
O produto que esto afastados em apenas uma unidade (como o 52 o e o 51o) produz um
componente 1X de acordo com:
n= 100 n=100
1Xcomponente= sen[(n+1) n] A = sen A
n = 51 n=51
n= 100 n= 100
componente mX = sen[(n+ m) n] A = sen m A
n = 51 n = 51
Estes componentes 1X, 2X, 3X etc produzem picos num grfico FFT na freqncias de 1X, 2X, 3X
etc, permitindo ento uma anlise FFT normal.
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